RTⅡ级换证开卷考试命题范围学员版.doc

2013年2014年RT级换证开卷笔试试卷组题要求一、 相关法规、规范（10题，每题2分，共20分），其中：1、判断题：52、选择题：5二、JB/T4730标准（20题，每题2分，共40分：），其中：1、判断题：102、选择题：10三、工业数字化射线检测（5题，每题2分，共10分），其中：1、问答题：22、判断题：3四、工艺题（1题，30分）20132014年RT级换证开卷笔试命题范围一、相关法规、规范1）判断题1.特种设备无损检测人员考核规则规定考核范围内的无损检测方法包括射线（RT）、超声（UT）、磁粉（MT）、渗透（PT）、声发射（AE）和涡流（ECT）六种。2.特种设备无损检测人员考核规则规定，特种设备检测人员证的有效期为4年。3.特种设备无损检测人员考核规则要求报考的检测人员至少单眼或者双眼的裸眼或者矫正视力不低于标准对数视力表的5.0级。4.特种设备无损检测人员考核规则规定，各级人员笔试和实际操作考试的合格标准均为70分。5.特种设备无损检测人员考核规则规定，年龄65周岁以上（含65周岁）人员的换证申请不再予以受理。6.特种设备无损检测人员考核规则规定，换证分为考试换证和审核换证两种方式，审核换证应当在取证后首次换证时实施，以后采取考试换证与审核换证交替实施，不得连续实施审核换证。7.锅炉安全技术监察规程适用于符合特种设备安全监察条例范围内的固定式承压蒸汽锅炉、承压热水锅炉、有机热载体锅炉、以及以余热利用为主要目的的烟道式、烟道与管壳组合式余热锅炉。8.锅炉安全技术监察规程规定，锅炉受压元件及其焊接接头质量检验，包括外观检验、通球试验、化学成份分析、无损检测、力学性能检验、水压试验等。9.锅炉安全技术监察规程规定，当选用超声衍射时差法（TOFD）时，应当与脉冲回波法（PE）组合进行检测，检测结论应进行分别判定。10.锅炉受压部件无损检测方法应当符合NB/T47013（JB/T4730）承压设备无损检测的要求。管子对接接头实时成像应符合相应技术规定。11.GB1502011压力容器规定，第类容器的对接焊接接头应进行100%射线或超声波检测。12.GB1502011压力容器规定，对于进行局部射线或者超声波检测的压力容器，其公称直径DN 250mm的接管与长颈法兰、接管与接管对接连接的焊接接头应进行100%射线或超声波检测。13.GB1502011压力容器规定，进行局部检测的焊接接头，发现有不允许的缺陷时，应在该缺陷两端的延长部位增加检测长度，增加的长度为该焊接接头长度的10%，且两侧均不少于250mm。14.GB1502011压力容器规定，压力容器无损检测档案应完整，保存时间不得少于容器设计使用寿命。2）选择题1.特种设备无损检测人员考核规则规定的超声检测方法项目为 。A.脉冲反射法超声检测/B.衍射时差法超声检测/C.超声检测（自动）/D.以上都是/ 2.以下哪一条不是特种设备无损检测人员考核规则规定的对级人员的能力要求？ A.调试和校准检测仪器/B.编制或者审核无损检测报告/C.编制和审核无损检测工艺规程/D.编制针对具体工件的作业指导书或工艺卡/3.特种设备无损检测人员考核规则规定，可以直接报考级持证项目的学历条件是 。A.理工类研究生和体科生/B.无损检测大专生/C.非理工本科和理工科大专生/D.无损检测中专生/ 4.特种设备无损检测人员考核规则规定，考试成绩未达到合格标准的允许补考，考试单科合格成绩有效期为 。A.级一年/B.级二年/级三年/D.二年/5. 特种设备无损检测人员考核规则规定，持证人员证件到期后，需要继续从事持证项目的无损检测工作，应在有效期届满 ，按照要求向具有相应项目考试的考试机构提出换证申请。A.当年的2月底前/B.前6个月/C.前3个月/D.当年年底/6.锅炉安全技术监察规程适用于特种设备安全监察条例范围内的 。A.固定式承压蒸汽锅炉和承压热水锅炉/B.有机热载体锅炉/C.以利用余热为主要目的的烟道式或烟道与管壳组合式余热锅炉/D.以上都是/7.锅炉安全技术监察规程不适用于 。A.设计正常水位水容积小于30L的蒸汽锅炉/B. 额定出水压力小于0.1Mpa的热水锅炉/C.额定热功率小于0.1MW的热水锅炉/D.以上都是/8.