现代材料分析方法实验课讲义-X射线衍射分析2学时.ppt

X射线衍射分析实验,陈德良 博士 副教授,2023/8/20,2,Deliang Chen，Zhengzhou University,1、实验目的及要求,了解X射线衍射仪的结构和工作原理；掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤；初步了解X射线衍射定量分析的原理方法；给定实验样品，设计实验方案，做出正确的定性分析鉴定结果。,2023/8/20,3,Deliang Chen，Zhengzhou University,2、实验原理,当X射线以角入射到原子面并以角散射时，相距为a的两原子散射X射线的光程差为：,2.1 布拉格定律,=a（cos-cos）,根据光的干涉原理，当光程差等于波长的整数倍（n）时，在角散射方向干涉加强。假定原子面上 所有原子的散射线同位相，即光程差=0，从上式 可得=。,2023/8/20,4,Deliang Chen，Zhengzhou University,当入射角与散射角相等时，一层原子面上所有散射波干涉将会加强。与可见光的反射定律类似，X射线从一层原子面呈镜面反射的方向，就是散射线干涉加强的方向。因此，将这种散射称为从晶面反射。,下面讨论两相邻原子面的散射波的干涉：,过D点分别向入射线和反射线作垂线，它们的光程差为：,=AB+BC=2dsin,2023/8/20,5,Deliang Chen，Zhengzhou University,式中，d（hkl）晶面间距；入射线、反射线与反射晶面之间的交角，称掠射角或布拉格角；2 入射线与反射线（衍射线）之间的夹角，称衍射角；n反射级数，为整数；入射X线波长，与X射线管所用的靶材有关。,当光程差等于波长的整数倍时，相邻原子面散射波加强，即干涉加强条件为：,2d（hkl）sin=n,上式即为布拉格定律或布拉格方程，它把衍射方向、平面点阵族的间距d(hkl)和X射线的波长 联系在一起。,2023/8/20,6,Deliang Chen，Zhengzhou University,当波长一定时，对指定的某一族平面点阵(hkl)来说，n数值不同，衍射的方向也不同。n=1,2,3,，相应的衍射角为1,2,3,，而n=1,2,3等衍射分别为一级、二级、三级衍射。为了区别不同的衍射方向，可将上式改写为：,2d(hkl)sinn/n=,带有公因子n的晶面指标(nh nk nl)是一组和(hkl)平行的晶面，晶面间距d(nh nk nl)和相邻两个晶面的间距d(hkl)的关系为：,d(nh nk nl)=d(hkl)/n,综上有：,2d(nh nk nl)sin(nh nk nl)=,因此，由(hkl)晶面的n级反射，可看成由面间距为d(hkl)/n的(nh nk nl)晶面的1级反射。,注意：面间距为d(nh nk nl)的晶面不一定是晶体中的原子面，只是为了简化布拉格公式而引入的反射面，常称干涉面。,2023/8/20,7,Deliang Chen，Zhengzhou University,注意：（1）衍射指标hkl不加括号，晶面指标(hkl)带有括号；（2）衍射指标不要求互质，可以有公因子，而晶面指标要互质，不能有公因子；（3）在数值上，衍射指标为晶面指标的n倍。式中hkl为衍射指标。,2d(nh nk nl)sin(nh nk nl)=,对于,将晶面指标(nh nk nl)改用衍射指标 hkl，则得到在X射线晶体学中现在通用的布拉格定律的表达式：,2dhklsin=,式中，hkl为衍射指标。,例如：晶面(110)，由于它和入射X射线的取向不同，可以产生衍射指标为110、220、330、等的衍射。,2023/8/20,8,Deliang Chen，Zhengzhou University,由布拉格定律2dsin=n可知，,这就是能产生衍射的限制条件，说明用波长为的X射线照射晶体时，晶体中只有面间距d/2的晶面才能产生衍射。,sin=(n)/2d 1,考虑n=1(即1级反射)的情况时，,/2d,2023/8/20,9,Deliang Chen，Zhengzhou University,2.2 X射线的强度,衍射线的强度不仅是确定晶体中原子排列位置所必须的依据，而且在X射线物相分析时也是不可缺少的数据。,由于入射X光束不严格平行（有一定发散度），加之，被研究的晶体也非严格的周期性格子，因此，某一组晶面“反射”X射线不可能是在严格 角的方向，而是在与 角相接近的一个小的角度范围内，衍射线的强度分布如下图所示。