某电子公司QC七大手法教育训练.ppt

《某电子公司QC七大手法教育训练.ppt》由会员分享，可在线阅读，更多相关《某电子公司QC七大手法教育训练.ppt（120页珍藏版）》请在三一办公上搜索。

1、數据与圖表(Data&Graph),QC統計手法概述,終,QC七大手法細述,品質管制,即依据消費者之需求導向,掌握消費者及其所要求,利用公司之技術能力促使產品物美价廉,安全無逾,准時交貨的具体實現.統計 是采取根据數据与事實發言的管理方法.所謂管理,是指按照預定計划,依作業標准而實施,然后查核實施的結果對目標達成的處置.管理的主要功能是維持現狀.做好管理,必須讓管理循環運轉順暢,不斷重复執行計划(Plan)、實施(Do)、查核(Check)、處置(Action)等四种活動.,一、QC統計手法概述,管理循環圖,管理循環圖,所謂改善,即打破現狀,亦為改變目前的作業方法.改善活動的步驟是:1.問題相

2、關資料收集,2.現狀分析,3.改善對策實施,4.實施結果确認,5.標准化 QC改善步驟与QC手法需配合使用,使用情形如下:1.根据事實、數据發言-圖表、查檢表、散布圖 2.整理原因与結果之關系,以探討潛伏之問題-特性要因圖 3.從事物平均值与變异性來考慮-直方圖、管制圖 4.根据數据來龍去脈,考慮适當分層-層別法 5.從影響較大的前兩三項原因采取措施而管理重點-柏拉圖,問題點,掌握現狀,步驟1,查檢表,層別,管制圖,原因与結果之關系,解 析,步驟2,步驟3,特性要因圖,相關,采取對策,效果确認,步驟4,步驟5,標准化,步驟6,管 理,殘留問題,步驟7,QC改善步驟与QC手法,如何實施QC手法,

3、統計技術,應用于制程及檢驗結果外,還可用于:(A)市場分析、調查(B)產品設計(C)可靠度規格,壽命/耐用度之預測(D)制程管制/制程能力、探求(E)品質水准/檢驗計划之決定(F)數据分析/功能評估/缺點分析,統計技術應用,二、數据与圖表,1.數据=事實 問題解決第一步:根据事實判斷后再采取行動2.數据分類(1)定性數据,利用人的感官判斷而來的數据(2)定量數据,a.計量數据:以重量,時間,含量,長 度等可以量測而來的數据;b.計數數据:以良 品數,缺點數等使用點數計算而得之數据,3.何謂圖表 現場的數据用點、線、面、体來表示大概的情勢于紙上的圖形,稱為圖表.4.繪制圖表的目標:(1)方便人的

4、視覺,使能獲取更多的情報,并使之能迅速傳達,易被人了解(2)自一組數据,把握更多的信息,而能采取必要的對策.,5.圖表制作要領 圖名、圖形之大小、坐標軸、尺度、零度基點、划線、文字的書寫、數字之排列、圖例、資料來源6.制作應遵守原則(1)目的明确(2)圖表單位要先定好(3)數据前后一致,注意其正确性,實用性(4)顏色最好用在三种以下(5)要求標准化(7)實用第一,美觀次之(8)出現异常,追查原因并注明,三、七大手法細述,散佈圖(Scatter Diagram),層別法(Stratification),直方圖(Histogram),柏拉圖(Pareto Chart),特性要因圖(Characte

5、ristic Diagram),管制圖(Control Chart),查檢表(Check List),1.查檢表(Check List),定義:檢檢表是使用簡單易于了解的標准化表格或圖形,人員只需填入規定之查檢記號,再加以統計匯整其數据,即可提供量化分析或比對檢查用者謂之,亦稱為點檢表或查核表.分類:a.點檢用查檢表-此類查檢表主要是确認檢核作業過程中的狀況,以防止作業疏忽或遺漏,(如設備保養點檢表,教育訓練查檢表)b.記錄用點檢表-此類表是用來收集計畫資料,應用于不良原因和不良項目的記錄.(常用于作業缺失,品質优良等記錄),制作方法 A.點檢用查檢表 a.列出需要點檢的項目 b.非點檢不可的

