膜厚测试仪操作MINITEST11002100说明书.doc

目录1.概述51.1应用51.2仪器概述51.2.1MINITEST110061.2.2MINITEST210061.3配置61.4速查卡61.5测头71.5.1测头结构71.5.2MINITEST测头一览72.MINITEST1100，2100使用前准备82.1检查电源82.2更换电池82.3选择测头92.4启动功能和仪器基本设置92.4.1总复位92.4.2LCD液晶显示器测试，检测LC显示的每一段92.4.3显示/调整时间和日期92.5仪器的基本设置102.5.1选择测量单位: 公制 / 英制112.5.2自动关机与非自动关机的选择112.5.3浮点小数和定点小数的选择112.5.4单值和批组统计之间的转换122.5.5数据存储的人工和自动模式之间的转换122.5.6连续模式中，测量稳定后数据才被显示和存储122.5.7ZERO，CAL，CTC，OFFSET锁定，锁定校准键122.5.8背景光照明选择(可选)122.5.9在连续模式下，保留最小测量值132.5.10单次测量和连续测量模式的转换133.校准及测量133.1校准133.1.1校准方式133.1.2保存校准值143.1.3校准举例143.1.4基体厚度的影响143.1.5提高校准精度153.1.6清洁测点153.1.7“嘀嘀”声鸣响信号153.1.8温度补偿特性153.2校准分述153.2.1使用标准校准153.2.2无箔的一点校准163.2.3两点校准(带有一片校准箔的零校准)173.2.4两点校准(用两片箔)183.2.5透过镀层校准193.2.6用FN2两用智能型探头的校准和测量203.2.7用N10和N20探头校准和测量203.2.8用N100探头校准和测量213.2.9用F20探头测量和校准233.2.10用F50探头测量和校准233.2.11用内孔探头F2/90等校准和测量233.2.12铜、铝、黄铜上的镀铬层的校准和测量243.2.13用CN02探头校准和测量243.2.14在喷丸表面校准和测量243.2.15调整基础校准值253.3测量和误差253.4使用脚踏开关264.测量统计264.1统计值的定义274.2为统计分析输入测量值284.3删除不正确的读数(参见12)284.4存储溢出284.5显示和打印统计值(无测量值)284.5.1单值统计模式284.5.2组统计模式294.6打印统计值和读数304.6.1单值统计模式304.6.2组统计模式305.删除315.1删除最后一个读数315.2删除统计值(对MINITEST 2100)325.3删除所有读数和相关的统计值、极限值、校准值326.在未接探头的情况下使用仪器327.MINIPRINT 4100数据打印机327.1换纸337.2更换色带337.3镍铬电池的快速充电347.4打印机自检348.连接个人电脑PC359.用个人电脑PC控制测厚仪3510.组合接口(连接脚踏开关,蜂呜器或提示灯,选件)3511.MINITEST与MINIPRINT接口3512.可选件3513.维护和保养3614.售后服务3615.其它仪表3616.故障排除3617.EC确认声明37操作手册涂层测厚仪MINITEST1100MINITEST2100打印机MINIPRINT4100MINITEST1100和2100型测厚仪，根据测头类型的不同，分别运用磁感应和涡流原理测量覆层厚度，并符合以下工业标准:DIN 50981、50982、50984；ASTM B499、B244；ISO 2178、2360；BS 5411。DIN 50981和50984已经被DIN EN ISO 2178和DIN EN ISO 2360所代替。1. 概述1.1 应用MINITEST1100和2100型测厚仪，是便携式、无损、快速、精确测量覆层厚度的精密仪器。主要应用于防腐、电镀、化工、汽车、造船、航空、轻工等行业，适合实验室、工厂和户外现场使用。