IVD电磁兼容测试解析课件.ppt
《IVD电磁兼容测试解析课件.ppt》由会员分享,可在线阅读,更多相关《IVD电磁兼容测试解析课件.ppt(57页珍藏版)》请在三一办公上搜索。
1、IVD电磁兼容测试,IVD电磁兼容测试,主要内容,1、电磁兼容基本知识2、测试标准3、测试项目,主要内容1、电磁兼容基本知识,1、电磁兼容基本知识,1.1、电磁兼容(EMC-Electromagnetic Compatibility) 定义 指的是一个产品和其他产品共存于特定的电磁环境中,而不会引起其他产品或者自身性能下降或损坏的能力1.2、电磁兼容分类 EMC=EMS(电磁抗扰度)+EMI(电磁发射)EMS : Electromagnetic susceptibilityEMI : Electromagnetic interference1.3、电磁干扰三要素 干扰源、 耦合途径、敏感设备,
2、1、电磁兼容基本知识1.1、电磁兼容(EMC-Electr,2、测试标准,2.1 体外诊断医疗器械产品标准,GB/T 18268.1-2010测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第1部分:通用要求GB/T 18268.26-2010 测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第26部分:特殊要求 体外诊断(IVD)医疗设备,2、测试标准2.1 体外诊断医疗器械产品标准GB/T 182,2、测试标准,2.2 体外诊断医疗器械基础标准,2、测试标准2.2 体外诊断医疗器械基础标准,3、测试项目,执行标准 GB/T 17626.4-2008 /IEC 61000-4-4实验目的 模拟感
3、性负载切换产生的干扰,如:继电器、电机、压缩机、日 光灯等 测试部位(同浪涌、射频传导) 交流电源端口 、直流电源端口(适用预期永久连接长距离线路的 直流电源输入端口)、I/O信号端口(仅适用电缆长于3m),3.1 电快速瞬变脉冲群抗扰度(EFTElectrical Fast Transient)实验,3、测试项目执行标准3.1 电快速瞬变脉冲群抗扰度(EFT,3.1 电快速瞬变脉冲群抗扰度(EFT)实验,干扰波形,3.1 电快速瞬变脉冲群抗扰度(EFT)实验干扰波形,3.1 电快速瞬变脉冲群抗扰度(EFT)实验,干扰波形,3.1 电快速瞬变脉冲群抗扰度(EFT)实验干扰波形,3.1 电快速瞬
4、变脉冲群抗扰度(EFT)实验,实验布置,3.1 电快速瞬变脉冲群抗扰度(EFT)实验实验布置,3.1 电快速瞬变脉冲群抗扰度(EFT)实验,实验环境条件 若相对湿度过高,以致引起受试设备凝露,则不进行试验实验实施 正负各施加1min,L、N、PE、L+N+PE结果判定 性能判据B注:性能判据A:试验时,在规范限值内性能正常性能判据B:试验时,功能或性能暂时降低或丧失,但能自行恢复性能判据C:试验时,功能或性能暂时性降低或丧失,但需要操作者干预或系统复位,3.1 电快速瞬变脉冲群抗扰度(EFT)实验实验环境条件,3.2 浪涌(surge)实验,执行标准 GB/T 17626.5-2008 /IE
5、C 61000-4-5实验目的 模拟间接雷击对设备的干扰,雷击分为直接雷击和间接雷击 直接雷,它击于外部电路,注入的大电流流过接地电阻或外部电路阻抗而产生电压; 间接雷,它在建筑物内、外导体上产生感应电压和电流,3.2 浪涌(surge)实验执行标准,3.2 浪涌(surge)实验,干扰波形(开路电压),3.2 浪涌(surge)实验干扰波形(开路电压),3.2 浪涌(surge)实验,干扰波形(短路电流),3.2 浪涌(surge)实验干扰波形(短路电流),3.2 浪涌(surge)实验,实验环境条件 若相对湿度过高,以致引起受试设备凝露,则不进行试验实验实施 正负电压各施加5次,每次干扰施
6、加间隔1min或者更短实验布置 测试时将被测试样品及其连接线置于绝缘支座上结果判定 性能判据B,3.2 浪涌(surge)实验实验环境条件,3.3 静电(ESD)实验,执行标准 GB/T17626.2-2006 /IEC 61000-4-2实验目的 模拟操作人员或物体在接触受试设备时的放电以及人或物体对邻近物体的放电,3.3 静电(ESD)实验执行标准,3.3 静电(ESDElectro-Static discharge)实验,干扰波形,3.3 静电(ESDElectro-Static disc,3.3 静电(ESDElectro-Static discharge)实验,试验环境条件 环境温度