6、項目是什么?c.有順序需求時,注明序號,依序排列 d.盡可能將項目層別,利于解析(如机器別,人員等)e.先試用,不符需求現 改善,B.記錄用查檢表 a.決定希望把握的項目和所要收集的數据 b.決定查檢表的格式,應依据欲層別分析的程度 設計一种很容易及适合自己使用的格式 c.決定記錄的方式“正”字記號,一般較常采用“+”棒記號,多應用品質管理“O,X,V”,圖形記錄 d.決定收集數据的方法,4)查檢表記錄項目 a.標題:目的何在 b.對象,項目:為什么 c.人員:由誰做 d.方法:何种方法 e.時間:什么時間?期間間隔多久?f.制程別,檢驗站:在什么地方,什么場所 g.結果整理:合計,平均,統計

7、分析 h.傳達途徑:誰需要了解,要報告給誰,5)范例分析:,點檢用查檢表1-設備點檢記錄表,一.資料准備學員簽到簿?意見調查表?講義是否已擺在教育里?二.文具紙筆供應品是否備妥?油性筆是否備妥?是否需要測驗,測驗卷准備否?,點檢用查檢表2-訓練准備查檢表,記錄用查檢表1-終檢不良統計表,外徑尺寸量測記錄表,記錄用查檢表2-尺寸量測記錄表,-可由數据獲得与直方圖類似之效果,2.散佈圖,定義:以因果關系的方式來表示其關連性,并將因果關系所對應變化的數据分別點繪在X-Y軸座標的象限上,以觀察其中的相關性是否存在.功用:a.能大概掌握原因与結果之間是否有相關及相關的程度(圖2-1);b.能檢視离島現象

8、是否存在(圖2-2);c.原因与結果相關性高時,二者可互為替代變數,y,x,圖2-1,y,x,圖2-2,以橫軸(x軸)表示原因,縱軸(y軸)表示結果,作法如下:1.收集成對的數据(x1,y1),(x2,y2),.整理成數据表,2.找出X,Y的最大值及最小值3.以X,Y的最大值及最小值建立X-Y座標,決定适當刻度,3)散布圖的制作方法,4.將數据依次點于X-Y座標中,兩組數据重复時以 表示必要時,可將相關資料注記于散布圖上散布圖注意事項(A)是否有异常點,有 异常點不任意刪除,除非原因已确實掌握(B)是否需層別,全体時低度相關,層別后高度相關.圖6-1 全体時高度相關,層別后低度相關.圖6-2,

9、圖6-1,圖6-2,-依散布圖的方向,形狀有數种情形:1.完全正(負)相關:點散布在一直線上,完全正相關,完全負相關,2.高度正(負)相關:原因(X)与結果(Y)的變化近于等比例,散布圖的判讀,3.中度正(負)相關:原因(X)与結果(Y)的變化仍然近于等比例,4.低度正(負)相關:原因(X)与結果(Y)的變化几乎不成比例,5.無相關:原因(X)与結果(Y)的變化完全不成比例,6.曲線相關:原因(X)与結果(Y)的變化呈曲線變化,5)實例演習 真空蒸鍍作業過程中,電子可的強度影響蒸鍍產品的膜厚,請找出二者間的相互關系.A.收集數据,X=強度(KV)Y=膜厚(m),B.找出X,Y的最大值及最小值,

10、X max=100 Y max=5.4X min=50 Y min=3.2,C.划出X-Y軸的座標并取适當刻度,D.將數据點繪在X-Y座標中,x=強度(KV)y=膜厚(m),3.層別法,定義:以個別特征對所收集之數据加以分類,統計,此种統計分析的方法稱為層別法(分層法)層別的分類:a.部門別、單位別;b.制程別;c.作業員別;d.機械、設備別;e.作業條件之層別;f.時間之層別;g.原材料之層別;h.測量之層別;I.檢查之層別;j.環境,天候之層別;k.地區之層別;l.製品之層別;m.其他層別法的實施步驟:1.選定要調查原因之對象;2.設計使用表單;3.設定資料收集點並填制表單;4.紀錄並觀察

