第四章异质结双极型晶体管课件.ppt
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1、化合物半导体器件Compound Semiconductor Devices微电子学院戴显英2013.9,第四章 异质结双极型晶体管,HBT的基本结构HBT的增益HBT的频率特性先进的HBT,4.1 HBT的基本结构,4.1.1 HBT的基本结构与特点,HBT的能带结构特点: a.宽禁带的e区: 利于提高; b.窄禁带的b区: Eg小于b、c区; c.pn结: 异质的eb结; 同质或异质的cb结。HBT的基本结构,图4.1 npn HBT结构的截面图,HBT:Heterojunctiong Bipolar Transistor, 异质结双极晶体管,4.1 HBT的基本结构,4.1.1 HBT的
2、基本结构与特点,HBT的典型异质结构:a.突变发射结;b.缓变发射结;c.缓变发射结,缓变基区;d.突变发射结,缓变基区。HBT的特性:(与BJT相比)a.高注入比;b.高发射效率;c.高电流增益;d.高频、高速度。,HBT的典型结构图,4.1 HBT的基本结构,4.1.2 突变发射结HBT,图4.2 (a) 突变发射结HBT的能带图图,器件特点: 基区渡越初始速度高基区输运模型: 弹道式渡越晶格散射的影响:电流增益: 高的Ec: 应小于基区导带的 能谷差EL-E,4.1 HBT的基本结构,4.1.3 缓变(渐变)发射结HBT,图4.2 (b) 渐变发射结HBT的能带图,电流输运:扩散模型发射
3、极电流:发射效率:电流增益:,4.1 HBT的基本结构,4.1.3 缓变(渐变)发射结HBT,频率特性:,E为发射结电容充放电时间;B为渡越基区的时间;C为集电结电容的充放电时间;d为集电结耗尽层渡越时间(信号延迟时间)。,小信号下影响fT的主要因素:,4.1 HBT的基本结构,4.1.4 缓变发射结、缓变基区HBT,缓变发射结:缓变基区:自建电场:,4.1 HBT的基本结构,4.1.3 缓变(渐变)HBT,速度过冲;基区渡越时间;电流增益;缓变基区的作用;缓变基区的形成,4.1.4 缓变发射结、缓变基区HBT,4.1 HBT的基本结构,4.1.5 突变发射结、缓变基区HBT,两个重要的影响因
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