Zetasizer Nano系列专题.ppt
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1、Zetasizer Nano 系列专题:,Malvern Instrument,Who Are Malvern Instruments?,马尔文仪器是一家英国公司,专注于设计和制造精确的测量仪器,应用于粒子尺寸及其分布粒子的电荷分子量粒子形态分散体系的流体力学性质,Where Are We?,英国总部,Zetasizer Nano 能够测量什么参数?,三种测量技术动态光散射(Dynamic Light Scattering)通过非侵入背散射(NIBS)测量粒径及其分布激光多普勒电泳(Laser Doppler Electrophoresis)通过激光多普勒测速和相位分析光散射技术相结合的马尔文
2、M3-PALS专利技术测量zeta电位静态光散射(static light scattering)分子量以及第二维利系数A2测量,Zetasizer Nano系列:,粒子尺寸胶体颗粒,乳液,高分子溶液高灵敏度高浓度Zeta电位维护简单高灵敏度,准确率高分辨率分子量蛋白质和高分子,Zetasizer Nano 的应用,应用,涂层,化学工业,纳米技术,生物/药物,多糖,疫苗,诊断,蛋白质特性,药物释放,DNA/基因疗法,纳米钻石,纳米银颗粒,量子点,色素/油漆,油墨,炭化分散体系,高分子,陶瓷,表面活性剂,微乳液,高分子溶液,二氧化硅分散体系,Contents,动态光散射测量原理由相关曲线得到粒径
3、信息 数据分析样品要求及制备静态光散射Zeta 电位Zeta Nano ZS的应用,光散射技术的光学系统,APD,Zetasizer Nano是如何测试粒子的粒径的?,动态光散射Dynamic Light Scattering(DLS),也称光子相关光谱Photon Correlation Spectroscopy(PCS),准弹性光散射quasi-elastic scattering,测量光强的波动随时间的变化粒子的布朗运动Brownian motion导致光强的波动光子相关器correlator将光强的波动转化为相关方程相关方程检测光强波动的的速度,从而我们得到粒子的扩散速度信息和粒子的粒
4、径d(h)从相关方程我们还可以得到尺寸的分布信息,动态光散射及布朗运动,微小粒子在悬浮溶液中的随意运动布朗运动的速度依赖于粒子的大小媒体的粘度,散射光的相叠加,激光,检测器,平均测量角度,大部分光未被散射,穿过样品,平均光强,动态光散射测量原理(ISO 13321),相关方程,光强相关方程:where:g2:光强相关方程g1:场强相关方程:相关器延迟时间A:相关方程基线B:相关方程截距,相关方程表示随时间变化的相关性质,Time,=0,Time,=1,Intensity,Time,Intensity,=2,=,光强波动,相关函数和粒径分布,STOKES-EINSTEIN EQUATION,2,
5、动态光散射,由相关曲线得到粒径信息:数据分析,相关曲线,这里:G=Dq2 为衰减率D 为扩散系数q=(4 p n/lo)sin(q/2)为散射矢量n 为折光指数lo 为照射光波长q 为散射角度,对于单分散体系,STOKES-EINSTEIN EQUATION,相关曲线,累积距法:得到平均粒子尺寸和分布系数(PD.I)多指数分析模型:得到粒子实际尺寸和分布,对于多分散体系,这里g1(t)是相关曲线中所有指数衰减的总和,累积距法,ISO13321 阐述用三次方多项式拟和相关方程这里 t 是衰减时间 与z-均 扩散系数相关由z-均 扩散系数得到z-均直径 为分布系数,分布系数(PD.I),多指数分析
6、模型对于分布的分析,general purpose 算法适用于大部分分布状况未知的样品multiple narrow mode 算法适用于已知的分布状况不连续的样品,光强,体积和数量分布设想一个由相等数量的 5 nm 和 50nm 球型粒子组成的混合物,数量分布,数量平均粒径 28nm,体积平均粒径 49nm,光强分布(Rayleigh Theory),光强平均粒径=50nm,体积分布,N1:N2,N1*3/4r13:N2*3/4r23 N1V1:N2V2,N1V12:N2V22,动态光散射的特点:,上亿个粒子的统计学效果,使得对粒径及其分布的测量更加准确对微量存在的大颗粒极其敏感在溶液状态下
7、测量颗粒的尺寸需要溶液的粘度和折光指数等光学参数所得到的尺寸分布正比于不同种类颗粒对光强的贡献率,动态光散射Dynamic Light Scattering,样品要求,样品要求,样品应该较好的分散在液体媒体中理想条件下,分散剂应具备以下条件:透明和溶质粒子有不同的折光指数应和溶质粒子相匹配(也就是:不会导致溶胀,解析或者缔合)掌握准确的折光指数和粘度,误差小于0.5%干净且可以被过滤ISO 13321(1996),动态光散射对粒子尺寸的下限,依赖于:粒子相对于溶剂产生的剩余光散射强度溶质和溶剂折光指数差样品浓度仪器敏感度激光强度和波长检测器敏感度-雪崩式光电二极管(APD)仪器的光学构造-非侵