11、所得之數值;5.整理資料,分類繪製圖表;6.比較分析與最終推論.,4)層別法使用之注意事項:1.确定層別目的;2.針對所怀疑對象設計查檢表;3.數据之性質分類應清晰詳細;4.依各种可能原因加以層別;5.層別后所得之信息与對策相連,并付諸實際行動5)層別法之運用手法:對QC手法上各种圖表均可運用層別法加以分類比對分析:,孔徑尺寸不良之總推移層別,1.推移圖之層別,LS,US,US,B 產線,LS,LS,LS,(超出規格甚多,且目眩態分布),B產線值均于規格內,故在改善時以A,C兩條線為重點;而A產線應提升其值,C產線應降低其值,2.直方圖之層別,1 3 2 3 3 2 12 3 2 1 31 2

12、 1 3 3 3 2 2 2 2 1 11 3,操作員1,0.10,操作員1,3.管制圖之層別,30,14,10,9,2,25,50,75,100,A,B,C,D,E,F,原因,件數,n=6000 np=70件 p=1.6%,(b)改善后,%100累積比例,6,4.柏拉圖之層別,鑄造不良偏高,含渣,人員,鋼水,設備,方法,5.特性要因圖之層別,(作為曲線散布),(正相關),(負相關),6.散布圖之層別,以某造紙厂之紙厚,制程檢驗規定日班人員須每2個小時抽測檢1次,每次取6段,并測量中央及兩側之厚度.最近因紙張厚度不均造成紙管卷制困難客戶抱怨,要求追查原因.品保遂將近5天之現場抽測數据加以整理并

13、作成次數分配表及直方圖如下:并求出平均值与標准差,紙張厚度規格:6.5+/-0.5mm,依据直方圖看出平均值偏紙,變异非常大,但找不出真正原因,請幫忙查找,實例學習:,收集之數据:,1.先以紙張厚度之測量位置層別,繪制直方圖:,中央,左側,結論:以位置別層別后,從直方圖散布情形看,仍均有超出規格現象,且各位置之离散程度与平均极中情形無明顯之差异.,2.再以測量抽取時間別層別,繪制直方圖:,結論:由測量時刻別可看出早班上午時段厚度平均分布偏規格下限多,又以8:30時不足厚度最多故可判定紙張厚度不足因生產時刻差异所引起,并應從早上作業情況予以調查,以尋出改善對策,4.直方圖,一.定義:將所收集的測

14、定值特性值或結果值,分為几個相等的區間作為橫軸,并將各區間內所測定值依次數所出現的次數累積而成的面積,用柱子排起來的圖形.也稱做柱狀圖(通常計量值使用直方圖)使用目的:a.了解分配形態;b.研究/測知制程能力;c.工程解析与管制;d.測知數据之真依;e.計划產品之不良率;f.求分配之平均值与標准差;g.藉以訂定規格界限;h.与規格或標准值比較;I.調查是否混入兩個以上的不同群体;j.了解、設計、管制是否合乎制程管制.,名詞解釋:1.次數分配-將許多复雜數据依其差异的幅度分成若干組,在各組內列入測定值的出現次數 2.相對次數-在各組出現的次數除以全部之次數 3.累積次數(f)-為自次數分配的測定

15、值較小的一端將其數積計算 4.全距(R)-在所有數据中最大值和最小值的差 5.組距(h)-全距/組數=組距 6.算數平均數(X)-數据的總和除以數据總數,通常以X(x-bar)表示,X0表示組中心,表示組中心的相對距離(位于中心上邊取負值,中心下邊取正值),7.中位數(X)-將數据由小至大排列,位居中央的數稱為中位數,若遇偶數位時,則取中央兩數所之平均值.8.眾數(MODE)-次數分配中出現次數最多組之值 如:,次數最多為24,不良項目是9,故眾數為99.組中點(mid range)-一組數据中最大值与最小值之平均值(上組界+下組界)/2=組中點10.標准差()-=h*(2f-(f)2/n)/

16、(n-1),1.收集數据并記錄(所收集的數据應大于50個)例:某公司之成品尺寸規格為130160mm,現按隨机抽樣方式抽取60個樣本,其測定值如附表,試制作直方圖.,二.直方圖的制作方法:,2.找出數据中最大值(L)与最小值(S)先從各行(或列)求出最大和最小值,最大值用 框起來,最小值用 框起來,再進行比較.求得L=148;S=121求全距(R),最大值(L)_最小值(S)=全距(R)例:R=148-121=27決定組數(一般先將异常值剔除后再分組),方法一:依公式,K=1+3.332logn,如:n=60,則K=1+3.32log60=1+3.332(1.78)=6.9 即約可分為6組或7

