激光在精密测量中.doc

第六章 激光在精密测量中的应用激光由于有优异的单色性、方向性和高亮度，使它在多方面得到应用。例如，激光在加工工业中被用来完成打孔、焊接、切割、快速成型，在医学中制造了激光手术刀、激光近视眼治疗仪、激光辐照仪，在IT产业中大量用来做光通讯、光存储、光信息处理的光源，在近代的科学研究中用于受控核聚变、光谱分析、操纵原子、诱导化学反应、乃至探索宇宙的起源，但是其最早期的应用还是在计量领域。尤其因为它可以与自然基准光的波长直接相联系，实现高精度测量，在长度测量领域得到了大量的应用。以下本书将要对激光在各方面的应用进行讨论，本章首先介绍激光在精密测量中的应用。激光的高度相干性使它一经发明就成为替代氪86作为绝对光波干涉仪的首选光源，经过四十年的发展，激光干涉计量已经走出实验室，成为可以在生产车间使用的测量检定标准，激光衍射测量也成为许多在线控制系统的长度传感器。激光的良好方向性和极高的亮度不仅为人们提供了一条可见的基准直线，而且为长距离的光电测距提供了可能。激光同时具有高亮度和高相干性使得光的多普勒效应能够在测速方面得到应用。激光雷达则综合应用了激光的各方面的优点，成为环境监测的有力武器。激光干涉测长干涉测量技术是以光的干涉现象为基础进行测量的一门技术。在激光出现以后，加之电子技术和计算机技术的发展，隔振与减振条件的改善，干涉技术得到了长足进展。干涉测量技术大多数是非接触测量，具有很高的测量灵敏度和精度，而且应用范围十分广泛。常用的干涉仪有迈克尔逊干涉仪、马赫曾德干涉仪、菲索干涉仪、泰曼格林干涉仪22-24等；70年代以后，具有良好抗环境干扰能力的外差干涉仪，如双频激光干涉仪25-27、光纤干涉仪也很快的发展了起来。激光干涉仪越来越实用，其性能越来越稳定，结构也越来越紧凑。6.1.1 干涉测长的基本原理激光干涉测长的基本光路是一个迈克尔逊干涉仪（如图6-1示）,用干涉条纹来反映被测量的信息。干涉条纹是接收面上两路光程差相同的点连成的轨迹。激光器发出的激光束到达半透半反射镜P后被分成两束，当两束光的光程相差激光半波长的偶数倍时，它们相互加强形成亮条纹；当两束光的光程相差半波长的奇数倍时，它们相互抵消形成暗条纹。两束光的光程差可以表示为 (6-1)P光束1单模稳频He-Ne激光器光电计数器显示记录装置待测物体激光束光束2光电显微镜迈克尔逊干涉仪M1M2可移动平台图6-1 激光干涉测长仪的原理图式中分别为干涉仪两支光路的介质折射率；分别为干涉仪两支光路的几何路程。将被测物与其中一支光路联系起来，使反光镜M2沿光束2方向移动，每移动半波长的长度，光束2的光程就改变了一个波长，于是干涉条纹就产生一个周期的明、暗变化。通过对干涉条纹变化的测量就可以得到被测长度。被测长度与干涉条纹变化的次数和干涉仪所用光源波长之间的关系是 （6-2）式（6-2）是激光干涉测长的基本测量方程。从测量方程出发可以对激光干涉测长系统进行基本误差分析 （6-3）式中分别为被测长度、干涉条纹变化计数和波长的相对误差。这说明被测长度的相对误差由两部分组成，一部分是干涉条纹计数的相对误差，另一部分是波长也就是频率的相对误差。前者是干涉测长系统的设计问题，不是本书研究的内容。后者除了与前面讲过的激光稳频技术有关之外还与环境控制，即对温度、湿度、气压等的控制有关。因此激光干涉测长系统测量误差必须根据具体情况进行具体分析。6.1.2 激光干涉测长系统的组成 除了迈克尔逊干涉仪以外，激光干涉测长系统还包括激光光源，可移动平台，光电显微镜，光电计数器和显示记录装置。激光光源一般是采用单模的He-Ne气体激光器，输出的是波长为纳米的红光。因为氦氖激光器输出激光的频率和功率稳定性高，它以连续激励的方式运转，在可见光和红外光区域里可产生多种波长的激光谱线，所以氦氖激光器特别适合用作相干光源。为提高光源的单色性，对激光器要采取稳频措施。