数字电路逻辑设计第7章 半导体存储器和可编程逻辑器件ppt课件.pptx
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1、数字电路逻辑设计,1,第7章半导体存储器和可编程逻辑器件,7.1 半导体存储器7.1.1 半导体存储器的类型、特点和技术指标7.1.2 顺序存储器(SAM)7.1.3 只读存储器(ROM)7.1.4 随机存储器(RAM)7.2 可编程逻辑器件7.2.1 PLD的基本结构7.2.2 可编程逻辑阵列(PLA)7.2.3 可编程阵列逻辑(PAL)7.2.4 通用阵列逻辑(GAL)7.2.5 现场可编程阵列(FPGA),2,7.1 半导体存储器,7.1.1半导体存储器的类型、特点和技术指标7.1.2顺序存储器(SAM)7.1.3只读存储器(ROM)7.1.4随机存储器(RAM)半导体存储器是用半导体器
2、件来存储二值信息的大规模 集成电路。它具有集成度高、体积小、可靠性高、价格低廉、 存储速度快、外围电路简单且易于接口、便于自动化批量生 产等特点。半导体存储器主要用于电子计算机和某些数字系统中, 用来存放程序、数据、资料等。因此,半导体存储器就成了 这些数字系统不可缺少的组成部分。,3,7.1.1 半导体存储器的类型、特点和技术指标,表7-1 半导体存储器的类型和特点(P258),4,7.1.1 半导体存储器的类型、特点和技术指标,表7-2 半导体存储器的技术指标(P259),5,7.1.2 顺序存储器(SAM),顺序存储器(P259)SAM(Sequential Access Memory)
3、由动态移存器组 成;动态移存器由动态移存单元串接而成;动态移存单元由 两个传输门和CMOS反相器串接而成。动态移存器电路简单,适合大规模集成。它利用MOS 管栅极和源级(基片)之间的电容(栅电容)来暂存信息。 由于MOS管的输入电阻极大,在栅电容上冲入电荷后,电荷 经输入电阻的自然泄漏(放电)比较缓慢,至少可以保持几 毫秒,如果移位脉冲(CP)的周期在微秒数量级,则在一 个周期内栅电容上的电荷基本不变,栅极电位也基本不变。 若长时间没有移位脉冲的推动,存放在栅电容上的二值信息 就会随着电荷的泄漏而消失。因此,它只能在移位脉冲的推 动下,也就是在动态中运用。故称它为动态移存器。,2.5 CMOS
4、门电路,CMOS反相器(P66),A 0V,VGSN 0 VGS(th)N,截止,GSP,DD,DD,GS(th)P,V, A V, V V,导通,S D D S,Roff,on,R,VDD,F,Ron Roff,DD,DD,offon,Roff,F ,V V,R R,6,2.5 CMOS门电路,CMOS反相器(P66),DD,AV,VGSN A 0 VDD VGS(th)N,导通,GSP,DD,GS(th)P,V A V, 0 V,截止,S D D S,Ron,off,R,VDD,F,Ron Roff,DD,offon,Ron,F ,V 0V,R R,7,7.1.2 顺序存储器(SAM),动
5、态CMOS反相器(P259),TG,CP,CP,G,G,S,D D,S,VC,VT2,VT1,vO,vI,C,R,图7-1 动态CMOS反相器,为了长期保持C上的1 信号,需要每隔一定 时间对C补充一次电 荷,使信号得到“再 生”,通常称这一操 作过程为“刷新”。CP周期不能太长,一 般要小于1ms。动态CMOS反相器能 够暂存信息,并且在 不断刷新的前提下, 长期储存信息。,8,7.1.2 顺序存储器(SAM),动态CMOS移存单元(P259),In,TG1,CP,CP,G,G,S,D D,S,VC,VT1,VT2,C1,TG2,Out,CP,CP,G,G,S,D D,S,VC,VT3,VT
6、4,C2,图7-2 动态CMOS移存单元主动态CMOS反相器从动态CMOS反相器1位,9,10,In,TG1,CP,CP,G,G,S,D D,S,VC,VT1,VT2,C1,TG2,Out,CP,CP,G,G,S,D D,S,VC,VT3,VT4,C2,图7-2 动态CMOS移存单元当CP1时,主动态反相器接收信息;从动态反相器保持原 存信息。当CP0时,主动态反相器保持原存信息;从动态反相器跟 随主动态反相器变化。,经过一个CP的推动,数据即可向右移动一位。,7.1.2 顺序存储器(SAM),1024位动态移存器(P259),0,1,2,1023,串入,串出,CPCP,图7-3 1024位动
7、态移存器1位动态移存单元,11,图7-4 10241位FIFO型SAM,7.1.2 顺序存储器(SAM),10241位FIFO(First-In-First-Out)型SAM(P260),片选0,封锁,封锁,封锁,开放,工作方式:循环刷新,12,图7-4 10241位FIFO型SAM,7.1.2 顺序存储器(SAM),开放,封锁,开放,10241位FIFO(First-In-First-Out)型SAM(P260)片 选 1 写/循环1封锁,读0,工作方式:写入,13,图7-4 10241位FIFO型SAM,7.1.2 顺序存储器(SAM),开放,开放,开放,10241位FIFO(First-
