信息技术设备整机及板卡产品的质量检验.docx

信息技术设备整机及板卡产品的质量检验国家电子计算机质量监督检验中心 罗洪元 刘春彦摘要：本文介绍信息技术设备整机及板卡产品的产品分类、检验依据、检验类型、检验项目及检验所需要的条件等内容，可供产品设计、采购和使用人员参考。关键词：信息技术设备 整机 板卡 强制标准 推荐标准 企业标准 检验 认证信息技术设备(如计算机、外部设备、网络设备和个人信息处理设备等)产品的技术日新月异，功能越来越丰富。这些产品的广泛使用，大大丰富了人们的生活内涵，提高了人们的工作效率，促进了社会的发展和进步。为了满足信息技术设备产品设计人员、采购人员和广大消费者从不同角度关注产品质量检验、认证，了解产品检验依据、检验项目的要求，本文介绍信息技术设备整机及板卡产品质量检验的相关内容，供感兴趣的读者参考。1 产品分类由于信息技术设备产品技术发展迅速，给从事此类产品质量鉴定、质量检验的实验室增加了新技术跟踪、检验仪器设备更新和专业技术人员更新知识等难度。针对信息技术设备产品的特点、适用的国家标准和产品质量检验环境要求的实际情况，从产品检验角度将信息技术设备产品的质量检验分成整机产品、板卡(含模块、部件，以下统称板卡)产品两大部分。从产品供电方式对检验项目多少的影响，也可以将产品分为交流电源供电和直流电源供电两类。1.1 整机产品 这里的整机产品是自己能独立工作或与计算机联机并在计算机的控制下完成部分工作的设备，整机产品自身应有交流电源或直流电源直接供电。信息技术设备整机产品有如台式计算机、复印机、传真机、多功能(传真、复印、打印)一体机、电子收款机、阴极射线管显示器(CRT)、液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、笔记本电脑、掌上电脑、平板电脑、数码相机、数码摄录机、服务器、工作站、集线器、路由器、网络交换机、行式打印机、热敏打印机、激光打印机、喷墨打印机、针式打印机、扫描仪、绘图仪、磁光盘机、磁带机、网络存储器、磁带库、光盘塔、磁盘阵列等。1.2 板卡产品随着技术的快速发展，信息技术设备产品的功能不断扩展，各种功能的内置板卡越来越多，如机箱、主板、开关电源、内存条、显卡、CD-ROM、CPU、硬盘、声卡、鼠标、电话语音卡、键盘、网卡、RAID卡、电视卡、图形卡、股票卡和其它专用卡等。内置板卡产品一般都采用直流电源供电。2 检验依据2.1 通用的国家强制标准对信息技术设备整机、板卡产品的质量检验，根据产品的供电方式(直流或交流)、工作方式(独立或整机的一部分)和采用的元器件种类等特点，部分产品的检验需要采用以下国家强制标准的全部或部分，某些产品的检验可能采用以下国家强制标准的部分条款，实验室在对某种整机或板卡产品实施检验前，应根据具体产品的特点，制订检验依据准确、检验项目适用和检验方法科学的检验规范。产品质量仲裁检验和产品质量鉴定管理办法1999年3月10日国家质量技术监督局第4号令公布；GB 4943-2001(idt IEC60950:1999)信息技术设备的安全；GB 9254-2008(idt IEC/CISPR 22:2006)信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法；GB 17625.1-2003 (idt IEC61000-3-2:1999)低压电气及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流16A)(适用75W的设备)；GB 17625.2-2007(idt IEC 61000-3-3:2005)电磁兼容 限值 对每相额定电流16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制;GB 2099.1-1996家用和类似用途插头插座 第一部分：通用要求；GB 21520-2008计算机显示器能效限定值及能效等级；GB 21521-2008复印机能效限定值及能效等级等。2.2 通用的国家推荐标准对信息技术设备整机、板卡产品的检验，根据产品的供电方式(直流或交流)、工作方式(独立或整机的一部分)和采用的元器件种类等特点，部分产品的检验需要采用以下国家推荐标准的全部或部分，某些产品的检验可能采用以下国家推荐标准的部分条款，实验室在对某种整机或板卡产品实施检验前，应根据具体产品的特点，制订检验依据准确、检验项目适用和检验方法科学的检验规范。