备课射线检测工艺课件.pptx
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1、射线检测工艺南京金陵检测工程有限公司,射线检测工艺,x射线能量的选择 选择焦距的另一种规则-考虑总的不清晰度的焦距最小值曝光曲线的制作与应用散射比的影响因素和散射线的控制大厚度比试件的透照技术管子-管板角焊缝的射线照相技术要点专题讲座:针对某一特定的设备或条件,及现有的设备、器材条件如何编制最佳的检测工艺,填写检测原始记录和出具检测报告,射线检测工艺,一.x射线能量的选择,射线检测工艺,一.x射线能量的选择 X射线能量如何选择?根据所检测的对象,我们首先是选择透照方法、再选择设备(或根据现有设备选择透照方法)、再选择射线能量(同时考虑检测效率和检测灵敏度以及胶片类型和增感屏).,射线检测工艺,
2、一.x射线能量的选择 X射线能量如何选择?射线能量与衰减系数的关系:,射线检测工艺,x射线能量的选择 较低射线能量有利于提高检测对比度;但射线能量过低、曝光时间过长,底片灰雾度增大,检测效率降低。射线能量过高,对比度降低,检测效率提高;因此,射线能量过高或过低都是不可取的,应选择在适当的(可接受的)范围内。,射线检测工艺,x射线能量的选择 何为适当?底片质量满足标准要求即为适当。过多提高要求是浪费。什么是最佳?即在满足标准要求的情况下,以最高效率、最低成本为最佳。,射线检测工艺,x射线能量的选择 最佳值:4730标准给出了推荐值:4.4.1 射线照相,当焦距为700mm时,曝光量的推荐值为:A
3、级和AB级射线检测技术不小于15mAmin;B级射线检测技术不小于20mAmin。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。射线能量的高低,检测灵敏度是验证的唯一标准。,射线检测工艺,x射线能量的选择 在目前我国标准未取消最高管电压限制的情况下,与标准推荐曝光量值对应的管电压,可以认为是最佳值。依据标准,我们对常用到的焦距按标准推荐的曝光量进行了换算,其结果见下表:,射线检测工艺,从表中这些参数可以看出,这些参数与我们实际工作非常接近。因此说我们在实际工作中的参数其本上是最佳参数。在透照较厚/较簿工件时,曝光时间可能还会长/短些。因此,记录中的参数应放心写、如实记。,射线检测工艺,
4、JB/T4730.22005标准最高管电压规定1-铜及铜合金;2-钢;3-钛及钛合金;4-铝及铝合金图1 不同透照厚度允许的射线最高透照管电压,射线检测工艺,射线能量与曝光时间有一定的互补关系。我国标准有射线能量上限的限制(图1)。这是标准规定,必须执行。编写工艺时要考虑。如果最高管电压超出上述规定,要进行工艺鉴定。要经检测单位技术负责人批准。ASME标准原先也有这个图,后来取消了,取而代之的是用灵敏度来检验射线能量,即只要灵敏度满足要求,对射线能量不进行限制。影响检测灵敏度的因素:射线能量、胶片类型、增感方式、焦距、射源焦点尺寸、增感屏、散射线屏蔽等。这个作法比较科学,只看结果,不计较过程。
5、每个厂产生的射线机能量差别可能会较大。管电压波形、有效值也可能不一样。因此射线能量只是影响检测质量的重要因素之一。对截面厚度变化大的承压设备,在保证灵敏度要求的前提下,允许采用超过图1规定的射线管电压。但对钢、铜及铜合金材料,管电压增量不应超过50kV;对钛及钛合金材料,管电压增量不应超过40kV;对铝及铝合金材料,管电压增量不应超过30kV。,射线检测工艺,二、选择焦距的另一种规则-考虑总的不清晰度的焦距最小值,射线检测工艺,要获得高质量的底片,总的不清晰度要保持较低水平。总的不清晰度是固有不清晰度和几何不清晰度共同贡献的结果。两者差别较大时,其中较大数值者对总不清晰度的贡献大,较小值可以忽