下面关于锅炉安全技术监察规程对锅炉分类的叙述哪一条是错误的？ A.A级锅炉是额定工作压力大于3.8MPa的锅炉/B.B级锅炉包括蒸汽锅炉、热水锅炉和有机热载体锅炉/C.C级锅炉包括蒸汽锅炉、热水锅炉和有机热载体锅炉D/D级锅炉不包括有机热载体锅炉/9以下是锅炉安全技术监察规程关于无损检测时机的叙述，错误的是 。A.有延迟裂纹倾向的材料应当在焊接完成24h后进行无损检测/B.有再热裂纹倾向的焊接接头，应当在最终热处理后再进行一次相同的无损检测/C.封头（管板）、波形炉胆、下脚圈的拼接接头的无损检测应当在成形后进行/D.电渣焊焊接接头应当在正火后进行超声检测/ 10.以下是锅炉安全技术监察规程关于无损检测技术级别和焊接接头质量等级的叙述，错误的是 。 A.锅炉受压部件焊接接头射线检测技术级别不低于AB级，焊接接头质量等级全部检测不低于级，局部检测不低于级/B.锅炉受压部件焊接接头超声检测技术级别不低于B级，焊接接头质量等级不低于级/C.表面检测的焊接接头质量等级不低于级/D以上都对/11.根据锅炉安全技术监察规程的规定，判断下述有关无损探伤的要求哪些适用于有机热载体炉？ A.锅筒的纵环焊缝和封头拼接焊缝：气相100%RT,液相50%RT/B.锅筒的纵环焊缝和封头拼接焊缝进行100%UT加至少25%/C.锅筒的纵环焊缝、封头拼接焊缝进行大于等于20%RT/D.受热面管的对接焊缝进行100%UT/12.以下是锅炉安全技术监察规程关于B级锅炉无损检测方法选择和检测比例的叙述，错误的是 。：A.锅筒（锅壳）、启动（汽水）分离器纵、环向对接接头、封头（管板）、下脚圈拼接接头、集箱纵向对接接头100%RT或100%UT/B.壁厚t<20mm时应采用RT/C.壁厚t20mm可可采用UT/D.UT宜采用数字式可记录仪器，也可采用模拟式超声仪/二、JB/T4730标准1）判断题1.JB/T4730.1-2005标准规定，缺陷评定区是在质量分级评定时，为评价缺陷的性质、数量和密集程度而设置的一定尺寸的区域。2.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对外径DO100mm的环向对接接头进行100%检测，所需要的最少透照次数与透照方式和透照厚度有关。3.JB/T4730.2-2005标准规定，现场进行射线检测时，应按GB18465的规定划定控制区和监督区、设置警告标志，检测作业时，应围绕监督区边界测定辐射水平。4.JB/T4730.2-2005标准规定，筒体纵焊缝的一次透照长度应按透照厚度比K值进行控制，A级、AB级为K1.03。此规定的目的是为了增大透照厚度宽容度。5.按JB/T4730.2-2005标准规定，由透照次数图确定透照次数时，如交点在两区域的分界线上，则所需最少透照次数应取较大数值。6.JB/T4730.2-2005标准规定，对小径管进行双壁双影透照椭圆成像时，应控制影像的开口宽度在一倍焊缝宽度左右。其主要目的是提高横向裂纹的检出率。7.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对规格76X7mm且焊缝宽度为20mm的管子环向对接焊接接头100%射线照相时，应采用双壁双影倾斜透照，相隔900，透照2次。8.JB/T4730.2-2005标准规定，承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制，检测条件不能满足AB级射线检测技术条件的要求时，经技术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片像质计灵敏度达到了AB级射线检测技术的规定，则可认为按AB级射线技术进行了检测。9.按JB/T4730.2-2005标准规定，用大于12MeV高能X射线照相时，可不使用后屏。其原因是在高能射线照中，后屏对增感并不重要，有时不使用后屏清晰度反而有所提高。10.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对于外径DO100mm的容器根部内凹和根部咬边深度也可采用附录H规定的一般对比试块（）进行测定。11.