TFTLCD 画质检验.ppt
課程四、畫質檢驗,壹.檢驗Pattern介紹,2.檢驗項目,1.Pattern設計目的,3.注意事項,參.不良現象定義與判定標準,貳.限度見本使用須知,1.限度見本使用時機,肆.檢驗方法,壹.檢驗Pattern介紹,1.H Gray Scale 橫階調,階調0,階調63,階調0,階調63,階調0,階調63,階調0,階調63,驅動電路之Data Bus若為8bits，可顯示256階調。,驅動電路之Data Bus若為6bits，只能顯示64階調。,以下說明皆使用64階調。,圖134.橫階調L63W,圖135.橫階調L63R,圖136.橫階調L63G,圖137.橫階調L63B,2.V Gray Scale 縱階調,階調0,階調63,階調0,階調63,階調0,階調63,階調0,階調63,圖138.縱階調L63W,圖140.縱階調L63G,圖139.縱階調L63R,圖141.縱階調L63B,3.Luster L63,圖142.L63全白畫面,圖144.L63R畫面,圖143.L63G畫面,圖145.L63B畫面,4.Luster L31,圖146.L31中間調W,圖148.L31中間調R,圖147.L31中間調G,圖149.L31中間調B,4.特定客戶檢驗畫面,圖150.L15W,圖151.L31G+B,5.Luster L0,圖152.L0全黑畫面,7.框、漢字,圖154.框、漢字畫面,圖153.A區輝點畫面,8.H Color Bar,9.視窗畫面(黑),圖155.橫色柱畫面,圖156.黑Windows畫面,圖158.L0全黑畫面,10.視窗畫面(白),圖157.白Windows畫面,5秒鐘後自動切換成全黑畫面，,檢查是否有殘像不良。,L63,L0,11.V Color Bar,圖159.縱色柱畫面,12.CHECK 2DOT,圖160.Check 2dot畫面,13.CHECK SUB PIXEL,圖161.閃爍畫面,14.分割畫面,圖162.分割畫面,貳.限度見本使用須知,1.目的:,避免因個人判定基準不同，造成品質上之爭議，故建立一共同,限度樣品以作為各方判定之標準。,2.良品見本定義:,良品限度之表示見本,檢查實物時,與良品限度見本一樣者或更佳,為良品。,3.不良品見本定義:,不良品限度之表示見本,檢查實物時,與不良限度見本一樣或更差,者為不良品。,4.注意事項:,(1)限度見本與ND Filter皆為Mura判定依據，使用時以限度見本,為優先使用標準。,(2)使用限度見本時，請依照管理票說明。,參.不良現象定義與判定標準,1.輝點,Pixel的50%也要以輝點計算)。,定義:(1)在判定畫面下,使用放大鏡 觀察,非異物造成,之亮點(圖),且使用ND5%遮蓋,正視30cm之,距離進行觀察亦可見時,則輝點成立(即使是低於,(以全黑畫面舉例說明),按,按,(2)輝點只有紅色R、綠色G、藍色B三種顏色。,圖163.輝點,圖164.放大鏡下的畫素,判定標準:,(1)輝點個數:指判定畫面下輝點數總合，超出規格數,量時，判定NG。,(2)G輝點個數:指判定畫面下G輝點數總合，超出規格,數量時，判定NG。,(3)輝點距離:指判定畫面下輝點與輝點之距離，超出規,格距離時，判定NG。,(4)連續輝點個數:指判定畫面下連續輝點數，超出規格,數量時，判定NG。,圖165.二連續輝點,圖166.三連續輝點,2.滅點,(以L63R畫面舉例說明),低於Pixel的50%也要以滅點計算)。,定義:(1)在L63R/G/B畫面下,使用放大鏡 觀察,非異物,造成之暗點(圖),且使用ND3%遮蓋,正視30cm,之距離進行觀察亦可見時,則滅點成立(即使是,(2)滅點只有黑色一種顏色。