6、略不计,当两者相当时,两者贡献相同,均不可忽略;在工件厚度已知的情况下,射线能量基本确定,Ui基本确定,(一般情况下,Ui ug),此时,只有ug可以调节。焦距增大或焦点尺寸减小,几何不清晰度减小,总的不清晰度减小。当射源选定时,焦尺寸成为定值,只有焦距是可变参数。增大焦距,使其达到Ug=Ui时,再继续增大焦距,对总不清晰度的提高贡献不大,因此,取 Ug=Ui时的焦距为最佳不清晰度时的最短焦距,又称优化焦距,用Fopt表示。,射线检测工艺,教材中表42给出了各种射线能量时的优化焦距上表中的优化焦距是为发现最小裂纹缺陷,如果试件焊接性好,不会产生裂纹,则无需上述过大的焦距。这个焦距比B级照相要求
7、还高。,射线检测工艺,上述焦距可以用在易产生裂纹材料的焊接工艺评定试件的检测。在工程施工中,其焊接工艺是经评定合格的,一般不会产生裂纹。除非不严格执行焊接工艺,或焊材用错。在实际工作中,为提高工作效率,管电压可能选择高一些:如透照25mm的工件,按标准规定,最高管电压不能超过320KV,选择300KV是允许的,此时最优化焦距是:650mm;如透照20mm的工件,按标准规定,最高管电压不能超过280KV,选择250KV是允许的,此时最优化焦距是:620mm。如果焦点尺寸为2.5mm,则焦距为520mm。管电压调整后的焦距与实际工作比较接近。,射线检测工艺,最优化焦距是一个概念,是表明射线检测可以
8、达到的最优清晰度。实际工作中一般不考虑这个参数。,射线检测工艺,曝光曲线的制作与应用,射线检测工艺,曝光曲线是非常有用的,是我们选择透照参数的参考依据。根据工件材质、厚度,查曝光曲线可以选择射线能量、曝光量以及根据现实的焦距差异计算曝光量。曝光曲线是表示工件(材质、厚度)与工艺规范(管电压、管电流、曝光时间、焦距、胶片型号、增感屏、暗室处理条件及底片黑度等)之间相关性的曲线图。通常以工件厚度、管电压、曝光量为可变参数,其它条件相对固定。,射线检测工艺,曝光曲线必须实验制作,每台X射线机会有所差异。产生差异的原因可能是:机型不同,X光管两端电压波形、频率不同;不同厂家生产工艺参数不同、靶材不同、
9、产生X射线的几率不同;管电压、管电流的标定误差;同一台设备也有老化程度不同;因此每台设备均应制作曝光曲线。平时在使用过程中,评片人员发现底片黑度出入较大时,应提醒拍片人员对曝光曲线进行修正。,射线检测工艺,标准规定,使用中的曝光曲线至少每年核查验证一次。长期不使用的设备使用前应进行核查,设备大修后应进行核查或重新制作。这一点很重要,无损检测机构、计量认证和实验室认可评审时都要查。同一个厂生产的同种型号的射线机,工艺参数会比较接近。,射线检测工艺,1.曝光曲线的类型曝光曲线有2种类型:1)横坐标表示工件厚度,纵坐标用对数刻度表示曝光量,管电压为变化参数,所构成的曲线称为曝光量厚度(E-T)曲线;
10、2)若纵坐标表示管电压、横坐标表示厚度、曝光量为变化参数,则曲线称为管电压厚度(KV-T)曲线。,射线检测工艺,1.曝光曲线的类型E-T曲线,射线检测工艺,1.曝光曲线的类型KV-T曲线,射线检测工艺,上述2种曝光曲线都是经常用的.曝光曲线只是工作参考,实际工作中可能许多条件都会产生变化,我们要适时进行修正.如焦距变化要通过计算修正;湿影液温度、活性、显影时间对曝光曲线的影响很大,这些参数可以相互影响、补偿、调整;暗室红灯过亮对底片质量影响也很大。,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例1)制作阶梯试块 阶梯试块级差为2mm,最簿一级的厚度可以为2mm,根据需要可以制作15级,每级宽度20mm,试
11、块宽度100mm,另制作厚度10mm、20mm的垫板与之相配,在选择较高管电压时,用垫板增加阶梯试块的厚度。试块每级宽度不能过小,否则边蚀效应会对阶梯黑度的均匀度产生影响。试块的宽度不能过小,一般等于或大于底片宽度,以减小边蚀效应的影响。,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例2)透照设计X射线曝光曲线制作条件:设备型号/编号:3005EG-S2/RT-300-02焦距:600mm;胶片型号:AGFA-C7;增感屏:0.03/0.03mm;显影配方:韵达 手工槽洗 显影温度:20;显影时间:5分钟;底片黑度:3.0,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例2)透照设计 透照时用专用试件架,采取向上透照方
