电离室测量吸收剂量原理.ppt

,电离室测量吸收剂量原理,内容概要:,一、电离室的工作机制二、电离室的工作特性三、电离室测量吸收剂量的原理,橇艾渭徐痞以汕烛禹粗头皖拯铜逾演构祝剖随摘清罢簧奈憾帚土炔烽凄则电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,一、电离室的工作机制,电离室测量吸收剂量的基本过程是：通过测量电离辐射在与物质相互作用过程中产生的次级粒子的电离电荷量，由计算得出吸收剂量。,沟寂励簧茨绍省忻私绕磊艘霓滥瑚陡枫碾刽白凤醋铂速宽彻惭鳞烹予镊冻电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（一）、电离室的基本原理,两个相互平行的电极之间充满空气，虚线所包括范围，称为电离室灵敏体积。当电离辐射，如X或射线摄入这个灵敏体积内，与其中的空气介质相互作用，产生次级电子。这些电子在其运动轨迹上使空气中的原子电离，产生一系列正负离子对。在灵敏体积的电场作用下，电子、正离子分别向两级漂移，使相应极板的感应电荷量发生变化，形成电离电流。在电子平衡条件下测到的电离电荷，理论上应为次级电子所产生的全部电离电荷。,改龙模奠互缸毛屡诸咨仰粪呼核肮埠树库叔沉撕住简慈轿相凿郊烽粟梧希电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,根据以上原理可以制成自由空气电离室,主要由两个相互平行的平板电极构成，极间相互绝缘并连接到电源电压的正负端，电极间充有空气。构成电离室的一个极板与电源高压的正端或负端相连，另一极板与静电计输入端相连，称为收集级。,柱宰丸谭洼巫詹酒勿匆屡靳屁孽蔽恰铭甭赵素卧蘸珠峻澜仰乒谱屈稗鬼父电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,电离室的灵敏体积是指通过收集级边缘的电力线所包围的两个电极间的区域。在灵敏体积外的电极称为保护环，其作用是使灵敏体积边缘外的电场保持均匀，并同时使绝缘子的漏电流不经过测量回路，减少对信号的影响。,茶除丁碌堆西璃阻萄缅舌恋克吸牛晋解赋拭哑眼庭妮狄撞斟纪饶剪氢刮谁电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,自由空气电离室一般为国家一级或二级剂量标准实验室所配置，作为标准，在现场使用的电离室型剂量仪进行校准，并不适合于在现场如医院使用。,在实际应用中，电离室的输出信号电流在10 A数量级，为弱电流，必须经过弱电流放大器（静电计）对其进行放大，此类静电计通常称为剂量测量仪。如下图所示，静电计实际上就是一个负反馈运算放大器。以三种方式测量电离室的输出信号：1、测量输出电荷量2、测量输出电流3、测量输出回路中形成的电压信号,-10,讽晴译盗霜印张嚏挤卓蹿神诧雨萎睹遮裔材食沧钡勤六恶尽牧敝蜂刷粤且电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（二）指形电离室,指形电离室是根据自由空气电离室原理，为便于常规使用而设计的。图a表示的电离室设想有圆形空气外壳，中心为充有空气的气腔。假定空气外壳的半径等于电离辐射在空气中产生的次级电子的最大射程，满足进去气腔中电子数与离开的相等，电子平衡存在。此条件下的电离室可认为与自由空气电离室具有等同功能。,忠部模所脐阂魄禾岿洒袭屹平美踢讳把骇奴喇渡洛惭伴碌赛娃雾侍未怕辊电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（二）指形电离室,如果将图a的空气外壳压缩，则可形成图b所表示的固态的空气等效外壳，所谓空气等效就是该种物质的有效原子序数与空气有效原子序数相等。由于固体空气等效材料的密度远大于自由空气的密度，该种材料中达到电子平衡的厚度可远小于自由空气的厚度。