CNAS-CL01：2006(idt ISO/IEC 17025:2005)检测和校准实验室认可准则；GB/ T 1.1-2009标准化工作导则 第1部分：标准的结构和编写；GB/T 191-2008 (mod ISO 780:1997)包装储运图示标志； GB/T 2828.1-2003计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划；GB/T 2828.2-2008计数抽样检验程序 第2部分：按极限质量LQ检索的孤立批检验抽样方案；GB/T 2828.3-2008计数抽样检验程序 第3部分：跳批抽样程序；GB/T 2828.4-2008计数抽样检验程序 第4部分：声称质量水平的评定程序；GB/T 2828.10-2010计数抽样检验程序 第10部分：GB/T 2828计数抽样检验系列标准导则；GB/T 2828.11-2008计数抽样检验程序 第11部分: 小总体声称质量水平的评定程序；GB/ T 2829-2002周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)；GB/T 2421.1-2008 (idt IEC 60068-1:1988)电工电子产品环境试验 概述和指南;GB/ T 2422-1995(eqv IEC 68-5-2:1990)电工电子产品环境试验 术语;GB/T 2423.1-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A： 低温；GB/T 2423.2-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温；GB/T 2423.3-2006电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验；GB/T 2423.5-1995电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击；GB/T 2423.6-1995电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞；GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fc: 振动(正弦)；GB/T 5080.7-1986(idt IEC 605-7:1978)设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案；GB/T 4857.2-1992(eqv ISO 2233:1986)运输包装件 温湿度调节处理；GB/T 4857.5-1992(eqv ISO 2248:1985)运输包装件 跌落试验方法；GB/T 17618-1998(idt CISPR24:1997)信息技术设备抗扰度限值和测量方法；GB/T 17626.2-2006(idt IEC 61000-4-2:2001)电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验；GB/T 17626.3-2006(idt IEC 61000-4-3:2002)电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验；GB/T 17626.4-2008(idt IEC 61000-4-4:2004)电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验；GB/T 17626.5-2008(idt IEC 61000-4-5:2005)电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验；GB/T 17626.6-2008(idt IEC 61000-4-6:2006)电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度；GB/T 