7、1535;环境湿度30%60%;大气压86kPa106kPa实验实施 正负各施加10次,单次放电时间间隔至少1S 测试部位直接放电 接触放电:可接触的外壳金属部位及金属涂层部位(2KV、4KV) 空气放电:绝缘材料外壳及绝缘涂层部位 (2KV、4KV、8KV) 间接放电 接触放电 垂直耦合板和水平耦合板,3.3 静电(ESDElectro-Static disc,3.3 静电(ESDElectro-Static discharge)实验,实验布置(台式),3.3 静电(ESDElectro-Static disc,3.3 静电(ESDElectro-Static discharge)实验,实验
8、布置(落地式) 结果判定 性能判据B,3.3 静电(ESDElectro-Static disc,3.4 射频传导(CSConducted Susceptibility)实验,执行标准 GB/T17626.6-2008/IEC 61000-4-6实验目的 模拟射频信号对受试设备的影响 射频:位于声频和红外频谱之间的电磁频谱中,用于无线电信号 传播的频率,通常采用的范围是9kHz3000GHz实验部位 交流电源端口 、直流电源端口(适用预期永久连接长距离线路的 直流电源输入端口)、I/O信号端口(仅适用电缆长于3m),3.4 射频传导(CSConducted Suscepti,3.4 射频传导(
9、CS)实验,干扰波形,3.4 射频传导(CS)实验干扰波形,3.4 射频传导(CS)实验,试验环境条件 若相对湿度过高,以致引起受试设备凝露,则不进行试验实验实施 调幅调制80%,3V/m,150KHz80MHz 实验布置 1)、受试设备放在0.1m高的绝缘支架上 2)、所有与受试设备连接的电缆放置于接地参考面上方至少30mm 3)、耦合去耦网络(CDN)与被测设备之间的距离在0.1m0.3m之间,3.4 射频传导(CS)实验试验环境条件,0.1mL0.3m 接地参考面,3.4 射频传导(CS)实验,实验布置 结果判定 性能判据 A,CDN,控制软件,0.1m高,EUT,信号发生器,6dB衰减
10、器,h30mm,0.1mL0.3m 3.4 射频传导(CS)实验,3.5 电压跌落和短时中断(DIP)实验,执行标准 GB/T17626.11-2008/IEC 61000-4-11实验目的 模拟电网电压不稳定产生的干扰实验位置 交流电源端口干扰波形,3.5 电压跌落和短时中断(DIP)实验执行标准,3.5 电压跌落和短时中断(DIP)实验,试验环境条件 若相对湿度过高,以致引起受试设备凝露,则不进行试验实验实施 电压暂降 电压跌落到0%持续1周期;电压跌落到40%,持续5/6周期;电压跌落到 70%,持续25/30周期;电压中断 电压跌落到5%,50Hz持续250周期,60Hz持续300周期
11、;,3.5 电压跌落和短时中断(DIP)实验试验环境条件,3.5 电压跌落和短时中断(DIP)实验,试验布置 将受试设备置于绝缘支架上结果判定 电压跌落到0% 持续1周期 性能判据 B; 电压跌落到40% 持续5/6周期 性能判据 C; 电压跌落到70% 持续5/6周期 性能判据 C; 电压跌落到5% 持续250/300周期 性能判据 C,3.5 电压跌落和短时中断(DIP)实验试验布置,3.6 射频电磁场辐射抗扰度(RSRadiated Susceptibility) 实验,执行标准 GB/T17626.3-2006/IEC 61000-4-3实验目的 受试设备承受射频干扰的能力实验位置 受
12、试设备外壳,3.6 射频电磁场辐射抗扰度(RSRadiated Sus,3.6 射频电磁场辐射抗扰度(RS)实验,干扰波形,3.6 射频电磁场辐射抗扰度(RS)实验干扰波形,3.6 射频电磁场辐射抗扰度(RS)实验,试验环境条件 若相对湿度过高,以致引起受试设备凝露,则不进行试验实验实施 调幅调制80%,3V/m,80MHz2GHz,3.6 射频电磁场辐射抗扰度(RS)实验试验环境条件,3.6 射频电磁场辐射抗扰度(RS)实验,实验布置 均匀域的概念 这是一个假想的垂直平面,此平面中的场的变化足够小,测量16个点至少要有12个点在容差范围内(-0dB6dB)即认为场是均匀的,3.6 射频电磁场
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- IVD 电磁 兼容 测试 解析 课件

链接地址:https://www.31ppt.com/p-1285786.html