可移动平台携带着迈克尔逊干涉仪的一块反射镜和待测物体一起沿入射光方向平移，由于它的平移，使干涉仪中的干涉条纹移动。光电显微镜的作用是对准待测物体，分别给出起始信号和终止信号，其瞄准精度对测量系统的总体精度有很大影响。光电计数器则对干涉条纹的移动进行计数。显示和记录装置是测量结果的输出设备，显示和记录光电计数器中记下的干涉条纹移动的个数及与之对应的长度，可以用专用计算机或也可以用通用的PC机替代。迈克尔逊干涉仪是激光干涉测长系统的核心部分，其分光器件、反射器件和总体布局有若干可能的选择。干涉仪的分光器件原理可以分为分波阵面法、分振幅法和分偏振法。常用的分光器有分振幅平行平板分光器（图6-1）和立方棱镜分光器。其中立方棱镜分光器上还可以胶合干涉仪的其他元件，组成整体式干涉仪布局，能与系统的机座牢固连接减少误差。在偏振干涉仪系统中需要采用偏振分光器（参见图6-6B2），它由一对玻璃棱镜相胶合而成，在其中一块棱镜的胶合面上蒸镀偏振分光膜，得到高度偏振的S分量反射光和P分量透射光。偏振分光器也可由晶轴正交的偏光棱镜组成,如沃拉斯顿棱镜。干涉仪中常用的反射器件中最简单的是平面反射器，这种器件的偏转将产生附加的光程差，在采用多次反射以提高测量精度的系统或长光程干涉仪中此项误差不可忽略。角锥棱镜反射器（图6-2a）的反射光与入射光反向平行，具有抗偏摆和俯仰的性能，可以消除偏转带来的误差，是干涉仪中常用的器件。直角棱镜反射器（图6-2b）只有两个反射面,加工起来比较容易，并只对一个方向的偏转敏感。猫眼反射器（图6-2c）由一个透镜L和一个凹面反射镜M组成，反射镜放在透镜的焦点处，若反射镜的曲率中心C与透镜的光心C重合，当透镜和反射镜一起绕着C旋转时，光程保持不变。猫眼反射器的优点是容易加工和不影响偏振光的传输，而且在光程不太长时还可以用平面反射镜代替凹面反射镜，更容易加工与调整。ABCOEF正入射斜入射LMCC(a)(b)(c)图6-2 (a) 角锥棱镜反射器；(b) 直角棱镜反射器；(c) 猫眼反射器 激光干涉仪光路的总体布局也有若干可能的选择。在激光干涉仪光路设计中，一般遵循共路原则，即测量光束与参考光束尽量走同一路径,以避免大气等环境条件对两条光路影响不一致而引起的测量误差。典型光路布局有使用角锥棱镜反射器的常用的光路布局，如图6-3示。图6-3a中角锥棱镜可使入射光和反射光在空间分离一定距离，这种光路可避免反射光束返回激光器，以免返回光束引起激光输出频率和振幅的不稳定。角锥棱镜具有抗偏摆和俯仰的性能，可以消除测量镜偏转带来的误差。但是这种成对使用的角锥棱镜要求配对加工，而且加工精度要求高，因此也可采用一个角锥棱镜作为可动反射镜（图6-3b）。参考光路中还可用平面反射镜作固定反射镜。使用一个角锥棱镜作可动反射器还可采用其他几种光路。如图6-3c所示的双光束干涉仪，它也是一种较理想的光路布局，基本上不受镜座多余自由度的影响，而且光程增加一倍。其它光路布局还有整体式布局、光学倍频布局、零光程差的结构布局等，各有其特点和用途。(a)(b)(c)图6-3 (a) 双角锥棱镜光路；(b) 单角锥棱镜光路；(c) 双光程光路激光干涉测长系统的另一个重要组成部分是干涉条纹计数与测量结果处理系统。干涉仪在实际测量位移时，由于测量反射镜在测量过程中可能需要正反两个方向的移动，或由于外界振动，导轨误差等干扰，使反射镜在正向移动中，偶然有反向移动，所以干涉仪中需设计方向判别部分，将计数脉冲分为加和减两种脉冲。当测量镜正向移动时所产生的脉冲为正脉冲，而反向移动时所产生的脉冲为减脉冲。将这两种脉冲送入可逆计数器进行可逆计算就可以获得真正的位移值。如果测量系统没有判向能力，光电接收器接收的信号是测量镜正反两方向移动的总和，就不代表真正的位移值。另外为了提高仪器分辨力，还要对干涉条纹进行细分。