17626.8-2006(idt IEC 61000-4-8:2001)电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验；GB/T 17626.11-2008(idt IEC 61000-4-11:2004)电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验；GB/T 6882-2008 (idt ISO 3745:2003)声学 声压法测定噪声源声功率级 消声室和半消声室精密法等。2.3 国家或行业产品标准由于微电子技术的飞速发展，信息技术设备整机、板卡产品更新换代周期很短，给制订信息技术设备整机、板卡产品国家或行业标准带来困难，因此，一些整机、板卡产品的功能和性能检验没有统一的国家或行业标准可依，板卡产品在这方面的矛盾更为突出，如仅有硬盘驱动器、软盘驱动器等国家标准已经不能满足现有产品功能、性能的检验要求。目前，对信息技术设备板卡产品的质量检验，除了部分产品可以采用与整机产品检验相同的国家强制标准、国家推荐标准外，产品的功能、性能测试一般要求产品的生产企业提供备案的企业标准，对不能提供企业产品标准的，应按照产品说明书明示的指标，在指定环境下对这些板卡产品的功能、性能进行检验。GB/T 14081-2010信息处理用键盘通用规范；GB/T 14714-2008微小型计算机系统设备用开关电源通用规范;GB/T 14715-1993信息技术设备用不间断电源通用技术条件;GB/T 17540-1998台式激光打印机通用规范;GB/T 17541-1998学习机通用规范;GB/T 17974-2000台式喷墨打印机通用规范;GB/T 9312-1988行式打印机通用技术条件;GB/T 9313-1995数字电子计算机用阴极射线管显示设备通用技术条件;GB/T 9314-1995串行击打式点阵打印机通用技术条件;GB/T 9813-2000微型计算机通用规范;GB/T 18220-2000手持式个人数字处理设备通用技术规范；GB/T 18239-2000集成电路(IC)卡读写机通用规范；GB 18240.1-2003税控收款机 第1部分：机器规范；GB 18240.3-2003税控收款机 第3部分：税控器规范；GB/T 18240.4-2003税控收款机 第4部分：银行卡受理终端规范；GB 18240.5-2003税控收款机 第5部分：税控打印机规范；GB 18240.6-2004税控收款机 第6部分：设备编码规则；SJ/T 10360-1993家用电子游戏机通用技术条件;SJ/T 11193-1998微型数字电子计算机多媒体性能要求;SJ/T 11292- 2003计算机用液晶显示器通用规范；HBC 152002环境标志产品认证技术要求 微型计算机、显示器；HJ 2507-2011环境标志产品技术要求网络服务器；HJ 2505-2011环境标志产品技术要求 移动硬盘；CQC31-045201-2009计算机节能认证规则；CQC31-452629-2009计算机显示器节能认证规则等。2.4 备案的企业标准中华人民共和国标准化法第六条规定“企业生产的产品没有国家标准和行业标准的，应当制定企业标准，作为组织生产的依据。企业的产品标准须报当地政府标准化行政主管部门和有关行政主管部门备案。已有国家标准或者行业标准的，国家鼓励企业制定严于国家标准或者行业标准的企业标准，在企业内部适用”。企业标准编写格式参照GB/T 1.1-2009等国家标准的统一要求。对于暂时尚无国家或行业标准的产品，企业可以根据产品的特点，制订适用的企业产品标准，为产品的生产定型、生产过程的质量控制、产品的交收检验和其它形式的质量检验提供具有法律效力的质量检验依据。对信息技术设备整机、板卡产品的检验，要求企业提供与被检验产品一致的企业标准或产品各项功能、性能指标明确的产品说明书。3 检验项目3.1 检验分类及样品确定信息技术设备整机、板卡产品检验分为产品(设计、生产)定型检验、例行试验、出厂交收检验、质量仲裁检验和各种认证(如CCC、FCC、CE等)规定的型式试验等几大类。