8、In-First-Out)型SAM(P260)片 选 1 写/循环1封锁,读1,工作方式:写入读取,14,图7-4 10241位FIFO型SAM,7.1.2 顺序存储器(SAM),封锁,封锁,封锁,10241位FIFO(First-In-First-Out)型SAM(P260)片 选 1 写/循环0开放,读0,工作方式:循环刷新,15,图7-4 10241位FIFO型SAM,7.1.2 顺序存储器(SAM),封锁,开放,封锁,10241位FIFO(First-In-First-Out)型SAM(P260)片 选 1 写/循环0开放,读1,工作方式:读取循环刷新,16,7.1.2 顺序存储器(S
9、AM),10241位FILO(First-In-Last-Out)型SAM(P260),读/写0,工作,截止,SL/SR0,图7-5 10241位FILO型SAM,17,7.1.2 顺序存储器(SAM),10241位FILO(First-In-Last-Out)型SAM(P260),读/写1,截止,工作,SL/SR1,图7-5 10241位FILO型SAM,18,19,7.1.3 只读存储器(ROM),只读存储器(P261)只读存储器简称ROM(Read Only Memory),它是各种存 储器中结构最简单的一种。ROM是一种固定存储器,它把需要长期存放的程序、表格、 函数以及常数、符号等数
10、据固定于这种存储器内,所存内容在断 电时也不丢失,具有非易失性。正常工作时只能读出,不能写入。ROM可分为:固定ROM可编程ROM(PROM): Programmable Read Only Memory可擦除可编程ROM(EPROM): Erasable Programmable Read Only Memory电可擦可编程ROM(EEPROM,E2PROM): Electronics,Erasable Programmable Read OnlyMemory,20,7.1.3 只读存储器(ROM),1、固定ROM(P261)固定ROM又称为掩模ROM,这种ROM出厂时其内部 存储的信息由生
11、产厂家采用掩模工艺固化在里面(即厂家编 程)。它在使用时只能读出,不能写入,因此通常只用来存 放固定数据、固定程序和函数表等。,21,7.1.3 只读存储器(ROM),1、固定ROM(P261),图7-6 ROM的基本结构,字线,位线,存储容量:2nm 位,22,地 址 译 码 器,W0,W1,W2,W3,存储矩阵,R,RRR,A1,0,A,输出缓冲器,三态控制,DDDD3210,D3D2D1D0图7-7 44位二极管固定ROM(P262),44位二极管固定ROM(P262),表7-3 44位ROM数据表,W 0W 1,2,W,W 3,R图7-8 二极管或门,23,3,D,2,D W W30,
12、21,2,3,0,2, W0 A1 A0, D0 W0 W1 W3, D1 W1 W2, W1 A1 A0,D W W W, W2 A1 A0, D W W,3, W3 A1 A0,1,1,A,1,0,A,1,D3,1,1,D2D1,1,D0,W0 W1 W2 W3,图7-9 图7-7所示ROM的与或阵列图,24,7.1.3 只读存储器(ROM),2、可编程ROM(PROM)(P262)PROM在出厂时,存储的内容为全 0(或全 1),用户 根据需要,可将某些单元改写为 1(或0)。这种ROM采用 熔丝或PN结击穿的方法编程,由于熔丝烧断或PN结击穿后 不能再恢复, 因此PROM只能改写一次。
13、,图7-10 熔丝型PROM的存储单元,Wi,Di,V1V2,Di,Wi,25,(a)(b)图7-11 PN结击穿法PROM的存储单元,26,7.1.3 只读存储器(ROM),3、可擦除的可编程ROM(EPROM)(P263)EPROM利用浮栅MOS管进行编程,ROM中存储的数 据可以进行多次擦除和改写。最早出现的是用紫外线照射擦 除 的 EPROM(Ultra-Violet Erasable Programmable Read- Only Memory, 简称UVEPROM)。随后出现了用电信号可 擦除的可编程ROM(Electrically Erasable Programmable Re
14、ad-Only Memory, 简称EEPROM或E2PROM)。近年来 已广泛使用的快闪存储器(Flash Memory)也是一种用电信 号擦除的可编程ROM。目前用紫外线照射擦除的EPROM已 被EEPROM和FLASH所代替。,7.1.3 只读存储器(ROM),EPROM的存储单元,W,i,Yj,位 线,N,N,P型硅衬底,SD,G,控制栅,浮栅,SiO,2,叠层栅MOS管图7-12 EPROM的存储单元结构,27,28,7.1.3 只读存储器(ROM),EPROM的存储单元编程在漏源极间加高压(+25V),沟道内形成雪崩击穿,而 控制栅加正脉冲( 25V/50ms),吸引部分高能电子穿
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