第四章CMOS数字集成电路课件.ppt
《第四章CMOS数字集成电路课件.ppt》由会员分享,可在线阅读,更多相关《第四章CMOS数字集成电路课件.ppt(218页珍藏版)》请在三一办公上搜索。
1、2022/11/29 韩 良,1,第四章 CMOS数字集成电路单元,MOS集成电路具有集成度高、功耗低的特点,是当今大规模集成电路的主流产品,尤其是CMOS集成电路。,2022/11/29 韩 良,2,基本知识提示:,NMOS PMOS 增强型 耗尽型 四端器件,MOS管的漏源电流ID和栅源电压VGS、漏源电压VDS的关系?,NMOS,截止饱和非饱和,基本知识提示:,NMOS PMOS 增强型 耗尽型 四端器件,NMOS,截止饱和非饱和,基本知识提示:,NMOS PMOS 增强型 耗尽型 四端器件,沟道长度调制效应(短沟效应): 饱和区,2022/11/29 韩 良,5,4-1 MOS传输门,
2、MOS传输门就是通过控制MOS管的导通和截止来实现信号的传输。结构简单,控制灵活,是组成MOS电路的基本单元之一。,2022/11/29 韩 良,6,思考题,1. NMOS传输门、PMOS传输门、CMOS传输门各自的优缺点是什么?2.传输门的传输速度与哪些因素有关?,2022/11/29 韩 良,7,4.1.1单沟传输门1. NMOS传输门,G为“1”电平时 NMOS开启,传送信号,G为“0”电平时 NMOS管截止,不传送信号。,O点电容通过饱和导通的NMOS管放电,NMOS管逐渐进入非饱和,放电加快,最终O点达到与I点相同的“0”。,(1)由I向O传送“0”时(假设O初始为“1”),2022
3、/11/29 韩 良,8,4.1.1 单沟传输门1. NMOS传输门(续),O点电容通过饱和导通的NMOS管充电,当O点电位上升到比G点电位低一个VTn时, NMOS管截止。即最终O点达到的“1”比G点的“1”低一个VTn 。,(2)由I向O传送“1”时(假设O初始为“0” ),2022/11/29 韩 良,9,4.1.1 单沟传输门2. PMOS传输门,G为“0”电平时 PMOS开启,传送信号,G为“1”电平时 PMOS管截止,不传送信号。,O点电容通过饱和导通的PMOS管充电,PMOS管逐渐进入非饱和,充电加快,最终O点达到与I点相同的“1”。,(1)由I向O传送“1”时(假设O初始为“0
4、”),2022/11/29 韩 良,10,4.1.1 单沟传输门2. PMOS传输门(续),O点电容通过饱和导通的PMOS管放电,当O点电位下降到比G点电位高一个|VTp|时, PMOS管截止。即最终O点达到的“0”比G点的“0”高一个|VTp| 。,(2)由I向O传送“0”时(假设O初始为“1” ),2022/11/29 韩 良,11,4.1.2 CMOS传输门,O点电容通过饱和导通的NMOS管和PMOS管放电,NMOS管逐渐进入非饱和,PMOS管逐渐截止,最终O达到与I相同的“0”。,(1)由I向O传送“0”(O初始为“1” ),2022/11/29 韩 良,12,4.1.2 CMOS传输
5、门(续),O点电容通过饱和导通的NMOS管和PMOS管充电,PMOS管逐渐进入非饱和,NMOS管逐渐截止,最终O达到与I相同的“1” 。,(2)由I向O传送“1”(O初始为“0” ),2022/11/29 韩 良,13,4.1.3 MOS传输门的速度,MOS传输门的传输速度与节点电容、前级驱动能力、和自身MOS管的W/L有关。 对于自身来说, W/L越大,导通电阻越小,传输速度越快。 对于单沟传输门来说,传送“1”和“0”的速度不同,而对于CMOS传输门可以达到相同。,2022/11/29 韩 良,14,4.1.4 MOS传输门的特点,1)NMOS传输门能可靠地快速传送“0”电平,传送“1”电
6、平时较慢,且有阈值损失;2)PMOS传输门能可靠地快速传送“1”电平,传送“0”电平时较慢,且有阈值损失;3)CMOS传输门能可靠地快速传送“1”电平和“0”电平,但需要两种器件和两个控制信号4)MOS传输门具有双向传输性能,2022/11/29 韩 良,15,作业(不交),1. NMOS传输门、PMOS传输门、CMOS传输门各自的优缺点是什么?,2022/11/29 韩 良,16,4-2静态MOS反相器,MOS反相器特性的分析是MOS基本逻辑门电路分析的重要基础。,2022/11/29 韩 良,17,思考题,1. 各种MOS反相器的结构有何不同?各自的优缺点是什么?2.各种MOS反相器的输出