8、入背侧光散射技术(NIBS),动态光散射对粒子尺寸的上限,动态光散射测量粒子无规则的热运动/布朗运动 若粒子不进行无规则运动,动态光散射无法提供准确粒径信息粒子尺寸的上限定义于沉淀行为的开始因此上限取决于样品 应考虑粒子和分散剂的密度,样品浓度总结,从动态光散射得到的样品尺寸应该不依赖于浓度(ISO 13321)每种样品都有其理想的测试浓度范围如果浓度太低,可能散射光强不足以进行试验这种状况不太可能出现在Nano S/Nano ZS系列中,除非在一些极端条件下如果样品浓度太高,实验结果可能会依赖于浓度为了得到正确的尺寸信息,可能会需要在不同的浓度下检测样品尺寸,样品浓度下限,依赖于:粒子相对于
9、溶剂产生的剩余光散射强度折光指数样品浓度仪器敏感度激光强度和波长检测器敏感度仪器的光学构造,样品浓度上限,对于高浓度样品,由动态光散射测得的表观尺寸可能会受到不同因素的影响多重光散射 检测到的散射光经过多个粒子散射扩散受限 其他粒子的存在使得自由扩散受到限制聚集效应 依赖于浓度的聚集效应应电力作用 带电粒子的双电层相互重叠,因而粒子间有不可忽视的相互作用。这种相互作用将影响平移扩散,独特的非侵入背侧光散射特点(NIBS),在Nano S 和 Nano ZS 系列中,光散射检测角度为173o,因此成为背光散射光学系统不穿过样品,因此称为非侵入性NIBS所观察到的样品散射体积为在90o(Zetas
10、izer Nano S90)条件下的8倍,因此能够得到更多的散射光强,仪器也更加灵敏更高的灵敏度使仪器能够检测低浓度下小尺寸的粒子激光不需要穿过整个样品,因此降低了多次光散射效应。可以检测较高浓度的样品多次光散射效应通常降低粒子的表观尺寸,增加光子相干曲线的截距污染物,如灰尘粒子,得散射光通常在较小的角度有比较大的散射光强 因此背侧光散射可有效的降低灰尘的影响,非侵入背侧光散射:NIBS,173,Contents,动态光散射静态光散射及分子量的测定测量原理应用实例Zeta 电位Zetasizer Nano 的应用,静态光散射Static light scattering(SLS),在静态光散射
11、中,我们检测溶质粒子的绝对散射光强随浓度的变化在Zetasizer Nano ZS中,我们在一个角度检测光强通过Debye曲线我们可以测量绝对分子量第二维利系数,第二维利系数2nd virial coefficient(A2),一个热力学性质,形容溶质和溶剂间的相互作用当 A2 0,溶质分子稳定的存在于溶剂中当 A2=0,溶质分子和溶剂分子的相互作用等同于溶质分子内部相互作用被称为 theta 溶剂条件当 A20,溶质分子不能稳定存在于溶剂中,形成结晶或者聚集,什么样的样品适合静态光散射?,YES,NO,Proteins,Polymers,Dendrimers,Liposomes,Emulsi
12、ons,Mixtures,静态光散射,I(MW2)(C),K:光学常数 C:浓度M:分子量 Rq:样品的瑞利比A2:2nd 维利系数 P():形态因子,(Rayleigh Equation),静态光散射,静态光散射,对于瑞利散射,P()=1 因此方程被简化,因此从KC/R 对浓度做曲线,截距值为分子量的倒数1/M,斜率为第二维利系数A2,(y=mx+c),Debye 曲线,样品制备,在适合的溶剂中,制备一系列已知准确浓度的样品样品溶液具体浓度依赖于所测量的样品,一般在0.1-10g/L,1,2,3,4,溶剂,样品制备,所有使用的玻璃容器,吸液管,样品池,溶剂,均应无尘用过滤膜过滤所有的溶剂,分
13、散剂(e.g.Whatman Anotop 20nm pore size filters),分子量测定应用实例(Lysozyme in PBS),Contents,动态光散射静态光散射 Zeta 电位测量原理样品制备样品测试Zeta Nano的应用,表面电荷的起源,大部分存在于水体系中的胶体颗粒携带电荷关于表面电荷的产生,有很多种原因,依赖于粒子的表面性质和周围的媒体表面基团离子化有失去或者得到离子的趋势带电物质吸附在粒子表面,Zeta电位(Zeta Potential),什么是Zeta电位?,Zeta电位同时依赖于粒子表面和分散剂的化学性质对于静电力稳定的分散体系,通常是Zeta电位越高,体
14、系越稳定体系稳定与否通常以Zeta电位是否大于 30mV为标准,影响Zeta电位的因素,影响Zeta电位的因素有:pH变化,电导率(浓度,盐的类型)组成成分浓度的变化(如高分子,表面活性剂),Stern layer,Slipping plane,Diffuse layer,-,-100,0,mV,Distance from particle surface,Surface potential,Stern potential,Zeta potential,Particle withnegative surface charge,分散体系的稳定性(DLVO理论),DLVO 理论以四位科学家命名(D
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