电子封装材料与工艺ppt课件.ppt
《电子封装材料与工艺ppt课件.ppt》由会员分享,可在线阅读,更多相关《电子封装材料与工艺ppt课件.ppt(83页珍藏版)》请在三一办公上搜索。
1、电子封装材料与工艺Electronic Packaging Materials&Technology,余琨中南大学材料科学与工程学院2011,References:1.C.A.哈珀美主编,贾松良等译,电子组装制造,科学出版社,北京,20042.宣大荣编著,无铅焊接微焊接技术分析与工艺设计,电子工业出版社,北京,20083.刘汉诚美著,冯士维等译,化学工业出版社,北京,2006,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.1 真空管(电子管)是由一个带有电极引线的玻璃或金属泡组成,电极引线通过玻璃引出并与模铸在一个塑料管座内的金属管脚相连接。当电子管含有2个电极(阴极和阳极)时,这种电路称为二极管。在
2、阴极和阳极间加入一个栅极(精细的金属丝网),控制电子从阴极到金属板(阳极)的流动方法,对电子从阴极向阳极流向产生巨大影响。在三电极的情况下可以使用一个真空管整流和放大微弱的无线信号,称为三极管。,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.2 半导体材料 半导体具有完全不同于金属的物理特性。半导体是共价的固体。最重要的半导体材料是周期表A族的硅和锗。两种或两种以上的元素形成共价键可以形成半导体化合物,如镓和砷结合成的砷化镓。在IC芯片制造中使用的典型半导体材料:硅、锗、硒 GaAs、GaAsP、InP,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.2 半导体材料 Ge是制造第一个晶体管和固态器件的元素半导体
3、,但难加工,目前使用少;Si是最常用的半导体材料,90的芯片由它制造。硅储量丰富且在高温下仍能保持良好的电性能。SiO2也具有IC制造的理想性能;GaAs可工作在较高工作频率,具有低热耗散、耐辐射、相邻元件之间漏电少,属于高性能用途半导体,但晶体生长和IC制造困难;,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.3 集成电路(IC)一个集成电路芯片是把元器件连在一起的集合体,在一个单片半导体材料上制造出一个完整的电子电路;第一块IC的构思和建造为1958年Texas Instruments 公司的Jack Kilby。将晶体管、二极管、电阻、电容等用“飞线”互连;1959年Fairchild 公司的R
4、obert Noyce 将IC半导体元件在芯片内互连,消除了“飞线”。IC的复杂程度从1960年代的小规模集成(SSI)发展到中规模集成(MSI)、大规模集成(LSI)并发展到105元件的超大规模集成(VLSI)。,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.3 集成电路(IC)IC的五个主要用途:汽车 高性能产品 高性价比产品 手提式产品 存储器,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造 硅是使用最多的IC制造材料,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.1 晶体生长和晶圆片的制备晶圆片是构成IC的半导体衬底。精炼粗硅(制备化学纯多晶
5、硅加热到1415熔化生长单晶硅切割晶圆片)晶圆片厚度为0.5mm到0.75mm,采用0.152mm厚的金刚石涂层的不锈钢刀片。在410mm的晶锭上用0.17mm的线锯一次切出所有晶圆片,采用黄铜涂层的不锈钢丝。晶圆片进行镜面光洁度研磨。,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.1 晶体生长和晶圆片的制备,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.2 氧化在晶圆片上形成SiO2层。SiO2是用来构造IC 元件电容和MOS晶体管的有效介质。1200 氧气中生长0.2m厚度的SiO2层需要6min;生长0.4 m厚度需要220mi