按照JB/T4730.2-2005标准规定，当采用高能X射线照相时，透照厚度范围的确定与检测技术等级无关。12.按照JB/T4730.1-2005标准规定，当采用同种检测方法按不同工艺进行检测时，如果检测结果不一致，应对该工艺重新进行鉴定。13.按照JB/T4730.1-2005标准规定，当应用高能X射线照相时，宜采用高梯度噪声比胶片。14.对单个条形缺陷最大长度的下限值和一组缺陷累计最大长度的下限值，JB/T4730.2-2005标准均作出了明确规定。15.JB/T4730.2-2005标准规定，对于铝和铝合金，当级对接接头允许的缺陷点数连续存在，并超过评定区尺寸的3倍时，对接焊接接头的质量应评定为级。16.JB/T4730.2-2005标准规定，X射线实时成像检测不适用于承压设备对接接头的实时快速检测。17.按照JB/T4730.2-2005标准规定，用射线对截面厚度变化大的工件照时，不允许降低底片的最低黑度。18.JB/T4730.2-2005标准规定，承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但同时采用其它无损检测方法进行补充检测。19.JB/T4730.2-2005标准规定，底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧的热影响区。20.按照JB/T4730.2-2005标准规定，AB级检测技术，观察黑度值在2.0D3.8的底片，此时观片灯的亮度应不低于63096cd/m2。21.JB/T4730.2-2005标准规定，应根据被 检工件的公称厚度限定X射线最高管电压。22.JB/T4730.2-2005标准规定，采用源在内透照方式，在保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，允许的射线透照厚度与检测技术级别有关。23.根据JB/T4730.2-2005标准规定，采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以减小，但减小值不得超过规定值的50%。这一规定与检测技术级别无关。24.按JB/T4730.2-2005标准规定，确定小径管的透照次数与焦距大小无关。25.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对初次制定的检测工艺，或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时，应进行背散射防护检查。26.按照JB/T4730.1-2005标准规定，当应用射线照时，宜采用高梯度噪声比胶片；当应用X射线对Rm540MPa的高强钢材料对接焊接接头检测时，也应采用高梯度噪声比胶片。27.JB/T4730.2-2005标准规定，确定圆形缺陷评定区尺寸和条形缺陷评定区尺寸均与被检工件的公称厚度有关。28.JB/T4730.2-2005标准规定，外径DO100mm的管对接接头，对断续根部内凹和根部咬边评定时，以根部内凹和根部咬边本身的长度累加计算总长度。29.按照JB/T4730.2-2005标准规定，在圆形缺陷评定区内，如果圆形缺陷的长径大于10mm时，该焊接接头应评为级。20.JB/T4730.2-2005标准规定，像质计放于胶片一侧时，应进行对比试验。2）、选择题1.JB/T4730.2-2005标准规定，采用多胶片法时，AB级、A级检测技术不允许双片叠加观察，这一规定的主要理由是 。A.双片叠加观察时，底片黑度达不到标准的有关要求/B.双片叠加观察时，底片灵敏度达不到标准的有关要求/C.双片叠加观察时，由于单片的黑度较低。底片对比度小，易造成缺陷漏检/D.双片叠加观察时，由于底片黑度较大，缺陷不容易观察/2.按照JB/T4730.2-2005标准，下面哪些规定不涉及检测技术等级？ A.采用源在内中心透照方式，允许射线最小透照厚度的规定/B.对100mmDO400mm的环向对接焊接接头允许采用K值的规定/C.采用源在内中心透照方式，允许f值可以减小的规定/D.采用X射线透照小径管或其它截面厚度变化大的工件时，允许降低底片黑度值的规定/3.