如果企业具备检验条件，产品定型(设计、生产)检验、例行试验和出厂交收检验一般由企业自己承担，对于没有检验条件的企业，可以委托中国合格评定国家认可委员会(CNAS)认可的专业检测实验室承担；对质量仲裁检验和各种认证规定的型式试验应按国家授权范围、认证模式的规定由国家认可、授权的指定检验实验室承担。根据被检验产品的特点和每类检验的不同要求，检验委托方、被委托方都会对被检验样品的检验标准(方法)、检验项目、样品来源(送样或抽样)、抽样样品的抽样方法、抽样样品母体、样品数量、被检验样品的合格(符合)综合判定原则和不合格(符合)检验结果的处理方式等签定合同(或称检验委托书)。微型计算机整机产品可靠性试验的样品抽样母体数、最佳样品数和最大样品数之间关系见表1，可供其它类似产品试验时的产品抽样参考。批量或连续生产台数最佳样品数最大样品数13全部全部4163917525155396819972001321200以上2022表1 样品抽样母体数、最佳样品数和最大样品数之间关系信息技术设备整机、板卡产品检验的样品抽样一般参照GB/T 2828系列标准之一或GBT 2829国家标准进行，选用相应的抽样方案、合格质量水平和检查水平。对于各种认证规定的型式试验，除了规定检验依据、样品数量和样品来源等外，可能还对检验报告的格式提出了统一要求。3.2 检验项目3.2.1 外观、结构检查产品表面不应有明显的凹痕、划伤、裂缝、变形和污染等。表面镀层应均匀、不应起泡、龟裂、脱落和磨损。金属零部件不应有锈蚀及其他机械损伤。产品的零部件应紧固无松动，安装可替换部件的接插件应能可靠连接，键盘、开关按钮和其他控制部件的控制应灵活可靠，布局应方便使用。对于便携式产品而言，除特殊按键外，各按键应平整一致，其压力离散性不应大于0.3牛顿，每个按键在规定的负荷条件下，通断寿命应大于106次。产品的标识、标注应符合国家有关规定的要求。3.2.2 功能与性能检查根据具体整机产品标准或者说明书有关产品功能、性能描述，按照产品固化程序或者特定系统环境下运行测试程序进行检测。对量大面广的通用整机产品(如微型计算机、显示器等)，可以采用一些比较有权威性的、公认的测试软件，对那些功能和性能彼此有差异的整机产品也可以采用由产品的生产厂家提供的测试软件，或者采用实验室提供的测试工具进行测试，但这种非标准测试工具必须经过验证、评审程序认可才能使用。在特定工装环境下或整机环境下对板卡的功能进行检验，有些板卡的功能测试需要运行通用或专用的检验程序，检验板卡的功能需要阅读被测板卡的说明书，在指定的操作平台下进行。3.2.3 安全性试验对于直接使用交流电源或电源适配器的整机、板卡产品的安全性检验标准是相同的。对于直接使用直流电源的整机、板卡产品，不直接检验电气安全指标，它们的电气安全指标必须与为其供电的整机一起检验。3.2.3.1. 对地泄漏电流试验产品应符合GB4943-2001中5.1条的有关规定(220V或电源适配器供电时适用)。3.2.3.2 抗电强度试验产品应符合GB4943-2001中5.2条的有关规定(220V或电源适配器供电时适用)。3.2.3.3 保护接地措施试验产品应符合GB4943-2001中2.6.3.3条的有关要求(220V或电源适配器供电时适用)。3.2.4 电源适应性试验对于交流电源供电的整机产品，一般应在220V±22V，50Hz±1Hz条件下正常工作。电源插头试验按照GB 2099.1的规定进行。对于直流电源供电的整机、板卡产品，当电压在标称值±5%范围内时，产品工作应正常。采用电池供电有特殊要求的产品，应对电池的一些关键指标提出明确要求。不同种类的整机、板卡产品具体的±指标值可能稍有不同，进行该项指标检验时，应仔细阅读该产品标准的该项指标要求，避免产生错误的检验结果。3.2.5 噪声试验装有风扇或其他散热装置的信息技术设备产品工作时，产品标准应规定噪声指标，如微机产品不得高于55dB，但对加装两个以上风扇的产品，其噪声要求应在产品标准中规定。在不同环境下使用的整机产品，其噪声的要求也不一定完全一样，对不同的产品进行进行噪声检验时，应仔细阅读相关产品标准对噪声指标的规定。如果被检验的板卡产品工作时产生噪声，而且对噪声指标有明确的要求，则板卡的噪声检验要求应与整机产品一样。或者是将板卡产品直接安装到整机产品中，然后再检验整机产品的噪声指标，判定是否符合标准要求。