为达到这些目的，干涉仪必须有两个位相差为90度的电信号输出，一个按光程的正弦变化，一个按余弦变化。所以，移相器也是干涉仪测量系统的重要组成部D1D2BM2M1M2ID1D2图6-4 机械法移相原理图分。常用的移相方法有机械移相（图6-4），翼形板移相，金属膜移相和偏振法移相。干涉条纹计数时，通过移相获得两路相差/2的干涉条纹的光强信号，该信号经放大，整形，倒向及微分等处理,可以获得四个相位依次相差/2的脉冲信号（图6-5）。若将脉冲排列的相位顺序在反射镜正向移动时定为1、2、3、4，反向移动时定为1、4、3、2；后续的逻辑电路便可以根据脉冲1后面的相位是2还是4判断脉冲的方向，并送入加脉冲门或减脉冲门，便实现了判向的目的。同时经判向电路后，将一个周期的干涉信号变成四个脉冲输出信号。实现干涉条纹的四倍频计数，相应的测量方程变为 （6-4）661233445566789sincossin-sin-coscos21431干涉条纹；2移相系统；3光电接收器；4放大器；5倒相 6微分电路；7可逆计数器；8计算机；9显示器图6-5 判向计数原理6.1.3 激光外差干涉测长技术 激光的发明和应用使干涉测长技术提高了精度，扩大了量程并且得到了普及，但是使干涉测长技术走出实验室进入车间，成为生产过程质量控制设备的是激光外差干涉测长技术，具体来讲就是双频激光干涉仪。激光干涉仪产生的干涉条纹变化频率与测量反射镜的运动速度有关，在从静止到运动再回到静止的过程中对应着频率从零到最大值再返回到零的全过程，因此光强转化出的直流电信号的频率变化范围也是从零开始的。这样的信号只能用直流放大器来放大处理。但是在外界环境干扰下，干涉条纹的平均光强会有很大的变化，以至于造成计数的错误。所以一般的激光干涉仪抗干扰能力差，只能在恒温防振的条件下使用。为了克服以上缺点，可以在干涉仪的信号中引入一定频率的载波，使被测信号通过这一载波来传递，使得干涉仪能够采用交流放大，隔绝外界环境干扰造成的直流电平漂移。利用这种技术设计的干涉仪称作外差干涉仪，或交流干涉仪。产生干涉仪载波信号的方法有两种，一种是使参与干涉的两束光产生一个频率差，这样的两束光相干的结果会出现光学拍的现象，转化为电信号以后得到差频的载波，另一种是在干涉仪的参考臂中对参考光束进行调制，与测量臂的光干涉直接生成载波信号。前者称为是光外差干涉，而后者常常称作是准外差干涉。本节以前一种原理的双频激光干涉仪为主来介绍激光外差干涉测长技术。双频激光干涉仪的光路如图6-6所示，其中氦氖激光器上沿轴向施加以磁场，由于塞曼效应激光被分裂成有一定频率差的左旋偏振光和右旋偏振光（常用的双频激光干涉仪把这一频差设计成）。通过1/4波片后，和变成相互垂直的线偏振光，又被分束镜分成两束,其中一束反射到主截面与相互垂直的两线偏振光偏振方向成45°的检偏器，产生拍频信号。光电探测器对两倍光频的和频信号没有响应，接收到的只是频率为的参考差频信号。另一束光透过分束镜向前传播进入偏振分光棱镜后，偏振方向垂直纸面的被完全反射，偏振方向在纸面内的完全透射。再经由参考臂反射镜和测量臂反射镜反射回来合束，通过类似检偏器的检偏器，产生的拍频信号被光电探测器接收。由于测量反射镜以速度运动，光的多普勒效应使由返回光的频率产生多普勒频移（正负号取决于测量反射镜的运动方向），接收到的测量信号频率为。将测量信号与参考信号进行同步相减便得到多普勒频移，多普勒频移对测量时间积分，也就是说进行累计计数就可以测出测量反射镜的位B11激光器M1M2B2P2D2P1D1V211/4波片122±1-21-(2±)2图6-6 双频激光干涉仪光路图移量。测量反射镜运动产生的多普勒频移可以表示为 （6-5）式中为光速，为光波长。若测量所用时间为，则测量镜的位移量可由下式计算 （6-6）式中为记录下来的累计脉冲数。双频激光干涉仪的被测信号是作为频率调制加在载频之上的，一般应小于载频的三分之一，因此对应的多普勒频移不能超过，允许的最大测量速度约为。