配置不同的测头，适用于不同场合。与MINIPRINT打印机连接，可打印出所有读数和统计数据。MINITEST 1100 只能即时打印所有读数。F型测头根据磁感应原理，测量钢或铁基体上的非磁性覆层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、珐琅、橡胶等，也适合于合金和硬质钢。N型测头根据涡流原理，测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。FN两用测头同时利用磁感应原理和涡流原理，一支测头既可以用在铁磁性基体上，也可用在非铁磁性金属基体上。所有MINITEST1100/2100“智能型”测头能适合一些特殊要求，比如可适用于曲面结构或有特殊性质的材料。测头根据储存的相应信息，自动适应所需的条件。1.2 仪器概述在钢上测量时，MINITEST1100/2100利用电磁感应原理，在非铁磁性基体上测量时，基于涡流原理。键盘控制可转移至PC电脑，使之进入自动控制网络。测量值和用户信息显示在大型液晶显示器上。弱光时，显示器可选背景照明，确保阅读屏幕数据。1.2.1 MINITEST1100MINITEST 1100型可以方便地测量，测量值不存储、不统计。1.2.2 MINITEST2100MINITEST2100型的存储器阵列可自动存储10,000个以上读数。数据可打印和统计评估。1.3 配置主机、测头、零点样板、标准箔、碱电池和多语言操作手册。可选附件:· 特殊功能的测头· MINIPRIN2100便携打印机(带串行电缆)· 皮盒，或防尘罩· 程序软盘MSOFT41，运行于WINDOWS 95，用来处理MINITEST数据、统计值和直方图· MINITEST/PC的9/25针串行接口电缆· MINITEST/Mitutoyo打印机的串行电缆· 精密支架，用于高精度测量和小样本测量· 220VAC/12VDC电源· 110VAC/12VDC电源· 蓄电池和充电器(220VAC或110VAC)1.4 速查卡键盘说明和指令举例，见封二1.5 测头1.5.1 测头结构所有的测头(CNO2和特殊测头除外)都安装在套管里，以确保测头安全稳定地定位，并保持测头适当的接触压力。套管前端的V型槽可保证在凸面上准确测量。测量时须握住测头上套管，保持测头轴线与被测面垂直(见图)。测头的顶端，由耐用的硬质材料制成。1.5.2 MINITEST测头一览下表所列测头都可与MINITEST1100，2100连接区分测头类型的标志有:保护套颜色黑=F头红=N头绿=FN头测头说明书识别型号，代码，如F1(A1)测头的标识代码须与主机内存的数据相对应，当定购、更换测头时，须报出识别代码。切记:MINITEST1100/2100和测头是可以更换的。若用户有几台MINITEST主机和多只测头，则可根据需要进行各种组合。测头类型表型号量程适别代码F060600mmA0铁基体F1.601600mmA1F303000mmA1F1.6/9001600mmA4F2/9002000mmA4F10010mmA6F20020mmA8F50050mmAAFN1.601600mm80铁、非铁基体FN202000mm80N020200mmA2非铁基体N1.601600mmA3N202000mmA3N1.6/9001600mmA5N2/9002000mmA5N10010mmA7N20020mmA9N1000100mmB1CN0210200mmB4绝缘体上金属2. MINITEST1100，2100使用前准备2.1 检查电源1. 9V碱性电池、9V蓄电池或直流电源2. 按ON键，检查电池· 无LC显示，表示无电池，或蓄电池充电电压低，无法显示。须充电。· 无BAT显示，电池已充足电· BAT显示，主机1秒钟后自动关机。请迅速更换电池。如果在测量时，BAT不断地闪烁，表示电池电压低，须更换。否则LC显示屏会显示BAT，并在1秒后自动关机。