“反射”的总能量即积分强度，与曲线下的面积成比例。,衍射角,2023/8/20,10,Deliang Chen，Zhengzhou University,晶体的衍射强度应该为属于该晶体所有电子相干散射波的总和。,一个晶体可以看成若干个晶胞周期排列而成，而一个晶胞又由一些原子组成，原子则由原子核和绕核运行的电子组成。因此，可以从一个电子、一个原子和一个晶胞的散射强度入手，然后将所有晶胞的散射波合成起来，就能求出一个小晶体的衍射强度。,可以证明，在衍射hkl中，通过晶胞原点的衍射波与通过第j个原子（坐标为xj，yj，zj）的衍射波的周相差为:,j=2(hxj+kyj+lzj)。,2023/8/20,11,Deliang Chen，Zhengzhou University,若晶胞中有n个原子，每个原子散射波的振幅（即原子散射因子）分别为f1,f2,fj,fn，各原子的散射波与入射波的位相差分别为1，2,j,n。,这n个原子的散射波相互叠加而形成的复合波，若用指数形式表示，可得：,F=f1expi1+f2expi2+fjexpij+fnexpin,即,式中，fj第j个原子的原子散射因子；xj,yj,zj第j个原子在晶胞中的分数坐标；Fhkl衍射 hkl 的结构因子；Fhkl 结构振幅。,Fhkl 数值的物理意义：,Fhkl=,2023/8/20,12,Deliang Chen，Zhengzhou University,结构因子包含两方面数据,即：结构振幅Fhkl 和相角hkl：,因此，,2023/8/20,13,Deliang Chen，Zhengzhou University,衍射hkl的衍射强度Ihkl正比于Fhkl 2。,可知，结构因子Fhkl是由晶体结构决定的，即由晶胞中原子的种类和原子的位置决定，原子的种类由fj表示，原子的位置由xj，yj，zj表示。,若结构因子用复数表示，衍射强度Ihkl正比于Fhkl（=Ahkl+i Bhkl）和它的共轭复数F*hkl（=Ahkl-i Bhkl）的乘积：,2023/8/20,14,Deliang Chen，Zhengzhou University,计算四种基本类型点阵的结构因子,简单点阵：,简单点阵无论hkl 取什么值，F都等于f，即不等于零，故所有晶面都能产生衍射。,每个晶胞中有2个同类原子，其坐标分别为000,0，原子散射因数为f，其结构因数为：,底心点阵：,每个晶胞中有1个同类原子，其坐标为000原子，散射因数为f，其结构因数为：,当h+k=偶数时，exp i(h+k)=1，故F=2f；当h+k=奇数时，exp i(h+k)=-1，故F=0。,底心点阵晶面能否产生衍射，处决于h+k奇偶性，与l无关。,2023/8/20,15,Deliang Chen，Zhengzhou University,当h+k+l=偶数时，F=2f；当h+k+l=奇数时，F=0。,体心点阵：,每个晶胞有2个同类原子，其坐标为000 和，原子散射因数为f，其结构因数为：,结果说明，对体心点阵来说，只有h+k+l 为偶数的晶面才能产生衍射。,2023/8/20,16,Deliang Chen，Zhengzhou University,面心点阵：,每个晶胞中有四个同类原子，其坐标为000，0，0,0，原子散射因数为f，其结构因数为：,当hkl为同性指数时，h+k、h+l和k+l全为偶数，F=4f；当hkl为异性指数时，则h+k、h+l和k+l中总有两项为 奇数，一项为偶数，F=0。,说明，在面心点阵中，只有hkl为全奇或全偶数的晶面才能产生衍射。,2023/8/20,17,Deliang Chen，Zhengzhou University,粉末法衍射线的积分强度,衍射强度理论证明，多晶体衍射环单位弧长上的积分强度由下式决定：,Io 入射X射线强度；入射X射线波长（）；e，m 电子的电荷与质量；c 光速；R 由试样到照相底片上衍射环间的距离（cm）；V 试样被入射X射线所照射的体积（cm3）；,v 单位晶胞的体积(cm3)；Fhkl 结构因子；Phkl 多重性因子；()角因子;e-2M 温度因子;A（）吸收因子。,式中，,2023/8/20,18,Deliang Chen，Zhengzhou University,IKPLmTAFhkl2,强度公式表达为：,K比例常数，与入射光强度及其它实验条件有关；P 偏极化因子；L 洛伦茨因子；T 温度因子；A 吸收因子；m 多重因子。