这样一来，处理电路的工作频率可以设定在之间，从而滤掉小于的全部噪声。6.1.4 激光干涉测长应用举例28激光干涉测长除了测量长度还可以测量各种能够转化为被测长度的物理量,比如长度计量中的角度，再如压力、温度、折射率等。本节以角度和折射率测量为例来说明激光干涉测长的应用。1. 激光测角激光测角的原理与小角度干涉仪类似,都是采用三角正弦原理。如图6-7所示, 双频激光器发出的相互垂直的线偏振光进入偏振分光棱镜组1后被分离成为相距为R的两个平行光束,分别射向角锥棱镜组件2的角锥棱镜和。平移一段距离后沿原方向返回，在分光棱镜组上重新汇合，经过检偏器3和3 在光电接收器4和4 形成差频信号。当角锥棱镜组件2移动过程中发生转动，角锥棱镜和反射回来的光的多普勒频移和不再相同，由此可通过下式得到被测的转角 （6-7）双频激光干涉仪的测角分辨率为,测量范围可达。5675ABRL1233441偏振分光棱镜组；2角锥棱镜组；3、3检偏器；4、4光电接收器；5、5放大器；6倍频和计数卡；7计算机图6-7 双频激光干涉仪测量角度原理图2. 激光测气体折射率激光测折射率也利用双频激光干涉技术，其光路如图6-8。从激光器发出的正交线偏振光在分光镜的前后表面上分成两束，每束均包含有两种频率。其中一束在真空室4中通过，另一束在真空室外通过，两者相互平行，经角锥棱镜6返回。两次在真空室中通过的光在1/4波片上经过两次，相当于通过一次1/2波片，线偏振光的偏振面转过90度。真空室内外的两束光在分光镜上重新汇合后，又在偏振分光棱镜1上分光。同方向的光振动被分到一个光电接收器上形成拍频信号。得到的两路拍频信号的频率分别为178223456921±n12±n11-2±n1-2±n图6-8 双频激光干涉仪测量空气折射率和（式中为抽气造成的多普勒频移）。测量过程开始时，真空室内外充以同样的气体，随着抽气的过程，真空室内的气体越来越少，最后变成折射率为1的真空状态。测量结果就是气体折射率造成的两路光程差，根据已知的真空室长度不难计算出测量过程开始时的气体折射率。设真空室长度为，激光在真空中的波长为，则被测气体折射率可以用记录下来的累计条纹数表示为 （6-8）实际上，上述方法可以用来对折射率变化做适时监测，并可以进一步转化为气体温度、压力、湿度乃至气体中某些成分变化的精密监测。激光衍射测量衍射是波在传播途中遇到障碍物而发生偏离直线传播的现象。由于光的波长较短，只有当光通过很小的孔或狭缝，很小的屏或细丝时才能明显的察觉到衍射现象。因此反过来，当观察到明显的衍射现象时，产生衍射的物体是很小的。这就告诉人们，衍射现象可以用作精密测量。但是观察到明显的衍射现象需要一个基本条件，即高度的相干性。用普通光源只能在条件很好的实验室中才能观察到可供测量的衍射图象。激光发明后高度的相干性变得很容易获得，因此衍射测量变成一种普通的可用于生产现场的精密测量手段。激光衍射测量方法同时具有非接触、稳定性好、自动化程度及精度高等优点，因而被广泛应用。 6.2.1 激光衍射测量原理光的衍射现象，按衍射物和观察衍射条纹的屏幕(即衍射场)之间的位置关系一般分为两种类型：菲涅耳衍射和夫琅和费衍射，前者是有限距离处的衍射现象，即观察屏到衍射物的距离比较小的情况，也称近场衍射。后者是无限距离处的衍射现象，在观察屏离衍射物可以近似做无限远时才能观察到，也称远场衍射。因为透镜的后焦面的共轭面就在无限远处，所以用透镜可以观察到准确的夫琅和费衍射。在实际的衍射测量系统中透镜得到广泛的应用。用于衍射测量系统的衍射物通常只有两种，一种是单缝，一种是圆孔。以下从介绍单缝和圆孔衍射测量原理29出发对激光衍射测量方法进行全面讨论。1. 单缝衍射测量(1)单缝衍射测量的原理激光单缝衍射测量的基本原理是单缝夫琅和费衍射，图6-9为其原理图。