注意：即使在电压低的时候，也不会作错误测量。2.2 更换电池1) 将主机翻转2) 用十字螺丝刀松下电池盒的螺丝3) 揭下盒盖4) 取出电池5) 置入新电池注意:确保正、负极无误，否则所有存储数据将会丢失。换电池时间间隔超过10秒也会使数据丢失(包括读数、校准值、时间和日期)6) 装上螺丝2.3 选择测头根据任务选择测头(请阅技术指标)，安上并拧紧。2.4 启动功能和仪器基本设置MINITEST1100和2100有些功能，只有在启动的时候才能起用:初始功能表功能按键组合总复位FUNC+CLEAR+ONLCD测试ñ+ON批处理目录列表APPL+ON调整时钟CAL+ON仪器选项设置FUNC+ON2.4.1 总复位总复位将消除所有存储数据，包括读数和统计数据，极限值，校准值。还将消除所有临时设置，并恢复到基本的Modi-设置。重新启动前须插上测头1) 关机2) 同时按CLEAR+FUNC+ON键，长长一声“嘀”表明功能已确认。2.4.2 LCD液晶显示器测试，检测LC显示的每一段1) 关机2) 同时按ñ+ON键，直到“嘀”一声，一直摁住ñ键即显示LC显示屏的所有部分。2.4.3 显示/调整时间和日期仪器的石英计时器，可将时钟信息转到MINIPRIN2100上，打印统计数据时即附有当时日期和时间。如需显示，调整日期和时间，其步骤如下:1) 关机。2) 同时摁CAL+ON键，直到嘀的一声。如使用的是FN头，还需接一个箭头键。3) TIME字样闪烁，并显示年份，形如Y=954) 用箭头键调节至正确的年份。5) 按CAL显示出月份。6) 用箭头键调节至正确的月份。7) 按CAL显示出日期。8) 用箭头键调节至正确的日期。9) 按CAL显示出小时。10) 用箭头键调节至正确的小时。11) 按CAL显示出分钟。12) 用箭头键调节至正确的分钟。13) 再按CAL键保存新的日期和时间，秒钟重置为0。仪器自动返回至测量模式。注意:在显示和调整时，时钟停走。如无须调整，则按CLEAR，仪器回至测量模式。例如开机时为4月1日，会有一段音乐。音乐停止后，可变更日期。2.5 仪器的基本设置1) 关机。同时按FUNC+ON键。2) 直到听到信号，仪器此时显示一对数字:1:0或1:1注意:如使用FN2头，则用ñ转到F方式，用ò转到N方式。3) 按FUNC键可在1-8功能中移动，用箭头键来设置0或1。4) 再按FUNC键，返回到测量模式。FUNCñ ò模式设定10单位选择公制/mm1英制/inch20关机模式延时自动关机1非自动关机30数字模式浮点小数1定点小数40统计模式单测值统计1批测值统计50统计输入方式*手动1自动60等待读值稳定*稳定的读值1每个读值70ZERO,CAL,CTC各键的锁定开锁1锁定80背景光无背景光1有背景光90存储最小值*不存储1存储100无此功能12.5.1 选择测量单位: 公制 / 英制将测量单位从公制(m，mm，cm)转换至英制(密耳，英寸)，步骤如下:1) 关机2) 同时按FUNC+ON键。3) 听到'嘀'一声，仪器会显示一对数字(如1:0)4) 用箭头键调节所需的测量单位，0=公制，1=英制5) 按FUNC键8次，返回测量模式。测量即使用新的测量单位，以前存储的读数也会自动转换成新的测量单位(仅对MINITEST 2100)。2.5.2 自动关机与非自动关机的选择仪器可设置为90秒自动关机，和非自动关机。参阅2.5节的设置表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。2.5.3 浮点小数和定点小数的选择参阅2.5节的设置表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。2.5.4 单值和批组统计之间的转换(仅对MINITEST 2100)单值统计给出读数的平均值，批组统计则给出均值的均值(平均值的平均值)。批组统计时,每组通常为5个读数,读值的个数也可通过PC电脑选定。