下面是关于射线照时选择胶片的叙述，不符合JB/T4730.2-2005标准规定的是 。A.A级、AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片/B.B级射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片/C.使用射线对裂纹敏感性大的材料进行检测时，应采用T2类或更高类别的胶片/D.对于Rm540MPa的高强度材料对接焊接接头射线检测时，应采用T3类或更高类别的胶片/4. JB/T4730.2-2005标准中规定采用射线透照时，总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。这一规定的主要目的是 。A.尽可能提高底片的黑度/B.尽可能提高底片地比度和减小照相不清晰度/C.尽可能降低底片的颗粒度/D.以上都是/ 5.在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定不相符合的是 。;A.底片黑度均匀部位能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的/B.单壁透照时允许象质计放置在胶片侧，且无需进行对比试验/C.当象质计放于胶片侧时，应在象质计上适当位置放置铅字“F”标记/D.小径管双壁双影透照，象质计可放在源侧，也可放在胶片侧/6.下面是对JB/T4730.2-2005标准选用增感屏规定的理解，错误的是 。A.500KV以下X射线照相，选择增感屏的厚度仅与X射线的能量有关B.射线照相，选择增感屏的厚度与检测技术等级有关，与源的种类无关/C.采用高能X射线（12MeV）照相,选择增感屏厚度与检测技术等级无关/D.100KV以下X射线照如使用增感屏，则增感屏厚度应0.03mm/7.按照JB/T4730.2-2005标准规定，当以观察底片黑度为2.2时，观片灯的亮度应不低于 。A.220cd/m2/B.2200cd/m2/C.4800cd/m2/D.6600cd/m2/8.下面是对JB/T4730.2-2005标准中关于射线能量的理解，不正确的是 。A.应按公称厚度确定允许的最高管电压/B.当透照区截面厚度变化较大时，标准允许采用超出图1 的规定值/C.在一般射线照相中所采用的透照电压应低于标准中图1的规定值/D.标准中图1规定的主要不足是允许的最高透照管电压未与所使用的胶片类别相关联/9.下面是对JB/T4730.2-2005标准关于标记规定的叙述，错误的是 。A.透照部位标记由识别标记和定位标记组成/B.标记一般放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位/C.搭接标记也是连续检测时的透照分段标记/D.所有标记的影像不应重叠，且不应干扰缺陷评定区内的影像 / 10.下面是对JB/T4730.2-2005标准质量分级内容的理解，不正确的是 。A.质量分级中给出的缺陷类型与缺陷性质不一定完全相同/B.缺陷评定区应选在缺陷最严重的部位/C.在进行质量分级评定中，各类缺陷都应在缺陷评定区中评定/D.圆形缺陷按点数在缺陷评定区内评定，实际上是对缺陷允许的尺寸、数量、密集程度等进行评定/11.按照JB/T4730.2-2005标准规定，在下列焊接接头的射线照中。不能使用铁（Fe）象质计的是 。A.镍、镍合金/B.铜、铜合金/C.不锈钢/D.钛、钛合金/12.下列关于对无损检测人员要求的叙述中，不符JB/T4730.2-2005标准规定的是 。A.从事承压设备无损检测的人员，应按特种设备无损检测人员考核规则的要求取得相应的无损检测资格/B.取得不， 无损检测方法各资格级别的人员，只能从事与该方法和级别相应的无损检测工作，并承担相应的责任/C.仅从事射线检测的人员上岗前应进行辐射安全知识的培训并取得放射工作人员证/D.射线检测人员未经校正或经校正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0，测试方法应符合GB11533的规定，从事评片的人员应每年检查一次视力/13.JB/T4730.2-2005标准规定，应根据工件特点和技术条件选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。