第六章宏观应力测定课件.ppt
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1、第六章 宏观应力测定,6.1引言6.2单轴应力测定原理6.3平面应力测定原理6.4试验方法6.5试验精度的保证及测试原理的适用条件,6.1 引言,内应力是指产生应力的各种外部因素撤除之后材料内部依然存在、并自身保持平衡的应力。通常分为三类(如下表):第一类内应力;第二类内应力;第三类内应力。第一类内应力又称宏观应力,在工程上常把宏观应力称为残余应力。,X射线测定宏观应力的实验依据是物体中残余应力会使晶面的衍射线产生位移。宏观残余应力测定方法还有:电阻应变片法、机械引伸仪法、超声波法等。X射线法与这些方法相比,具有如下特点:它是有效的无损检测方法;它所测定的仅仅是弹性应变,而不含有范性应变(范性
2、变形不会引起衍射线位移);X射线照射面积可以小到12mm直径,因此它可测定小区域的局部应力;只能得到表面应力,且精度受组织因素影响很大。,6.2 单轴应力测定原理,在拉应力y的作用下,正好与拉伸方向垂直的试样中某晶粒的(hkl)晶面,其晶面间距将由d0扩张为dn,则其应变为: 根据弹性力学原理,其应力:,直接测定y是很困难的,但对于均质材料: 为泊松比。对于多晶体试样,总可以找到若干个晶粒的(hkl)晶面与试样表面平行,这些晶面的晶面间距变化是可测的: 因此,63 平面应力测定原理,由于X射线的穿透能力有限,只能测到1030m的深度,此时垂直于表面的应力分量近似为零,即测得的是接近二维平面应力
3、。根据弹性力学原理,在一个受力物体内,在任一点上总可以找到三个互相垂直的方向,使得与三个方向垂直的各平面上切应力为零,仅存在三个相互垂直的主应力1、 2 、3。,垂直于试样表面的应变3,在二维应力下,主应力1、 2与试样表面平行,表层主应力30,但在1和 2 的作用下,垂直于试样表面的应变3并不为零,当材料各向性时:3可由平行于表面的某晶面间距d值的变化测定,即:,平行于表面某方向上的应力(1),前面推导出的公式得到的是正应力之和,但工程中通常需某个方向上的应力,如与1夹角为的OB方向(图6-3)的应力,其测定步骤为:1、测定应变3。由平行于表面的(hkl)晶面的面间距变化求出:,平行于表面某
4、方向上的应力(2),2、测定与表面呈任意的角方向上的(hkl)晶面的应变。它由法线与试样表面法线成角的那些(hkl)晶面的间距变化求出,如图6-4(b):,注意: 的方向如图63,它位于OA方向上,并与试样表面法线Ns、 共面, 角的任意是指在该平面内与试样表面法线Ns夹角的变化,平行于表面某方向上的应力(3),3、对于各向同性的弹性体,根据弹性力学原理: 将 、 3代入上式: 用dn代替d0:,sin2法基本原理,根据前述两个公式可得到下面的第三个公式:对第三式求偏导:,对布拉格方程进行微分: 即: 因为 ,所以:,将上式简写为: 式中 ,当晶体材料已知、反射面(hkl)和入射线波长一定时K
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