半导体测试技术半导体测试技术试卷(练习题库)(2023版).docx

半导体测试技术半导体测试技术试卷（练习题库）1、 测试技术的基本任务是获取（）。2、 时间常数T是（）阶传感器动态特性参数，时间常数越（），响应越 快，响应曲线越接近于输入阶跃曲线。3、 电荷放大器常用做O的后续放大电路，该放大器的输出电压与传感器 产生的电荷量成正比，与电缆引线所形成的4、 当测量较小应变值时，应选用电阻应变效应工作的应变片，而测量大应 变值时，应选用O效应工作的应变片，后5、 已知某周期信号的周期为O. 2s,则该信号的3次谐波分量的频率为OHzo6、 周期信号的频谱具有O性，谐波性和衰减性。7、 简要说明为什么压电式传感器只适合作动态测量，而不适合检测静态信 号。8、 TexasInstruments9、 STMicroelectronics10> StrategicoutsourcingModel （外包模式）11> Motorola12、 ADI13、 Fabless14、 Qualcomm15、 Broadcom16、 Marvell17、 Nvidia18、 TSMC19、 UMC20、 SMIC21> Silterra22、 Open-short串行静态测试方法优缺点。23、 Open-short功能测试优缺点。24、 IDD静态电流测试方法。25、 VOH/IOH静态测试方法。26、 IlL串行测试方法。27、 IIH/IIL集体测试法优缺点。28、 测试的一般要求。29、 静电的产生。30、 静电对电子器件的危害。31、 基本注意事项。32、 数字电路测试的流程。33、 模拟电路的测试34、 分立元件的测试。35、 核磁共振36、 提高家电产品可靠性的方法。37、 电解电容器的结构特性。38、 电解电容器在电路中的选择原则。39、 NPN三极管放大时管子内部的工作原理。40、 电位器41、 碳膜电阻器42、 光敏电阻43、 气敏电阻44、 半导体45、 本征半导体46、 本征激发47、 N型半导体48、 半导体掺杂49、 内建电场50、 自发辐射51、 受激吸收52、 泵浦（激励）53、 激光工作物质54、 禁带宽度55、 电阻-应变效应56、 压阻效应57、 压电效应58、 热电效应59、 热释电效应60、 外光电效应61、 内光电效应62、 光电导效应63、 光生伏特效应64、 5本征光电导65、 非本征光电导66、 光生伏特效应67、 磁滞回线68、 本征吸收69、 阴极射线致发光70、 敏化剂71、 猝灭剂72、 激活剂73、 等离子体