用激光束照射被测物与参考物之间的间隙，当观察屏与狭缝的距离L>>b2/时，形成单缝远场衍射,在观察屏上看到清晰的衍射条纹。条纹的光强可表示为 （6-9）式中, 为衍射角，是时的光强，即光轴上的光强。由上式可以得出，当=±,±2,±n时，出现的一系列I=0的暗条纹。测定任一个暗条纹的位置及其变化就可以精确知道被测间隙b的尺寸及尺寸的变化，这就是衍射测量的基本原理。参考物被测物L激光观察屏IbI0图6-9 衍射测量原理图 (2)单缝衍射测量的基本公式对第k个衍射暗条纹有,即,当不大时, （式中xk为第k级暗条纹中心距中央零级条纹中心的距离）。所以 （6-10）上式就是衍射测量的基本公式。当用测量时，已知、 ，测定出第个暗条纹的，便可由上式算出间隙的精确尺寸。当被测物体尺寸改变时，相当于狭缝尺寸改变，衍射条纹的位置也随之改变,可得 （6-11）式中分别为起始缝宽和变化后的缝宽；分别为第个暗条纹的起始位置和变化后的位置。 (3)单缝衍射测量的分辨力、精度和量程测量分辨力是指激光衍射测量能分辨的最小量值，即测量能达到的灵敏度。把衍射测量基本公式改写为再进行微分，得到衍射测量的相对灵敏度 （6-12）这表明缝宽越小、 越大、激光波长越长、所选取的衍射级次越高，则越小，测量分辨力越高，测量就越灵敏。如果取=1000mm，=0.1mm，=4，=m，代入上式得到t=1/250。这就是说通过衍射，使的变化量放大了250倍。如果的测量分辨力是0.1mm，则衍射测量能达到的分辨力为m。从式（6-10）可知,衍射测量的测量精度决定于,和的测量精度。对其进行微分，用仪器的随机误差理论进行处理，可得到的衍射测量误差 （6-13）式中为激光器输出波长的变化量， 为观察屏的位置误差， 为衍射暗条纹位置的测量误差。氦氖激光器波长稳定度一般优于10-6, 可不予考虑，衍射测量误差主要是和的测量误差。一般情况下, 和不超过%。如果取=1000mm，=，k=3， =10mm，从前式得到b=±。此时的狭缝宽度b=0.19mm，则b/b=±×10-3。实际测量中还包括环境因素的影响，衍射测量可达到的精度一般在±m左右。式（6-12）表示的衍射测量相对灵敏度是激光衍射放大倍数的倒数。它说明缝宽越小，衍射效应越显著，光学放大比越大；缝宽越大，条纹密集，测量灵敏度低。实际上当b>>0.5mm时，放大倍数太小，衍射测量就失去意义。另一方面为了满足夫琅和费衍射条件L>>b2/，L一定后，被测最大缝宽b已被限定，如果L=1000mm，则b<<0.8mm。说明增大L可以扩大量程，但L增大往往受仪器结构和体积的限制。所以衍射测量仪器的量程一般为到0.5mm。2.圆孔衍射测量当平面光波照射的开孔为圆形时，其远场的夫琅和费衍射像是中心为一圆形亮斑，外面绕着明暗相间的环形条纹。1232aPIf´图6-10 圆孔衍射1圆孔；2会聚透镜；3接收屏图（6-10）表示了圆孔的夫琅和费衍射原理，接收屏上衍射条纹的光强分布为 （6-14）式中J1(x)为一阶贝赛尔函数, 为激光波长, 为圆孔半径, 为衍射角。当J1(x)=0时可求得条纹极小值。衍射图中央是亮斑（爱里斑），它集中了84%左右的光能量。设中心亮斑(即第一暗环)的直径为，因,所以 （6-15）式中, 为会聚透镜的焦距。当已知和时，测定就可以由上式求出圆孔半径。因此，测定爱里斑的大小或其变化可以精密地测定或分析微小内孔的尺寸。6.2.2 激光衍射测量的方法22，23，28在实际应用中，基于单缝衍射的各种测量方法大都根据式（6-10）。而基于圆孔衍射的测量方法根据式（6-15），通过计算衍射暗条纹（暗环）间距来确定被测量。具体的测量方法有如下几种。1. 间隙测量法参考边激光b(a)激光b参考物R(b)参考边激光b试件P(c)图6-11 间隙测量法的应用 (a) 比较测量；(b) 测量轮廓；(c) 测量应变 间隙测量法基于单缝衍射的原理，是衍射测量的基本方法。