有关物质研究思路.ppt

化学药物有关物质研究思路,王磊磊,杂质分类,杂质：任何影响药物纯度的物质。,杂质分类,有关物质研究思路-工艺杂质,工艺杂质指的是药品在制备工艺过程中引入的杂质，它包括没有反应完全的反应物、反应过程中所生成的中间体及副产物、反应过程中所使用的试剂及催化剂等。此类杂质的结构较明确，可以通过合成工艺路线进行分析，确定可能引入的杂质，以及可能发生副反应产生的杂质等。注：对于原料药中已控制的工艺杂质，且该工艺杂质在制剂生产和稳定性过程中不再增加，则在制剂中无需对该杂质进行控制。,有关物质研究思路-降解杂质,降解产物指的是药品在生产和贮藏过程中发生化学变化而产生的杂质，如发生水解、氧化、开环等反应，降解产物主要与药物的结构特征密切相关。此类杂质可以通过下面的途径进行分析：根据药物的结构特征，对可能产生的降解杂质进行分析。例如，结构中含有酯基的药物容易发生水解、结构中含有羧基和氨基的药物容易发生酰化反应生成内酰胺结构等。,有关物质研究思路-降解杂质,参考各国药典及文献报道，对其中的降解杂质进行分析。进行强制降解试验，分析潜在降解产物，并将其中增长加快的杂质与已知杂质进行对比或进行结构确证。对于制剂，除原料药单独存在时的降解产物外，还要关注药物与辅料以及包材间相互作用引起的药物降解或副反应，以及制剂制备过程中可能引起的降解。另外，对于复方制剂，还要关注各主药间的相互作用。对于上述情况，可以通过原辅料相容性及原料与包材相容性研究来分析产生的降解产物。例如，乳糖与含有伯胺类结构的药物可以发生缩合反应，生成腙与糖脎等衍生物。将自研产品与原研制剂进行杂质谱分析，并通过强制降解、稳定性试验（影响因素、加速6月、长期6-36月试验），对其中增长的杂质进行对比分析。,杂质谱（Impurity Profile）,杂质谱：化药合成过程中可能产生的所有杂质的清单（包括未反应完全的起始物料、副反应产物以及降解产物等）。研究思路：原研制剂杂质谱仿制原料药杂质谱仿制制剂杂质谱。将原研产品与自研产品同时进行加速试验及强制降解试验，对两者的杂质谱进行对比，自研产品的杂质谱应与原研产品的杂质谱相同。杂质谱相同主要是指自研产品与原研产品的降解杂质一致，而由于各厂家的原料药制备工艺和制剂制备工艺不同，所引入或产生的工艺杂质也各有不同。因此，对于既有的质量标准中控制的杂质，尤其是工艺杂质，应根据实际生产工艺进行分析，制定适合自身产品特点的质控限度，不能完全照搬质量标准。,有关物质检测方法,有机杂质的检测方法包括化学法、光谱法、色谱法等，根据药物结构及降解产物的不同采用不同的检测方法。通过合适的分析技术将不同结构的杂质进行分离、检测，从而达到对杂质的有效控制。在质量标准中，目前普遍采用的杂质检测方法主要为高效液相色谱法（HPLC）、薄层色谱法(TLC)、气相色谱法(GC)和毛细管电泳法（CE）。应根据药物及杂质的理化性质、化学结构、杂质的控制要求等确定适宜的检测方法。由于各种分析方法均具有一定的局限性，因此在进行杂质分析时，应注意不同原理的分析方法间的相互补充与验证，如HPLC与TLC及HPLC与CE的互相补充，反相HPLC系统与正相HPLC系统的相互补充，HPLC不同检测器检测结果的相互补充等。,有关物质计算方法,外标法（杂质对照品法）优点：定量比较准确。缺点：外购杂质对照品成本较高，自制对照品需要进行结构确证及标定。加校正因子的主成分自身对照法优点：定量比较准确，操作方便。缺点：（1）如果直接采用药典方法中的校正因子，应完全按照药典中的色谱条件，因为色谱条件不同，杂质的保留时间、峰形及峰面积也会有较大差别，对校正因子的校准作用也会产生明显影响。（2）如无药典或文献报道，应对校正因子进行详细的研究。,有关物质计算方法,不加校正因子的主成分自身对照法优点：主要用于未知杂质计算，操作方便。缺点：已知杂质对主成分的相对响应因子在范围内时，可以用主成分的自身对照法计算含量，但超出范围时，宜用杂质对照品法计算含量，也可用加校正因子的主成分自身对照法。面积归一化法优点：简便快捷。缺点：各杂质与主成分响应因子不一定相同、杂质量与主成分量不一定在同一线性范围内、仪器对微量杂质和常量主成分的积分精度及准确度不相同等因素，所以在质量标准中采用有一定的局限性。,校正因子（Correction Factor）,绝对校正因子：HPLC定量测定中，物质的检测量W与色谱响应值（峰面积等）A之间的比值，即单位响应值（峰面积等）所对应的被测物质的量（浓度或质量）。校正因子：某物质i与所选定的参照物质s的绝对校正因子之比。注：在有关物质计算时，应用峰面积比值乘以校正因子。,相对响应因子（Relative response factor）,响应因子与绝对校正因子相反，它表示物质的色谱响应值（峰面积等）A与检测量W之间的比值。相对响应因子：某物质i与所选定的参照物质s的响应因子之比。注：在有关物质计算时，应用峰面积比值除以相对响应因子。,校正因子测定方法,单浓度点测定：制备适当浓度的特定杂质对照品溶液和主成分对照品溶液，分别进样测定。