,判定標準:,(1)滅點個數:指判定畫面下滅點數總合，超出規格數,量時，判定NG。,(2)滅點距離:指判定畫面下滅點與滅點之距離，超出規,格距離時，判定NG，含異色間滅點距。,(3)連續滅點個數:指判定畫面下連續輝點數，超出規格,數量時，判定NG。,圖169.二連續輝點,圖170.三連續輝點,(4)輝滅點數總合:指輝點數與滅點數的總合，超出規格數,量時，判定NG。,同一畫素，若輝滅點都成立時，以輝點計算。,(5)輝滅點距離:L63R/G/B,L0各單色內與單色間之輝滅點距離。,在R.G.B畫面下的亮點，雖未必構成輝點的條件，但是在,計算輝滅點距離時，必須視為輝點。,圖172.滅點,圖173.輝/滅點,圖171.輝點,任一輝滅點彼此間距離皆須計算輝滅距。,(6)連續輝滅點:在縱、橫、斜其中一者有相連之輝滅點，以,1顆輝點、1顆滅點分開計算。,(7)L63R/G/B同畫面二亮點，ND5%遮不掉，須卡“輝距”。,3.Cell異物,定義:(1)在L63/L0畫面下，使用放大鏡 觀察，可見不規則,形狀之異物，且ND Filter 遮蓋仍可見(粒狀ND3%,、線狀ND5%)。,判定標準:,(1)Cell內異物:介於CF基板與TFT基板之間的異物。,(2)上偏異物:介於上偏光板與CF基板之間的異物。,(3)下偏異物:介於下偏光板與TFT基板之間的異物。,(依照異物移動方向與速度可分辨異物位置),按,(4)依照各機種異物規格判定OK/NG。,4.Back Light異物,定義:(1)在L63W畫面下，使用放大鏡 觀察，可見不規則,形狀之異物，且ND Filter遮蓋仍可見(粒狀ND3%,、線狀ND5%)。,判定標準:,(1)BL異物:介於下偏光板與Back Light之間的異物，,(依照異物移動方向與速度可分辨異物位置),按,也可能是Back Light部材來料時已經含有,異物。,(2)依照各機種異物規格判定OK/NG。,5.輝線與滅線,輝線定義:在判定畫面下，可見R、G、B單一顏色之線不良。,滅線定義:在判定畫面下，除R、G、B以外顏色之線不良。,判定標準:不可有,補充說明:另外有淡線不良，較不易檢出，原因多為TAB-IC,驅動不良造成，檢驗時務必仔細。,混色說明:,(1)不論是輝點或輝滅線不良，所呈現之顏色皆適用下列,混色原理。,圖184.混色示意圖,6.方塊不良,定義:在判定畫面下，可見區塊狀IC驅動異常之現象。,判定標準:不可有,7.階調不良,定義:(1)在橫階調畫面下，可見部份階調異常之現象。,(2)調整全畫面階調介於L10L15之間，可見線不良。,判定標準:不可有,8.星空輝點,定義:(1)L0畫面有3顆以上之Cell異物呈聚集狀態。,判定標準:L0畫面，直徑15mm的圓內，使用ND10%可見,3顆(含)以上Cell異物判定NG(Cell內異物與偏貼,異物均計算)。,9.出畫不良,定義:泛指一切開機時，所產生的畫面不正常動作，,無畫面訊號或畫面異常皆稱出畫不良。,判定標準:不可有(必須排除設備異常之可能性)。,10.關機殘影,圖193.關機瞬間殘影,圖194.關機數秒後殘影,定義:關機殘影屬於製程不良，造成關機後殘影現象，,隨著關機時間越長而漸漸消失。,一般機種判定標準:不判定。,特定機種判定標準:依照規定秒數內必須完全消失。,11.點狀黑色差,定義:(1)Cell內污染或其他因素所造成之點狀黑色色差現象。,補充:(1)色差亦可稱為Mura。,(2)點狀與面狀的區分以2mm為參考值。,(3)PI斑為配向製程不良，歸納於點狀色差。,一般機種判定標準:ND3%可見NG，L31W畫面判定。,特定機種判定標準:依照客戶要求之規格判定。