7、高低电平是多少?分别受什么因素影响?3.什么叫有比电路?什么叫无比电路?4.各种MOS反相器的速度、功耗、噪声容限分别受哪些因素影响?,2022/11/29 韩 良,18,4.2.1 电阻负载NMOS反相器1. 结构和工作原理,VOH=VDD,(VDDVOH)/RL=0,Vi为低电平VOL时,MI截止,Vi为高电平VOH时,MI非饱和,2022/11/29 韩 良,19,4.2.1 电阻负载NMOS反相器2. 基本特性,RL若小:VOL高,功耗大, tr小;W/L若小(即KI小):VOL高,功耗小,,tf大。,2022/11/29 韩 良,20,(1)VOH=VDD,(3)RL占较大面积或采用
8、特殊工艺,(4)上升速度慢,(5)噪声容限小,(6)静态功耗大,4.2.1 电阻负载NMOS反相器2. 基本特性,2022/11/29 韩 良,21,4.2.1 电阻负载NMOS反相器3. 门电路结构,PDN-pull down network,2022/11/29 韩 良,22,4.2.2 E/E饱和负载NMOS反相器1. 结构和工作原理,VOH=VDDVTL,KL(VDD-VOH-VTL)2=0,Vi为低电平VOL时,MI截止,ML饱和,Vi为高电平VOH时,MI非饱和,ML饱和,VO=?,VO=VDD?,2022/11/29 韩 良,23,4.2.2 E/E饱和负载NMOS反相器2.单元
9、特点,(1)VOH比电源电压VDD低一个阈值电压Vt(有衬底偏值效应);,(3) ML和MI的宽长比分别影响tr和tf。(4)上升过程由于负载管逐渐接近截止,tr较大。,(2)VOL与R有关,为有比电路;,2022/11/29 韩 良,24,(1)VOH=VDD VTL 还受衬偏影响,(3)上升速度慢(负载管小且逐渐截止),(4)噪声容限小,(5)静态功耗大,(6)器件少,面积小,4.2.2 E/E饱和负载NMOS反相器2.单元特点,2022/11/29 韩 良,25,4.2.2 E/E饱和负载NMOS反相器3.门电路结构,2022/11/29 韩 良,26,VOH = VDD,KL2(VGG
10、-VOH -VTL)(VDD -VOH) - (VDD -VOH) 2 = 0,VGG VDD +VTL,Vi为VOL时,MI截止,ML非饱和,4.2.3 E/E非饱和负载NMOS反相器1. 结构和工作原理,2022/11/29 韩 良,27,4.2.3 E/E非饱和负载NMOS反相器1. 结构和工作原理(续),Vi为VOH时,MI非饱和,ML非饱和,2022/11/29 韩 良,28,4.2.3 E/E非饱和负载NMOS反相器 2.单元特点,(1)双电源(2) VOH =VDD (3)VOL与R有关,为有比电路;(4) VGG越高,tr越小,但是VOL越大,功耗越大。,2022/11/29
11、韩 良,29,(1)双电源,(2)VOH=VDD,(5)噪声容限小,(6)静态功耗大,(7)器件少,面积小,(4)上升速度慢(负载管小),4.2.3 E/E非饱和负载NMOS反相器 2.单元特点,2022/11/29 韩 良,30,4.2.4自举负载NMOS反相器1. 结构和自举原理,初始状态: Vi=VOH,Vo=VOL MB、ML饱和、MI非饱和,有比电路,VGL=VDDVTB,2022/11/29 韩 良,31,自举过程: Vi 变为VOL ,MI截止,Vo上升, VGL随Vo上升(电容自举),,VGL=VDDVTB,VGSL= VGL - VOL,VOL上升,而电容两端电压不变当VOL
12、上升到2VTB时, VGL上升到VDD+VTB,ML非饱和。,4.2.4自举负载NMOS反相器1. 结构和自举原理,2022/11/29 韩 良,32,自举过程: MB截止,ML逐渐由饱和进入 非饱和导通,上升速度加快。,自举结果: tr缩短,VOH可达到VDD。,4.2.4自举负载NMOS反相器1. 结构和自举原理,2022/11/29 韩 良,33,自举电路中的漏电,会使自举电位VGL下降(尤其是低频),最低可降到:VGL=VDDVTB , 因而ML变为饱和导通,输出VOH=VDDVTBVTL为了提高输出高电平,加入上拉元件MA (或RA)。,4.2.4自举负载NMOS反相器2.漏电上拉,
