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    四章X射线吸收精细结构XAFS.ppt

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    四章X射线吸收精细结构XAFS.ppt

    第四章:X射线吸收精细结构(XAFS),1.XAFS,EXAFS和XANES,历史:上世纪二十年代,发现凝聚态物质对X射线的吸收系数,在吸收边附近存在量级为10-2的震荡,这一震荡称为X射线吸收精细结构(XAFS)七十年代,Stern,Sayers,Lytle从理论、实验二方面成功地解释了产生振动的机制,推导了EXAFS的基本公式,提出了处理实验数据的方法和计算机程序,并将它们用于凝聚态物质的结构分析。随着同步辐射的发展,XAFS已成为研究凝聚态物质,特别是长程无序,短程有序的非晶态、液态、熔态物质的原子、电子结构的有力工具。,XAFS可分为两部分:EXAFS(扩展X射线吸收精细结构)吸收边高能侧(30-50)eV至1000eV的吸收系数 的震荡,称为EXAFS。它含有吸收原子的近邻原子结构信息(近邻原子种类、配位数、配位距离等)。XANES(X射线吸收近边结构)吸收边至高能侧(30-50)eV的吸收系数 的震荡,称为XANES。它含有吸收原子的电子结构和近邻原子结构信息。,2.EXAFS产生机制,基本公式,2中给出原子吸收X射线光子的几率,终态,初态,在X射线光电吸收中一般为原子内壳层的1s,2s,2p态,与入射光子能量无关。,孤立原子,单原子气体:光电子处于出射态,远离吸收原子传播出去,即终态 为自由电子态,它不随入射光子能量震荡。双原子气体,凝聚态物质:吸收原子有近邻原子,出射光电子将受近邻原子的背散射,出射电子波与背散射光电子波叠加,干涉相长使吸收增加,干涉相消使吸收下降;由于光电子波长随入射光子能量变化,从而使吸收曲线出现震荡,即产生EXAFS。,图22 从吸收原子(黑色)激发出的光电子波函数的径向分布。,定义EXAFS函数(4-1)k为光电子波矢,(4-2)式中 为 的平滑变化部分,在物理上相当于孤立原子的吸收系数,为扣除背底后吸收边高能侧的吸收系数,为电子在原子内的束缚能。用量子力学理论可以推导出EXAFS的基本公式:,(4-3)表明,将与下列因素有关:与吸收原子周围的第j层近邻层中同种原子数目、距离 及电子背散射振幅 有关,(如不同种原子处于同一近邻原子层中,可将这一近邻原子层看作几个不同的近邻原子层)。与散射光电子的位相改变有关。位相改变包含两部分,光程差引起的位相差,及出射处势场和背散处势场引起的相移,。第j层原子的漫散分布程度有关,它包含热振动和原子无序分布的影响,若原子分布为高斯型,设 为 的均方根偏离,可表Debye-Waller温度型项exp(-2k2j2)。与光电子的非弹性散射有关,为光电子的平均自由程。,2,3.XAFS实验测量方法,1)透射法在同步辐射实验室,都用离子室(ion chamber),测量(4-4)样品的厚度通常取。,图23 透射法的原理图,1)透射法在同步辐射实验室,都用离子室(ion chamber),测量(4-4)样品的厚度通常取。,2)荧光法 用离子室 测量,荧光用固体探测器(高纯Si,Ge探测器)测量。荧光法适用于薄膜样品和浓度小于5%的厚样品。这时,待测元素A的吸收系数与荧光强度成正比。,图24 荧光法原理图,4.EXAFS数据处理,EXAFS数据处理步骤如下:实验测得数据:(透射法),(荧光法)背底扣除与归一化由吸收边低能侧实验数据拟合 扣除其它壳层的吸收;用三次样条函数法拟合;,得出归一化的,。,图27 扣除平滑背景得到的(k),并已将光子能量换算为光电子波矢k,函数(k)乘以kn得到kn(k),3)Fourier变换将 进行Fourier变换,得径向分布函数,4)用窗函数滤出第一配位层,做反Fourier变换,得出第一壳层的,图29 Fourier变换乘以窗函数,然后反傅里叶变换,5)由标样或由理论计算得出,将,作拟合参数,对曲线 进行拟合,得出吸收原子的近邻原子信息,。同步辐射XAFS站通常都有相应的数据处理程序,2,5.EXAFS的特点,样品广泛EXAFS取决于短程有序作用,不依赖长程有序,因而可测得样品广泛,可用于非晶、液态、熔态、催化剂活性中心,金属蛋白,晶体中的杂质原子的结构研究;X射线吸收边具有元素特征,对样品中不同元素的原子,可分别进行研究;利用荧光法可测量浓度低至10-6的元素的样品;样品制备比较简单。,

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