SPC统计制程管制培训讲义课件.ppt
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1、统计制程管制培训讲义StatisticalProcessControl,课程大纲,一、SPC及其起源与背景 1、什么是SPC 2、SPC的起源 3、SPC的发展历程 4、SPC的作用与特点 二、基本的统计概念 1、主要的统计学名词 2、正态颁布的基本知识 3、中心极限定理 4、主要的统计参数三、持续改进及SPC概述 1、制程控制系统 2、变差的普通原因及特殊原因 3、局部措施和对系统采取措施 4、过程控制和过程能力 5、过程改进循环及过程控制 6、控制图,四、管制图的种类五、管制图的选择方法六、计数型数据管制图 1、p 图 2、np图 3、c 图 4、u 图七、计量型数据管制图 1、与过程相关
2、的管制图 2、使用控制图的准备 3、X bar-R 图 4、X bar-s 图 5、X med-R图 6、X -Rm图八、过程能力分析及管制图的判读,一、SPC的起源与背景,1、什么是SPC SPC -Statistical Process Control (统计过程控制) 含义-利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控,从而达到保证产品质量的目的。 统计技术-数理统计方法。,一、SPC的起源与背景,2、SPC起源 工业革命以后, 随着生产力的进一步发展,大规模生产的形成,如何控制大批量产品质量成为一个突出问题,单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求,必须改进质量管理方式。于
3、是,英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。 1924年,美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中,并发表了著名的“控制图法”,对过程变量进行控制,为统计质量管理奠定了理论和方法基础。,一、SPC的起源与背景,3、SPC的发展历程,一、SPC的起源与背景,4、SPC的作用与特点 作用: -确保制程持续稳定、可预测。 -提高产品质量、生产能力、降低成本。 -为制程分析提供依据。 -区分变差的特殊原因和普通原因,作为采取局部 措施或对系统 采取措施的指南。 特点: -SPC是全系统的,全过程的,要求全员参加,人人有責。这点与 TQM的精神完全一致。 -SPC強调
4、用科学方法(主要是统计技术,尤其是控制图理论来保 证人赛程的预防。 -SPC不仅用于生产过程,而且可用于服务过程一一切管理过程。,二、基本的统计概念,1、主要的统计学名词-1,二、基本的统计概念,1、主要的统计学名词-2,二、基本的统计概念,1、主要的统计学名词-3,二、基本的统计概念,2、正态分布的基本知识-1,在中心线或平均值两侧呈现对称之分布常态曲线左右两尾与横轴渐渐靠近但不相交曲线下的面积和为 1 如下页例:,二、基本的统计概念,2、正态分布的基本知识-2,例:100个螺丝直径直方图。图中的直方高度与该组的出现频数成正比,资料越多,分组越蜜,越趋近一条光滑曲线,螺丝直径直方图 直方图趋
5、近光滑曲线,二、基本的统计概念,2、正态分布的基本知识-3,将各组的頻数用资料总和N=100相除,就得到各组的频率,它表示螺丝直径属于各组的可能性大小。显然,各组频率之和为1。若以直方面积来表示该组的频率,则所有直方面积总和也为1。,在极限情况下得到的光滑曲线即为分布曲线,它反映了产品质量的统计规律,如分布曲线图所示.,二、基本的统计概念,2、正态分布的基本知识-4,正态分布中,任一点出现在1內的概率为: P(-1X +1) = 68.27% 2內的概率为 :P(-2X +2) = 95.45% 3內的概率为: P(-3X +3) = 99.73%,二、基本的统计概念,2、正态分布的基本知识-
6、5,在管制界限內,为可接受区域,超过管制上限,为不可接受区域,二、基本的统计概念,2、正态分布的基本知识-6,正态分布有一个结论对质量管理很有用,即无论无论均值和标准差取何值,产品质量特性值落在3之间的概率为99.73。于是落在3之外的概率为100%一99.73%= 0.27%。而超过一侧,即大于-3或小于+3的概率为0.27%/2=0.135%1 。如正态分布曲线图。这个结论十分重要。控制图即基于这一理论而产生。,二、基本的统计概念,2、正态分布的基本知识-7,不同的正态分配(1),二、基本的统计概念,2、正态分布的基本知识-8,不同的正态分配(2),二、基本的统计概念,2、正态分布的基本知
7、识-9,不同的正态分配(3),(b)1 2 ,1 2,1,2,二、基本的统计概念,2、正态分布的基本知识-10,二、基本的统计概念,3、中心极限定理-1,如果样本规模足够大,对于任意总体,样本平均数的取样分布类似于正态分布。,自管理者统计学思想, Hildebrand & Ott,二、基本的统计概念,3、中心极限定理-2,正式定义: 如果从一个有限的平均数为和标准差 的总体中重复地抽取数量为n的隨机样本,那么,当n足夠大时,各个样本平均数(从重复和样本中计算得来)的分布将近似正态,其平均数为并且标准疘等于总体标准差除以n的平方根。 (注:当n增加时,近似值变得更精确)。,二、基本的统计概念,3
8、、中心极限定理-3,我們为什么要用中心极限定理? 它意味着正态总体的假定经常并不是很关键的,且我们能在更广的范围内应用统计学方法。中心极限定理是违反直觉的。,二、基本的统计概念,3、中心极限定理-4,中心极限定理与管制图: 一般来讲,管制图理论是基于常态分布资料制建立的。 问:怎样分析一个其资料是非常态的制程? 答:依据中央极限定理,绘制平均数分布图,而不是个体数据分布图。,二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-1,用于制程特征分析的参数Ca: 制程准确度Cp: 制程精密度/潜力Pp: 初期制程潜力Cpk: 制程能力Ppk: 初期制程能力PPM: 百万分之不良率Sigma s:規格标准差Si