13、2022/11/29 韩 良,34,(1)VOH=VDD VDD 2VT,(3)速度快(自举作用),(4)噪声容限小,(5)功耗大,(6)器件较多,还有电容,4.2.4自举负载NMOS反相器3.单元特点,2022/11/29 韩 良,35,4.2.5 E/D NMOS反相器1. 结构和工作原理,VOH = VDD,KD2(0 -VTD)(VDD -VOH)- (VDD -VOH) 2 = 0,Vi为VOL时,ME截止,MD非饱和,MD 为耗尽型器件, VTD 0,,2022/11/29 韩 良,36,4.2.5 E/D NMOS反相器1. 结构和工作原理(续),有比电路(近似于无比电路),Vi
14、为VOH时,ME非饱和,MD饱和,2022/11/29 韩 良,37,4.2.5 E/D NMOS反相器2.单元特点,(1)VOH可达到电源电压VDD(2)VOL与R有关,但是VTD是关键的因素,近似于无比电路,面积小。(3)上升过程由于负载管由饱和逐渐进入非饱和, tr缩短,速度快。,2022/11/29 韩 良,38,(1)VOH=VDD,(3)速度快,(4)噪声容限小,(5)静态功耗大,(6)器件少,面积小,4.2.5 E/D NMOS反相器2.单元特点,2022/11/29 韩 良,39,4.2.5 E/D NMOS反相器3.门电路结构,2022/11/29 韩 良,40,4.2.6
15、CMOS反相器1. 结构和工作原理,Vi为VOL时,MN截止,MP非饱和,-Kp 2(VOL- VDD -VTP) (VOH-VDD ) (VOH-VDD ) 2 = 0,VOH = VDD,Vi为VOH时,MN非饱和,MP截止,Kn2(VOH-VTN)VOL-VOL2 =0,VOL=0,无比电路,MP 为PMOS,VTP 0,2022/11/29 韩 良,41,4.2.6 CMOS反相器2.电压传输特性及器件工作状态表,2022/11/29 韩 良,42,4.2.6 CMOS反相器3.噪声容限,VNMmax=minVNMHmax, VNMLmax ,2022/11/29 韩 良,43,4.2
16、.6 CMOS反相器4.瞬态特性,Vo,CL为负载电容,带负载门数越多, 连线越长,CL越大,延迟越大。,2022/11/29 韩 良,44,4.2.6 CMOS反相器4.瞬态特性(续1),(1)下降时间,tf = tf1 + tf2,tf1是电容电压Vo从0.9VDD下降到(VDD-VTH)所需时间;tf2是电容电压Vo从(VDD-VTH)下降到0.1VDD所需时间。 在tf1内MN工作在饱和区:,4.2.6 CMOS反相器4.瞬态特性(续1),(1)下降时间,tf = tf1 + tf2,2022/11/29 韩 良,46,4.2.6 CMOS反相器4.瞬态特性(续2),(1)下降时间,t
17、f = tf1 + tf2,从t1(对应Vo=0.9VDD)到t2(对应Vo= VDD-VTH)进行积分,可得,2022/11/29 韩 良,47,4.2.6 CMOS反相器4.瞬态特性(续3),(1)下降时间,tf = tf1 + tf2,按上述同样的方法,可求出电容电压从(VDD-VTH) 放电到0.1VDD 所需的时间tf2,2kN(VDD-VTN),VDD,CL,ln (,19VDD 20 VTN,),2022/11/29 韩 良,48,4.2.6 CMOS反相器4.瞬态特性(续4),(1)下降时间,KN越大 tf越小,tf = tf1 + tf2,2022/11/29 韩 良,49,
18、4.2.6 CMOS反相器4.瞬态特性(续5),(1)下降时间,tf = tf1 + tf2,假设VTN0.2VDD,kNVDD,CL,2,tf ,2022/11/29 韩 良,50,4.2.6 CMOS反相器4.瞬态特性(续6),(2)上升时间,KP越大 tr越小,tr = tr1 + tr2,2022/11/29 韩 良,51,4.2.6 CMOS反相器4.瞬态特性(续7),(2)上升时间,tr = tr1 + tr2,假设VTN0.2VDD,kPVDD,CL,2,tr ,如果希望tr tf,则要求KN= KP, 由于N 2P, 需要使WP=2WN,2022/11/29 韩 良,52,4.
