射线检测幻灯片课件.pptx
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1、第三章 射线检测,射线检测是利用各种射线对材料的透射性能及不同材料对射线的吸收、衰减程度的不同,使底片感光成黑度不同的图像来观察的,是一种行之有效而又不可缺少的检测材料或零件内部缺陷的手段,在工业上广泛应用。这是因为它具有以下优点:1、适用于几乎所有的材料,对零件几何形状及表面粗糙度均无严格要求,目前射线检测主要应用于对铸件和焊件的检测;2、射线检测能直观地显示缺陷影像,便于对缺陷进行定性、定量和定位;3、射线底片能长期存档备查,便于分析事故原因。,第二章 射线检测,射线检测对气孔、夹渣、疏松等体积型缺陷的检测灵敏度较高,对平面缺陷的检测灵敏度较低,如当射线方向与平面缺陷(如裂纹)垂直时很难检
2、测出来,只有当裂纹与射线方向平行时才能够对其进行有效检测。另外,射线对人体有害,需要有保护措施。,第二章 射线检测,射线检测的缺点:,一.射线的种类和频谱波长较短的电磁波叫射线,速度高、能量大的粒子流也叫射线。,第一节 射线检测的物理基础,第二章 射线检测,在射线检测中应用的射线主要是X射线、射线和中子射线。X射线和射线属于电磁辐射,中子射线是中子束流。由于他们属电中性,不会受到库伦场的影响而发生偏转,且贯穿物质的本领较强,被广泛应用于无损检测。,第二章 射线检测,二、射线的产生(一)X射线的产生 X射线是一种波长比紫外线还短的电磁波,它具有光的特性,例如具有反射、折射、干涉、衍射、散射和偏振
3、等现象。,第二章 射线检测,X射线通常是将高速运动的电子作用到金属靶(一般是重金属)上而产生的。X射线源即X射线发生器主要由三部分组成:发射电子的灯丝(阴极)、受电子轰击的阳极靶面、电子加速装置高压发生器。,第二章 射线检测,图为在35 kV的电压下操作时,钨靶与钼靶产生的典型的X射线谱。钨靶发射的是连续光谱,而钼靶除发射连续光谱之外还叠加了两条特征光谱,称为标识X射线,即K线和K线。若要得到钨的K线和K线,则电压必须加到70 kV以上。,钨与钼的X射线谱,1、连续X射线根据电动力学理论,具有加速度的带电粒子将产生电磁辐射。在X射线管中,高压电场加速了阴极电子,当具有很大动能的电子达到阳极表面
4、时,由于猝然停止,它所具有的动能必定转变为电磁波辐射出去。由于电子被停止的时间和条件不同,电子的能量和波长不同,所以辐射的电磁波具有连续变化的波长。在任何X射线管中,只要电压达到一定数值,连续X射线总是存在的。,第二章 射线检测,2、标识X射线根据原子结构理论,原子吸收能量后将处于受激状态,受激状态原子是不稳定的,当它回复到原来的状态时,将以发射谱线的形式放出能量。在X射线管内,高速运动的电子到达阳极靶时将产生连续X射线。如果电子的动能达到相当的数值,可足以打出靶原子(通常是重金属原子)内壳层上的一个电子,该电子或者处于游离状态,或者被打到外壳层的某一个位置上。于是原子的内壳层上(低能级处)有
5、了一个空位,邻近高能级壳层上的电子便来填空,这样就发生相邻壳层之间一系列电子的跃迁。外层高能级上的电子向内层低能级跃迁时将释放出多余能量,从而发射出X射线。显然,这种X射线与靶金属原子的结构有关,其能量或波长是确定的,因此称其为标识X射线或特征X射线。标识X射线通常频率很高,波长很短。,在工业探伤中所获得的X射线谱中既有连续谱,也有标识谱,标识射线与连续射线能量相比要小得多,所以起主要作用的是连续谱。,第二章 射线检测,第二章 射线检测,(二)射线的产生 射线是一种电磁波,可以从天然放射性原子核中产生,也可以从人工放射性原子核中产生。它是由放射性同位素的核反应、核衰变或裂变放射出的。射线探伤中
6、使用的 射线源是由核反应制成的人工放射线源。应用较广的有钴-60。射线与X射线的一个重要不同点是,射线源无论使用与否,其能量都在自然地逐渐减弱,可由半衰期来反映:,(三)中子射线的产生 中子是通过原子核反应产生的。对原子施加强大作用,当给与原子核的能量大于中子的结合能时,中子就释放出来。,三、射线的特性 X射线、射线、中子射线都可用于固体材料的无损检测。1、具有穿透物质的能力;2、不带电荷,不受电磁场的作用;3、具有波动性、粒子性,即二象性;在做衍射试验的时候,粒子流和光束一样,都可以产生衍射波纹。同时在局部区域,光的衍射图案也如同粒子的衍射图案一样,出现单个粒子形成的点。这个试验得出的结论就