17、組,方法二:一般數据分組可參照下表,例:取7組,求組距(h)(1)組距=全距/組數(h=R/K)(2)為便于計算平均數及標准差,組距常取為2.5或10的倍數 例:h=27/7=3.86,組距取46.求各組上組界,下組界(由小而大順序),a.第一組下組界=最小值-最小測定單位/2 第一組上組界=第一組下組界+組距 第二組下組界=第一組上組界 第二組上組界=第二組下組界+組距.b.最小測定單位 整數位最小測定單位為1 小數點1位最小測定單位為0.1 小數點2位之最小測定單位為0.01,c.最小數應在最小一組內,最大數應在最大一組內;若有數字小于最小一組下組界或大于最大一組上組界值時,應自動加一組,

18、例:第一組=121-1/2=120.5124.5 第二組=124.5128.5 第三組=128.5132.5 第四組=132.5136.5 第五組=136.5140.5 第六組=140.5144.5 第七組=144.5148.5 求組中點 組中點(值)=(該組上組界+該組下組界)/2 如:第一組=(120.5+124.5)/2=122.5 第二組=(124.5+128.5)/2=126.5.,8.作次數分配表(1)將所有數据,依其數值大小書記于各組之組界內,并計算其次數(2)將次數相加,并与測定值之個數相比較;表中之次數總和應与測定值之個數相同.,9.制作直方圖(1)將次數分配表圖表化,以橫軸

19、表示數值之變化,以縱軸表示次數(2)橫軸与縱軸各取适當的單位長度,再將各組之組界分別標在橫軸上,各組界應為等距离.(3)以各組內之次數為高,組距為底;在每上書成矩形,則完成直方圖.(4)在圖之右上角記入相關數据履歷(數据總數N,平均值,標准差.),并划出規格之上,下限(5)記入必要事項:制品名,工程名,期間,制作日期,制作者.,例圖制作如下:,1.正常型-中間高,兩邊低,有集中趨勢 結論:左右對稱(常態分配),顯示制程在正常運轉下,三.常見的直方圖型態,2.缺齒型(凹凸不平型)-中高低不一,有缺齒情形.不正常分配,因測定值或換算方法有偏差,次數分配不妥當所形成 結論:稽查員對測定值有偏好現象或

20、是假造數据.測量儀器不精密或組數的寬度還是倍數時,亦有此情況,3.切邊型(斷裂型)-有一端被切斷結論:原因為數据經過全檢過,或制程本身有經過全檢過.若剔除某規格以上,邊在靠近右邊形成.,4.离島型-在右端或左端形成小島結論:測定有錯誤,工程調節錯誤或使用不同原料所引起.一定有异常原因存在,只要去除,即可合乎制程要求.,高原型-形狀似高原結論:不同平均值的分配混在一起,應層別之后再做直方圖比較,6.雙峰型-有兩個高峰出現結論:有兩种分配相混合,例如兩部机器或兩家不同供應商,有差异時,會出現此种形狀,因測定值受不同的原因影響,應于層別后再作直方圖,偏態型(偏態分配)-高處偏向一邊,另一邊低,拖長尾

21、巴.分偏右弄,偏左型結論:尾巴拖長時,應檢討是否在技術上能夠接受,工具磨損或松動時,亦有此种現象發生.,(1)异常值應去除后再分組(2)對于從樣本測定值推測群体形態,直方圖是最簡單有效的方法(3)應取得詳細之數据資料(4)進行制程管理及分析改善時,可利用層別方法,將更容易找出問題的症結點,對于品質的改善,有事半功位的效果,四.直方圖使用注意事項,1.測知制程能力,作為改善制程的依据 自制程中所收集的數据,整理成次數分配表,再繪成直方圖,可由其集中与分散的情形來看出制程的好坏.此直方圖的重點在于平均值(X-BAR)所在,若為常態分配,則自彎曲點中引一橫軸之平行線,可求得標准差().良好的制程,平