可以用作尺寸的比较测量,如图6-11（a）。先用标准尺寸的工件相对参考边的间隙作为零位，然后放上工件，测定间隙的变化量而推算出工件尺寸。还可作工件形状的轮廓测量，如图6-11（b）。同时转动参考物和工件,由间隙变化得到工件轮廓相对于标准轮廓的偏差。也可以作为应变传感器使用，如图6-11（c）。当试件上加载力P时，引起单缝的尺寸变化，从而可以用测量衍射条纹的变化得到应变量。 间隙测量法可按式（6-10）通过测量xk来计算间隙宽度，也可通过测定两个暗条纹之间的间隔值来得到间隙宽度。用间隙测量法测量位移时,即测量狭缝宽度b的改变量,可采用绝对法,求出变化前后的两个缝宽b和b，然后相减。也可以用增量法。后者所用公式为 （6-16）式中，是通过某一固定的衍射角来记录条纹的变化数目。因此只要测定N就能求得位移值。这种情况类似于干涉仪的条纹计数。间隙法作为灵敏的光传感器可用于测定各种物理量的变化，如应变，压力，温度，流量，加速度等。2. 反射衍射测量法反射衍射是利用被测物的边缘和反射镜构成的狭缝来进行衍射测量的，图6-12所示为其原理。在P点处出现第级暗条纹的光程差应满足 （6-17）式中为入射的平行激光束与反射镜之间夹角，为衍射角即由狭缝与反射镜交点和P点连线与满足反射定律的反射光线之间夹角。在该图的几何关系下缝宽可以表示为 （6-18）式（6-18）表明，由于反射的原因，测量灵敏度提高了一倍。反射衍射技术主要用于表面质量评定、直线性测定、间隙测定等方面。这种方法易于实现检测自动化，其检测灵敏度可达。AA2bbLIPXk12341棱缘；2镜像棱缘；3反射表面；4接收屏图6-12 反射衍射法原理图3. 分离间隙法在实际测量中，常会遇到组成狭缝的两边不在同一平面内即存在一个间隔的情况。此时衍射图出现不对称现象。利用参考物与被测物不在同一平面内情况下所形成的衍射条纹进行精密测量的方法称为分离间隙法。分离间隙法的测量原理如图6-13所示，测量出正负不同级次和上的暗条纹的位置和即可由下式计算出狭缝宽度和间隔P1xk1AA1123LP2b4zxk2A112图6-13 分离间隙法原理图 （6-19） 4. 互补测量法D1D2图6-14 Babinet 互补屏激光互补衍射测量法的原理是巴俾涅定理。图6-14所示为两个互补衍射屏。用平面光波照射这两个屏时，产生的衍射图形的形状和光强完全相同，仅位相相差，这就是巴俾涅互补定理。利用互补原理，可以对各种细金属丝(如漆包线,钟表游丝等)和薄带的尺寸进行高精度的非接触测量，其结果与测量狭缝相同。互补测量法测量细丝直径的范围一般是-0.1mm，测量精度可达到m。5. 爱里斑测量法123456789L1激光器；2被测孔；3分光镜；4、6衍射图；5、7光电接收器；8电压比较器；9显示器图6-15 喷丝头孔径的Ariy斑测量原理基于圆孔夫朗和费衍射的测量方法称作爱里斑测量法。通常用爱里斑中归一化光强的大小的测量来确定被测孔的直径。图6-15是用爱里斑测量人造纤维或玻璃纤维加工中的喷丝头孔径的原理图。测量仪器和被测件作相对运动，以保证每个孔顺序通过激光束。通常不同的喷丝头，其孔的直径约在10-90m范围之内。由激光器1发出的激光束，照射到被测孔2上，通过孔以后的衍射光束由分光镜3分成两部分，分别照射到光电接收器5和7上，两接收器分别将照射在其上的衍射图案4、6的光信号转换成电信号送到电压比较器8中。然后由显示器9进行输出显示。通过微孔衍射所得到的明暗条纹的总能量，可以认为不随孔的微小变化而变化。但是衍射图案的强度分布(分布面积)是随孔径的变化而急剧改变的。因而，在衍射图上任何给定半径内的光强度，即所包含的能量，是随激光束通过孔的直径变化而显著变化的。因此，需使光电接收器5接收被分光镜反射的衍射图的全部能量，使它所产生的电压幅度可以作为不随孔径变化的参考量。