电子通讯设备.docx
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1、Q / ZX深圳市中兴通讯股份有限公司企业标准(可靠性技术标准) Q/ZX 23.011 - 1999 电子通讯设备电磁兼容试验指南1999-08-26 发布 1999-09-01 实施深圳市中兴通讯股份有限公司 发 布Q/ZX 23.011 - 1999前 言本标准由深圳市中兴通讯股份有限公司质量企划中心可靠性部提出,技术中心技术管理部归口。本标准起草部门:质量企划中心可靠性部。本标准主要起草人:谢玉明,颜蓉琪。 本标准于1999年8月首次发布。Q/ZX 23.011 - 1999目 次前言1 范围12 引用标准13 术语14 电子通讯设备抗扰度试验项目的选择取决因素25 严酷度等级的选择2
2、6 测试结果的评估37 静电放电抗扰性试验38 射频电磁场辐射抗扰性试验79 电快速瞬变脉冲群抗扰性试验710 雷击浪涌抗扰性试验.1011 射频电磁场传导抗扰性试验.1512 电压瞬时跌落和短时中断的抗扰性试验.1613 传导发射试验.1714 辐射发射试验.19 Q/ZX 23.011 - 1999 深圳市中兴通讯股份有限公司企业标准 (可靠性技术标准)电子通讯设备电磁兼容试验指南 Q/ZX 23.011 19991 范围本标准规定了产品电磁兼容试验通用方法,并以实例进行说明。本标准适用于公司所有电子通讯产品电磁兼容试验方案的制定。2 引用标准IEC 1000-4-2 (95.1)静电放电
3、抗扰性试验IEC 1000-4-3 (95.2)辐射射频电磁场抗扰性试验IEC 1000-4-4 (95.1)电快速瞬变脉冲群抗扰性试验IEC 1000-4-5 (95.2)冲击(雷击浪涌)抗扰性试验IEC 1000-4-6 (96.3)对射频场感应的传导骚扰的抗扰性试验IEC 1000-4-11 (94.6)电压瞬时跌落、短时中断和电压变化的抗扰性试验CISPR 22 (97.11)信息技术设备的无线电骚扰特性的测量方法及限值 EN50082-197.8 民用,商用及轻工业类产品抗扰性标准3 术语3.1 电磁环境 electromagnetic environment存在于给定场所的所有电磁
4、现象的总和。3.2 电磁干扰 electromagnetic interference (EMI)电磁骚扰引起的设备、传输通道或系统性能的下降。3.3 电磁敏感性 electromagnetic susceptibility (EMS)在存在电磁骚扰的情况下,装置、设备或系统不能避免性能降低的能力。3.4 电磁兼容性 electromagnetic compatibility (EMC) 设备或系统在其电磁环境中能正常工作,且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。3.5 电磁发射 electromagnetic emission 从源向外发出电磁能的现象。3.6 性能降低 degr
5、adation of performance 装置、设备或系统面临电磁骚扰不降低运行性能的能力。3.7 对骚扰的抗扰性 immunity to a disturbance装置、设备或系统面临电磁骚扰不降低运行性能的能力。3.8 骚扰限值(允许值)limit of disturbance对应于规定测量方法的最大电磁骚扰允许电平。3.9 干扰限值 (允许值) limit of interference电磁骚扰使装置、设备或系统最大允许的性能降低。3.10 静电放电(ESD electrostatic discharge 具有不同静电电位的物体在接近或通过直接接触时,发生的电荷转移。3.11 EUT
6、 equipment under test被试设备.3.12 接地(参考)平面 ground reference plane一块导电平面,其电位用作公共参考电位。3.13 耦合面 coupling plane一块金属片或金属板,对其放电用来模拟对EUT附近物体的静电放电。3.14 接触放电方法 contact discharge method 试验发生器的电极保持与EUT接触并由发生器内的放电开关触发放电的一种试验方法。3.15 空气放电方法 air discharge method将试验发生器的充电电极靠近EUT并对EUT触发火花放电的一种试验方法。3.16 直接放电 direct appl
7、ication直接对EUT实施放电。3.17 间接放电 indirect application对EUT附近的耦合面实施放电,以模拟对EUT附近的物体的放电。3.18 EFT/B electrical fast transient/burst快速瞬变电脉冲群。3.19 耦合网络 coupling network用于将一个回路中的能量传送到另一个回路的电路。3.20 去耦网络 decoupling network用于防止施加到EUT上的干扰影响其它不被试验的装置、设备或系统的电路。3.21 耦合夹 coupling clamp 在与被测回路没有任何电连接的情况下,以共模形式将干扰信号耦合到被试回