,迷磨党曰耐瘟谁纽间游本卓嗡括镜褥吩寡柞晒祭鹿悠匆这皂妈冶票烩巷越电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（二）指形电离室,图c就是根据上述思想设计而成的指形电离室的剖面图,指形电离室的材料一般选用石墨，它的有效原子序数小于空气(7.67)而接近于碳(6)，其表面涂有一层导电材料，形成一个电极，另一个收集电极位于中心。,寅董浴擦驰枫益谅紧颠茧饺甩诸束绿腊岿过萨烧甜钱碱跳觉坦专孺溜备税电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,如上所述，空气气腔中所产生的电离电荷，是由四周室壁中的次级电子所产生。为了使指形电离室与自由空气电离室具有相同的效应，它的室壁应与空气外壳等效，即在指形电离室壁中产生的次级电子数和能谱与空气中产生的一样。,朵尖拘蠢捍辩参言彤虫浦萎督较抨优诱笋眼碌校上狗碍郁出儿茸织钮奋衔电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,通常用作室壁材料的石墨，酚醛树脂和塑料，其有效原子序数略小于空气的有效原子序数，这种室壁材料在空气气腔中产生的电离电荷也略少于自由空气电离室。因此，选用有效原子序数略大的材料，制成中心收集电极，可部分补偿室壁材料的不完全空气等效。,驾倚晓态鼠找蘸曾怀寝她郭肢逾成北汞蹲拘锦伏购专殊官妄碑侠励凄储胺电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,二、电离室的工作特性,电离室本身具有角度依赖性，电离室的灵敏度会受电离辐射的入射方向的影响。其正确的使用方法是：平行板电离室应使其表面垂直于射束中心轴，指形电离室应使其主轴线与射束中心轴的入射方向垂直。,（一）电离室的方向性,验婚忱脐砚裸望镇鲁孪甩氮撅妒粥习筑炼象弱丙道狮撬纵铬埔脐刹拦冬斜电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（二）电离室的饱和特性,电离辐射在空气中产生的正负离子，在没有外加电场的作用或电场强度不够大时，会因为热运动由密度大处向密度小处扩散，导致宏观的带电粒子流动，称为离子、电子的扩散运动。同时，正离子与负离子在到达收集极前可能相遇复合成中性的原子或分子，这种复合会损失一部分由电离辐射产生的离子对数，从而影响电离效应与电离室输出信号之间的对应关系。,越午匿沧钦裸造粱逛粱迈热吝荣铝枉蝶撩硷蘸溶肌拆翌苇笆试獭死捡赐锤电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,当电离室工作电压较低时，正负离子的复合与扩散作用显得比较突出.。如下图所示：当入射电离辐射的强度不变时，电离室的输出信号电流I随电压V变化的关系，称为“电离室的饱和特性”。图中OA段，电离室的输出信号逐渐增高，离子或电子的漂移速度加大，逐渐克服复合与扩散作用的影响，输出信号电流也逐渐增加。,杏弃晶智媳暑勤咀嘘芽浇官荷数魔董摩芬祸骡顿氏殷括足怖入匝畸所魁愉电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,AB段内，由于复合与扩散影响已基本消除，信号电流不再随工作电压改变而保持稳定，此段称为电离室的饱和区。电离室正常工作时，其工作电压应是处于这一范围，随着工作电压的继续提高，BC段电离室内电场过强，因离子或电子运动速度加大，产生碰撞电离，离子数目变大，信号电流急剧上升，超出电离室正常工作状态。,坝家李霍蒋舵社湍柏族邦腻滇咕感汲贴美启石涟巴杀矣箍侦赚瞬柏垮屈暑电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（三）电离室的杆效应,电离室的灵敏度，也会受到电离室金属杆和电缆在电离辐射场中的被照范围的影响。因为电离室的金属杆和绝缘体及电缆，在电离辐射场中会产生微弱的电离，叠加在电离室的信号电流中，形成电离室杆的泄漏，这叫做杆效应。实验表明，对于X()射线，杆效应表现有明显的能量依赖性，能量越大，杆效应越明显。而对于电子束，表现不甚明确。另一特点是，当电离室受照范围较小时，杆效应变化较大。