这一规定的主要目的是 。A.单壁透照最有利于缺陷的检出/B.单壁透照在实际工作中最容易实施/C.单壁透照所用的管电压低，可延长X射线机的使用寿命/D.以上都是/14. JB/T4730.2-2005标准中与检测技术级别无关的规定是 。 A.一次透照长度的规定/B.用X射线透照小径管和其它截面厚度变化大的工件时，底片黑度值允许降低的规定/C.增感屏选用的规定/D.小径管使用对比试块的规定/ 15.下面关于象质计使用的叙述中，不符合JB/T4730.2-2005标准规定的是 。 A.当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，应在透照区中间和最边缘的焊缝处各放置一个象质计/B.单壁透照中象质计放置在胶片侧时，应进行对比试验/C.当象质计放在胶片侧时，应在象质计适当位置放置铅字“F”标记/D.小径管双壁双影透照，象质计可放于源侧，也可放于胶片侧/16.下面是对JB/T4730.2-2005标准中关于曝光量规定的解释，错误的是 。A.曝光量与焦距有关，与技术级别有关/B.曝光量与焦距有关，与技术级别无关/C.采用射线源透照时，总曝光时间与检测技术级别无关/D.当焦距改变时，可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算/17.JB/T4730.2-2005标准规定，对小径管对接接头透照时，当g（焊缝宽度）DO/4时，应采用垂直透照重叠成像。这一规定的目的是 。A. 当gDO/4时垂直透照可减少透照次数/B.当gDO/4时椭圆开口宽度不好控制/C.当gDO/4时垂直透照有利于未部未熔合的检出/D.以上都是/18.在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定相符合的是 。A.对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过30KV/B.有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成36h后进行射线检测/C.制作对比试块的材料应与被检工件的材料的射线吸收系数相同或相近/ D.对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次/19.JB/T4730.2-2005标准在质量分级中，对不同材质的焊接接头允许的圆形缺陷评级的主要差异是 。A.对深孔缺陷的规定不同/B.对各级别圆形缺陷放宽点数的规定不同/C.对圆形缺陷的定义不同/D.对铝和铝合金、钛和钛合金焊接接头所允许的圆形缺陷点数与钢焊接接头允许的点数不同/20.下面是对JB/T4730.2-2005标准中关于小径管环向对接接头100%透照次数规定的理解，错误的是 。A.按壁厚与直径之比规定透照次数，其目的是控制透照厚度比/B.按壁厚与直径之比规定透照次数，其目的是增大透照厚度宽容度/C.理论上相隔1200比相隔600透照3次更有利于不同部位缺陷的检出/D.在特殊条件下允许透照一次，尽管采取有效措施扩大缺陷的可检出范围，但不能保证实现焊缝全长的100%检测/21.按照JB/T4730.2-2005标准规定，下列各因素中与底片像质计灵敏度无关的是 。A.透照方式/B.像质计摆放位置/C.射线源种类/D.透照厚度/22.按照JB/T4730.2-2005标准规定，当被检工件材料为低合金钢时，不可以使用 材料制做的像质计。A.铜/B.低碳钢/C.奥氏体不锈钢/D.以上都可以/23.在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定不相符合的是 。A.评片人员从阳光下进入评片窒的暗适应时间一般为510min/B.如底片黑度均匀部位能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的/C.若底片上出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护不够/D.