22、均數應接近規格中心,標准差則愈小愈佳.2.計算產品不良率 品質改善循環活動中,常需計算改善活動前、中、后之不良率,藉以比較有無改善成效.例如:某產品之重量直方圖如圖示,其規格為35+/-3(g).,五.直方圖應用,由圖与規格界限比較,可知在規格下限以下的有35件,超出規格上限的有36件,合計有71件,占總數307件之23.13%,即不良率為23.13%,3.測知分配形態 由直方圖之形狀,得知制程是否异常.4.藉以訂定規格界限 在未訂出規格界限之前,可依据所收集編成次數分配表,測知次數分配是否為常態分配;若為常態分配,則可根据計算得知平均數与標准差來訂出規格界限.一般而言,規格下限=平均數-3個

23、標准差;規格上限=平均數+3個標准差.5.与規格或標准值比較(1)合乎規格,(A)理想型-制程能力在規格界限內,且平均值与規格中心一致,平均值加減4倍標准差為規格界限.制程變大或變小都不會超過規格值,是一种最理想的直方圖,(B)一側無余裕-制品偏一邊,而另一邊還有余裕很多,若制程再變大很可能會有不良發生,必需設法使制品中心值与規格中心值吻合,規格,制品范圍,上限,下限,(C)兩側無余裕-制品最大值与最小值在規格內,但都在規格上下限兩端,其中心值与規格中心值吻合,雖沒有不良發生,但若制程稍有變動,就有不良產生之危險,需提高制品精度,(D)余裕太多-實際制程在規格界限內,但距規格界限太遠,即產品品

24、質均勻,變异小.若此情形為增加成本而得到,故可考慮縮小規格界限或放品質變异,以降低成本,減少浪費,(2)不合乎規格(A)平均值偏左(或偏右)-如果平均值偏向規格下限并伸展至規格下限左邊,或偏向規格上限并伸展至規格上限的右邊,但制品呈常態分配,此即表示平均位置的偏差,應針對固定的設備、机器、原料等方向去追查,(B)分散度過大-實際制品的最大值与最小值超過規格值,有不良品發生,表示標准大,制程能力不足,應針對變動的人員,方法去追查,要設法使產品的變异縮小;或放寬規格.,(C)完全在規格外-表示制品之生產完全沒有依照規格去考慮;或規格訂得不合理,根本無法達到規格,6.調查是否混入兩個以上不同群体 如

25、果直方圖呈雙峰型態,可能混入了兩個不同群体,即制 程為兩种不同群体.如:兩個不同班別,線別,材料等,生產出來的制品混在一起.此時,需要將其層別,將不同班別,產線等不擺在一起.7.研判設計時的管制界限可否用于制程管制 計量值管制圖如X-R管制圖,當 未知,以 作為中心線,+A2 作為管制上限,-A2R作為管制下限,做為設計的管制界限.,1.制程精密度Cp(Capability of Precision)之求法:(a)兩側規格 Cp=(Su-SL)/6=(規格上限)-(規格下限)/(6*(標准差),標准差s,平均數,六.制程能力,單側規格(I)上限規格 Cp=(Su-)/3=(上限規格)-(平均值

26、)/(3*標准偏差)(II)下限規格 Cp=(-SL)/3=(平均值)-(下限規格)/(3*標准偏差),制程精密度Cp判定表:,99.99999998%,2.制程精密度(Cp值)与不良率之關系,定義(1)根据所收集的數据,按不良原因、不良狀況、不良項目、不良發生的位置等不同區分標准而加以整理、分類,藉以尋求占最大比率之原因、狀況或位置,按其大小順序排列,再加上累積值的圖形.(2)從柏拉圖可看出哪一項目有問題,其影響度如何,以判斷問題之症結所在,并針對問題點采取改善措施,故又稱為ABC圖(3)又因圖的排列是依大小順序為之,故又稱為排列圖,5.柏拉圖,(1)柏拉圖的制作方法 步驟1:決定數据的分類

27、項目 分類方式:a.結果分類包括不良項目別、時間別、工程別;b.原因分類包括材料別、方式別、人、設備別 步驟2:決定收集數据的期間;并按分類項目,在期間內收集數据 步驟3:依分類項目別,做數据整理,并作成統計表.,二.柏拉圖的制作說明,如:電气狀況不良記錄表,a.各項目按出現數据之大小順序排列,其他項排在 最后一項,并求其累積數.(其他荐不可大于前三項,否則再細分 b.求各項目數据所占比率及累計數之影響度 c.其他項排在最后,若太大時,須檢討是否有其他重要因素需提出.不良率(%)=各項不良數/總檢查數*100 影響度(%)=各項不良數/總不良數*100步驟4:記入圖紙并依數据大小排列畫出柱狀圖