统计计算结果可打印,或送至PC电脑。参阅2.5节的设置表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。2.5.5 数据存储的人工和自动模式之间的转换(仅对MINITEST 2100)0:人工存储，用ñ键实现。1:自动存储。自动模式下，读数以每秒5个的速度输入内存。连续模式测量时，测量值自动进入内存。如果要有选择地使读数进入内存，即采用人工存储模式。人工存储模式下，用ñ键或脚踏开关(另购)输入数据(请阅2.5.9)。参阅2.5节的设置表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。2.5.6 连续模式中，测量稳定后数据才被显示和存储标准设置下，通过数字滤波器，只有当测量信号稳定在给定的范围之内后，读数才被显示，称为“等待读数稳定”。在连续测量模式中，“等待读数稳定”过程可被取消。这样可以简便地识别最大和最小厚度值。(见4.2.8和4.2.14)仅2100可以传输统计数据。参阅2.5节的设置表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。2.5.7 ZERO，CAL，CTC，OFFSET锁定，锁定校准键利用KEYLOCK锁定功能，可避免错误的校准。CTC仅对2100。参阅2.5节的设置表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。2.5.8 背景光照明选择(可选)LC照明灯可选。设定时，读取读数后灯亮2秒种。照明灯需耗电。参阅2.5节的设置表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。2.5.9 在连续模式下，保留最小测量值该功能可以确定一次连续测量中的最小值。测量时显示当前值，抬起探头后则显示这一串读值中的最小值5秒钟。用ñ键或脚踏开关，可以把该值送去统计。该最小值在送去统计或显示5秒后即被删除。在5秒内又作下一次测量，则已存在的最小值也被保留。这一功能用来在连续测量中，观察最小值。参阅2.5节的设置表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。2.5.10 单次测量和连续测量模式的转换连续测量模式下，探头无须在每次测量后抬起。1) 开机2) 按FUNC，然后CONTINUE键，一声"嘀"，即确认了模式转换。3) 连接模式下，测量单位(m，mils)闪烁。读值超出量程将标明-。连续测量模式下，无伴随的"嘀"声，无背景灯照明。4) 用ñ键或脚踏开关(另购)控制，读数是否进入统计内存。5) 按照2.5.5中方法，只要内存足够，读数即可连续、自动地进入统计程序。6) 要返回标准单次测量模式，或者重复步骤1和2，或者关机、开机一次(关、开机不适合探头F2/90，N2/90，N100)3. 校准及测量3.1 校准3.1.1 校准方式MINITEST1100/2100有以下五种不同的校准方式：· 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。例如，低于一点校准精度要求的场合。· 一点校准:置零，不用标准箔。用于允许误差超过3%的场合。· 二点校准:置零，用一片标准箔。用于误差范围在1-3%(最大)之间的测量。探头误差范围应另考虑。· 二点校准:置零，用二片标准箔。用于以下场合:A). 在粗糙表面测读;B). 厚度在两片箔厚之间的平滑表面的精确测量。透过厚度未知涂层的校准:用箔校准(仅适用于F06、F1.6、F3、作F用的FN2测头,以及F1.6/90、F2/90、F10、F20、F50探头)。如果被测样本在校准时，没有无涂层的用于比较的样本，应当采用此法校准。注意:校准箔是指所有的校准标准，包括2mm，5mm，10mm厚的标准板。