对评定范围内黑度D4.0的底片，如有计量检定报告证明评定范围内的亮度能够满足4.10.3的规定，允许进行评定/24.JB/T4730.2-2005标准规定，由于结构原因不能进行多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝的100%检测，此时应采取有效措施扩大可检出范围。这里的有效措施是指 。A.适当提高管电压/B.双胶片技术/C.窗口加滤波板/D.以上都是/25.下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定相符合的是 。A.底片评定范围内的黑度是指不包括灰雾并的净黑度/B.经合同各方同意，各级别圆形缺陷允许的点数可以放宽12点/C.采取其它透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到要求的前提下，A级、AB级技术的Ir192源的最小透照厚度可降至10mm，Se75源的最小透照厚度可降至5mm/D.采用双胶片技术，如以单片观察，AB级的单片黑度应在2.04.0范围内/26.JB/T4730.2-2005标准规定，由于材质或结构等原因，进行返修可能会产生不利后果的对接接头，各级别圆形缺陷点数可放宽12点。下列哪种材料不存在上述情况？ A.奥氏体不锈钢/B.16MnR/C.钛合金及其复合材料/D.镍基合金及其复合材料/ 27.按照JB/T4730.2-2005标准规定，下列关于评片时底片评定范围内的亮度规定的叙述，正确的是 。A.当底片评定范围内的黑度D2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2/B.当底片评定范围内的黑度时，透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2/C.对评定范围内的黑度D4.0的底片，如有计量检定报告证明所用观片灯能满足4.10.3的要求，允许进行评定/D.以上都对/ 28.按照JB/T4730.2-2005标准规定，133管子环形对接接头射线照应采用的方法是 。A.单壁单影/B.双壁单影/C.双壁双影/D.A或B/29.JB/T4730.2-2005标准规定，采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的规定，f值可以减小。但减小值不得超过规定值的 。A.50%/B.405/C.20%/D.10%/30.JB/T4730.2-2005标准规定，小径管环向对接接头透照时，若使用专用像质计（等径金属丝），则应至少能识别 根金属丝。A.1/B.2/C.3/D.4/三、工业数字化射线检测1）问答题1、与射线照相底片的模拟图像相比，数字化的射线图像有哪些优势？获取工业射线检测的数字图像有哪些方法？答：与射线照相底片的模拟图像相比，数字化的射线图像有以下优势：1）不再需要庞大的底片库，保存问题很容易解决；2)形成的电子文档资料数据库可通过先进的软件实现高水平的管理，检索、查找、统计、调用快速方便；3）可要网上传输，实现检测结果的异地远程分析评价；4）可通过计算机处理，提高图像质量；5）容易复制，可保存时间几乎是无限的，对于设备运行后期的维修 安全具有十分重要的意义。获取工业射线数字图像的方法有多种，主要有：1）底片数字化扫描技术；2）图像增强器实时成像技术；3）计算机X射线照相技术（CR）；4）线阵列扫描成像技术；5）非晶硅和非晶硒数字平板成像技术；6）CMOS数字平板成像技术；7）层析照相（X-CT）技术等。2、简述射线实时成像技术的优点和局限性。答：1）检测速度快，工作效率比射线照高数十倍；2）不使用胶片，不需处理胶片的化学药品，运行成本低，且不造成污染；3）检测结果可转化为数字图像，可用光盘等存储器存放，存储、调用、传送比底片方便；4）成像过程中，经过模拟信号的多次转换，造成信噪比和图像质量的劣化，影响最终获得的数字图像质量；5）显示器视域有局限，图像边沿容易出现扭曲失真；6）设备一次投资较大；7）图像增强器体积较大，检测系统应用的灵活性和适用性不如普通射线照装置。3、计算机射线照技术（CR）系统有哪些优点和局限性？