28、 a.縱軸左側填不良數不良率;或損失金額,縱軸右側刻度表示累計影響度;橫軸填分類項目名稱,由左至右按照所占比較大小記入,其他項則記在最右邊.b.橫軸与縱軸應做适度比較,橫軸不宜長于縱軸,步驟5:繪累計曲線(a)點上累計不良數(或不良率)(b)用折線連結,步驟6:繪累計比率(a)縱軸右邊繪折線終點為100%(b)將0100%分成10等分,把%的分度記上(c)標出前三/四項之累計影響度,是否80%或接近80%步驟7:記入必要的事項(a)標題;(b)數据收集時間;(c)數据合計(d)工程別;(e)製作者,柏拉圖制作注意事項 1.柏拉圖之橫軸是按項目別,依大小順序由高而低排列,其他項排在最后一位.2.

29、柏拉圖之柱形寬度要一致,縱軸与橫軸比例為3:2 3.縱軸最高點為總不良數,且所表示間距應一致 4.項目別包括其他項在內,不要超過46項 5.縱軸可表示品質、時間、金額、安全等項目;橫軸可表示現象、時間、設備、作業者等 6.各項目所引起的損失金額不同時,則縱軸應以損失金額表示,7.改善前后之比較時:改善后,橫軸項目別依大小順序由高而低排列;前后比較基准應一致,且刻度相同;各項目別以顏色來區分,更易于比較 8.連接各項目与縱軸對應點之連接線為折線而蜚曲線 9.一般前三項不良項目累計影響度在7080%,甚至更高10.柏拉圖适合于計數值統計,(1)作為降低不良的依据:要降低不良率先繪柏拉圖,真正影響不

30、良的大原因只23項而已,只要對主要項把握原因,整個不良原因就減掉大半了(2)決定改善目標,找出問題點(3)确認改善效果(改善前、后之比較)采取對策后,為确認其成效需重繪一次柏拉圖,若對策有效,柱形圖的高度會降低,且橫軸不良項目及順序會變動,三.柏拉圖之應用,(4)應用于發掘現場的重要問題 一般數据可分為兩大類,即依結果的分類和依要因的分類.依結果的數据加以分類繪成柏拉圖,可掌握少數而重要的結果;依要因的分類將要因制成特性要因圖,再收集要因數据制成柏拉圖,即可掌握住重要的要因用于整理報告或記錄 用數据來寫報告或記錄,比較不容易了解問題點,若采用柏拉圖整理報告或,可使看者一目也然可作不同條件的評价

31、,對于同一制程前后不同時間之表現,用柏拉圖來加以分析,評价.驗証或調整特性要因圖 對于憑經驗或超常所繪之特性要因圖,可用柏拉圖加以驗証或調整(8)配合特性要因圖使用 柏拉圖上之項目當作品質特性加以要因分析,再用柏拉圖整理重要分類,可以找出改善的方案.,(1)柏拉圖只能針對所做項目加以比較(2)作成的柏拉圖若各項目分配比例差不多時,則不符合柏拉圖法則,應重新收集資料分析(3)收集之數据應正确無誤,方不致蒙蔽事實真相(4)對于數据項別重點已清楚明确者,無必要作柏拉圖(5)柏拉圖作成后,若前12項不夠具体無法下對策時,可再做進一之柏拉圖分析,四.柏拉圖應用注意事項,柏拉圖分析主要目的是從分析圖中獲得

32、情報,進而設法采取對策.若第一位之不良項目并非本身工作崗位所能解決時,可以避開第一位而從第二位著手第一位的項目改善后,若問題又再現,則需考慮將要因予以重新整理分類別作柏拉圖分析其他若大于最大的前面几項,則必須加以層別,檢討其中是否含有大的原因必要時,可作層別的柏拉圖.若對各項目加以細分化,且表示其內容時,可畫積層柏拉圖.,某公司之行政費用,經統計后如,將之作成柏拉圖,以了解何項支出占第一位,以及哪些項目占比例大.,五.實例分析,分析:(1)作統計表(2)繪制柏拉圖,6.特性要因圖,定義与分類 1.定義-將造成某項結果(特性)的諸多原因(要因),以有系統的方式(圖表)來表達結果与原因之間的關系之

