《SPC计算公式》PPT课件.ppt
P.1,SPC统计过程控制(SPC统计量介绍),P.2,常用统计量,Mean:(平均值)Max:(最大值)Min:(最小值)Range:(Max Min最大跨距)StdDev标准差Cp:(过程能力指数)Cr:(过程能力比值)k:(偏移系数)Cpu:(上限过程能力指数)Cpl:(下限过程能力指数)Cpk:(过程能力指数)Cpm:(目标能力指数)Zu(Cap):(规格上限SIGMA水平)Zl(Cap):(规格下限SIGMA水平)Fpu(Cap):(超出规格上限机率),P.3,常用统计量,Fpl(Cap):(超出规格下限机率)Fp(Cap):(超出规格限的机率)Pp:(过程性能指数)Pr:(过程性能比值)Ppu:(上限过程性能指数)Ppl:(下限过程性能指数)Ppk:(过程性能指数)Ppm:(目标过程性能指数)Zu(Perf):(规格上限SIGMA水平)Zl(Perf):(规格上限SIGMA水平)Fpu(Perf):(超出规格上限机率)Fpl(Perf):(超出规格下限机率)Fp(Perf):(超出规格界线的机率)Skewness:(偏度)Kurtosis:(峰度),P.4,计算公式,2、Max最大值,3、Min最小值,4、Range最大跨距,1、Mean均值,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Mean=(2+4+6+4)/4=4,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Max(2,4,6,4)=6,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Min(2,4,6,4)=2,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Range(2,4,6,4)=6-2=4,P.5,计算公式,6、Cp:(过程能力指数),7、Cr:(过程能力比值),5、StdDev标准差,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求,例:产品规格为(400.5),产品标准差为0.4,试计算CPCP=(40.5-39.5)/(6*0.4)=1/2.4=0.42,例:产品规格为(400.5),产品标准差为0.4,试计算CrCr=(6*0.4)/(40.5-39.5)=2.4,P.6,计算公式,8、k:(偏移系数),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,试计算KK=(40.2-40)/(40.5-39.5)/2)=0.4,评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量指标!,规格中心M,产品均值,规格宽度T,K越大说明产品均值偏离中心值越远;,P.7,计算公式,规格下限LSL,产品均值,规格上限USL,所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小;越小分布越好,数据越集中,9、Cpu:(上限过程能力指数),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpu;Cpu=(40.5-40.2)/(0.4*3)=0.3/1.2=0.25,Cpu越大,产品检验数据超出上限的概率就越小,也就是说产品超出上限的不合格品数量就越少;,P.8,计算公式,10、Cpl:(下限过程能力指数),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpl;Cpl=(40.2-39.5)/(0.4*3)=0.7/1.2=0.58,规格下限LSL,产品均值,规格上限USL,所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小;越小分布越好,数据越集中,Cpl越大,产品检验数据超出下限的概率就越小,也就是说产品超出下限的不合格品数量就越少;,P.9,计算公式,12、Cpm:(目标能力指数),11、Cpk:(修正的过程能力指数),Cpk=Min（Cpl，Cpu）=Cp(1-k),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpk;Cpk=Min(0.25,0.58)=0.25或Cpk=0.42*(1-0.4)=0.25,例:产品规格为(400.5),目标值为40.2,产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpm;Cpm=1/2.4=0.42,P.10,计算公式,产品均值,规格上限USL,13、Zu(Cap):(规格上限SIGMA水平),Zu(Cap)表示产品均值离规格上限有多少倍标准差?也表示为几个SIGMA,P.11,计算公式,产品均值,规格上限USL,Zl(Cap)表示产品均值离规格下限有多少倍标准差?也表示为几个SIGMA,14、Zl(Cap):(规格下限SIGMA水平),P.12,计算公式,Fpu(Cap)表示产品检验结果超出规格上限的概率,15、Fpu(Cap):(超出规格上限概率),规格上限USL,P.13,计算公式,Fpl(Cap)表示产品检验结果超出规格下限的概率,规格上限USL,16、Fpl(Cap):(超出规格下限机率),P.14,计算公式,Fpl(Cap)表示产品检验结果超出规格下限的概率,规格上限USL,规格上限LSL,17、Fp(Cap):(超出产品规格上下限的概率),P.15,计算公式,18、Pp:(过程性能指数),19、Pr:(过程性能比值),P.16,计算公式,20、Ppu:(上限过程性能指数),21、Ppl:(下限过程性能指数),22、Ppk:(修正的过程性能指数),Ppk=Min（Ppl，Ppu）=Pp(1-k),P.17,计算公式,25、Zl(Perf):(规格上限SIGMA水平),23、Ppm:(目标过程性能指数),24、Zu(Perf):(规格上限SIGMA水平),P.18,计算公式,28、Fp(Perf):(超出规格上下限的概率),26、Fpu(Perf):(超出规格上限概率),27、Fpl(Perf):(超出规格下限概率),P.19,计算公式,30、Kurtosis:(峰度),29、Skewness:(偏度),