6、n。影响因素:干燥的氧或氧与水蒸气的混合气体、压力、温度、晶体取向、时间,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.3 光刻是一种图形化工艺,组成IC电路的元件通过光掩模和刻蚀转移到晶圆片上。类似照相过程,在玻璃的制成的光刻版上形成各种半导体层的图形,然后转移到硅晶圆片表面的光刻胶上。,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.4 扩散扩散或掺杂是把杂质原子注入纯硅的单晶内,使其转变成n-型或p-型半导体。掺入锑、砷、磷得到n-型半导体;掺入硼得到p-型半导体;,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的
7、制造1.4.5 外延把一个薄层的硅(厚度约25 m)沉积在原来的硅表面上,并使用扩散工艺中同样的掺杂剂进行掺杂,也属于p-n结制造技术。主要采用CVD技术。常压CVD(APCVD);低压CVD(LPCVD);等离子体增强CVD(PECVD).,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.6 金属化 在芯片表面上电路元器件部件与键合焊盘之间沉积导电材料,形成互连引线,称为金属化工艺。铝、铝合金、铂、钛、钨、钼、金可用于金属化工艺。铝是最常用的金属化材料,与Si和SiO2可以很好的粘附(低接触电阻),容易真空沉积(沸点低),导电率高,容易通过光刻工艺布图。真空沉积和
8、溅射是沉积铝金属化层的方法。问题:Al-Si共晶合金。解决办法:TiW阻挡层;将1的Si加入Al中。,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.7 钝化 在芯片金属化后,为防止铝互连电路受到水汽和污染的侵蚀,通过气相沉积在芯片电路上形成二氧化硅或氮化硅绝缘层或钝化层。,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.8 背面研磨 覆盖钝化层后,芯片需要减薄满足封装高度要求,晶圆片进行背面研磨,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.9 背面金属化 芯片背面要有一层金膜,通过真空蒸发或溅射沉积,使芯
9、片背面与芯片粘接区电接触。,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.10 电性能测试 按照预先确定的规范对芯片进行电性能测试。,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.11 管芯分割芯片采用两种方法分割 厚度小于0.25mm的芯片,采用金刚石刀具在晶圆片上划出细的切割线,再用剥离胶带使晶圆片断裂;厚度大于0.25mm的芯片,采用剥离胶带和金刚石圆锯切割。,第1章 集成电路芯片的发展和制造,1.4 集成电路(IC)芯片的制造1.4.12 p-n-p双极晶体管的典型结构,第2章 金属,2.1 金属和合金的选择 选择金属材料时,
10、要针对电子电气工业中的要求进行权衡。判据:物理性能;力学性能;可制造性;经济性;,第2章 金属,2.2 金属和合金产品的形式 铸造金属产品 加工金属产品 铸造金属形式是通过把熔融的金属浇入需要的形状的模具内形成,没有金属变形发生。金属的性能取决于:铸造工艺(砂模铸造、熔模铸造、压铸);铸件致密性;化学成分;热处理。,第2章 金属,2.2 金属和合金产品的形式 铸造金属产品的重要性能 致密度孔隙度和非金属缺陷少;力学性能;晶粒尺寸冷却速度快则晶粒尺寸小,强度大;金属形状薄壁小铸件比致密度相同的厚壁大铸件强度高;铸型材料;铸造技术和工艺特殊铸造工艺的使用,如半固态金属加工技术、金属注射成形技术制造
11、Al/SiC和W/Cu,第2章 金属,2.2 金属和合金产品的形式 压力加工金属产品的重要性能 加工的形式轧制、挤压、拉拔、锻造 组织结构晶粒尺寸、晶体取向、致密度、夹杂物尺寸形状、相 变形条件温度(冷、热加工)强化加工硬化、沉淀强化、相变硬化,第2章 金属,2.3 金属和合金产品的性能2.3.1 力学性能 常规力学性能室温屈服强度、抗拉强度和延伸率 交变载荷(疲劳)允许的应力远远低于材料的抗拉强度,金属将在低于屈服强度和极限抗拉强度的应力水平下失效。持续载荷长时间持续载荷导致低于屈服强度的蠕变和断裂发生,在高温下和室温下都有发生。温度影响强度随温度升高而降低。,第2章 金属,2.3 金属和合
