第二章材料的导电性能3武汉理工大学出版社.ppt
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1、第二章材料的电学性能,目录,2.1导体、绝缘体和半导体的划分,2.2金属的导电性,2.3半导体的电学性能,2.4电介质材料及其介电性能,2.5压电材料及其介电性能,2.8热电材料及其介电性能,2.6热释电材料及其介电性能,2.7铁电材料及其介电性能,2.9超导材料及其超导电性,2.3半导体材料导电性,2.3.1 半导体材料概况,(2)依据电子参与成键情况本征半导体 所有外层电子都成键;所有结合键上电子都满额掺杂半导体 N型:Si(As,P)P型:Si(B,Al,Ga),(1)依据化学组元个数,分为元素半导体Si、Ge化合物半导体III-V族 GaAs,InSb,InP 等II-VI族 CdS,
2、CdTe,ZnO等(Ga1xAlx)As,HgCdTeS等,掺杂半导体 N型:Si(As,P),多余电子 P型:Si(B,Ga),多余空穴,结构特征:代位式固溶体,2.3.1 半导体材料概况,光学应用激光器等 GaAs,InSb,InP等,(3)主要用途,微电子技术应用:Si、Ge基半导体为主,信息处理的基础,信息传输的基础,信息存储,信息技术基本环节:产生处理(微电子技术,计算机)传输(激光载体,光纤)存储(光、磁存储,光盘、磁盘),光电信号转换的基础,信息技术中光电转换:光电导,2.3.1 半导体材料概况,半导体材料的发展与器件紧密相关。可以说,电子工业的发展和半导体器件对材料的需求是促进
3、半导体材料研究和开拓的强大动力;而材料质量的提高和新型半导体材料的出现,又优化了半导体器件性能,产生新的器件,两者相互影响,相互促进。20世纪70年代以来,电子技术以前所未有的速度突飞猛进,尤其是微电子技术的兴起,使人类从工业社会进人信息社会。微电子技术是电子器件与设备微型化的技术,一般是指半导体技术和集成电路技术。它集中反映出现代电子技术的发展特点,从而出现了大规模集成电路和超大规模集成电路。这样就促使对半导体材料提出了愈来愈高的要求,使半导体材料的主攻目标更明显地朝着高纯度、高均匀性、高完整性、大尺寸方向发展。,2.3.2 半导体的导电性特征:室温下,半导体的电阻率介于10-2 109cm
4、;半导体:Eg2eV半导体导电率随温度按指数规律变化 对光照、电/磁场以及自身成分结构具有敏感性在绝对零度和无外界影响的条件下,半导体的空带中无运动的电子。但当温度升高或受光照射时,也就是半导体受到热激发时,共价键中的价电子由于从外界获得了能量,其中部分获得了足够大能量的价电子就可以挣脱束缚,离开原子而成为自由电子。,半导体能带结构示意图,(1)温度敏感性:对于温度非常敏感,本征导电性随温度升高呈指数规律增强(2)杂质敏感性:异常敏感,是所有材料性能中对于杂质(或掺杂)最敏感的性能(3)光照敏感性:受电磁波辐射(波长小于吸收限的所有电磁辐射,包括可见光、甚至近红外线),导电性大幅度增加,具有光
5、致导电效应(photoconductivity),载流子情况:导带电子n价带空穴p,电导率理论公式:,本征半导体中,价带电子激发到导带中而产生载流子,故 np,掺杂半导体中受掺杂的影响:N型半导体中以导带电子为主要载流子;而P型半导体中以价带空穴为主要载流子,=ph e n e e,2.3.2.半导体的导电性特征,2.3.3.半导体结构与能带特征,晶体结构特征:维持键合特点,保持原子比例,使平均价电子数为4;掺杂原子代位固溶;掺杂量很少,保持基体结构不变;纯度极高 晶体缺陷极低,材料制备 超常规条件与技术 超净室技术 区域熔化提纯技术起源 单晶体生长技术 完全消除晶界 低位错密度晶体生长技术
