电容不良导致无串压不良分析.ppt

无串压不良初步分析,3F3W-RPKyo.Zhou,不良现象,不良现象,不良电池SN=27023内部日期为2010-06-22,对不良电池测试记录查询,该不良电池在F/T有且只有一次测试记录,对该不良电池解码及资料抓取,1、解码,不良GG档,对PACK进行清PF动作，不良现象不变,对不良PACK拆壳未发现异常,不良产生原因为串压侦测异常对其不良部位进行二次元检查未发现异常,对串压侦测不位如红线标示，对R20阻抗进行量测为100ohm为正常值,不良部位二次元照射图片,由上可知产生该不良的原因为以下几个元器件上、C15滤波电容,将进行更换发现该不良电池恢复正常,将该不良电池静放4hour后发现该不良电池恢复之前状态,将不良电池上滤波电容波动几次发现串压恢复正常,再次静放5hour发现该不良再次重现于是将该不良电容拆下串压重现,将不良电池静放12hour状态不变（备注：将C15滤波电容拆除后串压会不平）,将不良电容拆解量测（静置24hour),不良电容阻抗为5.1Mohm,不良电容容值为0.2F（电表量测不精准）无太大异常再次将该电容装上发现该不良电池再次恢复正常,将该不良电池再次静置24hour发现该不良电池串压再次出现异常,由上可知：,产生该异常为C15滤波电容不良导致，还请将不良电容送厂商分析不良产生原因,ThanksThe end,