12、金产品的性能2.3.2 物理性能 冷加工导致电导率降低;热处理对合金元素和相结构及分布有不同影响 温度物理性能随温度变化逐渐变化。,第2章 金属,2.3 金属和合金产品的性能2.3.3 制造可行性 可成形性深拉 可机械加工性 连接螺栓连接、铆接、焊接、硬钎焊、软钎焊 可焊接性焊接开裂、焊缝耐蚀性、焊接接头脆性 硬钎焊考虑后续热处理 软钎焊,第2章 金属,2.3 金属和合金产品的性能2.3.4 性能比较 屈服强度 零件可承受的最大应力。,第2章 金属,2.3 金属和合金产品的性能2.3.4 性能比较 弹性模量表征了零件的刚度 比刚度Ti/Mg/Al,铍的比刚度是常用结构材料的612倍。,第2章
13、金属,2.3 金属和合金产品的性能2.3.4 性能比较 比强度,第2章 金属,2.3 金属和合金产品的性能2.3.4 性能比较 热导率:Ag/Cu/Au/Al具有高热导率,合金化会降低热导率。,第2章 金属,2.4 铁基合金2.4.1 铁基合金概述 铁元素含量大于或等于50的合金被称为铁基合金。也包含铁含量低于50但其性能要求和铁系合金很相似的合金。分类:,结构用钢,碳素钢,合金钢,高强度低合金钢,超高强钢,轧制热处理钢,特殊用钢,第2章 金属,2.4 铁基合金2.4.2 常用铁基合金 碳素钢和合金钢 1xxx属于C为主要合金元素的钢;2xxx属于Ni为主要合金元素的钢;不锈钢和特殊钢 含有至
14、少11左右Cr的铁基合金;磁钢 高磁导率合金、永磁合金、不锈钢、温度补偿合金,第2章 金属,2.4 铁基合金2.4.3 铁基合金磁学性能 高磁导率合金(软磁合金)在合金内磁流密度变化引起的磁滞损失小,在强磁场作用后剩磁低,在高度磁化后并不保留明显的永久性磁性。Ni-Fe合金(3080Ni,其余Fe)80Ni-4Mo-Fe合金、77Ni-1.5Cr-5Cu-Fe合金、49Ni-Fe合金 硅铁合金(硅钢片)钴铁合金 永磁合金(硬磁材料)温度补偿合金,第2章 金属,2.4 铁基合金2.4.4 铁基合金热膨胀性能 合金的热膨胀性能一般用材料的温度变化引起单位长度的变化来表示;Invar合金(36Ni-
15、Fe)是所有金属(合金)中热膨胀系数最小的。玻璃金属封接合金:金属和玻璃之间的真空气密结合。,第2章 金属,2.4 铁基合金2.4.5 铁基合金加工性能 深拉 焊接 光化学加工 陶瓷金属封接合金 弹性合金的不变模量,第2章 金属,2.4 铁基合金2.4.6 铁基合金电阻性能 大多数合金的电阻率是随温度的升高而增大的。,第2章 金属,2.5 铝和铝合金2.5.1 铝合金的一般性能 铝的电学性能(纯铜的62);铝的热导率高;铝的密度小;铝的比强度高;铝的耐蚀性高;铝的可获得性;铝的机加工;铝的连接。,第2章 金属,2.5 铝和铝合金2.5.2 铝合金砂模铸造、压铸、熔模铸造、金属型铸造、石膏模铸造
16、电子封装中使用的铸造铝合金 通用铝合金 A356;可钎焊铝合金 A612;低热膨胀铝合金 高Si(1820);高强度铝合金A220。,第2章 金属,2.6 铍和铍合金2.6.1 铍合金的一般性能 铍具有综合的物理和力学性能,可作为满足热性能和电性能要求的电子封装材料。铍具有高的热导率,高的热容,是天然的轻质热沉材料。Be,BeO;AlBeMet铍铝合金(62Be)铍易被氯化物腐蚀,可采用阳极氧化涂层提高耐蚀性。毒性BeO粉尘对身体有害 Be的耐磨性好,工具磨损厉害。,第2章 金属,2.7 铜和铜合金2.7.1 铜合金的一般性能 除银之外,铜具有最高的电导率;铜的成形性非常好,制造性好;铜的可焊
17、性好;铜的表面可进行电镀精饰;铜可以加工成各种大小和形状的产品;铜的热导率高,可以作为热沉材料使用;铜和铜合金成本相对较低;,第2章 金属,2.7 铜和铜合金2.7.2 高导电率铜合金 工业纯铜退火状态下,100IACS(国际退火铜标准)370产生氢脆,金属内的氧与氢气结合,不适合于钎焊场合,P脱氧Cu可制备无氧铜。含银铜铜中加入少量银的高导铜。100电导率,具有耐蠕变能力和高温抗软化能力,可在343进行充分退火。铜锆合金0.15%Zr,改善高温性能,稍微降低电导率;铜碲合金90IACS,力学性能大幅度提高;铜硫合金96IACS,力学性能大幅度提高。,第2章 金属,2.7 铜和铜合金2.7.3
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 电子 封装 材料 工艺 ppt 课件
链接地址:https://www.31ppt.com/p-2097193.html