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    光缆测试理论与实践v.ppt

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    光缆测试理论与实践v.ppt

    ,光纤监测系统 Remote Fiber Testing System,光纤测试理论与实践v2.1,桑瑞思(集團)有限公司,1,光纤测试理论与实践,光纤通讯所应用的几何光学原理光时域反射计(Optical Time Domain Reflectometer)OTDR原理OTDR主要性能指标OTDR的使用经验与技巧,2,光纤通讯所应用的几何光学原理,光在均匀介质中的直线传播定律光通过两种介质分界面时的反射定律和折射定律光的独立传播定律和光路可逆原理,3,反射定律和折射定律,全反射,4,全反射,由折射定律可知,若,则,即与入射光线相比,折射光线向法线方向偏折若,则,即与入射光线相比,折射光线将偏离法线。且随着入射角 的增大,折射角 增加很快,当入射角 时,折射角为90当入射角 时,就不再有折射光线而光全部被反射这种对光线只有反射而无折射的现象叫全反射 入射角 叫做临界角,其值为,5,光在光纤中的前进方式,所以光在光纤中的前进方式并不是直线投射,而是靠有角度不停的折射传输,光源,光纤,6,光的散射,在光学性质均匀的介质中或两种折射率不同的均匀介质的界面上,无论光的直射、反射或折射,都仅限于在给定的一些方向上,而在其余方向光强则等于零。但当光束通过光学性质不均匀的物质时,从侧向却可以看到光,这个现象叫做光的散射。,7,衰减系数,散射会使光在原来传播方向上的光强减弱,它遵从下列指数规律:式中 是吸收系数,是散射系数。其两者之和 称为衰减系数,它表征光通过介质时因介质的吸收和散射的共同作用而使光强减弱的程度。,8,光的散射损耗,光在前进当中会因为光纤中介质的吸收、杂质、气泡或因光纤外覆层的不均匀等因素,产生散射损失(衰减),光纤,气泡,覆层界面不均匀,杂质,9,损耗与事件,除了散射外,引起光纤传输损耗的因素还有熔接点、接头、光纤断裂等,而这些后天的因素便是我们要监测和预防的范围。散射非反射事件(Fusion、Band)反射事件(Splice、Crack)终端事件,10,光时域反射计(Optical Time Domain Reflectometer),OTDR是表征光纤传输特性的测试仪器。此仪器主要用于测试整个光纤链路的衰减并提供与长度有关的衰减细节,具体表现为探测、定位和测量光纤链路上任何位置的事件(事件是指因光纤链路中熔接、连接器、弯曲等形成的缺陷,其光传输特性的变化可以被测量)。OTDR测试的非破坏性、只需一端接入及直观快速的优点使其成为光纤光缆生产、施工、维护中不可缺少的仪器。,11,OTDR原理(1),瑞利后向散射由于光纤本身的缺陷和掺杂组分的非均匀性,使得光纤中传播的光脉冲发生瑞利散射。一部分光(大约有0.0001%)沿脉冲相反的方向被散射回来,因而被称为瑞利后向散射,后向散射光提供了与长度有关的衰减细节。与距离有关的信息是通过时间信息而得到的(此即光时域反射计中时域的由来),OTDR测量发出脉冲与接收后向散射光的时间差,利用折射率n值将这一时域信息转换成距离,12,OTDR原理(2),菲涅耳反射在不同折射率两传输介质的边界(如连接器、机械接续、断裂或光纤终结处)会发生菲涅耳反射,此现象被OTDR用于准确确定沿光纤长度上不连续点的位置。反射的大小依赖于边界表面的平整度及折射率差,利用折射率匹配液可减小菲涅耳反射。,13,OTDR原理(3),OTDR原理结构方框图,14,OTDR原理(4),上图是OTDR原理结构方框图。脉冲发生器发出宽度可调的窄脉冲驱动激光二极管(LD),产生所需宽度的光脉冲(通常为2ns20s),经方向耦合器后入射到被测光纤,光纤中的后向散射光和菲涅耳反射光经耦合器进入光电探测器,光电探测器把接收到的散射光和反射光信号转换成电信号,由放大器放大后送信号处理部件处理(包括取样、模数转换和平均),结果由显示部件显示:纵轴表示功率电平,横轴表示距离。时基与控制单元控制脉冲宽度、取样和平均。,15,OTDR主要性能指标,对OTDR的性能参数的了解有助于OTDR的实际光纤测量。OTDR性能参数主要包括动态范围盲区分辨率精度,16,动态范围(Dynamic range),动态范围是OTDR主要性能指标之一,它决定光纤的最大可测量长度。