答：1）成像分辩力稍低于胶片水平，但优于其他各种数字成像技术；2）原有的X射线设备不需更换或改造，可以直接使用；3）IP板与胶片一样可弯曲和分割，可重复使用，虽然单板价格较贵，但实际比胶片便宜；4）宽容度大，曝光条件易选择；5）虽然比胶片照相速度快一些，但是不能直接获得图像，必须冷却IP板放入扫描读取器中才能得到图像；6）IP板与胶片一样，对使用条件有一定要求，不能在潮湿和极端高温下使用。4、计算机射线照技术（CR）系统的性能表征与胶片系统是否相同？CR系统用哪些指标进行进行分类？这些指标是如何定义的？答：CR系统的性能表征与胶片系统不同，胶片系统用梯噪比，即梯度/颗粒度分类，而CR系统则用基本空间分辩力和信噪比（对比灵敏度）进行分类。基本空间分辩力指CR数字图像的有效像素尺寸，其值可按照ASTM E2002使用双丝像质计（IQI）测得的不清晰度读出值除以2得到。信噪比（SNR）定义为线性的信号强度平均值与在信号处噪声（强度分布）标准偏差的比值。其中信噪比的噪声水平取决于辐射剂量和CR系统的特性。5、与与LDA线阵列扫描相比，数字平板有哪些优越性？答：1）数字平板可做成大面积平板一次曝光形成图像，而不需要通过移动或旋转工件经多次扫描才获得图像，因而成像速度比LDA快；2）数字平板图像的空间分辩力比LBA图像分辩力高；3）数字平板成像技术的使用适应性比LDA技术好。6、简述非晶硅和非晶硒数字平板成像原理和性能差别。答：非晶硅平板成像称为间接成像，需要中间媒体闪烁层将X射线转换为可见光，再转换为电信号。X射线首先撞击其板上的闪烁层，该闪烁层以与射线能量成正比关系发出光电子，这些光电子被下面的硅光电二极管阵列采集到，再通过薄膜晶体管电路（TFT）阵列A/D转换，再经处理获得数字图像信号。 非晶硒平板成像称为直接成像。X射线撞击硒层，硒层直接将X射线转化成电荷，通过TFT检测阵列A/D转换，再经处理获得数字化图像。7、从成像速度和分辨率比较各种数字射线成像方法的优劣？答：从成像速度按最高到最低依次排列为：图像增强器CCD实时成像非晶硅非晶硒CMOSLDACR胶片照相底片扫描从分辩力按最高到最低依次排列为：胶片照相CR底片扫描CMOS非晶硒非晶硅LDA图像增强器CCD实时成像8、数字图像的固有不清晰度和空间分辨力如何测量？答：数字图像的固有不清晰度可使用双丝像质计（IQI）测量。测得的固有不清晰度值除以2即得到基本空间分辩力。2）选择题1、与胶片照相法相比，下列哪一条不是射线实时成像技术的优点？ A.检测速度快/B.运行成本低/C.图像质量高/D.存储、调用、传送方便 /答案C2、射线实时成像检测技术项图像质量的三项指标是 。A.图像分辩力/B.图像不清晰度/C.对比灵敏度/D.以上都是/答案D3、计算机射线照相技术（CR）的工作过程包括 。A.曝光（用普通X射线机对IP板曝光）/B.扫描（用激光扫描仪对曝光过的IP板扫描）/C.成像（扫描仪将数字信号输入到计算机，通过计算机重建为可视影像在显示器上显示）/D.以上都是/答案D4、与工业X射线胶片相比，IP板的不同之处是 。A.可重复使用/B.不能直接获得影像/C.A和B /D.不能在潮湿和极端高温下使用/答案C5、与工业X射线胶片相比，IP板的优点是 。A.不需使用暗盒/B.不需使用暗窒/C.可分割和弯曲/D.以上都是/答案D6、数字平板技术有 三种。A.非晶硅/B.非晶硒/C.CMOS（互补金属氧化硅半导体）/D.以上都是/答案D7、以下哪一条不是计算机射线照相技术（CR）的优点？A.成像分辩力高于胶片照相/B.IP板可重复使用，实际使用比胶片便宜/C.宽容度大，曝光条件容易选择/D.检测速度比胶片照相快一些/答案A8、以下数字射线照相方法中，成像速度最快的是 。A.图像增强器实时成像/B.线阵列扫描（LDA）成像/C.非晶硅平板成像/D.计算机射线照相（CR）/答案A9、以下数字射线照相方法中，分辨率最高的是 。A.图像增强器实时成像/B.线阵列扫描（LDA）成像/C.非晶硅平板成像/D.计算机射线照相（CR）/答案D10、以下哪一种固体探测器属于直接探测类 。A.光电二极管/B.