3.2.6 无线电骚扰试验3.2.6.1 辐射骚扰试验信息技术设备板卡产品(例如，微机主板、显示卡、硬盘、MODEM卡，)应安装在有代表性的整机机箱中进行无线电骚扰检验，以保证被检验合格的信息技术设备板卡安装于大多数常用整机机箱中使用时无线电骚扰限值合格。信息技术设备板卡的无线电骚扰用的有代表性的整机机箱由检验委托方提供；若检验委托方不能提供测试用的整机机箱，则可用被委托方配备的测试用整机机箱，被委托方应保证该整机机箱的无线电骚扰指标符合委托方的要求。信息技术设备板卡无线电骚扰检验时，将其安装于有代表性的整机机箱中，相应的端口应接上典型的实际负载(或模拟负载)构成系统。以系统为单位进行无线电骚扰检验，检验中所用的整机机箱和负载都应是与检验委托方的信息技术设备板卡所声明的无线电骚扰等级(A级或B级)相同的检验合格产品。若信息技术设备板卡中的时钟频率可变，则无线电骚扰检验时应改变时钟频率，寻找最大骚扰状态进行测试。3.2.6.1.1 辐射骚扰限值及测试布置图信息技术设备的辐射骚扰应符合GB 9254-2008中辐射骚扰限值的A级或B级要求(见表2、表3)。频率范围/MHz限值/dB（V/m）3023040230100047表2 A级ITE在10m测量距离处的辐射骚扰限值频率范围/MHz限值/dB（V/m）3023030230100037表3 B级ITE在10m测量距离处的辐射骚扰限值注：1、在过渡频率处（230MHz）应采用较低的限值；2、当出现环境干扰时，可以采取附加措施；3、测量采用3m法场地。图1 辐射骚扰限值测试布置图3.2.6.1.2 1GHz以上辐射骚扰限值及测试布置图信息技术设备1GHz以上的辐射骚扰应符合GB 9254-2008中1GHz以上的辐射骚扰限值的A级或B级要求(见表4、表5)。频率范围/GHz平均值/dB（V/m）峰值/dB（V/m）135676366080注 1： 在过渡频率（3GHz）处应采用较低的限值。表4 A级ITE在3m测量距离处的辐射骚扰限值频率范围/GHz平均值/dB（V/m）峰值/dB（V/m）135070365474注 1： 在过渡频率（3GHz）处应采用较低的限值。表5 B级ITE在3m测量距离处的辐射骚扰限值注：测量频率上限的选择：1、EUT的最高内部源指在EUT内部产生或使用的最高频率，或EUT工作或调谐的频率；2、如果EUT内部源的最高频率低于108MHz，则测量只进行到1GHz；3、如果EUT内部源的最高频率在108MHz500MHz之间，则测量只进行到2GHz；4、如果EUT内部源的最高频率在500MHz1GHz之间，则测量只进行到5GHz；5、如果EUT内部源的最高频率高于1GHz，则测量将进行到最高频率的5倍或6GHz，取两者中的小者。图2 1GHz以上辐射骚扰限值测试布置图3.2.6.2 电源端子传导骚扰试验3.2.6.2.1电源端子传导骚扰限值及测试布置图信息技术设备电源端子传导骚扰应符合GB 9254-2008中电源端子传导骚扰限值的A级或B级要求(见表6、表7) (220V或电源适配器供电时适用)。频率范围/MHz限值/dB（V）准峰值平均值0.150.579660.5307360表6 A级ITE电源端子传导骚扰限值频率范围/MHz限值/dB（V）准峰值平均值0.150.50665656460.50556465306050表7 B级ITE电源端子传导骚扰限值注： 1、在过渡频率处（0.50MHz和5MHz）应采用较低的限值；2、在0.15MHz0.50MHz频率范围内，限值随频率的对数呈线性减小。图3 电源端子传导骚扰限值测试布置图3.2.6.2.2电信端口的传导共模骚扰限值及测试布置图信息技术设备电信端口的传导共模骚扰应符合GB 9254-2008中电信端口的传导共模骚扰限值的A级或B级要求(见表8、表9) (220V或电源适配器供电时适用)。频率范围/MHz电压限值/dB（V）电流限值/dB（A）准峰值平均值准峰值平均值0.150.597878474534340300.53087744330表8 A级ITE电信端口传导共模（不对称）骚扰限值频率范围/MHz电压限值/dB（V）电流限值/dB（A）准峰值平均值准峰值平均值0.150.584747464403030200.53074643020表9 B级ITE电信端口传导共模（不对称）骚扰限值注：1、在0.15 MHz0.5MHz频率范围内，限值随频率的对数呈线性减小；2、电流和电压的骚扰限值是在使用了规定阻抗的阻抗稳定网络（ISN）条件下导出的，该阻抗稳定网络对于受试的电信端口呈现150的共模（不对称）阻抗（转换因子为20lg15044dB）。