3.1.2 保存校准值仪器在指定条件下校准，其校准值即存入内存，直到再次校准(见3.1.8)。若使用同一个探头，要改变校准值，只需重新做一次校准，这样就自动删除先前的校准值，存入新值备用。注意:在校准过程中出现下列情况必须重新校准：· 读入错误读数· 输入错误命令· 仪器关机3.1.3 校准举例精确的测量必须校准，校准样本越接近被测样本，校准和测量就越准确。例如:如果被测样本是一个直径为6mm的低碳钢柱，那么无涂层校准样本的直径和材料也必须相同。校准样本必须在下列几点上与被测样本相符:· 表面曲率半径· 基体材料· 基体厚度· 被测面积校准样本上，校准点位置必须与产品的测量点一致。如果测量小样本或边角位置，最好用精密支架定位。3.1.4 基体厚度的影响只要钢基体厚度大于探头的量程，对测量就没有影响。对于有色金属，基体厚度大于40m就足够了。但要保证基体在探头接触压力下不变形，例如可以把一块薄铝片放在硬质基体上测量。随附的钢、铝零板仅用于测试，一般不用于校准。除非待测样本表面平滑并具备以下条件，零板方可用于校准:1) 钢部件厚度超过1mm，可以把零板放在被测样本上校准。2) 铝部件厚度超过40m，所附铝箔可用于校准。测量时要把铝箔紧贴在一块硬质基体上。3.1.5 提高校准精度为得到高精度校准，有必要将校准值(零值和校准箔值)逐次存入多次。这样，仪器会自动形成一个平均校准值，详见4.2.2-4.2.9的校准，这种方式在非平滑，例如喷丸表面校准特别有利。3.1.6 清洁测点校准前，测量点和探头顶部的油渍，金属碎屑须清除干净。少量的杂质也会影响测量，改变读数。3.1.7 “嘀嘀”声鸣响信号校准和测量中，仪器呜响之前探头都不得移位。呜响后探头才能离开。3.1.8 温度补偿特性在不同的环境温度下仪器无需重新校准。仪器自动对温度变化补偿(见技术数据)。3.2 校准分述按照4.2.2-4.2.14校准时，基本步骤如下:1) 按相关的校准键(ZERO，CAL或CTC)开始校准;2) 将探头置于试板上;3) 再按校准键(ZERO，CAL，CTC)停止校准。3.2.1 使用标准校准标准校准适用于除CN02外的所有探头。方法如下：12ZEROOCLEARR标准校准ZERO闪烁清除1) 按ZERO键2) 按CLEAR键3) 读数存储在仪器中的标准校准仅只适用于平滑表面的测量，例如:a).生铁，b).铝材上。注意:重要的是记录下多个物涂层样本上的精确的零读数。否则，须使用一点或两点校准.3.2.2 无箔的一点校准(只校零，适用于除CNO2外的所有探头)，步骤如下:123êZEROZERO无箔的单点校准ZERO闪烁多次测量ZERO不闪烁1） 按ZERO键，启动零校准。显示屏将显示ZERO(闪)和MEAN(不闪)字样。MEAN表示显示的是平均值。2） 将探头置于无涂层样本上(即零测厚)，嘀一声后再抬起探头。重复多次，显示器始终显示先前读数的平均值。3） 按ZERO键，ZERO字样停止闪烁。4） 校准完成，开始测量。5） 若要消除零校准，方法有二：a) 按ZERO+CLEAR键，即删除零校准和任何存在的校准值。注意:这样须重新使用平滑表面的标准校准。b) 重复以上1-3步，重新开始零校准。3.2.3 两点校准(带有一片校准箔的零校准)1234567êZEROZEROCALCALê用零板和校准箔进行两点校准ZERO闪烁多次测量ZERO不闪烁CAL闪烁用箔进行多次测量调整数值CAL不闪烁适用于所有探头(CNO2除外)的高精度测量，小部件测量和硬的低合金钢。两点校准步骤如下:1) 按ZERO键，开始零校准，显示屏将显示ZERO(闪)和MEAN(不闪)，MEAN'表示读数是平均值。2) 将探头置于无涂层样板上，“嘀”一声后抬起探头。如此若干次。显示器总是显示先前读数的平均值。按CLEAR中止零校准。3) 按ZERO键，“ZERO”停止闪烁。4) 按CAL键开始用箔校准，显示器上出现CAL(闪)和MEAN(不闪)字样。MEAN'表示读数是平均值。