19、2.6 CMOS反相器5.功耗特性,(1) 静态功耗PS 理想情况下静态电流为0,实际存在漏电流(表面漏电,PN结漏电),有漏电功耗: PS = IosVDD,CMOS电路功耗由三部分组成:静态功耗、瞬态功耗和节点电容充放电功耗。,设计时应尽量减小PN结面积,2022/11/29 韩 良,53,4.2.6 CMOS反相器5.功耗特性(续1),由于节点都存在寄生电容,因而状态转换时输入波形有一定的斜率,使NMOS和PMOS都处于导通态,存在瞬态电流,产生交变功耗。,(2)瞬态功耗Pt,2022/11/29 韩 良,54,4.2.6 CMOS反相器5.功耗特性(续2),近似计算,假定交变电流为三角
20、波。,设计时应尽量减小tr和tf,(2)瞬态功耗Pt,2022/11/29 韩 良,55,4.2.6 CMOS反相器5.功耗特性,(3)电容充放电功耗Pc,在状态转换过程中,结点电位的上升和下降,都伴随着结点电容的充放电过程,产生功耗。,Pc = CL VDD 2,2022/11/29 韩 良,56,4.2.6 CMOS反相器6.最佳设计,(1)最小面积方案,芯片面积 A=(Wn Ln+ Wp Lp) 按工艺设计规则设计最小尺寸 Lp = Ln Wp = Wn 面积小、功耗小、非对称延迟,(2) 对称延迟方案,上升时间与下降时间相同tr = tf 应有:Kp = Kn,一般取:Lp=Ln则有:
21、Wp/ Wn =n /p 2,2022/11/29 韩 良,57,4.2.6 CMOS反相器7.单元版图示例,2022/11/29 韩 良,58,4.2.7 作业,1 说明什么是有比和无比电路?2 CMOS反相器的功耗包括哪几部分?,2022/11/29 韩 良,59,4-3标准CMOS静态基本逻辑门,2022/11/29 韩 良,60,思考题,1. NMOS门电路中,输入端数对特性有何影响(静态和瞬态)?设计时如何考虑?2. CMOS门电路中,输入端数对特性有何影响(静态和瞬态)?设计时如何考虑?,2022/11/29 韩 良,61,4.3.1 NMOS门电路1. 或非门(nor),等效为反
22、相器进行性能分析,按最坏条件满足性能要求进行设计。,2022/11/29 韩 良,62,4.3.1 NMOS门电路2. 与非门(nand),等效为反相器时,等效输入管宽长比减小,严重影响VOL和tf ,因此输入端数不宜过多。,2022/11/29 韩 良,63,4.3.1 NMOS门电路3. 与或非门,2022/11/29 韩 良,64,4.3.1 NMOS门电路4. 或与非门,2022/11/29 韩 良,65,4.3.1 NMOS门电路5. 异或门(xor),2022/11/29 韩 良,66,4.3.1 NMOS门电路6. 异或非门(nxor),2022/11/29 韩 良,67,4.3
23、.1 NMOS门电路6. 异或非门( nxor)续,电路结构简单,但是与其它单元级联时会有电流灌入前级,影响输出低电平。,2022/11/29 韩 良,68,4.3.1 NMOS门电路7. 同相推挽输出驱动门,上拉结构输出,输出高电平低,2022/11/29 韩 良,69,4.3.1 NMOS门电路8. 反相推挽输出驱动门,2022/11/29 韩 良,70,4.3.1 NMOS门电路9. 三态驱动门,同相,反相,2022/11/29 韩 良,71,1. PUN由PMOS管组成,PDN由NMOS管组成,2. PMOS管数与NMOS管数及输入端数都相同(为1时即是反相器),3.所有输入都同时分配
24、到PUN和PDN中,5.稳定状态时PUN和PDN只有一个导通,6.输出高电平为VDD,输出低电平为VSS,7. 理想静态功耗为零,8. 单级门完成的功能都是反相的,4. PUN和PDN采用互为对偶网络,4.3.2 标准CMOS静态基本门电路结构,2022/11/29 韩 良,72,4.3.2 标准CMOS静态基本门电路结构1. 或非门(nor) (1)电路结构示例,PDN中的NMOS管是单一的并联关系PUN中的PMOS管是单一的串联关系,2022/11/29 韩 良,73,PUN导通时,等效PMOS管的宽长比减小(与端数有关),(W/L)P/3,4.3.2 标准CMOS静态基本门电路结构1.
25、或非门(nor) (2) PUN等效分析示例,2022/11/29 韩 良,74,PDN导通时,随着导通NMOS管个数的增加,等效NMOS管的宽长比加大。,(W/L)N,2(W/L)N,3(W/L)N,4.3.2 标准CMOS静态基本门电路结构1. 或非门(nor) (3) PDN等效分析示例,2022/11/29 韩 良,75,下降时间 tfNMOS管有导通的输出电平就会下降。下降时间tf随着NMOS管同时导通个数的增加而减小。,或非门输入端数过多将会严增加上升时间tr,适合要求下降速度快的电路。,上升时间 trPMOS管全导通输出电平才会上升。上升时间tr随着输入端数的增加而增大。,4.3
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 第四 CMOS 数字集成电路 课件
链接地址:https://www.31ppt.com/p-1474352.html