,如果这些因子均为已知，则可从强度Ihkl中推出衍射hkl的结构振幅Fhkl。,2023/8/20,19,Deliang Chen，Zhengzhou University,2.3 X射线鉴定物相的原理,布拉格定律是X射线在晶体中产生衍射所必须满足的基本条件，它反映了衍射方向(用 描述)与晶体结构(用d 代表)之间的关系。该定律将便于测量的宏观量 与微观量d、联系起来。通过的测定，在 已知的情况下可以求得d，反之亦然。,每一种晶体物质都具有它自己特定的晶体结构和晶胞参数。由X射线衍射花样上各线条的角度位置所确定的晶面间距d 以及它们的相对强度I/I0是物质的固有特性。也就是说，不同物相的晶体通常将给出不同的X射线衍射花样，即给出不同的衍射线束方向和强度。因此，可以像根据指纹来鉴别人一样，根据衍射花样可以用来鉴别晶体物质。,2023/8/20,20,Deliang Chen，Zhengzhou University,根据布拉格定律2dsin=，当波长选定之后，衍射线束的方向(用 表示)是晶面间距d 的函数。,立方系 sin2=(2/4)(h2+k2+l2)/a2 正方系 sin2=(2/4)(h2+k2)/a2+l2/c2 斜方系 sin2=(2/4)h2/a2+k2/b2+l2/c2,如将立方、正方、斜方晶系的面间距公式代入布拉格公式，并进行平方后得到：,入射波长一定情况下，不同晶系或同一晶系但晶胞大小不同的晶体，其衍射线束的方向不同，即研究衍射线束的方向，可以确定晶胞的形状大小，但无法确定原子种类和在晶胞中的位置。,研究衍射线束的强度，可以确定原子种类和在晶胞中的位置。,2023/8/20,21,Deliang Chen，Zhengzhou University,3、X射线衍射仪的构造,2023/8/20,22,Deliang Chen，Zhengzhou University,X射线衍射仪组成：射线发生器系统、测角仪系统、衍射强度测量记录系统、衍射仪控制与衍射数据采集分析系统四大部分。,2023/8/20,23,Deliang Chen，Zhengzhou University,2023/8/20,24,Deliang Chen，Zhengzhou University,X射线管的构造,分密闭式和可拆卸式两种。广泛使用的是密闭式,由阴极灯丝、阳极、聚焦罩等组成,功率大部分在12千瓦。可拆卸式X射线管又称旋转阳极靶,其功率比密闭式大许多倍,一般为1260千瓦。常用的X射线靶材有W、Ag、Mo、Ni、Co、Fe、Cr、Cu等。X射线管线焦点为110mm2,取出角为36度。,2023/8/20,25,Deliang Chen，Zhengzhou University,密闭式X射线管,2023/8/20,26,Deliang Chen，Zhengzhou University,(1）利用线焦点作为X射线源S。焦斑尺寸为110mm2的常规X射线管，出射角6时，实际有效焦宽为0.1mm，线状X射线源的大小为0.110mm2。(2）从S发射的X射线的水平方向发散角被第一个狭缝发散狭缝(DS)限制之后，照射试样。常有1/6o、1/2o、1o、2o、4o的发散狭缝和测角仪调整用0.05mm宽的狭缝。(3）从试样上衍射的X射线束，在F处聚焦，该处的第二个狭缝为接收狭缝(RS)。生产厂供给0.15mm、0.3mm、0.6mm宽的接收狭缝。(4）第三个狭缝是防止空气散射等非试样散射X射线进入计数管的防散射狭缝(SS)。,(5）S1、S2称为索拉狭缝，是由一组等间距相互平行的薄金属片组成，它限制入射X射线和衍射线的垂直方向发散。索拉狭缝装在叫做索拉狭缝盒的框架里。这个框架兼作其他狭缝插座用，即插入DS，RS和SS,测角仪,2023/8/20,27,Deliang Chen，Zhengzhou University,X射线探测记录装置,衍射仪中常用的探测器是闪烁计数器(SC)，它是利用X射线能在某些固体物质(磷光体)中产生的波长在可见光范围内的荧光，这种荧光再转换为能够测量的电流。由于输出的电流和计数器吸收的X光子能量成正比，因此可以用来测量衍射线的强度。,闪烁计数管的发光体一般是用微量铊活化的碘化钠(NaI)单晶体。这种晶体经X射线激发后发出蓝紫色的光。将这种微弱的光用光电倍增管来放大，发光体的蓝紫色光激发光电倍增管的光电面(光阴极)而发出光电子(一次电子)，光电倍增管电极由10个左右的联极构成，由于一次电子在联极表面上激发二次电子，经联极放大后电子数目按几何级数剧增(约106倍)，最后输出几个毫伏的脉冲。