5) 将校准箔置于无涂层样本上，放上探头，“嘀”声后抬起探头。如此数次。所选箔的厚度应大致与被测涂层厚度相当。按CLEAR键中止校准。6) 用ñ，ò箭头键将读数调节至表明的箔厚。7) 按CAL键，“CAL”停止闪烁。校准完毕，开始测量。8) 将探头置于未知涂层上测读，“嘀”一声后抬起探头。9) 必要时候，例如输入了错误的数据，可删除CAL校准值。方法有二:a) 按CAL，CLEAR键，清除校准和所有零校准。注意:这将重新激活用于平滑表面的默认的校准值。b) 重复以上步骤4-7，重新启动CAL校准。这样就可以自动覆盖老的校准值，存入新值。注意:无论是在直接或是批处理方式测读，箔校准都可根据需要随时进行。老的校准值将被覆盖，零校则保存在内存中。特别注意，用F10，F20探头测量金属覆层，校准时，校准标准必须与实际覆层是同种金属。3.2.4 两点校准(用两片箔)适用于除CN02外的所有探头两点校准仅适用于非连续测量模式。测量模式可用2.5.9中的方式转换。这种方法要用两片厚度至少相差2倍的校准箔。被测样本覆层预计厚度最好在这两片校准箔之间。这种方法尤其适用于粗糙的喷砂表面和高精度测量。校准时采用多次测读取平均值的方法，可以大大地减少高低值校准时出现的波动带来的影响。两点校准(用两片箔)步骤如下:12345678CALCALêCALCALê用两片校准箔进行两点校准CAL闪烁用箔1进行多次测量调整数值CAL不闪烁CAL闪烁用箔2进行多次测量*调整数值CAL不闪烁1) 按ZERO键，置探头于无覆层的样本上，再按ZERO键。得到一个大概的零点。校准箔可以任何顺序使用。2) 按CAL键开始用箔校准，显示器上出现CAL(闪)和MEAN(不闪)字样。MEAN'表示读数是平均值。3) 用较薄的一片校准箔(比如,大约10-30u)置于无涂层样本上，置上探头，"嘀"声后抬起探头。如此若干次。按CLEAR键，终止校准。4) 用ñ、ò键调整读数至标准箔厚度。5) 按CAL键，“CAL”停止闪烁。仪器接受了第一个校准值。6) 按CAL键开始校准。此步须紧跟第5步以后，仪器在按CAL键以前不接受读数。显示器上出现CAL(闪)和MEAN(不闪)字样。'MEAN'表示读数是平均值。7) 用较厚的一片校准箔(至少是薄的2倍)置于无涂层样本上，置上探头，"嘀"声后抬起探头。如此若干次。按CLEAR键，终止校准。8) 用ñ、ò键调整读数至标准箔厚度。9) 按CAL键，“CAL”停止闪烁。10) 校准完毕，开始测量。11) 需要时(例如输入错误数据)可删除CAL校准值。方法有二:a) 按CAL，CLEAR键，清除校准值。注意:这将重新激活用于平滑表面的默认的校准值。b) 重复2-9步骤，重新开始CAL校准。将会自动覆盖老的校准值，存入新值。3.2.5 透过镀层校准(Calibration Through CoatingCTC方式，专利号DE3404720C2)若校零时镀层不能移开，用CTC方式特别方便。CTC仅适用于F06，FN2(F部分)，F2，F2/90，F10，F20和F50等探头。CTC模式仅适用于校准点涂层光滑，并且测量值可重现的场合。CTC不能用于有织构的酥松的覆层。FUNCCTCCTCCTCêê在有涂层表面上进行校准统计CTC闪烁多次测量用箔进行多次测量调整数值CTC不闪烁1) 按FUNC+CAL/CTC键，开始CTC校准。显示CTC(闪)和MEAN(不闪)字样。MEAN'表示读数是平均值。2) 测读。将探头置于被测样本的校准点，'嘀'一声后抬起探头。如此数次。3) 按CAL键。4) 将校准箔置于同一点，置探头其上，'嘀'一声后抬起探头。如此数次。按CLEAR键，终止校准。所选箔厚应该大致等同于预计的覆层厚度。5) 用ñ、ò键调整读数至标准箔厚度。6) 按CAL键，CTC停止闪烁。7) 校准完毕，开始测量8) 必要时，可删除CTC校准。方法有二。a) 按FUNC+CAL / CTC+CLEAR键，删除CTC校准。注意:这将会激活用于平滑表面的默认的标准校准值。