7、是,在微观粒子运动的时候,既有波动效应,也有粒子效应,这就是波粒二象性。4、能使某些物质起光化学作用;5、能使气体电离和杀死有生命的细胞。,第二章 射线检测,四、射线通过物质的衰减射线穿过物质时,与物质中的原子发生撞击、产生能量转换,引发能量的衰减和以下种种物理效应。(一)X射线、射线通过物质时的衰减 1、X射线、射线与物质的相互作用射线与物质的相互作用主要有三种过程:光电效应、康普顿效应和电子对的产生。这三种过程的共同点是都产生电子,然后电离或激发物质中的其他原子;此外,还有少量的汤姆逊效应。光电效应和康普顿效应随射线能量的增加而减少,电子对的产生则随射线能量的增加而增加,四种效应的共同结果
8、是使射线在透过物质时能量产生衰减。,第二章 射线检测,每束射线都具有能量为E=hv的光子。光子运动时保持着它的全部动能。光子能够撞击物质中原子轨道上的电子,若撞击时光子释放出全部能量,将所有能量传给电子,使其脱离原子而成为自由电子,光子本身消失。这种现象称为光电效应。光子的一部分能量把电子从原子中逐出去,剩余的能量则作为电子的动能被带走,于是该电子可能又在物质中引起新的电离。当光子的能量低于1 MeV时,光电效应是极为重要的过程。,第二章 射线检测,(1)光电效应,(2)康普顿效应 在康普顿效应中,一个光子撞击一个电子时只释放出它的一部分能量,结果光子的能量减弱并在和射线初始方向成角的方向上散
9、射,而电子则在和初始方向成角的方向上散射。这种现象称为康普顿效应。这一过程同样服从能量守恒定律,即电子所具有的动能为入射光子和散射光子的能量之差.,第二章 射线检测,(3)电子对的产生 在原子核场的作用下,一个具有足够能量的光子释放出它的全部动能而转化具有同样能量的一对正负电子,光子则完全消失,这样的过程称为电子对的产生。产生电子所需的最小能量为0.51 MeV,所以光子能量hv必须大于等于1.02 MeV。,电子对的产生和消失,第二章 射线检测,汤姆逊效应,(4)汤姆逊效应 射线与物质中带电粒子相互作用,产生与入射射线波长相同的散射线的现象叫做汤姆逊效应。这种散射线可以产生干涉,能量衰减十分
10、微小。,第二章 射线检测,2、射线的衰减定律和衰减曲线射线的衰减是由于射线光子与物体相互作用产生光电效应、康普顿效应、汤姆逊效应或电子对的产生,使射线被吸收和散射而引起的。由此可知,物质愈厚,则射线穿透时的衰减程度也愈大。射线衰减的程度不仅与透过物质的厚度有关,而且还与射线的性质(波长)、物体的性质(密度和原子序数)有关。一般来讲,射线的波长愈小,衰减愈小;物质的密度及原子序数愈大,衰减也愈大。但它们之间的关系并不是简单的直线关系,而是成指数关系的衰减。,第二章 射线检测,设入射线的初始强度为I0,通过物质的厚度为d,射线能量的线衰减系数为,那么射线在透过物质以后的强度I为,由于射线束是锥形,
11、修正后为,第二章 射线检测,宽束射线的衰减曲线,H物体表面至射线源的距离。,一、射线检测的基本原理射线检测是利用射线通过物质衰减程度与被通过部位的材质、厚度和缺陷的性质有关的特性,使胶片感光成黑度不同的图像来实现的,检测原理:当射线通过被检物体时,有缺陷部位与无缺陷部位对射线的吸收能力不同,一般情况是通过有缺陷部位的射线强度高于无缺陷部位的射线强度,因此可以通过检测透过被检物体后射线强度的差异来判断被检物体中是否有缺陷存在。,第二节 射线检测的基本原理和方法,第二章 射线检测,当一束强度为I0的射线平行通过被检测试件(厚度为d)后,其强度Id为,若被测试件表面有高度为h的凸起时,则射线强度将衰
12、减为,第二章 射线检测,X射线检测原理图,如在被测试件内,有一个厚度为x、吸收系数为的某种缺陷,则射线通过后,强度衰减为,若有缺陷的吸收系数小于被测试件本身的吸收系数,则IxIdIh,于是,在被检测试件的另一面就形成一幅射线强度不均匀的分布图。通过一定方式将这种不均匀的射线强度进行照相或转变为电信号指示、记录或显示,就可以评定被检测试件的内部质量,达到无损检测的目的。沿射线透照方向的缺陷尺寸越大,则有无缺陷处的强度差越大,反映在胶片上的黑度差越大,就越容易发现缺陷。,第二章 射线检测,而,二、检测方法 目前工业上主要有照相法、电离检测法、荧光屏直接观察法、电视观察法等。1、照相法射线检测常用的