图4 电信端口的传导共模骚扰限值测试布置图3.2.7 抗扰度试验对于信息技术设备整机、板卡产品的抗扰度检验，如果是相对主机独立供电的板卡产品，则它们的抗扰度检验标准是相同的。如果板卡是安装在整机机箱中、与其它板卡一起工作并且这些板卡产品有抗扰度指标要求时，应事先将这些板卡产品安装在整机机箱中，然后再按照整机产品的检验标准和检验方法对整机产品进行抗扰度检验，但首先应保证整机机箱的抗扰度指标符合标准或委托方的要求。3.2.7.1 静电放电抗扰度试验应符合GB/T 17618-1998、GB/T 17626.2-2006中的相关要求。3.2.7.2 射频电磁场辐射抗扰度试验应符合GB/T 17618-1998、GB/T 17626.3-2006中的相关要求。3.2.7.3 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验应符合GB/T 17618-1998、GB/T 17626.4-2008中的相关要求(220V或电源适配器供电时适用)。3.2.7.4. 浪涌(冲击)抗扰度试验应符合GB/T 17618-1998、GB/T 17626.5-2008中的相关要求(220V或电源适配器供电时适用)。3.2.7.5 射频场感应的传导骚扰抗扰度试验应符合GB/T 17618-1998、GB/T 17626.6-2008中的相关要求(220V或电源适配器供电时适用)。3.2.7.6 工频磁场抗扰度试验应符合GB/T 17618-1998、GB/T 17626.8-2006中的相关要求。3.2.7.7 电压暂降、短时中断和电压变化扰扰度试验应符合GB/T 17618-1998中、GB/T 17626.11-2008的相关要求(220V或电源适配器供电时适用)。3.2.8 谐波电流骚扰试验应符合GB 17625.1-2003的相关要求(220V或电源适配器供电时适用)。 对采用交流电源(包括电源适配器)供电的整机、板卡产品，其谐波电流骚扰指标的检验是相同的。3.2.9 电压波动和闪烁试验应符合GB 17625.2-2007的相关要求(220V或电源适配器供电时适用)。对采用交流电源(包括电源适配器)供电的整机、板卡产品，其电压波动和闪烁指标的检验是相同的。3.2.10 环境适应性试验对于采用对温度、湿度环境敏感电子元器件、组件的整机、板卡产品一般对气候环境都有要求，对这些板卡产品气候环境指标的检验一部分可以直接采用环境试验箱进行检验，一部分可以安装在整机机箱中，与整机产品机箱中的其它板卡一起检验。3.2.10.1 气候环境条件试验应符合国家、行业或企业相关产品标准中规定的产品对工作温度下限、贮存温度下限、工作温度上限、贮存温度上限、恒定湿热等气候条件的相关要求。3.2.10.1.1 工作温度下限试验按照GB/T 2423.1-2008中的“试验Ad”进行。被检验样品必须进行初始检测。严酷程度取决于具体产品标准规定的工作温度下限值，加电运行检查(自检)程序2小时(不同产品可能有区别)，被检验样品工作应正常。恢复时间为2小时(不同产品可能有区别)。3.2.10.1.2 贮存运输温度下限试验按照GB/T 2423.1-2008中的“试验Ab”进行。严酷程度取决于具体产品标准规定的贮存运输温度下限值，被检验样品在不工作条件下存放16小时(不同产品可能有区别)，恢复时间为2小时(不同产品可能有区别)，并进行最后检测。为防止试验样品受潮，试验期间必须对试验样品采取防护措施(外加防护袋或干燥剂)。3.2.10.1.3 工作温度上限试验按照GB/T 2423.1-2008中的“试验Bd”进行。被检验样品必须进行初始检测。严酷程度取决于具体产品标准规定的工作温度上限值，加电运行检查(自检)程序2小时(不同产品可能有区别)，被检验样品工作应正常。恢复时间为2小时(不同产品可能有区别)。3.2.10.1.4 贮存运输温度上限试验按照GB/T 2423.1-2008中的“试验Bb”进行。