,色差(Mura)無法使用放大鏡觀察,12.點狀白色差,一般機種判定標準:ND3%可見NG，L31W畫面判定。,特定機種判定標準:依照客戶要求之規格判定。,定義:(1)Cell內污染或其他因素所造成之點狀白色色差現象。,13.線狀黑色差/線狀白色差,定義:(1)Cell內污染或其他因素所造成之線狀黑色或,白色色差現象。,判定標準:ND3%可見NG，L31W畫面判定。,圖199.線狀黑色差,圖200.線狀白色差,14.面狀黑色差/面狀白色差,定義:(1)Cell內污染或其他因素所造成之面狀黑色或,白色色差現象。,判定標準:ND3%可見NG，L31W畫面判定。,圖201.面狀黑色差,圖202.面狀白色差,15.AG(Aging)色差,定義:(1)L0畫面可見因Aging工程保護膜未平貼所造成,判定標準:L0畫面判定，明顯不可有。,之色差現象，可確認保護膜是否有相同形狀摺,痕(亦可能是廠商受入已發生之不良.)。,Reair方法:將保護膜重新貼平，再Aging一次可能會消失。,17.渦旋色差,“,“,”,”,圖206.Polling動作單手位置,圖207.Polling動作來回晃動,定義:(1)以單手置於中央位置，進行來回23度、每秒23,色差，具立體感。,補充:(1)此“特異檢查”只針對部份機種。,判定標準:(1)L31畫面依照限度見本判定。,次，並持續1020次往返晃動，可見畫面有渦旋狀,19.間隙色差色差,“,”,圖209.線狀指壓Gap(間隙)mura,指壓時可見,定義:因Cell Gap不均所造成之色差現象，嚴重時，,不必指壓也可看見Mura。,一般機種判定標準:L31W畫面判定，ND3%可見NG。,特定機種判定標準:依照客戶要求之規格判定。,補充:(1)指壓只是確認是否為Gap mura，不作判定。,25.偏光板凹痕,圖219.偏光板凹痕,圖220.區域放大圖,定義:(1)偏光板受入時原材不良所造成之現象。,(2)使用放大鏡觀察時可見所在位置有發光現象，,判定標準:(1)L0正視ND10%看不見:不計。可見者量測,有些偏光板凹痕的中心點會有異物。,中心點異物大小,規格參照Rank。,(2)中間調W:ND3%可見時，判定NG。,判定標準:(1)L63W畫面，使用Glass5%判定，可見時NG。,圖234.上20度漏光判定,圖235.左40度漏光判定,(2)判定視角為正視、上下20度、左右40度，,(3)使用角規輔助判定。,判定視線30cm。,(4)反射光不判定、實心光才做判定。,肆.檢驗方法,1.H Gray Scale 橫階調,(1)Pattern設計目的,此畫面主要設計來檢驗有無機能性不良，成因以驅動IC,故障、半田工程不良(空焊)、OLB工程壓著不良(ACF破,(2)檢驗項目,階調不良、線不良、方塊不良、滾輪線不良,裂不完全)以及TFT動作異常佔較高比率。,2.V Gray Scale 縱階調,階調0,階調63,圖242.縱階調L63W,(1)Pattern設計目的(同橫階調),此畫面主要設計來檢驗有無機能性不良，成因以驅動IC,故障、半田工程不良(空焊)、OLB工程壓著不良(ACF破,(2)檢驗項目,階調不良、線不良、方塊不良、偏光板貼付確認,裂不完全)以及TFT動作異常佔較高比率。,(3)注意事項,.檢查方向以Z字形，由上至下全面性檢驗。,1,2,.判定視角為全面性正視與上 20度。,圖243.視線移動圖,4.Luster L63,圖252.L63R畫面,圖253.L63G畫面,圖254.L63B畫面,(1)Pattern設計目的,(2)檢驗項目,L63R/G/B為單一顏色之最大輝度畫面，最適合檢出,Color Filter不良以及滅點。