8、路的具有规定尺寸和特性的一种装置。3.22 抗扰性 immunity装置、设备或系统在有电磁骚扰的情况下不降低运行性能的能力。3.23 电压暂降 voltage dip 在电气系统的某一点的电压突然下降,经历半个周期到几秒钟的短暂持续期后的电压恢复正常。3.24 短时中断 short interruption 供电电压消失一段时间,一般不超过1min。短时中断可以认为是100幅值的电压暂降。3.25 调幅 amplitude modulation载波的幅度根据规定规则变化的过程。4 电子通讯设备抗扰度试验项目的选择取决因素4.1 产品族标准或用户特别要求。4.2 影响设备工作的干扰类别,根据设
9、备的工作状态决定可能出现的几种干扰。4.3 环境条件(电磁环境和安装条件),根据设备的使用环境条件进行试验项目的选择。4.4 产品所要求的性能与可靠性,一般在系统设计时提出。5 严酷度等级的选择5.1 与特定环境条件下的可靠性要求有关。5.2 与这种条件下的骚扰水平有关,这里包括电磁骚扰源的情况及安装条件(如辐射抗扰性试验与屏蔽和接地有关,雷击浪涌抗扰性试验与过压保护措施有关,静电抗扰性与环境湿度有关等)。5.3 成本方面的考虑,制定过高的严酷度水平必然要在设计中增加成本,在项目中投入更多的人力与物力。6 测试结果的评估6.1 测试结果6.1.1 在试验过程中,设备的工作完全正常。6.1.2
10、在试验中,设备受干扰影响产生了暂时性的功能降低,但撤消干扰后,设备的功能可以自动恢复正常。6.1.3 在试验中,设备受干扰影响产生了暂时性的功能降低,但干扰撤消后,设备的功能需要人工复位后方能恢复。6.1.4 在试验中,受干扰的设备产生了不可逆转的损伤,包括元器件的损伤、软件或数据丢失等。6.2 测试评估 对于第一种情形,必定通过。对于第四种情形,必定不通过。第二、三种则要视具体情况而定。7 静电放电抗扰性试验7.1 试验目的 模拟操作人员或物体在接触设备时放电及人或物体对邻近物体的放电,以考察被试设备抵抗静电放电干扰能力。前者是通过导体直接耦合,属于直接放电影响。后者是通过空间辐射耦合,属于
11、间接放电影响。7.2 试验等级规定的试验等级见表1。表1 静电试验等级接触放电空气放电等级试验电压(kV)等级试验电压(kV)12122424363848415X特殊X特殊 对于本公司的电子通讯设备,在无具体产品标准的情况下,一般推荐选用等级3,即接触放电6kV,空气放电8kV。7.3 试验设备 试验设备为静电发生器,发生器由储能电容(Cs)、放电电阻(Rd)和充电电阻(Rc)构成。从电路可以看出,它是用150pF电容器来模拟人体电容和用330W的放电电阻来模拟人体。其基本电路如图1:图1 静电发生器简图发生器的波形如图2:图2 静电发生器输出电流的典型波形7.4 试验方法7.4.1 环境条件
12、 环境温度15C 35C ; 相对湿度:30 60 ; 大气压:86kPa 106kPa ; 电磁环境应不影响试验结果。7.4.2 试验实施接触放电使用尖形放电电极。空气放电使用圆形放电电极。接触放电情况下,放电电极的尖端应尽量在操作放电开关之前接触EUT。空气放电情况下,放电电极的圆头放电端进行放电,尖端应尽可能快地接近并触及EUT。每次放电后,应将静电发生器的放电电极从EUT移开,然后从新触发发生器,进行新的单次放电。优先进行接触放电。对一些机壳表面涂漆而非绝缘用途的漆的情况,要用放电电极刺穿绝缘层直至金属层进行放电。直接放电试验,放电电极直接对被试设备进行放电试验。试验对象包括用户在使用
13、中可能触及到的任何地方以及在带电维护和校正时才可能触及的地方。如:金属簧片、机壳、机框、按键、螺丝、指示灯、开关等。间接放电试验可对水平耦合板和垂直耦合板进行放电。试验速率1次/s,每个放电点至少在正负极性各放电10次。实验室试验时台式设备试验布置例图见图3。 图3 实验室试验时台式设备试验布置的例图实验室试验时立式设备布置例图见图4。图4 实验室试验时立式设备试验布置例图7.5 结果判定 在试验过程中监视被测设备工作状态,如前6.1.1,6.1.2所述的现象属于通过, 6.1.3, 6.1.4的现象属于不通过。8 射频电磁场辐射抗扰性试验8.1 试验目的 用以评定电子通讯设备或系统受到电磁辐
14、射时的性能。8.2 试验等级 见表2。表2 辐射抗扰性试验等级等级试验场强 V/m1123310X特定注: 频率范围 80 1000MHz 设备工作电磁环境较好,周围无大的辐射场,选取等级2。工作的电磁环境恶劣(如使用移动电话,附近有广播发射机等,选取等级3。8.3 试验设备 EMCELL (电波小室)、射频信号发生器、功率放大器、配套计算机及软件。8.4 试验方法 由于EMCELL内的有效空间为0.5m0.5m0.3m,一般仅对小型设备进行试验。试验过程中,EUT置于EMCELL内部,EUT的监视设备通过EMCELL自带的转接头接到外部。EUT电源尽量采用EMCELL内带滤波器的电源。用1k
15、Hz的正弦波对信号进行80的幅度调制后,在801000MHz频率范围内进行扫频测量,扫描步长为前一频率的1,这一部分都通过计算机及软件控制实现。每一频点上扫描停留时间不应短于受试设备操作和反应所需的时间,一般设为一秒钟,如果对产品有特别要求,可以延长停留时间。受试设备应在发射天线的水平和垂直极化下进行试验。8.5 结果判定试验过程中监视被测设备,现象为6.1.1时通过, 现象为6.1.2, 6.1.3, 6.1.4时均不通过.9 电快速瞬变脉冲群抗扰性试验9.1 试验目的 用以评估通讯和电子设备的供电电源端口、信号和控制端口在受到重复的快速瞬变脉冲群干扰时的性能, 验证通讯和电子设备对来自操作
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