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    双极型制作工艺课件.ppt

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    双极型制作工艺课件.ppt

    双极型逻辑集成电路,1-1 电学隔离(1)反偏PN结隔离(2)全介质隔离(3)混合隔离元件,所有晶体管的集电极都在外延层上,隔离的目的是使不同隔离区的元件实现电隔离。,第一章 双极型集成电路制作工艺,(1)反偏PN结隔离 通过外延,选择性扩散等工艺方法,将芯片划分为若干个由P区包围的N型区,P区接电路中的最低电位,使PN结反偏。利用反偏PN结对器件进行隔离。,反偏PN结隔离工艺简单占芯片面积较大且受反向漏电影响,隔离效果不是最佳 寄生电容较大MOSFET可以利用自身的PN结实现电学隔离,(2)全介质隔离用SiO2将要制作元件的N型区(或P型区)包围起来,实现隔离,N,N,全介质隔离 隔离效果好工艺复杂(需要反外延,磨片等工艺),生产周期长,成品率低,成本高(主要用于高压和抗辐射等特殊领域的集成电路),(3)混合隔离元件四周采用介质隔离,而底部用反偏PN结隔离,混合隔离可以使元件的图形尺寸缩小,芯片面积利用率得到提高,(现已广泛采用这种方法)在保证电路正常的工作情况下,尽量减少隔离岛的数目,是IC 版图设计中必须考虑解决的问题,埋层(埋层氧化),1-2 pn结隔离集成电路工艺流程,初始氧化,热生长厚度约为5001000nm的氧化层,(提供集电极电流的低阻通路),埋层(埋层光刻),光刻,利用反应离子刻蚀技术将光刻窗口中的氧化层刻蚀掉,并去掉光刻胶,埋层(埋层扩散),进行大剂量As+注入并退火,形成n+埋层,埋层(去氧化层),利用HF腐蚀掉硅片表面的氧化层,外延层(外延生长),将硅片放入外延炉中进行外延,外延层的厚度和掺杂浓度一般由器件的用途决定,隔离(隔离氧化),隔离(隔离光刻),隔离(隔离扩散),隔离(去氧化层),基区(基区氧化),基区(基区光刻),基区(基区扩散),基区(去氧化层),发射区(发射区氧化),发射区(发射区光刻),发射区(发射区扩散),发射区(去氧化层),金属连线(引线氧化),金属连线(接触孔光刻),金属连线(蒸铝),金属连线(引线光刻),合金:使Al与接触孔中的硅形成良好的欧姆接触,一般是在450、N2-H2气氛下处理2030分钟形成钝化层在低温条件下(小于300)淀积氮化硅刻蚀氮化硅,形成钝化图形,反刻铝,小结:双极型集成电路制造中的光刻掩膜,一、集成电路中的纵向NPN管(1)PN结隔离的纵向NPN管,1-3 双极型IC中的元件,(2)混合隔离的纵向NPN管,N埋层用于降低集电极串连电阻,(3)小尺寸混合隔离的纵向NPN管,二、集成电路中的二极管,三、集成电路中的电阻 利用半导体材料的体电阻:,四、集成电路中的电容 PN结的反偏电容 平行板电容,N扩散区,1-4 IC元件结构和寄生效应,一、结构,纵向:四层三结结构:n+p n p 四层横向:由版图决定 表现各元件的相对位置,形状,几 何尺寸,互连线走向,发射结集电结隔离结,三结,等效电路,I,二、寄生效应,1、NPN管的寄生效应和分立器件不同,IC中晶体管包含有纵向寄生晶体管。实际中,由于要隔离,衬底总是接最低电位,寄生PNP管的集电结总是反偏。发射结、即NPN管的集电结:当NPN管在饱和区或反向工作区时,它正偏。这时寄生PNP管处于正向有源区。(在逻辑IC中,NPN管经常处于饱和或反向工作区)。于是有IEpnp分走IB流向衬底。减小乃至消除的方法:NPN集电区掺金:少子寿命,埋层:基区宽度,基区N+掺杂,注入效率,,横向寄生效应如一个n型岛内有两个P区,会形成横向PNP结构。可以借此制作PNP管如果不希望出现PNP效应,可拉大间距,或者n区接高电位。在多发射结NPN管中,会形成横向NPN结构,当一个发射结接高电平,其余接地时,该输入端电流会过大,这可通过版图设计解决串联电阻:引线孔在表面,集电极串联电阻大埋层,二、寄生效应,2.二极管中的寄生效应,IC中的二极管一般由NPN管构成,和1类似。,3.电阻的寄生效应,1)基区扩散电阻,2)沟道电阻,要使电流全部流经P区,n区应接最高电位。这样同一个n区中的多个电阻之间即不会形成PNP效应,也不会产生纵向PNP效应。,课堂练习:,P15/2 分析SiO2介质隔离集成晶体管的有源寄生效应和无源寄生效应,和PN结隔离相比有什么优点?,45,谢谢!,

    注意事项

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