严酷程度取决于具体产品标准规定的贮存运输温度上限值，被检验样品在不工作条件下存放16小时(不同产品可能有区别)，恢复时间为2小时(不同产品可能有区别)，并进行最后检测。3.2.10.1.5 工作条件下的恒定湿热试验参照GB/T 2423.3-2006中的“试验Ca”进行，严酷程度取决于具体产品标准规定的工作温度、湿热上限值，被检验样品必须进行初始检测。试验持续时间为2小时(不同产品可能有区别)。在此期间加电运行检查(自检)程序，工作应正常。恢复时间为2小时(不同产品可能有区别)，并进行最后检测。3.2.10.1.6 贮存运输条件下的恒定湿热试验参照GB/T 2423.3-2006中的“试验Ca”进行。被检验样品必须进行初始检测，被检验样品在不工作条件下存放48小时(不同产品可能有区别)，恢复时间2小时(不同产品可能有区别)，并进行最后检测。3.2.10.2 机械环境条件试验应符合国家、行业或企业相关产品标准中规定的产品对振动试验、碰撞试验、冲击试验、跌落试验等机械条件的相关要求。3.2.10.2.1 振动试验按照GB/T 2423.10-2008中的“试验Fc”进行。被检验样品按工作位置固定在振动台上，进行初始检测。被检验样品在不工作状态下，按具体产品标准规定的值，分别对三个互相垂直的轴线方向进行振动。对某些被检验样品，试验应在加电运行检查(自检)程序的工作状态下进行。按照标准中试验方法的要求，完成初始振动响应检查、定频耐久、扫频耐久和最后振动响应时间试验。3.2.10.2.2 冲击试验按照GB/T 2423.5-1995中的“试验Ea”进行。被检验样品必须进行初始检测，安装时要注意重力影响，按具体产品标准规定的值，在不工作条件下，分别对三个互相垂直的轴线方向进行冲击。试验后进行最后检测。3.2.10.2.3 碰撞试验按照GB/T 2423.6-1995中的“试验Eb”进行。被检验样品必须进行初始检测，安装时要注意重力影响，按具体产品标准规定的值，在不工作条件下，分别对三个互相垂直的轴线方向进行碰撞。试验后进行最后检测。3.2.10.2.4 运输包装件跌落试验被检验样品必须进行初始检测，将运输包装件处于准备运输状态，按GB/T 4857.2-1992标准的规定进行预处理4小时。将运输包装件按GB/T 4857.5-1992的要求和具体产品标准规定的值进行跌落，任选四面，每面跌落一次。试验后按具体产品标准的规定检查产品包装件的损坏程度，并对被检验样品进行最后检测。3.2.11 可靠性试验信息技术设备整机产品有可靠性指标要求，而整机产品的可靠性指标应该是可以分解到各个板卡的，一般来讲，组成整机产品的各个板卡的可靠性指标都应高于整机产品的可靠性指标。能独立工作的板卡产品的可靠性试验可以参照整机产品的标准执行。对于不能独立工作的板卡产品，应安装在为其提供电源的主机机箱中或专用测试装置中进行可靠性试验。采用平均无故障时间(MTBF)衡量产品的可靠性水平。可靠性试验的目的是确定产品在正常使用条件下的可靠性水平，试验周期内综合应力通常应考虑如下两个方面的因素：电应力：被检验样品在输入交流电压标称值220V±22V或输入直流电压标称值xxV±xx*5%V，一个试验周期内各种条件工作时间的分配为：电压上限占25%，标称值占50%，电压下限占25%。不同种类的整机产品具体的±指标值可能稍有不同，进行该项指标检验时，应仔细阅读该产品标准的该项指标要求，避免产生错误的检验结果。温度应力：被检验样品在一个试验周期内由正常温度升至温度上限值再降至正常温度(具体值由具体产品标准规定)。温度变化率的平均值为0.7/分钟1/分钟或者根据具体产品标准的规定执行。在一个试验周期内保持在上限和正常温度的持续时间之比应为1：1左右。一般而言，一个试验周期称为一次循环，在总试验期间内循环次数不应小于3次。每个周期的持续时间应不大于0.2*m0，电应力和温度应力应同时施加。国家或行业标准中通常规定整机产品的m1值(MTBF的不可接受值)不得低于xxxxx小时(如微机的现行xxxxx值为4000小时)。没有国家或行业标准的整机产品，应符合备案的企业标准的可靠性要求。对整机产品进行可靠性验证检验时，一般应运行特定的程序，使被验证产品处于模拟工作状态。