光电接收器7只接收爱里斑圆中心的部分光能量，通常选取爱里斑圆面积的一半，其接收的光能随被测孔径的变化和爱里斑圆面积的改变而改变，从而输出电压幅值改变。电压比较器将光电接收器5和7的电压信号进行比较从而得出被测孔径值。6.2.3激光衍射测量的应用激光衍射测量的成功实例很多，这里只举两个例子加以说明。1. 薄膜材料表面涂层厚度测量薄膜材料表面涂层厚度测量是使用分离间隙法，图6-16所示为其原理。被测件4是表面有可塑性涂层的纸质材料或聚脂薄膜，滚筒6用于传送被测薄膜。激光器1发出的激光束经柱面透镜2和3扩展，以宽度的入射光束照射由薄膜表面和棱缘7组成的狭缝。为便于安装被检薄膜，棱缘7和薄膜表面错开一定距离；调整柱面透镜2和3之间的距离，使通过狭缝后的衍射光聚焦于预定距离处，衍射条纹16垂直于狭缝展开；光电探测器14由光电二极管组成，置于一给定的位置处，将衍射条纹的光强信号变换为电信号，并经放大器13后，由显示器10显示。一般选取第二级或第三级暗条纹作为检定定位条纹。调节棱缘7改变缝宽，使定位条纹进入光电二极管。测量开始时将没有涂层的薄膜通过滚筒，调整显示器使之为零。当有涂层的薄膜通过滚筒时，狭缝宽度变小，条纹位置移动，显示器显示出涂层的厚度。利用测微计可以测出棱缘7的移动量，模拟涂层引起的缝宽的变化量，对仪器进行校准。干涉滤光片15用来消除杂散光的影响，容性滤波网络12起平均滤波作用，驱动马达9由探测电路控制，在仪器调整过程中，带动棱缘移动直到对准定位条纹。图6-16薄膜材料表面涂层厚度测量显示器显示的是涂层厚度相对于标准涂层厚度的偏差，当涂层厚度为标准值时，显示为零。这种检测仪可以稳定的分辩出m的变化。2. 薄带宽度测量钟表工业中的游丝以及电子工业中的各种金属薄带(一般宽度在1毫米)以下，均可利用激光衍射互补测量法进行测量。在测量时要求薄带相对激光束的光轴有准确的定位，否则将引起测量误差。只有当薄带面严格垂直于激光束光轴时，测得的值是准确的带宽，不允许薄带有相对的转动。因此，为了保证薄带相对于激光束轴线的准确位置，必须在薄带的测量装置中装有定位装置。图6-17是薄带宽度测量原理图。激光器1发出的激光束经过反射镜2和半反射镜3转向，照射在宽度为b，厚度为t的薄带5上(b>>t)。在距离为L的接收屏上得到随薄带宽度b的尺寸而变化的衍射条纹6。通过测量条纹之间的间距s，求得薄带宽度b。为保证薄带和激光束互相垂直的准确位置，薄带表面的反射光通过半反半透镜3照射到定位指示光电二极管4上，薄带的转动将引起光点在光电二极管上位置的变化，由其发出bt123456LsX2sk=+1k=-11激光器；2反射镜；3半反半透镜；4光电二极管；5被测薄带；6衍射条纹bABC激光束图6-17 薄带宽度测量原理图信号使调整机构调整薄带复位，达到准确定位。如果选取中心亮条纹作为测量对象，须测量k=+1和k=-1两个暗点之间的距离。设此距离为X，则X=2s。当L为足够大时，带宽的计算公式为 ，测得距离X或其变化量，即可求出带宽b或其变化量。 激光测距在生产实践和科学研究中，常常会遇到测量距离的问题。如在大地测量和地质勘探中，需要测出两个山头之间的距离；在建造大桥时，则需要测量大江两岸的间隔。而在军事上，炮位的瞄准、远距离打击等更离不开距离的正确测量。光电测距是较早提出的一种物理测距方法，早在四十年代末五十年代初就制成了光电测距仪并实际应用于地面目标之间距离的测量。但是，当时的光电测距仪，受到了光源的亮度与单色性的限制，没有能得到很大的发展。六十年代初期，激光的出现对光电测距仪的发展起了极大的推动作用。激光亮度高、单色性好、方向性强、光束狭窄，是光电测距仪的理想光源。与其他测距仪（如微波测距仪、光电测距仪等）相比，激光测距仪30具有探测距离远、测距精度高，抗干扰性强、保密性好以及体积小、重量轻、重复频率高等特点。