12、式,以消除散射线的影响;曝光参数设计,管电流5mA(仪器固定值),选择管电压和曝光时间,根据我们日常工作可能选择的参数范围进行设定,见曝光参数表;透照前将厚度值用铅字在阶梯试块上标识,注意增加垫板时要加入垫板的厚度;每个曝光参数应预知其与黑度3.0接近的对应厚度值,以防出现找不到对应点的现象。,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例X射线透照布置:,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例2)透照设计透照布置,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例2)透照参数设计选择常用范围内的参数,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例3)制作实施 严格按透照设计进行实施。显影条件对曝光曲线影响很大,必须保证药液的活性、浓度
13、、温度、显影时间的一致性,因此曝光的胶片必须同时进行显影、停影和定影,确保处理条件完全相同。,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例4)结果测量 将晾干的底片,在观片灯前进行观察,找出每个阶梯黑度均匀的部位,并用铅笔画圈标注(不然测量时不能准确找准位置),用黑度计(用黑度片验证合格的)进行黑度测量,将黑度最接近3.0的结果填入表格。,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例4)结果测量并找出D=3.0的点,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例5)绘制D-T曲线。绘制曝光曲线(E-T曲线)先选择纵坐标为对数的坐标纸,计算曝光量的对数值,按刻度进行标定;,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例5)绘制D-T曲线。
14、,射线检测工艺,一、曝光曲线的制作与应用 射线曝光曲线 对于射线曝光曲线,只与源的种类有关,每种源一个曝光曲线,与设备和源的活度无关。现在这种曲线很少用,用计算器或经验公式计算很方便,拍片人员更是有曝光表,每种规格,多大活度的源,曝光多少时间,一查便知。考试时一般都提供曝光曲线。,射线检测工艺,教材中提供了Se75射线曝光曲线,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例2)透照设计透照布置,射线检测工艺,2.曝光曲线制作实例2)透照设计透照条件焦距:600mm;胶片型号:AGFA-C7;AGFA-C4增感屏:0.1/0.1mm;显影配方:韵达 手工槽洗 显影温度:20;显影时间:5分钟;底片黑度:3.
15、0,射线检测工艺,Ir192射线曝光曲线制作透照结果,射线检测工艺,Ir192射线曝光曲线,射线检测工艺,Ir192射线曝光曲线通过曝光曲线可以看出:1)在相同底片黑度时,C4胶片的曝光量是C7胶片的2.88倍;2)可以通过曝光曲线计算出射线源的半价层厚度。,射线检测工艺,关于底片黑度与曝光量的关系 本人进行过多次试验,并撰写了胶片感光速度对底片对比度的影响发表在无损探伤2013.4。该文通过理论分析,得出,各种胶片的对比度是相同的,产生不同灵敏度的原因是胶片颗粒度/噪声不同。同时该文总结了以往的大量实验,明确底片黑度与曝光量的正比线性关系。,射线检测工艺,关于底片黑度与曝光量的关系 底片黑度
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