故障自诊断技术与专家系统故障诊断ppt课件.ppt
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1、电子设备维修技术,第二章 检查电子设备故障的基本方法,2.3故障自诊断技术与专家故障诊断系统2.4 其他现代故障诊断方法简介,机内自检设备简介 微处理器系统的故障自诊断技术 专家故障诊断系统简介现代故障诊断方法简介,故障自诊断技术与专家系统故障诊断故障自诊断技术又称自诊断法。电子装备内含用于故障自诊断的设备称为机内自检设备BITE(Built In Test Equipment),机内自检设备是系统或设备内部提供的检测和隔离故障的自动测试能力的装置。这一类系统或设备具有故障自动检测与隔离能力。机内自检设备也称内装式测试设备,它是一种特殊的自动测试设备,通常安装在被测系统或设备内部,且与被测系统
2、或设备融于一体。机内自检设备就是采用自诊断技术和具有故障自动隔断能力的设备。,1. 机内自检技术分类机内自检技术BIT可分为:余度机内自检技术环绕机内自检技术特征分析机内自检技术机内逻辑块观察技术参数测试机内自检技术编码检错技术智能机内自检技术等本节仅对余度机内自检技术、智能机内自检技术进行简介,(1)余度机内自检技术采用余度机内自检技术原理框图如图所示。在采用余度机内自检技术的系统内,被测电路设置成相同的两路,其中一路是被重复设计的余度单元,余度单元与被测电路输入相同的激励信号,通过比较这两路的输出来判断电路工作状态是否正常,若输出值不同且其差值超过某一阈值,就说明被测电路发生故障。图中差动
3、放大器用于电路幅值差值的检测,窗口比较器用来检测超过阈值部分的具体位置,故障闭锁器用来锁定故障,以便故障的显示或检测。,2.智能机内自检技术是由美国空军航空发展中心Dale W.Richards于1987年首次提出的。当时的主要目的,是把人工智能理论引入到机内自检技术的故障诊断中来,用来解决常规机内自检技术不能识别的间歇故障的问题。随后把专家系统、神经网络等智能理论和方法先后引入到机内自检技术的故障诊断之中,以提高故障诊断的能力。将包括专家系统、神经网络、模糊集合理论、信息融合技术等智能理论应用到机内自检技术的设计、检测、诊断、决策等方面,以提高机内自检技术综合效能。例如有的雷达在闭合电源开关
4、后,会自动按模块逐一进行自检,当检测各模块无故障,按显示屏提示合上启动按键,雷达开始运行,否则,设备自锁,不能运行。结构图如图2-3所示。,机内自检设备简介 微处理器系统的故障自诊断技术 专家故障诊断系统简介现代故障诊断方法简介,微处理器系统的故障自诊断技术是微处理器系统设备利用软件程序对自身硬件电路进行检查,以及时发现系统中的故障,根据故障程度采取校正、切换、重组、或报警等技术措施,或直接显示故障部位、原因等。故障自诊断方式有三种:上电自检。设备上电后,先对仪器设备进行自检,避免系统带故障运行。定时自检。由系统周期性地在线自检,以及时发现运行中的故障。键控自检。操作者可随时通过键盘操作来启动
5、一次自检,1.CPU的故障自诊断如CPU出现故障,整个系统不能正常工作,所以CPU的自诊断是最困难的。专业性的CPU测试程序是根据CPU的结构特点编写而成的。由于CPU的故障的发生具有随机性,须经过足够次数的测试方能查出CPU故障。一般用户系统的CPU自诊断程序可认为是系统的测试程序,如系统能正确地运行自检程序,则可认为CPU自身也是正常的。,2.ROM的故障自诊断方法EPROM的窗口未封好,经外界光线较长时间作用会改变其存储信息。E2PROM的存储信息也可能因受电干扰而发生意外改变。ROM信息的改变势必使原设计程序发生错误,并以软件故障的形式反映出来,使系统无法正常运行。ROM为只读存储器,
6、对其自诊断只需判断从ROM中读出的数据是否正确即可。具体方法很多,常见的ROM的自诊断的方法有“校验和”、单字节累加位法、双字节累加位法等。校验和法又称奇/偶检验法,是较常用的自诊断方法,具体实施步骤如下:当写入程序代码和数据表格时,在ROM中保留一个单元(通常保留紧接有效信息后的一个),用于存放所有有效代码的校验和(加法和或者异或和),加法和是有效代码的对应位进行不进位加法的值,应将其取补存放;异或和是有效代码的异或值,可直接存储。在自诊断时,将有效代码和校验和逐一读出,同时按写ROM时相应的运算规则计算其校验和。若ROM中的数据正确,则加法和的值应全为1,而异或和的值应全为0,否则即是RO