在成功地进行了月球和人造地球卫星的激光测距后，各种民用和军用激光测距仪历经几代的研究改进，现已大量用于实际工作中。不同于激光测长，激光测距测量的长度要大得多。若按测程划分，激光测距大体有如下三类：短程激光测距仪，它的测程仅在五公里以内，适用于各种工程测量；中长程激光测距仪，测程为五至几十公里，适用于大地控制测量和地震预报等；远程激光测距仪，用于测量导弹、人造卫星、月球等空间目标的距离。根据测量方法，激光测距又可分为脉冲测距法和相位测距法，前者测量精度比较低，适用于军事及工程测量中精度要求不太高的场合；后者测量精度比较高，在大地和工程测量中得到了广泛的应用。下面按照后一种分类分别介绍脉冲测距和相位测距。6.3.1激光脉冲测距1 激光脉冲测距原理因为光速是个常数，而光又沿着直线传播，只要测量出光束在待测距离上往返传播的时间就可以计算出两点之间的直线距离。激光脉冲测距原理就是通过发射激光脉冲控制计时器开门，接收返回的激光脉冲控制计时器关门，测量出激光光束在待测距离上往返传播的时间，完成测距的。其计算公式为： （6-20）式中d为待测距离；c为激光在大气中的传播速度；t为激光在待测距离上的往返传播时间。2 激光脉冲测距仪的结构激光脉冲测距仪的简化结构如图（6-18）所示。它的工作过程大致如下：当测距仪对准目标后，激光器就发出一个很强很窄的光脉冲。这个光脉冲经过发射望远镜压缩发散角。以红宝石激光器为例，它的光束发散角一般是几个毫弧度，经过发射望远镜，压缩到零点几个毫弧度。这样的光脉冲射到十公里远的地方，只有几米直径的一个光斑。在光脉冲发射出去的同时，其中极小一部分光立即由两块反射镜反射而进入接收望远镜，经过滤光片到达光电转换器变成电信号，亦即光脉冲变成电脉冲。这个电脉冲经过放大整形后送入时间测量系统，使其开始记时。而射向目标的光脉冲，由于目标的漫反射作用,总有一部分光从原路返回来，而进入接收望远镜，它同样也经过滤光片、光电转换器、放大整形电路而进入时间测量系统，使其停止计时。时间测量系统所记录的时间，再经过计算在显示器上直接给出测距仪到目标的距离。3. 激光脉冲测距仪对光脉冲的要求 为了扩大测量范围，提高测量精度，测距仪对光脉冲应有以下要求：(1) 光脉冲应具有足够的强度。无论怎样改善光束的方向性,它总不可避免的要有一定的发散,再加上空气对光线的吸收和散射，所以目标越远，反射回来的光线就越弱，甚至根本接收不到。为了测出较远的距离，就要使光源能发射出较高功率密度的光强。电 源激光器发射望远镜发射激光反射镜反射激光束接收望远镜光电元件放大整形时间测量显示器滤光片图6-18 激光脉冲测距仪的简化结构图(2) 光脉冲的方向性要好。这有两个作用，一方面可把光的能量集中在较小的立体角内，以射得更远一些同时提高保密性；另一方面可以准确地判断目标的方位。(3) 光脉冲的单色性要好。因为无论是白天还是黑夜，空中总会存在着各种杂散光线，这些光线往往会比反射回来的光信号强的多。假如这些杂散光和光信号一起进入接收系统，那就根本无法进行测量了。图（6-18）中的滤光片的作用是只允许光信号的单色光通过而不让其他频率的杂散光通过。显然，光脉冲的单色性越好，滤光片的滤光效果也就越佳，这样就越能有效的提高接收系统的信噪比，保证测量的精确性。(4) 光脉冲的宽度要窄。所谓光脉冲的宽度，是指闪光从“发生”到“熄灭”之间的时间间隔。光脉冲的宽度窄一点，就可以避免反射回来的光和发射出去的光重叠起来。由于光速很快，假如目标离测距仪15km，则光脉冲往返一个来回只需要万分之一秒，因此光脉冲的宽度要远小于万分之一秒才能正常测量，若要测更近的距离，则光脉冲还要更窄才行。目前用于测距仪的激光器有红宝石激光器、钕玻璃激光器、二氧化碳激光器、半导体激光器等多种。一般在远距离的测距仪中，常见的脉冲光源是固体激光器；近距离的测距仪则多用半导体激光器。4激光巨脉冲的产生