动态范围越大,曲线线型越好,可测距离也越长。,Dynamic range(peak),17,盲区(Deadzone)-1,“盲区”又称“死区”,是指受菲涅耳反射的影响,在一定的距离范围内OTDR曲线无法反映光纤线路状态的部分。此现象的出现主要是由于光纤链路上菲涅耳反射强信号使得光电探测器饱和,从而需要一定的恢复时间。盲区可发生在OTDR面板前的活结头或光纤链路中其它有菲涅耳反射的地方。Bellcore定义了两种盲区:衰减盲区(ADZ)和事件盲区(EDZ)。衰减盲区是指各自的损耗可以分别被测量时的两反射事件间的最小距离,通常衰减盲区是56倍的脉冲宽度(用距离表示);事件盲区是指两个反射事件仍可分辨的最小距离,此时到每个事件的距离可测,但每个事件各自的损耗不可测。,18,盲区(Deadzone)-2,盲区的大小与脉冲宽度、反身系数、损耗等因素有关。脉宽越短,盲区越小,但短脉冲同时又减小了动态范围,因此要在盲区和动态范围之间折衷选择脉宽。,(衰减盲区)Attenuation Deadzone(事件盲区)Event Deadzone,19,近端盲区,理论中只纯考虑Pulse Width之影响,但实务上还有连接器之反射光、仪器构造等都会影响近端盲区。因此实务应用上,下列之Table仅为参考值:Pulse Width 近端盲区距离 10ns 20m 20ns 25m 100ns 30m 200ns 60m 500ns 90m 1us 225m 4us 690m 10us 1800m,20,分辨率(Resolution),OTDR有四种主要分辨率指标:取样分辨率显示分辨率(又叫读出分辨率)事件分辨率距离分辨率。,21,取样分辨率,取样分辨率是两取样点之间最小距离,此指标决定了OTDR定位事件的能力。取样分辨率与脉宽和距离范围大小的选取有关。通常各家的OTDR之量测最大点数是固定的,假设最大测试点数20000点,脉宽固定:量测距离为15公里时,取样分辨率为0.75公尺15000(m)/20000(dot)=0.75(m/dot)量测距离为80公里时则取样分辨率增加为40公尺800000(m)/20000(dot)=40(m/dot),22,显示分辨率,显示分辨率是仪器可显示的最小值。OTDR通过微处理系统将每个取样间隔细分,使光标可在取样间隔内移动,光标移动的最短距离为水平显示分辨率、所显示的最小衰减量垂直显示分辨率。,23,事件分辨率,事件分辨率是指OTDR对被测链路中事件点的分辨门限,也就是事件域值(探测阈),OTDR把小于这个阈值的事件变化当作曲线中斜率均匀变化点来处理。事件分辨率由光电二极管的分辨阈决定,根据两接近的功率电平,指定可被测量的最小衰减。,24,距离分辨率,距离分辨率指仪器所能分辨的两个相邻事件点间的最短距离,此指标类似与事件盲区,与脉宽、折射率参数有关。,25,OTDR的使用,OTDR可执行下面的测量:对每个事件:距离,损耗,反射对每个光纤段:段长,段损耗dB或dB/Km,段回波损耗(ORL)对整个终端系统:链长度,链损耗dB,链ORL用OTDR进行光纤测量可分为三步:参数设置、数据获取和曲线分析。,26,参数设置-1,大多数OTDR对待测光纤通过发射测试脉冲自动地选择最佳的获取参数,使用者只需选择波长、获取时间及必要的光纤参数(如折射率、散射系数等)。自动获取参数需要一定的时间,因而,在已知测量条件下,操作者可人工选择测量参数。,27,参数设置-2,波长选择光系统的行为与传输波长直接相关,不同的波长有各自不同的光纤衰减特性及光纤连接中不同的行为:同种光纤,1550nm比1310nm光纤对弯曲更敏感、1550nm比1310nm单位长度衰减更小、1310nm比1550nm测得熔接或连接器损耗更高。为此,光纤测试应与系统传输的波长相同,这意味着1550nm光系统需选择1550nm的波长。,28,参数设置-3,脉宽脉宽控制OTDR注入光纤的光功率,脉宽越长,动态测量范围越大,可用于测量更长距离的光纤,但长脉冲也将在OTDR曲线波形中产生更大的盲区;短脉冲注入光平低,但可减小盲区。脉宽周期通常以ns来表示,29,参数设置-4,测量范围OTDR测量范围是指OTDR获取数据取样的最大距离,此参数的选择决定了取样分辨率的大小。测量范围通常设置为待测光纤长度12倍距离之间。