,2023/8/20,28,Deliang Chen，Zhengzhou University,目前衍射仪主要操作都由计算机控制自动完成，扫描操作完成后，衍射原始数据自动存入计算机硬盘中供数据分析处理。数据分析处理包括平滑点的选择、背底扣除、自动寻峰、d值计算，衍射峰强度计算等。,计算机控制、处理装置,2023/8/20,29,Deliang Chen，Zhengzhou University,4、实验参数选择,选择阳极靶的基本要求：尽可能避免靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样的背底，使图样清晰。,4.1 阳极靶的选择,必须根据试样所含元素的种类来选择最适宜的特征X射线波长(靶)。当X射线的波长稍短于试样成分元素的吸收限时，试样强烈地吸收X射线，并激发产生成分元素的荧光X射线，背底增高。其结果是峰背比(信噪比)P/B低(P为峰强度，B为背底强度)，衍射图谱难以分清。,2023/8/20,30,Deliang Chen，Zhengzhou University,X射线衍射所能测定的d值范围，取决于所使用的特征X射线的波长。X射线衍射所需测定的d值范围大都在1nm至0.1nm之间。为了使这一范围内的衍射峰易于分离而被检测，需要选择合适波长的特征X射线。一般测试使用铜靶，但因X射线的波长与试样的吸收有关，可根据试样物质的种类分别选用Co、Fe，或Cr靶。此外还可选用钼靶，这是由于钼靶的特征X射线波长较短，穿透能力强，如果希望在低角处得到高指数晶面衍射峰，或为了减少吸收的影响等，均可选用钼靶。,2023/8/20,31,Deliang Chen，Zhengzhou University,2023/8/20,32,Deliang Chen，Zhengzhou University,工作电压设定为35倍的靶材临界激发电压。选择管电流时功率不能超过X射线管额定功率，较低的管电流可以延长X射线管的寿命。,4.2 管电压和管电流的选择,X射线管经常使用的负荷(管压和管流的乘积)选为最大允许负荷的80左右。但是，当管压超过激发电压5倍以上时，强度的增加率将下降。所以，在相同负荷下产生X射线时，在管压约为激发电压5倍以内时要优先考虑管压，在更高的管压下其负荷可用管流来调节。靶元素的原子序数越大，激发电压就越高。由于连续X射线的强度与管压的平方呈正比，特征X射线与连续X射线的强度之比，随着管压的增加接近一个常数，当管压超过激发电压的45倍时反而变小，所以，管压过高，信噪比P/B将降低，这是不可取的。,2023/8/20,33,Deliang Chen，Zhengzhou University,发散狭缝（DS）决定了X射线水平方向的发散角，限制试样被X射线照射的面积。如果使用较宽的发射狭缝，X射线强度增加，但在低角处入射X射线超出试样范围，照射到边上的试样架，出现试样架物质的衍射峰或漫散峰，对定量相分析带来不利的影响。因此有必要按测定目的选择合适的发散狭缝宽度。,4.3 发散狭缝的选择（DS）,生产厂家提供1/6、1/2、1、2、4的发散狭缝，通常定性物相分析选用1发散狭缝，当低角度衍射特别重要时，可以选用1/2（或1/6）发散狭缝。,2023/8/20,34,Deliang Chen，Zhengzhou University,防散射狭缝用来防止空气等物资引起的散射X射线进入探测器，选用SS与DS角度相同。,4.4防散射狭缝的选择（SS）,生产厂家提供0.15mm、0.3mm、0.6mm的接收狭缝，接收狭缝的大小影响衍射线的分辨率。接收狭缝越小，分辨率越高，衍射强度越低。通常物相定性分析时使用0.3mm的接收狭缝，精确测定可使用0.15mm的接收狭缝。,4.5接收狭缝的选择（RS）,2023/8/20,35,Deliang Chen，Zhengzhou University,Z滤40,Z滤=Z靶2,常规物相定性分析常采用每分钟2o或4o的扫描速度，在进行点阵参数测定，微量分析或物相定量分析时，常采用每分钟(1/2)o或(1/4)o的扫描速度。,4.6 滤波片的选择：,不同的测定目的，其扫描范围也不同。当选用Cu靶进行无机化合物的相分析时，扫描范围一般为90o2o（2）；对于高分子，有机化合物的相分析，其扫描范围一般为60o2o；在定量分析、点阵参数测定时，一般只对欲测衍射峰扫描几度。