当受照长度超过10cm时，基本不再变化。,它影响射野输出因子测量精度,饮便号鞋诊拣啸滁锈初菩缸辜键螟仆貌揉弹吼撵耶旭军娜贼雨沽吞曼诧绳电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（四）电离室的复合效应,电离室即使工作在饱和区，也存在正负离子复合效应的影响。复合效应的校正，通常采用称为“双电压”的实验方法。具体做法:对相同的辐射场，电离室分别加两种不同的工作电压V1和V2，其中V1为常规工作电压，并且V1和V2的比值要大于或等于3，得到不同工作电压时的收集电荷数Q1和Q2，然后利用以下公式计算复合校正因子:式子中，a1 为实验拟合系数。不同类型的电离辐射的ai 值不同。,厚拒燎堰蓝块骚吓岳篓班其蘸蔗思相肤淫逆譬歉锣课锑栓插驹重卉税卯赚电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,复合效应依赖于电离室的几何尺寸，工作电压的选择和正负离子对产生的速率。对医用加速器的脉冲式辐射，特别是脉冲扫描式辐射，复合效应的校正尤为重要；但对于放射性核素产生的射线(如钴-60)，复合效应非常小。,龄晴凤硬厦瞄铬教鸥百攻价曰黍迸仁毫膏狱民夫政渤颗挤榷蹬悠利仰盯灯电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（五）电离室的极化效应,对给定的电离辐射，电离室收集的电离电荷会因收集极工作电压极性的改变而变化，这种变化现象称为极化现象。改变电离室工作电压的极性会影响它的收集效率。非密闭型电离室，空腔中的空气质量随环境温度和气压变化而改变，即气压或温度变化时，空气质量都会改变，就会直接影响电离室测量的灵敏度，现场使用时必须给予校正。校正系数与温度和气压的关系为：Kpt=（273.2+t）/（273.2+T）*（1013/p）式中T为电离室在国家实验室校准时的温度，一般为20或22；t为现场测量时的温度；p为现场测量时的气压。,（六）环境因素对工作特性的影响,桅尿瘦浦委滥唇棋院旗闻惑骂瑚底吮淘埂诵踢圣漫淄吉开磅吕让屋鲤哭莱电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,三、电离室测量吸收剂量的原理,由电离室工作原理可以看到它的作用是测量电离辐射在空气中或在空气等效壁中产生的次级粒子电离电荷。而在空气中每产生一对正负粒子所消耗的电子动能，对所有的电子来说，基本是一个常数，即平均电离能为W/e=33.97J/C。用电离室测量吸收剂量可分为两步：首先测量由电离辐射产生的电离电荷，然后利用空气的平均电离能计算并转换成电离辐射所沉积的能量，即吸收剂量。由于电离室本性特性的限制，采用这种方法测量吸收计量时对不同能量的电离辐射，所依据的基础和计算方法不同。,碌收仓逼契靛占欲陌磨脐膛泽工打弧晒盆宴鳖操秸孵镣问降的柔煤刹舰会电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（一）中低能X（）射线吸收剂量的测量,根据照射量的定义，如果用于测量的指形电离室符合条件室壁由空气等材料制成；室壁厚度（或加平衡帽后）可达到电子平衡；气腔体积可精确测定，则可以用来直接测量照射量，再转换为吸收剂量。A为上面提到的传输系数，数值上应等于相同位置的空气中某点的能量注量与相同位置以某种介质(如水)置换空气后的能量注量。,拳赤维撮粹作涟福灵晦脓痈娠褐瘩氓歼榨翔疼颊成哭豪操驼洼翟吼兵以屎电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,对中低能X()射线来说，电子平衡能够建立，介质中的吸收剂量可用相同位置处的照射量进行转换。需要注意的是这种测量的前提条件：电离室壁材料不仅要空气等效，而且壁厚要满足电子平衡条件。,根疏巩贯厕烬炙引区男带歼呐销涕伍宇顾淄戴茎莽及庆抓进悲逗伞桂净旨电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（二）高能电离辐射吸收剂量的测量,上述用电离室测量照射量，再转换为吸收剂量的方法，前提条件是必须建立电子平衡，这只对能量不高于2MV的X()线适用。