7、M的内容已发生变化。,3.RAM的故障自诊断 (1)固定模式测试固定模式测试是将某数据写入被测试的RAM单元中,然后再从中读出并与原始数据进行比较,以此来判断RAM的写入和读出的故障。为检查字节单元的各个位之间的影响,应将可能出现的每一种数据组合都进行一次测试,如8位RAM字节所有的数据组合00为FFH。实际系统中也常用0AAH和55H这两个0和1间隔的数进行检查,可发现最易出现的相邻位关联的故障。这种方法的缺陷是没有检查RAM单元之间的影响。,(2)游动模式测试游动模式测试是先将所有需测试的RAM单元初始化为全1或全0,再将一个数据送入一个被测单元,并检查其他单元是否受到该次写入的影响;然后
8、将该单元的数据读出并与原始数据比较,以检查该单元自身的情况以及是否受到其他单元的影响;如果该单元检查无误,则将其恢复为初始化值,检测其他单元;如此不断进行,直至所有RAM单元通过检查。与固定模式相似,游动模式测试送入RAM的中的数据应考虑所有可能的组合状态,通常选择有代表性的几种数据进行测试,如AAH、55H或反码连续测试等。反码测试使一个单元在很短时间内被写“1”和写“0”,可检查出寄生电容影响而产生的隐含故障。,4.数据采集通道的故障自诊断微处理器系统的数据采集通道一般由A/D转换器和多路模拟开关组成,典型的数据采集通道进行自诊断方案如图2.-4所示。图中,用多路模拟开关的一个道接一已知的
9、基准电压UREF,其等效电压的数值一般为通道的中心值。进行自检时,系统对该已知电压进行A/D转换,若转换结果与预定值相符,则认定数据采集通道正常;若有少许偏差,则说明数据采集通道发生漂移,可求出校正系数,供实际测量时进行补偿;若偏差过大,则判断数据采集通道发生故障。,5.模拟输出通道的故障自诊断一般由D/A转换器组成,对模拟输出通道的诊断的目的是为了确保模拟输出量的准确性。而要判断模拟量是否准确必须将其转换成数字量,这样CPU才能对模拟输出通道进行判断。因此,模拟输出通道的自诊断还需数据采集环节。借助多路数据采集通道对D/A进行自诊断电路如图2-5所示。 图中R2、R1组成分压电路,将输出电压
10、分压后返至A/D转换电路。适当调整分压比,使的D/AA/D环节增益为1,即可达到满意的诊断效果。要使诊断准确,数据采集通道必须正常可靠。在自诊断时,可选择在D/A输出范围内较典型的值如中值、准上限值(不能是最大值)、准下限值(不能是最小值)分别进行自诊断测试。,6.人机界面的故障自诊断他部分不同之处在于其诊断的结论不是由CPU决定的,而必须由操作者来判断自诊断程序的运行结果与预期是否一致。(1)数码显示器和点阵显示器的诊断数码显示器的失效率较高,一般通过检查其各显示段是否正常来诊断。自检方法之一:是将所有显示位和符号段全部闪烁点亮几次,亮时不能出现暗段,暗时不能出现亮段。自检方法之二:轮流点亮
11、一位显示器的所有段,这种方法不仅可检查该显示器的状态,还可检查与相邻段的关联情况。,点阵显示器的自检可采取全部闪烁点亮加显示信息的方法进行自诊断,全屏闪烁可检查失效的点阵;提示信息除可告诉操作者诸如系统研制者、系统主要功能、系统时钟等信息外,还可检查点阵驱动器的可靠性以及是否有故障。在工程实际中,系统在上电或复位时,大都会全屏闪烁几次、依次显示8或给出提示信息,这就是系统中设置的自检程序运行的结果。此时操作者应注意是否有不正常显示状况出现,配合系统完成显示单元的自检工作,不能因此时无实际操作而不予理会。,(2)键盘的诊断键盘常设有键盘操作回复声,诊断时可作为正常操作的提示随时进行。若按键操作后
12、无回复声,则说明出现故障。有的系统用指示灯进行操作回复的提示,则应对每个键相对应的指示灯进行观察。(3)音响装置的诊断音响装置在微处理器系统中常用作操作提示和报警。在自检程序运行过程中,常用作报警输出,当自检没通过时,除显示报警提示外,还用音响增加报警提示的效果。有的还可利用音响的长短、间隔等显示故障类型。,机内自检设备简介 微处理器系统的故障自诊断技术 专家故障诊断系统简介现代故障诊断方法简介,专家系统故障诊断结构图如图2-6所示。专家故障诊断系统由数据库、知识规则库、人机接口、推理机等组成。(1)数据库对于在线监视或故障诊断系统,数据库的内容为实时检测到的工作状态数据;对于离线诊断,数据库
13、的内容可以是故障时检测数据的保存,也可以是人为检测的一些特征数据,即存放推理过程中所需要的和所产生的各种信息。,(2)知识规则库是专家领域知识的集合。其中存放的知识可以是系统的工作环境、系统知识,所谓系统知识是反映系统的工作机理及系统的结构知识。规则库存放一组组规则,反映系统的因果关系,用于故障推理。(3)人机接口人机信息的交接点,人与专家系统打交道的桥梁与窗口。(4)推理机是专家系统的组织控制机构。它根据获取的信息综合运用各种规则,进行故障诊断,输出诊断结果。,3.专家系统故障诊断的局限性 专家系统的应用的基础是专家的领域知识的获取。而领域知识的获取较困难,领域知识的获取被公认为专家系统研究
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