,4.7 扫描范围的确定,4.8扫描速度的确定,2023/8/20,36,Deliang Chen，Zhengzhou University,衍射仪测试条件参数选择一览表,2023/8/20,37,Deliang Chen，Zhengzhou University,5、样品制备,X射线衍射分析的样品主要有粉末样品、块状样品、薄膜样品、纤维样品等。样品不同，分析目的不同（定性分析或定量分析），则样品制备方法也不同。,X射线衍射分析的粉末试样必需满足这样两个条件：晶粒要细小，试样无择优取向(取向排列混乱)。所以，通常将试样研细后使用，可用玛瑙研钵研细。定性分析时粒度应小于44微米(350目)，定量分析时应将试样研细至10微米左右。较方便地确定10微米粒度的方法是，用拇指和中指捏住少量粉末，并碾动，两手指间没有颗粒感觉的粒度大致为10微米。,5.1 粉末样品,2023/8/20,38,Deliang Chen，Zhengzhou University,常用的粉末样品架为玻璃试样架，在玻璃板上蚀刻出试样填充区为2018mm2。玻璃样品架主要用于粉末试样较少时(约少于500mm3)使用。充填时，将试样粉末一点一点地放进试样填充区，重复这种操作，使粉末试样在试样架里均匀分布并用玻璃板压平实，要求试样面与玻璃表面齐平。如果试样的量少到不能充分填满试样填充区，可在玻璃试样架凹槽里先滴一薄层用醋酸戊酯稀释的火棉胶溶液，然后将粉末试样撒在上面，待干燥后测试。,2023/8/20,39,Deliang Chen，Zhengzhou University,先将块状样品表面研磨抛光，大小不超过2018mm2,然后用橡皮泥将样品粘在铝样品支架上，要求样品表面与铝样品支架表面平齐。,5.2块状样品,2023/8/20,40,Deliang Chen，Zhengzhou University,5.3.微量样品,取微量样品放入玛瑙研钵中将其研细，然后将研细的样品放在单晶硅样品支架上（切割单晶硅样品支架时使其表面不满足衍射条件），滴数滴无水乙醇使微量样品在单晶硅片上分散均匀，待乙醇完全挥发后即可测试。,2023/8/20,41,Deliang Chen，Zhengzhou University,5.4.薄膜样品制备：,将薄膜样品剪成合适大小，用胶带纸粘在玻璃样品支架上即可。,2023/8/20,42,Deliang Chen，Zhengzhou University,6 样品测试,(1)开机前的准备和检查将制备好的试样插入衍射仪样品台，盖上顶盖关闭防护罩；开启水龙头，使冷却水流通；X光管窗口应关闭，管电流管电压表指示应在最小位置；接通总电源，接通稳压电源。,(2)开机操作开启衍射仪总电源，启动循环水泵；待数分钟后，接通X光管电源。缓慢升高管电压、管电流至需要值(若为新X光管或停机再用，需预先在低管电压、管电流下老化后再用)。打开计算机X射线衍射仪应用软件，设置合适的衍射条件及参数，开始样品测试。,2023/8/20,43,Deliang Chen，Zhengzhou University,(3)停机操作测量完毕，缓慢降低管电流、管电压至最小值，关闭X光管电源；取出试样；15分钟后关闭循环水泵,关闭水源；关闭衍射仪总电源、稳压电源及线路总电源。,2023/8/20,44,Deliang Chen，Zhengzhou University,7、数据处理,测试完毕后，可将样品测试数据存入磁盘供随时调出处理。原始数据需经过曲线平滑、K2扣除、谱峰寻找等数据处理步骤，最后打印出待分析试样衍射曲线和d值、2、强度、衍射峰宽等数据供分析鉴定。,2023/8/20,45,Deliang Chen，Zhengzhou University,（1）从前反射区（290o)中选取强度最大的三根线，并使其d值按强度递减的次序排列。（2）在PDF卡的数字索引中找到对应的d1(最强线的面间距）组。（3）按次强线的面间距d2找到接近的几列。（4）检查这几列数据中的第三个d值是否与待测样的数据对应，再查看第四至第八强线数据并进行对照，最后从中找出最可能的物相及其卡片号。（5）找出可能的标准卡片，将实验所得d及I/I1跟卡片上的数据详细对照，如果完全符合，物相鉴定即告完成。,8 物相定性分析方法,X射线衍射物相定性分析方法有以下几种：,8.1 三强线法,2023/8/20,46,Deliang Chen，Zhengzhou University,文字索引文字索引是按照物质英文名称的字母顺序排列而成的。