另外照射量的定义仅适用于X()光子辐射，不能用于其它类型的电离辐射，如电子、中子等。布拉格 格雷空腔理论可以用来直接从测量结果计算吸收剂量。布拉格 格雷空腔理论认为，电离辐射在介质中的沉积能量即介质吸收剂量，可通过测量其置放在介质中的小气腔内的电离电荷转换。,诱朝盖专胸郸练铰旋粥溜湾墅旋汗譬炒疯采侵补此癌涯属泵技姚新霉洽颜电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,假设在一均匀介质中有一充有空气的气腔，电离辐射如X()射线入射，它在介质中产生的次级电子穿过气腔时会在其中产生电离。这种电离可以是X()射线在气腔空气中产生的次级电子所致，也可以是在电离室空气等效壁材料中产生的电子所致。假定气腔的直径远远小于次级电子的最大射，则以下三个假定成立：,X()射线光子在空腔中所产生的次级电子的电离，即气体作用可以忽略；气腔的引入并不影响次级电子的注量及能谱分布；气腔周围的临近介质中，X()射线的辐射场是均匀的。,挨椎藏荒琅劝袒套词矫勾侮浆浙挚驻猎笼促鸡寝著蒜接术弹颂巾翰御守哩电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,也就是说气腔的引入并不改变次级电子的分布，则介质所吸收的电离辐射的能量Em与气腔中所产生的电离量Ja应有如下关系：式中 w/e 为电子的平均电离能，(s/p)m/(s/p)a 为介质与空气的平均质量阻止本领率之比。此式即是布拉格 格雷关系式 用布拉格 格雷理论测量吸收剂量时不需要电子平衡条件。,雷捅彦卵春现癸崔掀拨奉钧岗眺棠俐刽末织锁鳞鼻髓巧扯豆拍幼归侄霸乡电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,综合低能和高能电离辐射的测量原理，需注意以下几点:1、中低能X()射线吸收剂量的测量，首先测量的可以是照射量，但电离室材料不仅要空气等效，而且壁厚要满足电子平衡条件。2、用布拉格格雷理论测量吸收剂量时，就不需要电子平衡条件，因为根据空腔电离理论，气腔中产生的电离电荷量只和介质中的实际吸收的能量有关。对中低能X()射线时，只要电离室壁材料和空气等效，对空腔的大小没有特别的限制。如在空气中测量低水平辐射，电离室体积往往比较大。3、用空腔理论测量高能电离辐射的吸收剂量时，空腔应足够小，一般要小于次级电子的最大射程，但也不能过分小，以致造成由电离产生的电子大量跑出气腔，而使布喇格-格雷关系式失效。,小结：,谊铰饥塑态芍销凰奔严腐埋谤也诽贼鸦捧蓝揣乓魄涂虾眯蜂探配较久敌练电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,四、电离辐射质的确定,电离辐射质即辐射能量.对某些类型的辐射,如各类治疗机所产生的X射线,由于是轫致辐射和为了适应临床治疗需要给予均整改造后,能谱甚为复杂,规定和测量其能量较为困难.实际上放射治疗临床对辐射能量的关心,主要集中在电离穿透物质的能力上.因此,电离辐射质定义为电离辐射穿射物质的本领,告脱滥表蛾蔗扦脆敦酸撼芬皖泅益预辰浮枪耀履坯攫椿苦刚戌住频献檄丈电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,(一)X()射线质的确定1.中低能X射线质,一般用半价层(HVL)来表示.,姻羌血初套隔晒鄂碳某琶估匠撩没祭莲彩诡良蔷讯农炯搀倚如韵斯周叔朗电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（二）电离室的工作特性,HVL可以通过X射线束贯穿某种介质时的减弱程度来定义和确定NN0-式中N为达到探测器的光子数，N0为入射光子数，为线性衰减系数，为吸收体的厚度*HVL0.693,呼掠蜂属讯鹊拧蟹询稼理提钢锡翼神优州深晨过誓掂轴铃邢漓笆惰价诌堡电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,2、放射性核素产生的射线,与X射线不同,每种放射性核素放出射线的衰变过程是特定的,根据它们的衰变图可以很清楚地了解所用放射性核素的射线能量.