能谱仪的结构、原理及使用ppt课件.ppt
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1、能谱仪,的结构、原理及其使用,一、实验目的,结合场发射扫描电镜Sirion 200附件GENESIS60E型X-射线能谱仪,了解能谱仪的结构及工作原理。结合实例分析,熟悉能谱分析方法及应用。学会正确选用微区成分分析方法及其分析参数的选择。,二、能谱仪结构及工作原理,X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的、具有成分分析功能的方法,通常称为X射线能谱分析法,简称EDS或EDX方法。,二、能谱仪结构及工作原理,特征X射线的产生产生:内壳层电子被轰击后跳到比费米能高的能级上,电子轨道内出现的空位被外壳层轨道的电子填入时,作为多余的能量放出的就是特征X射线。特点:特征X射线具有元素固有
2、的能量,所以,将它们展开成能谱后,根据它的能量值就可以确定元素的种类,而且根据谱的强度分析就可以确定其含量。,二、能谱仪结构及工作原理,X射线探测器的种类和原理 展成谱的方法:X射线能量色散谱方法(EDS:energy dispersive X-ray spectroscopy)X射线波长色散谱方法(WDS:wavelength dispersive X-ray spectroscopy) 在分析电子显微镜中均采用探测率高的EDS。从试样产生的X射线通过测角台进入到探测器中。,二、能谱仪结构及工作原理,图1 EDS系统框图,二、能谱仪结构及工作原理,为了使硅中的锂稳定和降低FET的热噪声,平时
3、和测量时都必须用液氮冷却EDS探测器。 保护探测器的探测窗口有两类: 铍窗口型(beryllium window type) 这种探测器使用起来比较容易,但是,由于铍薄膜对低能X射线的吸收,所以,不能分析比Na(Z11)轻的元素。超薄窗口型(UTW type : ultra thin window type ) 它吸收X射线少,可以测量C(Z6)以上的比较轻的元素。,二、能谱仪结构及工作原理,EDS的分析技术(1)X射线的测量 当用强电子束照射试样,产生大量的X射线时,系统的漏计数的百分比就称为死时间Tdead,它可以用输入侧的计数率RIN和输出侧的计数率ROUT来表示: Tdead(1ROU
4、T/RIN)100,二、能谱仪结构及工作原理,(2)空间分辨率 图2示出入射电子束的直径和电子束在试样内的扩展,即X射线产生区域的示意图。 在分析电子显微镜的分析中,电子束在试样中的扩展对空间分辨率是有影响的,加速电压、入射电子束直径、试样厚度、试样的密度等都是决定空间分辨率的因素。,二、能谱仪结构及工作原理,图2 入射电子束在试样内的扩散,二、能谱仪结构及工作原理,(3)峰/背比(P/B)按照札卢泽克(Zaluzec)理论,探测到的薄膜试样中元素的X射线强度N的表示式如下: N=(IpN0Ct)/4M式中: I入射电子束强度; 离化截面;荧光产额; 密度; p关注的特征X射线产生的比值; N
5、0阿弗加德罗常数; C化学组成(浓度)(质量分数,); t试样厚度; 探测立体角;探测器效率; M相对原子质量。,二、能谱仪结构及工作原理,(4)定性分析 为保证定性分析的可靠性,采谱时必须注意两条: 第一,采谱前要对能谱仪的能量刻度进行校正,使仪器的零点和增益值落在正确值范围内; 第二,选择合适的工作条件,以获得一个能量分辨率好,被分析元素的谱峰有足够计数、无杂峰和杂散辐射干扰或干扰最小的EDS谱。,二、能谱仪结构及工作原理,自动定性分析 自动定性分析是根据能量位置来确定峰位,直接单击“操作/定性分析”按钮,即可实现自动定性分析,在谱的每个峰的位置显示出相应的元素符号。手动定性分定性分析 自
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