集成电路测试.ppt

数字集成电路测试与可测试设计,思考题,测试的对象是什么？测试的目的是什么？测试的内容是什么？测试的方法是什么？测试的工具是什么？测试的平台是什么？测试的未来是什么？,第一章 引言,1.1 测试哲学1.2 测试的作用1.3 数字与模拟VLSI测试1.4 VLSI发展趋势对测试的影响,1.1 测试哲学,什么是VLSI测试？在实验中运行被测系统并分析其响应结果，以判断此系统是否正确运转。,测试的三个组成部分：1.运行被测系统 2.分析其响应 3.做出正确判断,1.1 测试哲学,验证、测试和诊断 验证（verification）：验证系统级或寄存器传输级功能是否正确 测试（testing）：测试裸片（die）或芯片（chip）功能是否满足设计要求 诊断(diagnose)：诊断裸片或芯片失效的原因,1.1 测试哲学,测试的风险,1.2 测试的作用,作用：检验产品是否存在问题。好的测试过程可以将所有不合格的产品挡在到达用户手中之前。测试失败的可能原因：1.测试本身存在错误；2.加工过程存在问题；3.设计不正确；4.产品规范有问题。,1.3 数字与模拟VLSI测试,输入、输出信号测试仪器测试方法和理论失效判别方式,输入信号,输出响应,1.4 VLSI发展趋势对测试的影响,提升芯片的时钟频率,即时测试ATE的成本EMI,1.4 VLSI发展趋势对测试的影响,晶体管密度的增长,测试复杂性特征尺寸与功耗电流测试,