表面光电压谱ppt课件.ppt
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1、2022/11/21,1,思考题:1、说明表面光电压谱测量原理;并列举两种表面 光伏测量方法2、利用表面光电压谱方法测量材料的禁带宽度3、说明染料敏化光电气敏的检测原理,2022/11/21,2,表面光伏现象:原理、实验和应用王德军 谢腾峰 吉林大学化学学院,2019 年 6 月,2022/11/21,3,一表面光伏原理 二 表面光伏技术分类 三表面光伏测量的应用 半导体材料导电类型的确定 少数载流子扩散距离的测定 表面态参数的测定 纳米尺度表面光伏特性研究 表面光伏气敏特性研究 谱带认证,2022/11/21,4,4050年代, Brattain和Bardeen诺贝尔讲演揭开了表面光伏研究的
2、序幕 60年代,Johnson和 Goodman等人利用SPV方法测量了少数载流子的寿命,并发展了少数载流子扩散长度的理论模型,奠定了硅太阳能电池的基础。 70年代,Gatos等人系统地进行了亚带表面光伏的研究,对半导体的表面态进行了研究。 90年代,SPV相关技术发展的最活跃,Lagowski等人 用SPV扫描Si片表面,结合扫描探针技术的尖得到SPV测量,较大的改善了分辨率。,2022/11/21,5,Surface Photovoltage phenomena:Theory, experiment and applicationL.Kronik, Y ShapiraSurface Sci
3、ence Reports 254(2019)1-205,2022/11/21,6,SPV检测原理 1. 带带跃迁情况 2. 亚带隙跃迁情况,2022/11/21,7,SPV检测原理 1. 带带跃迁情况 2. 亚带隙跃迁情况,2022/11/21,8,图1. 具有Schottky势垒的带弯,p型(上图)和n型 (下图)半导体与金属形成的势垒接触。,固/固液/固气/固,2022/11/21,9,图 2. n型(左图)和p型(右图)半导体材料在光诱导 下, 表面势垒高度(Vs)的变化过程。,2022/11/21,10,图 3. 双面接触的n型半导体,一侧保持暗态,另一 侧受光照射,两侧表面势垒高度(
4、Vs)的变化。,h,暗态,2022/11/21,11,SPV检测原理 1. 带带跃迁情况 2. 亚带隙跃迁情况,2022/11/21,12,亚带隙跃迁的光伏响应,2022/11/21,13,体相杂子能级相关的光伏响应,2022/11/21,14,表面光伏检测方法,表面光电压谱(SPS),瞬态表面光伏检测,表面光电微纳尺度扫描,稳态,动态,表面光伏技术分类,二 表面光伏技术分类,2022/11/21,15,稳态表面光电压谱,Schematic representation of the experimental set-up for surface photovoltagespectroscop
5、y,2022/11/21,16,表面光电压谱仪,浙江大学科学院北京化学所燕山大学(2)黑龙江大学(2)辽宁师范大学(2)河南大学西南交大上海交大东北师范大学(2)哈尔滨工业大学(2)四川理工学院,2022/11/21,17,表面光伏检测方法,表面光电压谱(SPS),瞬态表面光伏检测,表面光电微区扫描,稳态,动态,表面光伏技术分类,2022/11/21,18,Kelvin探针表面光伏技术(动态),2022/11/21,19,能够给出接触势垒高度的改变量(表面功函改变)得到表面光电压谱,2022/11/21,20,dc SPV spectrum of ZnO array with illumina
6、tion on top from 600 nm to 300 nm. Inset: Schematic setup of Kelvin Probed based SPV measurement.,380 nm: weak change of DCPD,2022/11/21,21,表面光伏检测方法,表面光电压谱(SPS),瞬态表面光伏检测,表面光电微区扫描,稳态,动态,表面光伏技术分类,2022/11/21,22,瞬态表面光伏测量,2022/11/21,23,瞬态PV的测试,不同导电类型对测试的影响,p-type,n-type,From:J. Appl. Phys. 91, 9432 (2019
7、),2022/11/21,24,Figure 2. the transient photovoltage of the heterostructure illuminated from the frontside ( the inset of fig.2) with the illuminationIntensity of 7mJ.,Front illumination,2022/11/21,25,Fig. 3 the transient photovoltage of the heterostructure at higher illumination intensity of 18mJ a
8、nd 50mJ.,2022/11/21,26,表面光伏检测方法,表面光电压谱(SPS),瞬态表面光伏检测,表面光电微纳尺度扫描,稳态,动态,表面光伏技术分类,2022/11/21,27,微纳区域表面光电特性研究 (远场扫描),KFM模式,2022/11/21,28,n 型半导体 n Si; n-TiO2p 型 偶氮类化合物,2022/11/21,29,The SPS and FISPS of azo pigments A and C,(1) 利用场效应原理判别导电类型,C,A,C,A,2022/11/21,30,(n-Si/TiO2)/B,(n-Si/TiO2)/B,e-,e-,2022/11
9、/21,31,2022/11/21,32,(n-Si/TiO2)/B,(n-Si/TiO2)/B,e-,e-,光致电荷转移过程,2022/11/21,33,(a) (b)the surface potential image of n-Si/TiO2/B under illumination, (a) two dimension and (b) three dimension,(n-Si/TiO2)/(B),e,h,2022/11/21,34,表面光电微区扫描,近场扫描,2022/11/21,35,对于稳态表面光伏的影响因素 1样品吸收特性(消光系数、跃迁属性等) 2样品内阻 3样品粒径 4调
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