三体系- 统计技术和数据分析控制程序.docx
统计技术和数据分析控制程序文件类别，二阶文件编号：版本，AO生效日期：制定审核核准文件编号：SX-QP-QD-05文件版本：AO等级机密：B级1.0目的通过收集适当的数据并正确使用统计技术,评估客户相关信息、产品要求的符合性,以提前对异常进行预防.2.0范园适用于质墙活动的各个阶段，及客户指定的产品特性。3.0定义无4.0权责4.1 品质部：统计技术运川、分析.改进措施的跟进,效果确认.4.2 生产部:统计技术运用,过程能力计算、记录。4.3 相关部门：基础统计了解及使用。5.1 程序内容5.1统计技术常用在以下方面5.1.1 品质部：进料检验、成品检验之抽样计划，制程枪验、问Ja与原因分析、不合格M分析，公司内部及供应商质51记录之蜕计分析.5.1.2 生产部：质盘记录统计与分析、过程能力控制、何时与原因分析、产品特性的测量、不合格品分析等.5.1.3销售部：市场及客户稠怠度调查分析.5.1.4工程都：不合格品分析，问题与原因分析.5.2统计技术的应用适用于公司各类型产品，公司主要应用以下统计技术，但不局限以下几种：5.2.1抽样检查：指从一批产品中随机抽取一部分进行检查，通过检查出的少量产品中的不合格从数,来作出判定这批产品是合格或不合格.是接收或拒收的结论.5.2.2控制图：指以控制图形式来判断和预测生产过程中质量状况是否发生波动的一种常用的质量控制统计方法.它能直接监视生产过程中的质埴动态，具有检定生产、保证质琐、枳极预防的作用。5.2.3m布图：指通过分析研究两种因素的资料之间的关系，来控制影响产品质量的相关因素的一种有效方法。5.2.4排列图：根据统计的资料，加以层别并计算出各个项目所占比例,再依据大小排列累积而形成的图形，主要是帮助我们抓住关键问翘，找出影响产品质房的主要问廷（主要因素或主要项目）的一种有效方法，5.2.6鱼骨图（因果图：也叫特性要因图或石川图,主要目的是阐明事物之间的因果关系.是寻找和记录造成质成问遨原因的一种有效方法（主要用于不良项目、不良品分析及对策）。5.2.7推移图：表示随时间变动的适当图脖,借助推移图Ur了解实际成果与目标值的空距。5.2.8H方图：又叫频数分布图,适用于对大盘计量资料进行解理加工，找出其统计规律,宜观地传达有关过程质网分布情况，对工序或批演产品的质业水平及其均匀程度进行分析，了解其过程是否处于稳定状态。5.3数据分析5.3.1 数据的来源应包括以下方面（但不限于）：文件编号：SX-QP-QD-05文件版本：AO等级机密：B级a.客户满意度数据：b.与产品要求的符合性数据：c.与过程和产品的特性有关的数据；d.供方产品和服务侦啾的数据；e.公司制定的其他质mR标数据.5.3.2数据的收集统计5.3.2.1饰件那每年至少一次次组织相关部门对客户进行满意度的调查,收集客户满意度的数据.5.3.2.2品防部梅根据客户的要求（包括特殊特性的要求,对产品符合性进行检验,如有必要,安排送外作测试.并记录相关的检脸结果及保存溯试结果,这线记录将是产品符合性数据的主要来源.5.3.2.3生产都应对产品生产过程的特性诳行监测，监测结果的记录即是过程特性的数据，5.3.2.1采购应如织IQC、生产、品质、仓库对供方提供的产品旗永和限务进行评价。5.3.2.5IQC应对供方提供的产品进行检音，检查的结果是评价供方的重要依据.5.3.2.6其他数据的收集根据公司的情况和相关文件规定进行.5.3.2.7根据收集的数据类型和分析的要求,采取适当的统计工具（如柏拽图、鱼件图、分布图等）对数据进行统计解读5.3.3数据的分析和使用5.3.3.1将收集的质陋和运行绩效的数据趋势与实现目标的进展进行比较，分析实际与目标的差跳和实际绩效的趋势，找出实际与目胡的差距：找出实际运行可能导致的不符合趋势：确定优先应迅速解决与客户有关的问题：针对这些差距、问起和不符合趋势进行分析,并制定相关的应对指胞,达到改进续效目的.5.6.3.2适当的数据分析应当与竞争对手或（和公司的基准进行比较,识别公司更大的改进机会.6.0相关文件客户湎意度管理程序SX-QP-SD-037.0相关记录相关统计报表8.0MSS文件编号；SX-QP-QD-05文件版本：AO等级机密：B级流程图流程图责任部门相关文件记录数据收集IHl质Jff各种数据记录表I品防部生产部异常原因分析QC手法图I统计技术和数据分析控制程序弁常改善措施制定生产都改善措施报告I改善措施验证品防部改善指循报告I品质部改善措施报告措施标准化生产部9.0分发和修改记录文件发放鱼用Wftt"分发"框内打7"迭择®n总经办财务部研发一部研发二部采购部人力费淞钝分发at'iPMC部生产SJ工程部品质建仓库分发0a文件修改记承修改IS述筠川/修订申核幡准生败日期AO新版发行.文件编号：SX-QP-QD-05文件版本：AO等级机密：BiS