33、圖稱為特性要因圖.又因此圖是石川馨博士于1952年所發明,又稱為石川圖.其主要目的在于闡明因果關系,亦稱 因果圖,其形狀与魚骨相似,故又稱為魚骨圖 2.分類-可分為:,A.原因追求型:列出可能會影響制程的相關因子,以進一步由其中找出主要原因,以表示結果与原因之間的關系,B.對策追求型:此類型是將魚骨圖反轉成魚頭向左的圖形,目的追尋問題點應該如何防止,目標結果應如何達成,1.确定特性:先決定問題或品質的特性為何 2.繪制骨架:,3.大略記載各類原因:确定特性后,開始找出可能的原因,可從4M+1E即人員(Man)、机械(Machine)、材料(Material)、方法(Method)及環境(Env

34、ironment)五大類加以應用.,三.特性要因圖繪制,4.依据大要因,再分出中要因:細分出要因之中骨線,應比大骨線細,約選35個為宜,將有因果關系的要因歸于同一骨線內.,5.要更詳細列出小要因:運用中要因之方式,可將更詳細的小要因討論出來.,6.圈出最重要的原因:造成一個結果的原因有很多,可以通過收集數据或自由討論的方式,比較其對特性的影響程度,以“O”或“”圈出來,作為進一步討論用.,7.記載所依据的相關條件:(1)制作目的;(2)制作日期;(3)制作者;(4)參与人員,1.特性以注意為什么什么易激發聯想 2.特性不能使用含糊不清或抽象的主題 3.收集多數人的意見,運用腦力激蕩原則 4.層

35、別區分(要因別,机械別,工程別,机种別)5.無因果關系者,不予歸類 6.多加利用過去收集的資料 7.重點應放在解決問題上,并依結果提出對策,其方法可依5W2H原則執行.(why,what,where,when,who,how,how much),四.繪制注意事項,1.(1)不正确的繪制方式-(A)原因應標于尖頭尾端,不應于尖頭上方或下方.(正确)錯誤:XXX或 OOO(B)未將重大要因圈出,XXX,為何交貨延遲,訂貨情報掌握不确實,人,沒有交貨意義,制造,物品,交貨,NG,為何交貨延遲,訂貨情報掌握不确實,人,沒有交貨意義,制造,物品,交貨,OK,(2)正确的繪制方式-,五.范 例,2.原因追

36、求型与對策追求型應用實例(1)原因追求型,(2)對策追求型,7.管制圖,定義与特性 1.定義-以實際產品品質特性与依過去經驗所研判之制程能力的管制界限比較,以時間順序用圖形表示的方法 2.特性-在管制圖上有三條筆直的橫線,中間的一條為中心線(CL),一般以藍色之實線繪制;上方的一條為上管制界限(UCL);下方的稱為下管制界限(LCL),上、下管制界限一般均用紅色之虛線表示.實際產品品質特性之點線連條則都以黑色實線表示.,1.品質變异之形成原因:A.偶然原因,不可避免的原因、非人為的原因、共同性原因、一般性原因,是屬于管制狀態的變异.;B.异常原因,可避免的原因、人為的原因、特殊性原因,局部性原

37、因等,不可讓其存在,必須追查原因,采取必要之行動,使制程恢复正常管制狀態,否則會造成莫大之損失.2.管制界限之构成:管制圖是以常態分配中之三個標准差為理論依据,中心線為平均值,上、下管制界限以平均數加減三個標准差(3)之值,以判斷制程中是否有問題發生.,二.管制圖的原理,1.依數据性質分類:(1)計量值管制圖,是指管制圖之數据均由量具實際量測而得,如:長度、重量、濃度等.常見的有:a.平均值與全距管制圖(X bar R Chart)b.平均值與標準差管制圖(X bar-Chart);c.中位數與全距管制圖(X R Chart);d.個別值與移動全距管制圖(X-Rm chart);e.最大值與最