9、gma a:制程标准差Sigma p:样本标准差,用于品质管制图分析的参数XUCL:X bar管制图的管制上限 Xbar:Xbar管制图的中心值XLCL:Xbar管制图的管制下限RUCL:R管制图的管制上限Rbar:R管制图的中心值RLCL:R管制图的管制下限,二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-2,平均数、中位数、众数、全距、平方和、变异数、及标准差 的计算平均数(X bar) X bar=(x1+x2+x n)/N中位数(Me) 将数据从小到大或大至小依次排列,位居中央的数称为中位数。众数(Mo) 一群数据中,再现次数最多的数。全距(R) 一组数值中最大值与最小值之差:R=Max-Mi
10、n,二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-3,平方和 (S) 各数值与平均值之差之平方总和: S=(X-X)2变异数 V(X) 平方和除以数据个数: V(X)= S/n= (X-X)2 /n标准差 () 变异数之开方:=V= S/n = (X-X)2 /n,二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-4,标准差的计算 -規格標準差 s 读做Sigma Spec,二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-5,标准差的计算 -样本标准差p 读做Sigma Pattern,标准差的计算 -制程标准差a 读做Sigma Actual,二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-6,制程准确度Ca Capaci
11、ty of Accuracy,Ca = L1 /L2L1 = X SLL2 = (USL LSL)/2,二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-7,制程准确度Ca的等级解说,Ca等级处置原则:A级:作业员遵守作业标准操作并达到规格的要求。B级:有必要时可能将其改进为A级。C级:作业员可能看错规格没按操作标准作业或检讨规格及作业标准。D级:应采取紧急措施,全面检讨所有可能影响的原因,必要时得停止生产。 以上仅是些基本原则,在一般应用上Ca如果不良时,其对策方法是以制造单位为主,技术单位为副,品管单位为辅。,二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-8,Cp:是一个关键制程指数,为标准公差范围与6个
12、SIGMA的比值,Cp的 计算应该在制程已达到管制状态时进行。,制程精密度/潜力-Cp (Process Potential),二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-9,制程精确度/潜力Cp的等级解说,Cp等级处置原则:A级:制程甚稳定,可以将规格公差缩小或胜任更精密的工作。B级:有发生不良品的危险,必须加以注意,并设法维持不要使其变坏及迅速自查。C级:检讨规格及作业标准,可能本制程不能胜任如此精密的工作。D级:应采取紧急措施,全面检讨所有可能影响的原因,必要时得停止生产。 以上仅是些基本原则,在一般应用上Cp如果不良时,其对策方法是以制造单位为主,技术单位为副,品管单位为辅。,二、基本的统
13、计概念,4、主要的统计参数-10,制程能力综合指数Cpk,Cpk是综合Ca (k)及Cp两者的指数计算为:当Ca =0時,Cpk =Cp;单边规格时:Cpk即为Cp的绝对值,A级:制程能力充足B级:制程能力尚可,仍需努力C级:制程能力需要改善,二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-11,制程能力综合指数Cpk,- Cpk = (规格上限 Xbar ) / 3a 或 ( Xbar 规格下限 ) / 3a 两者取小值,二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-12,初期制程潜力Pp,- Pp初期制程潜力,为一项类似于Cp的指数,但本项指数的计算,是以新制程之初期短程性研究所得的数据为基础,取得的制
14、程数据,至少应包括该制程初期评估时的二十组数据,但计算时,应定义“样本标准差”而进行,二、基本的统计概念,4、主要的统计参数-13,初期制程能力Ppk Preliminary process capability,- Ppk初期制程能力,为一项类似于Cpk的指数,但本项指数的计算,是以新制程之初期短程性研究所得的数据为基础,取得的制程数据,至少应包括该制程初期评估时的二十组数据,但计算时,应于取得的数据足以显示制程至于稳定状态时实施。,三、持续改进及SPC概述,1、制程控制系统,有反馈的过程控制系统模型,人 设备 材料 方法 环境,三、持续改进及SPC概述,2、变差的普通原因和特殊原因-1,普
15、通原因:是指过程在受控的状态下,出现的具有稳定的且可重复的分布过程的变差的原因。普通原因表现为一个稳系统的偶然原因。只有过程变差的普通原因存在且不改变时,过程的输出才可以预测。 特殊原因:(通常也叫可查明原因)是指造成不是始终作用于过程的变差的原因,即当它们出现时将造成(整个)过程的分布改变。只用特殊原因被查出且采取措施,否则它们将继续不可预测的影响过程的输出,三、持续改进及SPC概述,2、变差的普通原因和特殊原因-2,如果仅存在变差的普通原因,随着时间的推移,过程的输出形成一个稳定的分布并可预测。如果存在变差的特殊原因,随着时间的推移,过程的输出不稳定。,范围,范围,目标值线,预测,预测,目
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