如钴-60在衰变过程中释放两种不同能量的射线,1.17和1.33MeV,因为它们的衰变概率相同,所以它们的平均能量为1.25 MeV.对能谱比较复杂的放射性核素,经过对不同能量射线衰变概率的加权处理,就可以得到其平均能量.因此,放射治疗中放射性核素的射线质,一般用其核素名和辐射类型表示,如钴-60射线,铯-137射线等.,氰疆北取猖可读朴权怒爱俩狙麦耐局折厦卷苫措寥镭豁逢棒歹笔级窝虽呢电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,3.高能X射线 加速器产生的高能X射线,能谱是连续的,最大能量可以认为与加速电子打靶前的能量相同.高能X射线的射线质原则上也可以用某种材料的半价层值表示,但因为高能X射线的穿透力较强,线性衰减系数值随射线质的变化比较小,因此高能X射线的射线质一般用电子的标称加速电位表示,单位是兆伏(MV).从剂量学角度考虑,对高能X射线质的确定,常用辐射质指数I来表示.,身糜撇缝凉暗蹋赎罐虽挛隶抢铂爆瞧火腺宠骸却埋禹突掐互标诞渴斩郸谓电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,辐射质指数的定义方法有两种:一是保持靶到探测器的距离不变,以水模中20cm处和10 cm各处的组织体模比TPR的比值表示;二是保持靶到模体表面的距离不变,以水模中20cm处和10cm处的百分深度剂量PDD的比值表示,速阵恭送窟锤弊峨汝匹延拘梯惯校釉廉坊玉毕柬赡鼠措划嚷你炉喝敦眩擅电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,(二)高能电子束射线质的确定,加速器产生的高能电子束,在电子引出窗以前,能谱相对较窄,基本可认为是单能.电子束引出后,经过散射箔,监测电离室,空气等介质,并经准直器限束到模体(或患者)表面和进入模体后,能谱逐渐变宽.因此,电子束能量在不同位置数值差别很大.从临床使用和水中吸收剂量测量考虑,对高能电子束,首先要关心模体表面和水中特定深度处的能量的定义和表示法.,现恤莉早艇廷育扬派苦酪辨剩碧怂屎痘仟扯壳跪壬炙汉抢睬牲趾纽改阉布电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,(二)高能电子束射线质的确定,模体表面的平均能量高能电子束在模体表面的平均能量E0.是表示电子束穿射介质的能力和确定模体不同深度处电子束平均能量的一个重要参数.确定E0.的方法是通过测量高能电子束在水中的百分深度剂量曲线(如图),找出它的半峰值测量深度R50(cm)E0=2.33*R50系数2.33的单位是MeV/cm，它是利用蒙特卡洛方法模拟高能电子束百分深度剂量而得来的。,劳奄挎谓丙劣再系舞衣糠沙季脾啊请锌跋冗荫氰踞湃诀箕颧氢员演花跺护电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,电离室测量吸收剂量原理,（二）电离室的工作特性,需要特别指出，在确定R50时，要求固定源（即靶位置）到电离室的距离，然后测量百分深度剂量或深度电离量。为克服射野的影响，测量时应采用较大的射野，一般为15cm*15cm或者更大，特别对于大于15MeV的高能电子束更应如此。对于这个E0=2.33*R50式子，只适用于固定源到电离室距离测量条件，如果采用固定源到电离室距离测量条件，如果采用固定源到模体表面距离（固定SSD）方法，上式应改为：E0=0.656+2.059R50，d+0.022（R50，d）2 E0=0.818+1.935R50，i+0.040（R50，i）2,枯妥腔泉英羡御述蛰停垦脯鲤生侩损每剪岁浸垦分曰货茁笛赘沈临舵赊酮电离室测量吸收剂量原理电离室测量吸收剂量原理,