,30,参数设置-5,获取时间由于后向散射光信号极其微弱(大约每米100光子),一般采用统计平均的方法来提高信噪比,获取时间越长,信噪比越高。理论上,平均时间(或次数)对信噪比的改善可用下式表示6其中SNIR代表动态增益,N代表平均次数。例如,3分钟的获取将比1分钟的获取提高0.8dB的动态。但超过10分钟的获取时间对信噪比的改善并不大。,31,参数设置-6,光纤参数光纤参数的设置包括折射率和后向散射系数的设置。折射率参数与距离测量有关,后向散射系数则影响反射与回波损耗的测量結果,这两个参数通常由光纤生产厂家给出。,32,经验与技巧-1,接头清洁不清洁的连接器导致测量不可靠、曲线多噪音甚至使测量不能进行,它还可能损坏OTDR。要获得精确的、可重复的测量,光系统内所有物理连接点清洁极为重要,单模光纤的模场直径不到10m,50m直径的尘粒有可能完全中断光传输。即使遮拦5%的光传输区域,也会增加0.22dB的插入损耗。避免用酒精以外的其它清洗剂或折射率匹配液,因为它们可使光纤连接器内粘合剂溶解。如不可避免地要用折射率匹配液,则要用专用于光纤连接器的特殊匹配液。,33,经验与技巧-2,熔接增益不同模场直径或不同后向散射系数的光纤的熔接,在OTDR曲线上可能会产生一正增益,这一正增益是由于在熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多的后向散射光而形成的。事实上,光纤在这一熔接点上是熔接损耗的,因此,需要在两个方向测量并对结果取平均作为该熔接损耗。,34,经验与技巧-3,鬼影在OTDR曲线上的尖峰有时并不是有真正的连接器或断点引起的菲涅耳反射峰,而是由于 离入射端较近且强的反射引起的回音,这种尖峰被称为鬼影,如图所示。入射光脉冲在两个连接器1,2之间来回反射,使得在OTDR曲线的G1处产生一个尖峰(鬼影),图中终结强反射还可以引起鬼影G2。有两个特征可用于识别鬼影:曲线上鬼影处未引起明显损耗;沿曲线鬼影与始端的距离是强反射事件与始端距离的倍数。可通过以下方法消除鬼影:在强反射处使用折射率匹配液以减小反射、选择短脉冲宽度以减小注入功率、在强反射之前的光纤中增加衰减。如果引起鬼影的事件位于光纤终结,可绕合适的工具(如铅笔)几圈以衰减反射回始端的光而得到消除鬼影的目的。,35,折射率的校正,就光纤长度测量而言,折射率系数每0.01的偏差会引起每公里7米之多的误差,对于较长的光纤段,应采用光缆制造商提供的折射率值。如果折射率系数未知,但一段相同种类光纤的长度已知,那么可以将光标放在已知长度的光纤末端,并调整折射率系数直至测得的两点距离符合已知距离,则折射率系数就可以计算出来了。工程中,为了施工和抢修的方便,提出光缆折射率,它是把光缆绞缩率或光纤余长考虑在内的折射率,可以帮助测试人员快速测试光缆皮长。需要注意的是,当将距离测量和以前对同一光纤段的测量进行比较时,应使用同一个折射率系数。,36,过渡光纤的使用,过渡光纤是一段用于连接OTDR与待测光纤、长3002000m的光纤,其主要用处为:前端盲区处理和终端连接器插入损耗测量一般来说,OTDR与待测光纤间的连接器引起的盲区最大。在光纤实际测量中,有时为避免这一大的前端盲区淹没待测光纤开始一段内的细节,在OTDR与待测光纤间加接一段过渡光纤,使前端盲区落在过渡光纤内,而待测光纤始端落在OTDR曲线的线性稳定区。过渡光纤的长度视具体情况而定。光纤系统终端连接器插入损耗可通过OTDR加一段过渡光纤来测量。如要测量首端连接器的插入损耗,可在OTDR与待测光纤首端加一过渡光纤;如要测量首、尾两端连接器的插入损耗,可在每端都加一过渡光纤。过渡光纤的特性应与被测光纤一致,且连接器应是高质量的。,37,超长中继测量,当光纤线路损耗在OTDR动态范围内时,一般应对两个方向各测一次,每个方向的测试曲线应包括全部长度的完整曲线。对超长中继段,当其线路损耗超出OTDR的动态范围时,可从两个方向测至中间(中间汇合点不应落在接头位置,且两个方向的测量距离各为全程的一半左右),曲线记录时,移动光标至“合拢处”的汇合点,使显示数据长度相加值为中继段全长,损耗值相加即为中断段线路损耗。此方法虽未全部双向测量,但实际统计分析表明,由于中继段是由很多光缆连接而成,方向误差虽自然平衡状态,两个方向各测一半,其结果与由中间分两段双向测量的统计值基本一致。,38,Q&A,

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