,滅點、CF色差、CF色剝落,(3)注意事項,.檢查方向以Z字形，由上至下全面性檢驗。,1,2,.判定視角為正視。,5.Luster L31(中間調),圖255.L31中間調W,(1)Pattern設計目的,(2)檢驗項目,點狀/線狀/面狀/周邊之一般性色差、間隙(Gap)色差。,在檢驗色差此類之感官上的不良時，中間調較容易檢出，,且較接近一般Windows環境的輝度。,(3)注意事項,3,4,.間隙色差檢驗時，可利用手輕觸面板確認之。,.在L31W/R/G/B畫面下，若無特別規定判定畫面時，,則以L31W畫面進行判定。,.檢查方向以Z字形，由上至下全面性檢驗。,1,2,.判定視角為正視，特定不良除外。,圖257.L31中間調W,“,”,圖256.線狀指壓Gap mura,指壓時可見,5,.中間調R/G/B檢驗方法同中間調W,圖258.L31中間調R,圖259.L31中間調G,圖260.L31中間調B,6.特定客戶檢驗畫面,圖261.L15W,圖262.L31G+B,(1)Pattern設計目的,(2)檢驗項目,針對特定客戶所提出之Defect要求在特定Pattern進行,判定時，廠內必須增設此一Pattern。,視特定客戶所提出的Defect而定。,(3)注意事項,.相關檢驗方法參照工程指示文件。,1,7.Luster L0,圖263.L0全黑畫面,(1)Pattern設計目的,(2)檢驗項目,L0為全黑畫面，最適合檢出具有發亮特性之不良。,輝點、漏光、Cell異物、星空輝點、BM脫落、,AG色差,(3)注意事項,圖266.A區輝點畫面,9.框、漢字,圖267.框、漢字畫面,(1)Pattern設計目的,(2)檢驗項目,確認顯示區是否有偏移現象與中文字型是否清楚、,框線偏移、漢字穩定度,穩定(利用IDD值變化觀察穩定度)。,(3)注意事項,1,2,.確認框線是否靠近最外側。,.框線顏色應為左紅色、右藍色、上下白色。,.檢查漢字穩定度方向以大Z字形檢查，由上至下,3,全面性檢驗。,圖268.檢查視線,若有穩定度不良時，可更換點燈機台進行確認。,4,10.H Color Bar,圖269.橫色柱畫面,(1)Pattern設計目的,(2)檢驗項目,顏色異常、穩定度,橫色柱有三個idd值不同之畫面，測試idd值變化,是否會造成畫面不穩定情形。,(3)注意事項,若有穩定度不良時，可更換點燈機台進行確認。,13.V Color Bar,圖273.縱色柱畫面,(1)Pattern設計目的,(2)檢驗項目,記錄idd1,(3)注意事項,此畫面為記錄一般畫面消耗電流的平均安培值。,若Idd值超出Spec，點燈設備會自動發出蜂鳴器叫聲。,14.CHECK 2DOT,圖274.Check 2dot畫面,(1)Pattern設計目的,(2)檢驗項目,記錄idd2,(3)注意事項,此畫面為記錄最大消耗電流的安培值。,若Idd值超出Spec，點燈設備會自動發出蜂鳴器叫聲。,15.CHECK SUB PIXEL,圖275.閃爍畫面,(1)Pattern設計目的,(2)檢驗項目,閃爍,此畫面在調整畫面的閃爍程度，即一般電腦Windows,系統在關機畫面的閃爍程度。,(3)注意事項,1,2,.特定客戶閃爍判定區域為全面性時，不需使用閃爍治具。,.判定視角為正視，視線30cm。,圖276.12“/14”閃爍判定區域,圖277.15”閃爍判定區域,16.分割畫面,圖278.分割畫面,(1)Pattern設計目的,(2)檢驗項目,異物,縮小白色畫面，在檢查Back Light defect時，較不易漏檢。,(3)注意事項,黑色區域不需檢驗。,回主選單按這裡,Hamster,