多浓度点测定：制备适当的高、中、低三水平浓度的特定杂质对照品溶液和主成分对照品溶液（涵盖定量限、标准限度），分别进样测定，取平均值作为校正因子。标准曲线法测定：精密称取杂质对照品和主成分对照品，分别制备系列溶液（涵盖定量限、标准限度），分别进样后，按最小二乘法以进样量对响应值（峰面积等）进行线性回归，求得两条标准曲线，两曲线斜率之比即为校正因子。吸收系数比值法：制备适当的高、中、低三个水平浓度，测定杂质对照品与主成分对照品的平均吸收系数，将两者吸收系数比值作为校正因子。,校正因子测定注意事项,校正因子的测定需要用到特定杂质及主成分的标准物质，这些标准物质应具备量值准确的特点，符合标准物质（对照品）的相关要求。确定校正因子的分析方法应与最终确定的质量标准方法一致，色谱条件等需经筛选优化后确定，如有变更，需考虑对校正因子的影响，必要时重新确定。要关注影响待测物UV吸收的各种因素，如溶液制备所用溶剂最好与最终确定的流动相相同，检测波长最好在特定杂质及主成分UV曲线的峰或谷处，避开吸收值急剧变化波段，以保证测定方法具有较好的耐用性，并保持测定结果的恒定。,校正因子的应用,当校正因子在0.91.1时，可直接采用不加校正因子的自身对照法定量。超出上述范围时，如采用主成分自身对照法的定量方式，应采用加校正因子的自身对照法定量。如校正因子在0.25.0范围以外时，表明杂质与主成分的UV吸收相差过大，校正因子的作用会受到显著影响，此时应改变检测波长等检测条件，使校正因子位于上述范围内，或使用结构或UV吸收与该杂质接近的另一标准物质为参照物质（如对照品易于获得、标准已采用对照品外标法定量的另一特定杂质），重新确立校正因子。例如L-苹果酸有关物质测定时，采用马来酸为参照进行定量。如校正因子仍无法调节至适当范围，需考虑采用杂质对照品外标法等适当的杂质方式定量。,基本概念-报告限度,报告限度（Report Threshold）：超出此限度的杂质均应在检测报告中报告，并应报告具体的检测数据。,基本概念-鉴定限度,鉴定限度（Identification Threshold）：超出此限度的杂质均应进行定性分析，确定其化学结构。,基本概念-质控限度,质控限度（Qualification Threshold）：质量标准中一般允许的杂质限度，如制订的限度高于此限度，则应有充分的依据。,有关物质限度制定原则,首先应考虑药物的药理活性及毒性，对于具有活性或遗传毒性的杂质，应根据安全性数据，制定合理的限度。其次，考虑生产的可行性及批间的波动性，限度的制定应依据工艺稳定、具有代表性的批次检测结果进行制定。再次，考虑药品本身的稳定性，可根据稳定性考察、原料药的制备工艺、制剂工艺、降解途径等的研究及批次检测结果来预测正式生产时产品的杂质概况。,仿制药有关物质限度制定,已有药典标准的药品，可以根据已有的标准制订相应的杂质限度。已有标准中未规定杂质的限度，应与已上市同品种药品（建议首选原研发企业在有效期内的产品）进行全面的质量对比研究，分析其杂质的种类与含量，根据研究的结果，以及稳定性考察的结果，决定是否需在质量标准中对杂质进行控制。如果难以获得已上市同品种的标准，但有相同原料药的其它剂型上市，则在制订杂质限度时，可参考此上市产品质量标准，对杂质进行控制。,仿制药有关物质限度制定,已知杂质 根据药典或相关质量标准中已知杂质的限度进行控制。即：（1）与ICH成员国药典控制的相同已知杂质可以按药典标准控制；（2）与原研产品相同的非特定杂质可以按药典标准中非特定杂质限度。未知杂质（1）小于鉴定限度的未知杂质，按鉴定限度制定。（2）大于鉴定限度且小于质控限度的未知杂质，对其进行结构确证，并按质控限度进行控制。（3）大于质控限度的未知杂质，需要对其进行结构确证，并对其活性或安全性进行详细研究，并根据安全性数据制定合理的限度。即：出现了原研产品中没有的新增杂质要按指导原则限度，原料限度一般不超过0.1%；制剂为0.2%。可能具有特殊活性或毒性的杂质，应对其进行结构确证，并进行安全性研究，根据安全性数据制定合理限度。,有关物质数据处理,检测结果应提供具体试验数据（如杂质的保留时间及含量），不能笼统地表述为“符合要求”或“合格”等。中国药典和美国药典中，一般不设置报告限，只规定扣除空白或辅料中的峰，欧洲药典一般规定忽略限（disregard limit），即报告限。日常的检测中，对于报告限以下的未知杂质可以忽略不计，只报告大于报告限的杂质，并计入总杂。已知杂质应根据实际计算结果进行报告。杂质的报告的数据一般精确到小数点后第二位。,有关物质方法学验证-系统适用性试验,有关物质方法学验证-专属性,有关物质方法学验证-强制降解试验,有关物质方法学验证-滤膜吸附性试验,有关物质方法学验证-精密度,有关物质方法学验证-精密度,有关物质方法学验证-精密度,有关物质方法学验证-线性与范围,有关物质方法学验证-准确度,有关物质方法学验证-定量限和检测限,有关物质方法学验证-耐用性1,有关物质方法学验证-耐用性2,谢谢大家,