13、方法是照相法,即利用射线感光材料(通常用射线胶片),放在被透照试件的背面接受透过试件后的射线。胶片曝光后经暗室处理,就会显示出物体的结构图像。根据胶片上影像的形状及其黑度的不均匀程度,就可以评定被检测试件中有无缺陷及缺陷的性质、形状、大小和位置。此法的优点是灵敏度高、直观可靠、重复性好,是射线检测法中应用最广泛的一种常规方法。由于生产和科研的需要,还可用放大照相法和闪光照相法以弥补其不足。放大照相可以检测出材料中的微小缺陷。,第二章 射线检测,X射线照相原理示意图,第二章 射线检测,2、电离检测法 当射线通过气体时与气体分子撞击,有的气体分子失去电子成为正离子,有的气体分子得到电子成为负离子,
14、此即气体的电离效应。电离效应将会产生电离电流,电离电流的大小与射线的强度有关。如果将透过试件的X射线通过电离室测量射线强度,就可以根据电离室内电离电流的大小来判断试件的完整性。这种方法对缺陷性质的判别较困难,只适用于形状简单、表面工整的工件,应用较少。,第二章 射线检测,3、荧光屏直接观察法 将透过试件的射线投射到涂有荧光物质的荧光屏上时,在荧光屏上会激发出不同强度的荧光来,利用荧光屏上的可见影像直接辨认缺陷。这种方法成本低,适用于形状简单、要求不严格的产品的检测。4、电视观察法是荧光屏直接观察法的发展,将荧光屏上的可见影像通过光电倍增管增强图像,再通过电视设备显示。这种方法检测灵敏度比照相法
15、低,对形状复杂的零件检测困难。,第二章 射线检测,一、照相法的灵敏度和透度计(一)灵敏度 灵敏度是指显示缺陷的程度或能发现最小缺陷的能力,是检测质量的标志。通常用两种方式表示:绝对灵敏度,相对灵敏度。,第三节 射线照相检测技术,第二章 射线检测,1、绝对灵敏度:指在射线胶片上能发现被检测试件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸。2、相对灵敏度:指在射线胶片上能发现被检测试件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸占试件厚度的百分数。若以d表示为被检测试件的材料厚度,x为缺陷尺寸,则其相对灵敏度为,目前,一般所说的射线照相灵敏度都是指相对灵敏度。,第二章 射线检测,射线照相中,被检工件中的最小缺陷是无法确切知道
16、的,一般采用带有人工缺陷的试块,以透度计来确定透照的灵敏度。,(二)透度计 透度计又称像质指示器,是用来估价检测灵敏度的一种标准工具,同时也常用来选取或验证射线检验的透照参数。在透视照相中,要评定缺陷的实际尺寸是困难的,因此,要用透度计来做参考比较。因此,用透度计测得的灵敏度表示底片的影像质量。同时,还可以用透度计来鉴定照片的质量和作为改进透照工艺的依据。透度计要用与被透照工件材质、吸收系数相同或相近的材料制成。常用的透度计主要有两种:槽式透度计和金属丝透度计。,第二章 射线检测,1、槽式透度计 槽式透度计的基本设计是在平板上加工出一系列的矩形槽,其规格尺寸如图所示。槽深h一般0.1-6mm,
17、用这种透度计计算灵敏度:对不同厚度的工件照相,可分别采用不同型号的透度计。,槽式透度计示意图,第二章 射线检测,被检工件厚度,透度计厚度,2、金属丝透度计 金属丝透度计是以一套(711根)不同直径(0.14.0 mm)的金属丝均匀排列,粘合于两层塑料或薄橡皮中间而构成的。为区别透度计型号,在金属丝两端摆上与号数对应的铅字或铅点。金属丝一般分为两类,透照钢材时用钢丝透度计,透照铝合金或镁合金时用铝丝透度计。其灵敏度为:,金属丝透度计示意图,第二章 射线检测,b为观察到的最小金属丝直径;A为被透照工件部位的总厚度。,使用透度计时,其摆放位置直接影响检测灵敏度。原则上应将其置于透照灵敏度最低的位置,
18、所以一般放在工件上靠近射线源的一侧,并靠近透照场边缘的表面上,并应使浅槽或金属丝直径小的一侧远离射线束中心,这样可保证整个被透照区的灵敏度达到灵敏度要求。每张底片上原则上都必须有透度计。,第二章 射线检测,透度计的使用方法,二、增感屏及增感方式的选择由于X射线和射线波长短,对胶片的感光效应差,一般X射线进入胶片并被吸收的效率很低,只能吸收大约1的有效射线能量,因此要得到一张清晰的底片需很长的感光时间。为了增加胶片的感光速度,利用某些增感物质在射线作用下能激发出荧光或产生次级射线,从而加强对胶片的感光作用。在射线透视照相中,所用的增感物质称为增感屏,,第二章 射线检测,射线的曝光量通常以射线强度
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