如果知道某种物相时，利用文字索引比利用数字索引方便而又迅速。从左到右的顺序依次为：物质英文名称、化学分子式、和卡片号。,数字索引表,2023/8/20,47,Deliang Chen，Zhengzhou University,2023/8/20,48,Deliang Chen，Zhengzhou University,如果待测样的数据与标准数据不符，则须重新排列组合并重复（2）（5）的检索手续。如为多相物质，当找出第一物相之后，可将其线条剔出，并将留下线条的强度重新归一化，再按过程（1）（5）进行检索，直到得出正确答案。,2023/8/20,49,Deliang Chen，Zhengzhou University,对于经常使用的样品，其衍射谱图应该充分了解掌握，可根据其谱图特征进行初步判断。例如在26.5度左右有一强峰，在68度左右有五指峰出现，则可初步判定样品含SiO2。,8.2 特征峰法,2023/8/20,50,Deliang Chen，Zhengzhou University,随着计算机技术的发展，计算机检索得到普遍的应用。这种方法可以很快得到分析结果，分析准确度在不断提高。但最后还须经认真核对才能最后得出鉴定结论。,8.3 计算机检索法,2023/8/20,51,Deliang Chen，Zhengzhou University,PCPDFWIN软件检索,钨酸（H2WO4）：JCPDS#430679,氧化钨(WO3)：JCPDS#43 1035,2023/8/20,52,Deliang Chen，Zhengzhou University,8.4 X射线衍射图谱的绘制,（1）导出X射线衍射的原始数据，一般以 ASC II 或.txt文件类型保存；,（2）用 Microsoft Excel等软件打开（导入）ASC II 或.txt文件类型的X射线衍射的原始数据；,（3）用 Origin等软件绘制XRD曲线图谱，并正确标识纵、横坐标物理量与相应单位，以及标注各物相主要衍射峰的衍射指标。,（4）标明图谱标题说明。,2023/8/20,53,Deliang Chen，Zhengzhou University,Figure 2.(a)XRD pattern of tungstate-based inorganicorganic hybrid belts used as the precursor for the synthesis of H2WO4 and WO3 nanoplates;(b)XRD pattern of the air-dried nitric-acid-treated product derived from tungstate-based inorganicorganic hybrid belts(It can be indexed to monoclinic H2WO4H2O,JCPDS No.18-1420,and the peak marked with()belongs to the(020)reflection of orthorhombic H2WO4);(c)XRD pattern of the 120oC-dried nitric-acid-treated product(It can be indexed to orthorhombic H2WO4,JCPDS No.43-0679);(d)XRD pattern of the WO3 nanoplates obtained by calcining H2WO4 nanoplates at 450oC for 2 h in air(It can be indexed to monoclinic WO3 JCPDS No.43-1035).,2023/8/20,54,Deliang Chen，Zhengzhou University,1.简述连续X射线谱、特征X射线谱产生原理及特点；2.简述X射线衍射在定性、定量分析上的基本原理；3.简述X射线衍射仪的结构和工作原理；4.简述X射线衍射分析中的样品制备方法；5.X射线谱图分析鉴定应注意什么问题？,讨论（思考）题,2023/8/20,55,Deliang Chen，Zhengzhou University,云南丽江玉龙雪山之远眺,Thank you very much for your attention.,