针对智能电容TP充电乱跳问题分析报告.ppt

智能机电容TP乱跳分析报告,一、市场投诉LC012在充电时会出现TP乱跳和TP触屏不灵 二、近期以来,售后测试发现LC012/C01/LC108/LC108A,都出现同样的问题，现针对电容TP充电时出现乱跳问题组织各部门相关人员对此问题的原因进行 深入分析！,2,2,2,背 景,二、前往敦泰测试，在测试时发现：（1）目前所使用充电器（价格：4元左右）配用BYD的TP（G+F）是不会出现TP乱跳及TP触屏灵失问题，主要原因：G+F的TP所使用的电容为：自电容；（2）目前所使用充电器（价格：4元左右）配用联创的TP（G+G）是会出现TP乱跳及TP触屏灵失问题，主要原因：G+G的TP所使用的电容为：互电容；以上验证初步确认:充电器与TP的适配性问题（自电容与互电容）即充电器纹波与共模信号干扰所致，注:TP IC受充电器纹波与共模信号干扰，不同IC抗干扰的能力不同,3,3,3,原因分析,TP乱跳和TP触屏不灵原因分析(步骤）：,一、针对退回来的C01整机做测试确认：1）将原装电池（量电池电压4.0V)、原充电器对整机进行开机充电=没有异常现象，经分析电池电压到达4.0V充电不会出现异常；2）换一块从3.3V-3.7 V之间的电压电池装入整机，用原装充电器进行开机充电=TP触摸不灵，TP乱跳，3）将3.3V-3.7 V之间的电压电池装入整机用到电脑USB端口进行充电=无异常现象；以上分析：原装充电器（寄回电池）在大流流充电过程中会出现异常现象，恒流充电过程中不会出现异常，经验证初步确认=充电器的相关电流、电压参数不符合手机充电要求,自电容和互电容两种屏的工作原理,1）-自电容在玻璃表面用ITO(一种透明的导电材料)制作成横向与纵向电极阵列，这些横向和纵向的电极分别与地构成电容，这个电容就是通常所说的自电容，也就是电极对地的电容。当手指触摸到电容屏时，手指的电容将会叠加到屏体电容上，使屏体电容量增加。在触摸检测时，自电容屏依次分别检测横向与纵向电极阵列，根据触摸前后电容的变化，分别确定横向坐标和纵向坐标，然后组合成平面的触摸坐标。自电容的扫描方式，相当于把触摸屏上的触摸点分别投影到X轴和Y轴方向，然后分别在X轴和Y轴方向计算出坐标，最后组合成触摸点的坐标。如果是单点触摸，则在X轴和Y轴方向的投影都是唯一的，组合出的坐标也是唯一的；如果在触摸屏上有两点触摸并且这两点不在同一X方向或者同一Y方向，则在X和Y方向分别有两个投影，则组合出4个坐标。显然，只有两个坐标是真实的，另外两个就是俗称的”鬼点”。因此，自电容屏无法实现真正的多点触摸。,4,自电容和互电容两种屏的工作原理,2)互电容互电容屏也是在玻璃表面用ITO制作横向电极与纵向电极，它与自电容屏的区别在于，两组电极交叉的地方将会形成电容，也即这两组电极分别构成了电容的两极。当手指触摸到电容屏时，影响了触摸点附近两个电极之间的耦合，从而改变了这两个电极之间的电容量。检测互电容大小时，横向的电极依次发出激励信号，纵向的所有电极同时接收信号，这样可以得到所有横向和纵向电极交汇点的电容值大小，即整个触摸屏的二维平面的电容大小。根据触摸屏二维电容变化量数据，可以计算出每一个触摸点的坐标。因此，屏上即使有多个触摸点，也能计算出每个触摸点的真实坐标。,5,6,6,6,改善对策,一、经硬件确认松鼎充电器在PCB设计上TP IC受充电器纹波与共模信号干扰不存在有问题，,临时改善对策:,二、目前公司所有电容TP全部切换到松鼎的充电器满足出货.,三、中天充电器同步要求进行优化改善.,7,改善对策,长期改善对策:,一、要求所有使用电容TP 的充电器必须达到抗共模干扰要求。,二、中天充电器PCB上增加Y电容-待验证-硬件工程师跟进,8,8,8,预防建议,电容TP项目评审建议：,一、由于电容TP性能充电器有较大的关联，在项目设计过程中，建议方案公司或器件工程师 和供应商 及早检查或测试相关参数，在硬件设计上能够满足公司要求，尽早测试在充电情况下触控体验及充电器匹配的性能测试，如有问题可及早做优化。二、品质在前期应给出相应的测试要求是品质要求。后续好有所依据参考。,END,