SPC计算公式和判定准则ppt课件.ppt
P. 1,SPC统计过程控制(SPC统计量介绍与判定标准),P. 2,常用统计量,Mean:(平均值)Max:(最大值)Min:(最小值)Range:(Max Min最大跨距)StdDev标准差Cp:(过程能力指数)Cr:(过程能力比值 )k:(偏移系数 )Cpu:(上限过程能力指数 )Cpl:(下限过程能力指数 )Cpk:(过程能力指数 )Cpm:(目标能力指数)Zu(Cap) :(规格上限SIGMA水平)Zl(Cap) :(规格下限SIGMA水平)Fpu(Cap): (超出规格上限机率),P. 3,常用统计量,Fpl(Cap):(超出规格下限机率)Fp(Cap):(超出规格限的机率)Pp:(过程性能指数 )Pr:(过程性能比值 )Ppu:(上限过程性能指数 )Ppl:(下限过程性能指数 )Ppk:(过程性能指数 )Ppm:(目标过程性能指数)Zu(Perf):(规格上限SIGMA水平)Zl(Perf):(规格上限SIGMA水平)Fpu(Perf):(超出规格上限机率)Fpl(Perf):(超出规格下限机率)Fp(Perf): (超出规格界线的机率)Skewness:(偏度)Kurtosis:(峰度),P. 4,计算公式,2、Max最大值,3、Min最小值,4、Range最大跨距,1、Mean均值,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Mean=(2+4+6+4)/4=4,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Max(2,4,6,4)=6,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Min(2,4,6,4)=2,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Range(2,4,6,4)=6-2=4,P. 5,计算公式,6、Cp:(过程能力指数),7、Cr:(过程能力比值 ),5、StdDev标准差,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求,例:产品规格为(400.5),产品标准差为0.4,试计算CPCP=(40.5-39.5)/(6*0.4)=1/2.4=0.42,例:产品规格为(400.5),产品标准差为0.4,试计算CrCr=(6*0.4)/(40.5-39.5)=2.4,P. 6,计算公式,8、k:(偏移系数 ),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,试计算KK=(40.2-40)/(40.5-39.5)/2)=0.4,评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量指标!,规格中心M,产品均值,规格宽度T,K越大说明产品均值偏离中心值越远;,P. 7,计算公式,规格下限LSL,产品均值,规格上限USL,所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小; 越小分布越好,数据越集中,9、Cpu:(上限过程能力指数 ),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpu;Cpu =(40.5-40.2)/(0.4*3)=0.3/1.2=0.25,Cpu越大,产品检验数据超出上限的概率就越小,也就是说产品超出上限的不合格品数量就越少;,P. 8,计算公式,10、Cpl:(下限过程能力指数 ),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpl;Cpl =(40.2-39.5)/(0.4*3)=0.7/1.2=0.58,规格下限LSL,产品均值,规格上限USL,所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小; 越小分布越好,数据越集中,Cpl越大,产品检验数据超出下限的概率就越小,也就是说产品超出下限的不合格品数量就越少;,P. 9,计算公式,12、Cpm:(目标能力指数),11、Cpk:(修正的过程能力指数 ),Cpk=Min（Cpl，Cpu）=Cp(1-k),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpk;Cpk =Min(0.25,0.58)=0.25或Cpk =0.42*(1-0.4)=0.25,例:产品规格为(400.5),目标值为40.2,产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpm;Cpm=1/2.4=0.42,P. 10,计算公式,产品均值,规格上限USL,13、Zu(Cap) :(规格上限SIGMA水平),Zu(Cap)表示产品均值离规格上限有多少倍标准差?也表示为几个SIGMA,P. 11,计算公式,产品均值,规格上限USL,Zl(Cap)表示产品均值离规格下限有多少倍标准差?也表示为几个SIGMA,14、Zl(Cap) :(规格下限SIGMA水平),P. 12,计算公式,Fpu(Cap)表示产品检验结果超出规格上限的概率,15、Fpu(Cap): (超出规格上限概率),规格上限USL,P. 13,计算公式,Fpl(Cap)表示产品检验结果超出规格下限的概率,规格上限USL,16、Fpl(Cap):(超出规格下限机率),P. 14,计算公式,Fpl(Cap)表示产品检验结果超出规格下限的概率,规格上限USL,规格上限LSL,17、 Fp(Cap):(超出产品规格上下限的概率),P. 15,计算公式,18、 Pp:(过程性能指数 ),19、 Pr:(过程性能比值 ),P. 16,计算公式,20、Ppu:(上限过程性能指数 ),21、Ppl:(下限过程性能指数 ),22、Ppk:(修正的过程性能指数 ),Ppk=Min（Ppl，Ppu）=Pp(1-k),P. 17,计算公式,25、Zl(Perf):(规格上限SIGMA水平),23、Ppm:(目标过程性能指数),24、Zu(Perf):(规格上限SIGMA水平),P. 18,计算公式,28、Fp(Perf): (超出规格上下限的概率),26、Fpu(Perf):(超出规格上限概率),27、Fpl(Perf):(超出规格下限概率),P. 19,计算公式,30、Kurtosis:(峰度),29、Skewness:(偏度),P. 20,SPC 判定标准,点出界就判异。界内点排列不随机判异。数据分层不够造成的异常。,判异准则（三种类型）,P. 21,SPC 判定标准,P. 22,SPC 判定标准,1：1个点落在A区以外 One point beyond zone A.,P. 23,SPC 判定标准,2：连续9点落在中心线同一侧Nine points in a row in zone C or beyond on one side of central line.,P. 24,SPC 判定标准,3：连续6点递增或递减 Six points in a row steadily increasing or decreasing,P. 25,SPC 判定标准,4：连续14点中相邻点交替上下Fourteen points in a row alternating up and down,P. 26,SPC 判定标准,5：连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外 Two our of three points in a row in zone A or beyond,P. 27,SPC 判定标准,6：连续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外 Four out of five points in a row in zone B or beyond,P. 28,SPC 判定标准,7：连续15点落在中心线两侧的C区内 Fifteen points in a row in zone C above and below central line,P. 29,SPC 判定标准,8：连续8点落在中心线两侧且无一在C区内 Eight points in a row on both sides of central line with none in zone C,P. 30,SPC 判定标准,8：连续8点落在中心线两侧且无一在C区内 Eight points in a row on both sides of central line with none in zone C,