b) 重复以上1-6步，重新开始CTC校准，老的校准值被自动覆盖，新值存入。3.2.6 用FN2两用智能型探头的校准和测量FN2智能型测头，既可用磁感应原理工作，又可用涡流原理工作。选择F方式和N方式,方法如下:按ON键开机，测量方式FERRONS'字样会闪现在屏幕上。用ñ键，选择Ferrous'电磁感应法。按ò键，选择non-ferrous'电涡流方法。如果不按键，则仪器在5秒后自动显示Ferrous'电磁感应原理。校准和测量方法，请见3.2.2、3.2.3、3.2.3或3.2.5。3.2.7 用N10和N20探头校准和测量使用N10和N20探头校准和测量，校准标准和涂层必须是非导电材料。1) 标准化 1 2 3êZEROFUNC乙烯块将探头放在两片箔中厚的一片上，箔下面无任何金属。为避免任何外部非导电性影响，校准箔的最有效的基体是至少3cm厚的聚笨乙烯块。按FUNC+ZERO键。2) 校零和校准 4 5 6 7 8 9 10ZEROZEROêCALêCAL ZERO闪 零板 ZERO不闪 CAL闪 多次测量 CAL停闪按3.2.2、3.2.3或3.2.4的方法校准和测量。3）消除涂层材料的非导电性影响置探头于涂层上，无金属基体。按FUNC+ZERO键。 11 12 13ZEROFUNCê 多次测量注意:这会消除自动温度补偿性能，万一温度变化时需重新校准。3.2.8 用N100探头校准和测量用N100探头测量材料或涂层厚度，基体材料可为铁磁性的或非铁磁性的。基体面积至少30×30cm。在面积较小,但不小于15×15cm时，测量误差增大(见表)。要将误差减至最小，请注意以下两点:(a). 校准时，选择标准片厚度应与材料厚度接近(见以下校准方法)。(b). 用两个标准片进行两点校准。预期的厚度应介于两标准片厚度之间。校准方法如4.2.4所述。1) 开机，开机后，仪器自动进入连续测量模式。连续模式有利于测量材料厚度。闪现的测量单值(um，mils)表示正在使用连续模式。厚度超过量程则显示-。如需单值测量，可按FUNC+CONTINUE键2) 标准化 1 2 3ZEROFUNC将探头悬空，并按FUNC+ZERO键3) 置零 4 5 6ZEROZERO将探头置于无涂层表面，并按ZERO键，'ZERO'字样闪现，并有连续的嘀声。再按ZERO键，ZERO'停止闪烁，'嘀声停止，显示0.0mm。 7 8 9 10CALCAL CAL闪 CAL停闪4) 校准将提供的校准片(例如大约50MM)置于探头底部凹处。校准片厚度应接近被测物预计厚度。将两者放于“反射”箔(即基体)上，探头底部须与基体平行。按CAL，'CAL'字样闪现并伴有连续的'嘀'声。用箭头键调整读数至标准厚度。再按CAL，CAL停止闪烁。5) 消除涂层材料的非导电性影响 11 12 13ZEROFUNC输入校准值以后，将探头置于无金属基体的材料上(至少厚30mm)。按FUNC，ZERO键。此过程须在校准a)、b)的前题下执行。6) 仪器现在可以测量了注意:建议在以下情况下重新检查、校准1) 关机两个多小时以后2) 温度变化10以上3) 仪器用于其它类型材料时，需重复第5点。3.2.9 用F20探头测量和校准接上探头，开机。开机后仪器自动进入连续测量模式，连续模式有利于测量材料厚度。连续模式下，mm、mm等单位在闪烁。厚度超出量程则显示(-)。将探头悬空，按FUNC+ZERO键。以消除温度变化的影响。随着一声响，探头和仪器校准完毕。参见4.1、4.2。开始测量，可以用ñ键将该数取入统计。3.2.10 用F50探头测量和校准 F50探头必须与MlNlTEST1100/2100连用来校准和测量。参见4.2.2、4.2.4.校准和测量。探头位置对测量结果有影响。为此，仪器自动读取无穷远值时探头对被测物体的角度，和用探头测量时探头对被测物体的角度必须相同。此外，测量时探头接近被测物体的速度必须恒定。