可靠性验证试验有很多试验方案可以选择，不同的试验方案试验时间的计算方法和试验风险等也不一样，试验时可根据不同的产品选择不同的试验方案。可靠性试验例(微型计算机产品)：选择GB/T 5080.7-1986中序贯截尾试验方案 4:7，= 0.2，= 0.2，平均无故障工作时间可接受值m0Dm * m1，其中，Dm=3.0，m1=4,000小时（MTBF），则总台时：T = 0.89 * m0 = 0.89 * Dm * m1= 0.89 * 3.0 * 4,000小时= 10,680 台时可靠性试验样品总数、总台时数和所需试验天数之间的关系见表10。总台时样品数(台)试验所需天数10680台时1010680÷10÷24 = 44.50天10680台时2010680÷20÷24 = 22.25天：10680台时6010680÷60÷24 7.42天表10 可靠性试验所需时间和样品台数之间的关系4 检验条件及方法承担信息技术设备整机、板卡等产品检验(主要针对有国际标准、国家标准、行业标准或企业标准)的机构应按照ISO/IEC 17025标准的规定建立与自身承担该类产品检验相适应的质量保证体系，配置足够的人力、设备和设施资源。承担信息技术设备整机、板卡等产品检查(主要针对没有国际标准、国家标准、行业标准或企业标准)的机构应按照ISO/IEC 17020的规定建立与自身承担该类产品检查相适应的质量保证体系，配置足够的资源，特别是需要配置具有足够经验的技术人员。在产品质量仲裁活动中，有时既要用到实验室的检验结果又要采用检查人员的丰富经验和科学的验证方法。4.1 检验条件4.1.1 实验室环境用于检验整机、板卡产品的实验室环境应保证产品检验正常的供电、供水，保持检验环境的温湿度符合产品检验标准的要求，保证检验实验室周围附近的环境噪声、无线电干扰、振动等符合产品检验结果准确性的要求。某些板卡的功能或性能检测需要搭建模拟测试环境。4.1.2 检测仪器设备承担整机、板卡产品检验的实验室应当配置足够的、能满足产品检验标准要求的检验仪器设备，并保证这些检验仪器设备处于良好的工作状态，并在检定、计量有效期内使用。有些板卡的功能或性能测试需要搭建模拟测试工装设备。4.1.3 测试软件信息技术设备整机产品中，有些产品(如计算机)有专门的功能或性能测试软件，有些产品(如计算机外部设备和网络设备)的测试软件是固化在产品的EPROM中，有些产品(如数码相机)没有专门的测试软件，而只能按照产品说明书做功能的验证测试。目前，微型计算机产品的测试软件比较多，比如3DMARK、WinBench、Winstone、QAPlus等是业界用得较多的、比较公认可用的测试软件。随着微电子技术的迅速发展，与之相对应的微机性能的测试软件也将不断有新产品问世，从事微机产品性能检验的实验室可以慎重选用。用于测试信息技术设备板卡功能或性能的软件比较多，比较典型的测试软件有Modem TESTER、Fresh Diagnose、Hardware Sensors Monitor、Nero DVD SpeedSpeedFan、CDSpeed、MyCPU、MotherBoard Monitor、WinPulse、PassMark Perfomance Test、BurnInTest、System Analyser、Battery Bar、WinTune、WCPUID和ModemScan等。很多测试软件是可以从网上下载的自由软件，正规的检测实验室在选择这些软件时，必须慎重，应该选择那些受到业界公认的测试软件。4.1.4 测试技术人员信息技术设备产品属于高速发展的产品，从事这类产品检验的技术人员既要掌握产品的相关检验标准，熟悉检验仪器设备，又要不断跟踪种类繁多的产品的新技术。特别是从事这类产品综合性能测试、质量仲裁检验的技术人员，除了要求具有丰富的检测室检验经验外，还必须是信息技术设备板卡产品的专家。否则，检验人员将会面对信息技术设备产品束手无策。5. 认证产品检验5.1 国家强制性产品认证5.1.1 信息技术设备整机产品为了维护国家、社会和公众利益，2001年11月21日国家质量监督检验检疫总局第5号令发布了强制性产品认证管理规定(简称CCC认证规定)。CCC认证规定于2002年5月1日开始实施，2003年8月1日开始市场查处。被列入第一批强制认证产品目录的信息