6、离子注入合金化技术/快速扩散掺杂,半导体材料能带特征,大小随温度升高小幅降低固溶体可以调节掺杂半导体有掺杂能级,能带间隙:Eg EC EV,价带、导带及能带间隙,间接带隙与直接带隙半导体,2.3.4半导体的本征导电1)本征半导体纯净的无结构缺陷半导体单晶,如单晶Si。2)本征激发即在一定的温度下,由于热激发的作用,一部分价电子可以获得超过带隙(Eg)的附加能量而从价带跃迁至导带,这种过程为本征激发;(而不借助掺杂,台阶)3)本征载流子半导体受到热激发,满带中的部分价电子跃迁到空带中,价带中就留下一些空状态,形成自由电子和空穴导带中的电子和价带中的空穴,由热激发产生 价带中的空穴浓度(p)和导带
7、中电子浓度(n)相等 电子和空穴是成对出现的(人与座位),硅或锗的晶体结构,金刚石型的结构,每个原子的最近邻有四个原子,组成正四面体,每个硅或锗原子最外层有四个价电子。单晶硅或锗中原子与相邻的四个原子通过共价键结合起来。,导带,价带,Eg,由于热运动,电子从键上脱离,留下空穴,E,EF,ns2np2,本征载流子(自由电子和空穴)浓度:,4)本征导体的电导率,本征载流子迁移率单位场强下自由电子和空穴的平均漂移速度,在漂移过程中,载流子不断地互相碰撞,使得大量载流子定向漂移运动的平均速度为一个恒定值,并与电场强度E成正比。自由电子和空穴的定向平均漂移速度分别为,迁移率,电流密度单位面积的电流本征半
8、导体在电场E作用下,空穴载流子将沿E方向作定向漂移运动,产生空穴电流ip;自由电子将逆电场方向作定向漂移运动,产生电子电流 in。总电流密度J为:本征半导体的电阻率:本征电导率:,本征半导体的电学特性,1)本征激发成对产生自由电子和空穴,自由电子浓度与空穴浓度相等;2)禁带宽度Eg 越大,载流子浓度ni 越小;3)温度升高时载流子浓度ni 增大。4)载流子浓度ni 与原子密度相比是极小的,所以本征半导 体的导电能力很微弱。,2.3.5 杂质半导体的导电特性,当纯净的半导体掺入适量的杂质时,也可以提供载流子,其导电性能有很大的改善(增大),导电机理也有所不同,这种半导体为杂质半导体。两种杂质:施
9、主杂质(denoter)和受主杂质(accepter)施主杂质:向导带提供电子的杂质,A=P,As受主杂质:价带向其提供电子/向价带提供空穴,A=B N 型和 P 型半导体N 型:载流子以导带电子为主,而电子主要由施主提供P 型:载流子以价带空穴为主,而空穴主要由受主提供,N 型半导体,这里的 P 提供电子,1)N 型半导体,五价元素如 P,Si,Si,Si,Si,Si,P,Si,Si,电子,N 型半导体能带示意图,施主能级 ED,对于轻度掺杂,ED 接近导带底部,Eg-Ed 0.01eV,极容易热激发至导带,杂质原子电子成为导电电子所需能量10-2ev,硅原子电子成为导电电子所需能量,常温下
10、,每个掺入的五价元素原子的多余价电子都可以进入导带成为自由电子,因而导带中的自由电子数比本征半导体显著地增多。,P 型半导体,这里 B 提供空穴,2)P 型半导体,三价元素如 B,Si,Si,Si,Si,Si,B,Si,Si,空穴,掺入三价杂质元素(硼,铝,镓,铟)后,三价元素原子只有三个价电子,当其取代点阵中的硅原子并与周围的硅原子形成共价键时,必然缺少一个价电子,形成一个空位置。,P 型半导体能带示意图,受主能级 EA,对于轻度掺杂,EA 接近价带顶部,Many HOLES!Valence Band,Conduction Band,Acceptor Level,“P Type”,EA,Eg
11、,EV,EA-EV 0.04eV,极容易热激发至受主能级,杂质原子接受的电子能量高于价带顶部能量,但十分接近价带。Ea是电子从价带跳到杂质原子能级所需能量,称为受主能级;三价元素原子为受主杂质。在常温下,处于价带中的价电子都可以进入受主 能级。所以每一个 三价杂质元素的原子都能接受一个价电子,而在价带中产 生一个空穴。,价带中有来自受主提供的大量的空穴,主要载流子,多子导带中有少数由于本征激发的电子,少量载流子,少子,p n,空穴浓度大于电子浓度,设 型半导体单位体积中有 个施主原子,施主能级为,具有电离能,导带中的电子浓度 和费米能级为:,3)杂质半导体中的载流子浓度,p型半导体的载流子主要
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