为消除磁滞误差，每次测量后探头必须远离被测物体，并确保远离任何金属物体至少0.3m。注意：F50探头的磁场可能干扰临近的电子设备或仪器。要免除干扰，建议应远离电脑、监视器、或其它电磁数字信号至少1m。3.2.11 用内孔探头F2/90等校准和测量包括F1.6/90、F2/90、N1.6/90，N2/90在单次测量模式下，校准和测量方式如常。连续测量模式的测量和校准过程稍有不同:1).按照3.2.2、3.2.3、3.2.4所述，用单次测量模式方法进行。2).可按ñ键，或脚踏开关将最后一个读数输入内存。用FUNC+CONTINUE键在单次和连续测量之间转换。3.2.12 铜、铝、黄铜上的镀铬层的校准和测量适用于FN1.6, FN2, N2, N1.6/90和N2/90探头，需一个特殊的校准箔。1) 必须使用4.2.3的两点校准方式。2) 用标明为“铜上镀铬”，“铝上镀铬”或“黄铜上镀铬”等的特殊标准箔校准。3.2.13 用CN02探头校准和测量CN02是用于平滑表面，测量铜片或铜箔的厚度的探头。CN02仅能用一点法校准:1) 按CAL开始校准。LC显示CAL(闪)和MEAN(不闪)，MEAN表明读数是平均值。2) 将金属校准箔置于至少10mm厚的无涂层绝缘样本表面。置探头其上，嘀声后抬起探头，如此数次。按CLEAR键终止校准。箔的厚度应该大致等同于预计的样本厚度。3) 用ñ、ò键调整读数至标准箔厚度。4) 按CAL键，CAL停止闪烁。5) 校准完毕，开始测量注意:· 对双面覆层PC印刷电路板需用双面敷铜标准板校准。· 测量铜以外的非铁磁性金属箔时按1-5步骤进行校准。标准箔材料应与实际覆层材料相同。3.2.14 在喷丸表面校准和测量喷砂表面的物理性质导致读数偏大，其尖端上的覆层平均厚度可用下面的方法确定。统计程序在这里非常有用。方法一：用4.2.2或4.2.3的方法，将仪器在曲率半径和基体材料相同的平滑表面校准好。在无覆层的经过同样喷砂处理的表面测量10次左右，得到一个平均值,记作。再在有涂层的喷砂的被测样本上测次得到中值。Xm与Xo之差(Xm - Xo)±S就是复层厚度。其中S是Xm与Xo二个值的标准偏差。将Xo值作为一个负的OFFSET值输入。方法二：此方式用于表面粗糙度20um的表面。1).在喷丸的无涂层基体上作一次用10个读数的零校准。2).然后在无涂层的基体上，用一片校准箔测读5-10次,用平均值校准。该箔可由数片小于50um的箔组成，箔厚应与预计涂层厚度相同。方法三(仅适合MINITEST 2100):用两片校准箔校准。按4.2.4中的两点法校准，此法的结果更可靠。应对每片校准箔测读5-10次,用平均值校准。校准箔可由数片小于50um的箔组成，箔厚应与预计涂层厚度相同。注意:以上方式在涂层厚度超过300um时，表面粗糙程度可被忽略。3.2.15 调整基础校准值以下情况下，要调整基础校准值:· 如果探头磨损· 为特殊用途(必要时,请与生产厂家联系)基础校准由PC电脑，用特殊软件设置。3.3 测量和误差如果校准正确，所有读数将保持在允许误差范围之内(见技术数据)。强磁场、大电流(如变压器输出端、母线附近)会使测量显示延迟。用统计程序在一个点多次测读，校准和测量会更加精确。异常的读数要用CLEAR键擦除。最后的结果是统计计算和允许误差之和：ThX±s±uTh复层厚度；X平均值；s标准偏差；u仪器充许误差。例如：X153m，s±3mu±(1X+1m)±(1.5m+1m)±2.5mTh(153±(3+2.5)m(153±5.5)m3.4 使用脚踏开关连续测量模式下，操作员可以用ñ键或脚踏开关(选件)确定哪些读数进入统计程序。脚踏开关在操作员两手同时操作时特别有用，比如用管内测头F1/90,N2/90时。4. 测量统计本节只适合于MINITEST 2100MINITESF 2100测厚仪有两种统计程序。一种是读数统计，一种是组统计(DIN 50982)。MINITES1100能从批存储器的多至100个读数中完成统计，MINITES21