38、小值管制圖(L-S chart)(2)技數值管制圖,是指管制圖之數據均以單位計數而得,如:不良數、缺點數等.常用的有:a.不良率管制圖(P chart);b.不良數管制圖(Pn chart);c.缺點數管制圖(C chart);d.單位缺點數管制圖(U chart),三.管制圖种類,2.依管制圖之用途分類:(1)解析用管制圖:此種管制圖先有數據,後有關直界限.(與未知之群體).A.決定方針用;b.制程界係用;c.製程能力研究用;d.製程管制之準備(2)管制用管制圖:先有管制界限,後有數據(與已知之群體),主要用途為控制製程品質,如有超出管制界限時,則立即採取措施.(原因追查消除原因再發防止之研

39、究)3.計數值與計量值管制圖之應用比較:,1.計量值管制圖:X bar-R管制圖:a.先收集100個以上數据,依測定先后順序排列;b.以25個數據為一組(一般採45個),分成約2025組;c.將各組數據記入數據表欄位內;d.計算各組之平均值X bar.(取測定值最小單位下一位數);e.計算各組之全距R.(最大值-最小值=R);f.計算總平均X X=(Xbar1+xbar2+xbar3+x bark)/k,k為組數;g.計算全距之平均R:R bar=(R1+R2+Rk)/k;h.計算管制界限:X bar管制圖 中心線(CL)=X;上管制限=(UCL)=X+A2R;下管制限(LCL)=X-A2R.

40、R管制圖.中心線(CL)=R,上管制限(UCL)=D4R,下管制限(LCL)=D3R,四.管制圖之繪制:,3.管制點之點繪要領:(1)各項工程名稱管制特性測定單位等任何條件變更應清楚填入,以便資料分析整理(2)計量值雙管制圖(X bar-R,X-R,等)其X管制圖与R管制圖的管制界限寬度取汗,一般原則以組之樣本數(n)為參考,X管制之單位分度寬約為R管制圖的1/SQUT(n)倍(3)中心線(CL)以實線記入,管制界限則記入虛線,各線上須分別記入CL,UCL,LCL等符號.(4)CL,UCL,LCL之數值位數計算比測定值多兩位即可(各組數据之平均值計算數則取比測定值多一位數)(5)點的繪制可用、

41、X 表示(6)雙管制圖,二個管制圖之繪制間隔限最少距20mm以上,1.管制狀態之判斷(制程處于穩定狀態(1)多數點集中在中心線附近(2)少數點蔽在管制界限附近(3)點之分布与跳動呈隨机狀態,無規則可循(4)無點超出管制界限外 2.可否延長管制界限做為后續制程管制用之判斷基准(1)連續25點以上在管制界限線內(机率為93.46%)(2)連續35點中,出現在管制界限外點不超出1點,五.管制圖之判讀:,(3)連續100點中,出現在管制界限點不超出2點3.檢定判讀原則:(1)應視每一個點為一個分配,非單純之點(2)點之動向代表制程之變化;雖無异常原因,各點在界限內仍會有差异存在(3)异常之檢定原則:,

42、1.管制圖使用前,現場作業應予標准化作業完成 2.管制圖使用前,應先決定管制項目,包括品質特性之選擇与取樣數据之決定 3.管制界限不可用規格值代替 4.管制圖种類之選擇應配合管制項目之決定 5.抽樣方法以能取得合理樣組為原則 6.有點超出界限或有不正常狀態,必須利用各种措施改善或配合統計方法,把异常原因找出并加以消除 7.X bar-R管制圖組的大小(n),一般取n=45最适合,六.管制圖使用注意事項:,8.R管制圖沒有管制下限,因R值是由數据之最大值減最小值而得,因LCL取負值沒有意義.9.管制圖一定要与制程管制的配置結合10.P管制圖有點超出管制下限,應采取對策,不能認為不良率低而不必采取對策,因其异常原因可能來自:(1)量具的失靈,須更新量具,并檢討以前量測值影響度(2)良品的判定方法有誤,應立即修正(3)真正有不良率變小的原因,若能掌握原因,則大幅降低不良率11.制程管制做得不好,管制圖形同虛設,要使管制圖發揮效用,應使產品制程能力之CP值(制程精密度)大于1以上,附.管制圖常用系數表(一),附.管制圖常用系數表(二),The EndThank You,