非晶硒/C.CCD/D.CMOS/答案B四、工艺题1、某石化厂加氢装置管道定期检验时，检验员要求对重沸器出口管道三通与接管连接的环焊缝（B1、B2、B3）进行100%射线复查。（注：管道不折卸，焊缝周围无障碍物）。管道规格：材质：20#；规格：377×8mm，焊缝采用氩弧焊打底，手工电弧焊盖面，焊缝余高2mm。现有XXZ2005X射线机和40CiIr192射线机各一台，请选择透照方式、检测设备、胶片和增感屏，参照所给曝光曲线填写下列射线透照工艺卡。 RF-200EG-S2曝光曲线图Ir1192曝光曲线图工艺题1 射线透照工艺卡（未标注分值的栏每栏0.5分）产品编号P-06-04产品名称压力管道环焊缝产品规格377×8产品材质20#焊接方法手工电弧焊执行标准JB/T4730.22005技术级别检测时机射线源胶片型号增感屏显影配方显影时间显影温度焊缝编号焊缝长度检测比例透照方式透照厚度焦距（mm）透照次数一次透照长度（mm）管电压或源活度曝光量（mAm)1分2分1分2分1分3分1分1分2分1分透照布置示意图：（3分）技术要求及说明：（2分）一次透照长度确定和曝光时间计算：（5分）编制：XXX（ ）XXXX年XX月XX日 审核; XXX（ ）XXXX年XX月XX日 2、某压力容器制造厂对一台球形缓冲罐进行无损检测，该缓冲罐为第三类压力容器，设计压力为7.8MPa，设计温度500C,材质为16MnR，工作介质为N2、H2.规格为Di1000×48mm，其结构如图所示。H1焊缝X坡口，双面手工电弧焊。设计要求该球罐焊后进行整体热处理、水压试验、气密试验。 工厂现有80Ci的Se75射线机一台、80Ci的Ir192射线机一台（两源均已购置60天），天津型胶片和型胶片。请参照相应曝光曲线填写H1焊缝的射线透照工艺卡、Se75曝光曲线图Ir1192曝光曲线图工艺题2 射线透照工艺卡（未标注分值的栏每栏0.5分）产品编号H-11-01产品名称缓冲罐容器类别产品规格Dn1000×48产品材质16MnR焊接方法手工电弧焊执行标准JB/T4730.22005技术级别检测时机射线源胶片型号增感屏显影配方显影时间显影温度焊缝编号焊缝长度检测比例透照方式焦距（mm）透照次数一次透照长度（mm）管电压或源活度曝光时间（min)1分2分1分2分3分1分1分1分3分透照布置示意图：（3分）技术要求及说明：（2分）曝光时间计算：（5分）编制：XXX（ ）XXXX年XX月XX日 审核; XXX（ ）XXXX年XX月XX日工艺题答案：工艺题1 射线透照工艺卡：产品编号P-06-04产品名称压力管道环焊缝产品规格377×8产品材质20#焊接方法手工电弧焊执行标准JB/T4730.22005技术级别AB检测时机外观检查后射线源RF-200EG-S2胶片型号天津型增感屏Pb0.03mm显影配方天津型配方显影时间58分钟显影温度20±2焊缝编号焊缝长度检测比例透照方式透照厚度（mm）焦距（mm）透照次数一次透照长度（mm）管电压或源活度曝光量（mAm)B1B31184100%双壁单影185104296170KV10.6透照布置示意图：（3分）技术要求及说明：（2分）1、 标记摆放按通用工艺规程规定。2、 暗盒背面加铅板进行背散射防扩。3、 像质计放于胶片侧，加“F”标记，并在报告中注明。焦距、一次透照长度确定和曝光时间计算：（5分）B. 焦距FDO+130+2509510mm；2、查JB/T4730.22005标准图D6查得：最少曝光次数N4次。故一次透照长度： L3D/N3.14×377/4296mm。3、曝光量计算：查曝光曲线得焦距700mm时，管电压170KV,曝光量20mAm。焦距510mm 时，曝光量为：编制：XXX（RTII）XXXX年XX月XX日 审核; XXX（RTII）XXXX年XX月XX日工艺题答案： 工艺题2 射线透照工艺卡产品编号H-11-01产品名称缓冲罐容器类别产品规格Dn1000×48产品材质16MnR焊接方法手工电弧焊执行标准JB/T4730.22005技术级别AB检测时机外观检查后射线源Ir192胶片型号天津型增感屏Pb0.1×2显影配方天配方显影时间58min显影温度200C±20C焊缝编号焊缝长度(mm)检测比例(%)透照方式透照厚度（mm ）焦距（mm）透照次数一次透照长度（mm）管电压或源活度曝光时间